的评估单元确定;在所示出的实施例中涉及分别呈条码形式的光学的识别元件14。在此，能够执行对条码的或替选地Q R码的复杂的询问，所述询问甚至能够包含革巴1的序列号。在图5中示出旋转的靶I，其中整个条码同心地围绕靶I的旋转中心设置。
[0045]在图6和6a中示出固定的靶I，所述靶的光学的识别元件(条码14)(如在图2和3的可比的实施例中那样)设置在靶基座10的上端部上。在靶I的在图6a中示出的安装状态下，条码14与安装在X射线管9上的光学的检测元件13相对置。作为光学的检测元件13能够使用典型的条形码扫描仪、相机、然而还有简单的探测亮暗差别的光传感器。由此，光学的检测元件13能够评估由条码14引发的信号。光学的检测元件13将被评估的信号传递给上级的控制装置，然后所述控制装置设置用于靶I的相关联的参数。
[0046]对于电识别或光学识别替选地，也能够例如借助于在图7和7a中示出的机构执行机械识别。下面的示例示出一个可能的解决方式，其中通过机械装置/传感装置组合询问作为在靶基座10上的机械的识别元件15的特征性的穿孔。这例如能够如下进行:机械的检测元件16具有能沿纵向方向移动的销，所述销能够进入靶基座10的上端部上的穿孔15中进而检测，在与相应的销相关联的位置上是否存在穿孔15。机械的检测元件16将被评估的信号传递给上级的控制装置，然后所述控制装置设置用于靶I的相关联的参数。
[0047]借助于图8阐述在靶基座10上不具有识别元件的替选的靶识别装置的使用，例如这也在图4中所示出的那样(在此作为电识别装置)。在此，由靶I产生的特征性的辐射被考虑用于辨别。在此可设想不同的方法:
[0048]在该解决方案中提供下述可能性:评估在图片链中的靶I的特征性的辐射特性。在此存在两种解决方式:
[0049]-靶I保持不变(参见图8的左部):X射线管9以为了评估而限定的运行方式运行并且评估由此得到的图像。每个靶I通过设置工作值电压[kV]和电流[A]产生特征性的辐射。辐射能够通过在X射线设施中安装的图像链(探测器包括评估单元)来评估。为了实现上述内容，限定能够运行管类型的所有靶I的运行方式。在每次启动X射线管9时，首先开动所述运行方式，以便随后评估所产生的辐射。该方法的基础是，在每个靶I的操纵参数相同时发射不同的辐射。
[0050]-靶I被改型(参见图8的右部):在此以下述方式对靶I进行改型，使得通过有针对性的“散焦”，即增大电子束面也射到外表面上并且在那里产生辐射。由此能明显识别的焦斑变化是对于靶I特定的并且能够被评估。在所示出的情况下(右半部，左半部示出传统的靶I)，除了圆形的中央的靶元件Ila以外存在通过载体材料17隔开的环形的靶元件lib。成像紧接于此，借助于聚焦的电子束6调整所述成像，也就是说成像提供具有相同的灰度值的内容的图像。在散焦的电子束6中，在本示例中能识别环形结构。作为环形的靶元件Ilb的环形可设想其他形状。
[0051]根据本发明的磁性评估没有借助于附图示出。仅如下简短地进行阐述:将霍尔探针安装在X射线管9上，以便这样评估通过不同的靶I产生的磁场的变化。
[0052 ]根据本发明，也能够使用复合革El，其中在载体材料17上施加不同的革El元件11、11 a、Ilb(射束发生器，例如钨)或靶元件ll、lla、llb的不同的层厚度。现在通过自动地定位，能够将不同的靶区域定位在电子束6中。
[0053]上文所阐述的解决方式能够扩展到灯丝5上。与靶I类似地，灯丝5对于图像质量也是决定性的并且也以不同的表现形式存在。上文所描述的靶识别装置的功能原理也适用于此，然而在明显更困难的环境中实现(完全在真空7中)。尽管如此，类似的应用是可行的。
[0054]在评估电子装置和控制装置上的为靶识别所提供的环境能够相对简单地扩展，以便检测X射线管9的附加的运行数据或性能。对此例如包括X射线管9在温度升高时经由附加地安装的应变仪的弯曲、通用的温度数据或磁场分析。
[0055]这种靶识别即使在封闭的X射线管9中也是有意义的，并且上述实施方案也主要适用于所述封闭的X射线管。虽然在此不能够更换靶I，然而也能够经由靶识别的系统提供对于X射线管9特定的参数。识别能够限制于类型或者也涉及配设有序列号的单个的靶I。
[0056]附图标记列表
[0057]I靶
[0058]2电绝缘体
[0059]3靶电流测量设备
[0060]4磁性透镜[0061 ] 5 灯丝
[0062]6电子束
[0063]7真空
[0064]8电的识别元件，电子部件
[0065]9X射线管
[0066]10靶基座
[0067]11靶元件
[0068]Ila 中央的靶元件
[0069]Ilb 环形的靶元件
[0070]12靶电阻测量设备
[0071]13光学的检测元件
[0072]14光学的识别元件，条码
[0073]15机械的识别元件，穿孔
[0074]16机械的检测元件
[0075]17载体材料
[0076] 18电的检测元件
【主权项】
1.一种用于X射线管(9)的靶(I)，所述靶具有靶基座(10)和固定在所述靶基座上的靶元件(11)，其中在所述靶基座(10)上安装有识别元件(8，14，15)，所述识别元件能以与在所述X射线管(9)上的检测元件(13，16，18)共同作用的方式被识别并且所述识别元件具有与所述靶(I)的特征值的明确的关联性。2.—种用于X射线管(9)的灯丝(5)，所述灯丝具有灯丝保持器和固定在所述灯丝保持器上的灯丝元件，其中在所述灯丝保持器上安装有识别元件，所述识别元件能以与在所述X射线管(9)上的检测元件共同作用的方式被识别并且所述识别元件具有与所述灯丝(5)的特征值的明确的关联性。3.根据上述权利要求中任一项所述的靶(I)或灯丝(5)，其中所述识别元件(8，14，15)是电的识别元件(8)、光学的识别元件(14)或机械的识别元件(15)。4.根据权利要求3所述的靶(I)或灯丝(5)，其中所述电的识别元件(8)是电子部件(8)、尤其RFID芯片，和/或所述光学的识别元件(14)是条码(14)或QR码(14)和/或所述机械的识别元件(15)具有穿孔(15)、波纹磨片或缺口。5.—种X射线管(9)，具有根据上述权利要求中任一项所述的靶(I)和/或灯丝(5)并且具有检测元件(13，16，18)，所述检测元件与所述靶(I)的和/或所述灯丝(5)的所述识别元件(8，14，15)共同作用。6.根据权利要求5所述的X射线管(9)，其中所述检测元件(13，16，18)是电子扫描设备、光学相机、机械装置或传感装置。7.—种用于识别根据权利要求1至4中任一项所述的具体的靶(I)和/或具体的灯丝(5)的方法，其中安装在所述X射线管(9)上的检测元件(13，16，18)识别安装在所述靶基座(10)上和/或安装在所述灯丝保持器上的识别元件(8，14，15)并且借助于数据库将所述靶(I)和/或灯丝(5)与所述识别元件(8，14，15)明确地相关联。8.—种用于识别根据权利要求1至4中任一项所述的具体的靶(I)和/或具体的灯丝(5)的方法，其中借助于安装在所述X射线管(9)上的霍尔探针基于所述靶(I)的和/或所述灯丝(5)的确定的磁场值借助于所述靶(I)的和/或所述灯丝(5)的存储在数据库中的数据明确地识别。9.一种用于识别根据权利要求1，3或4中任一项所述的具体的靶(I)的方法，其中经由电阻测量对所述靶(I)的电性能进行测量、尤其是对其电导率进行测量。10.—种用于识别根据权利要求1，3或4中任一项所述的具体的靶(I)的方法，其中借助于电子束面在所述靶元件(11)上除所述靶元件(11)的外表面以外的增大基于靶特定的焦斑变化实现所述靶(I)的明确的关联。11.一种用于识别根据权利要求1，3或4中任一项所述的具体的靶(I)的方法，其中在启动所述X光射线管(9)时首先开动始终相同的预设的运行方式，其中在每个靶(I)的操纵参数相同时发射不同的X射线辐射，并且评估在此产生的所述X射线辐射。12.—种用于自动地设置根据权利要求1至4中任一项所述的装入X射线管(9)中的靶(I)和/或灯丝(5)的特征值的方法，其中在执行根据权利要求7至11中任一项所述的方法之后将存储在所述数据库中用于相应的所述识别元件(8，14，15)或者所述靶(I)和/或所述灯丝(5)的特征值传递给相应的所述特征值的设置设备并且由所述设置设备进行所述特征值的设置。
【专利摘要】一种用于X射线管9的靶1/灯丝5，具有靶基座10/灯丝保持器和固定在其上的靶元件11/灯丝元件，其中在靶基座10/灯丝保持器上安装有识别元件8，14，15，所述识别元件能以与在X射线管9上的检测元件13，16，18共同作用的方式被识别并且所述识别元件具有与靶1/灯丝5的特征值的明确的关联性。一种用于识别具体的靶1和/或具体的灯丝5的方法，其中安装在X射线管9上的检测元件13，16，18识别安装在靶基座10上和/或在灯丝保持器上的识别元件8，14，15并且借助于数据库将靶1和/或灯丝5与识别元件8，14，15明确地相关联。一种用于自动地设置装入X射线管9中的靶1和/或灯丝5的特征值的方法，其中在执行前述方法之后将存储在数据库中用于相应的识别元件8，14，15或靶1和/或灯丝5的特征值传递给相应的特征值的设置设备并且由所述设置设备进行所述特征值的设置。
【IPC分类】H01J35/02, H01J35/06, H01J35/08
【公开号】CN105659352
【申请号】
【发明人】威廉·尼曼, 比约恩·施拉德尔, 延斯·德耶, 阿克塞尔·克莱因
【申请人】依科视朗国际有限公司
【公开日】2016年6月8日
【申请日】2014年10月21日