单板测试方法及装置的制造方法_2

文档序号:9891251阅读:来源:国知局
结合了上述实施例及其可选实施方式。
[0048]本可选实施例利用网络处理器的包产生器周期性地产生报文,借助于网络处理器灵活的处理性能,进行单板及整机的完整性测试。
[0049]目前网络处理器为了支持运行、管理和维护(Operat1n Administrat1n andMaintenance,简称为0AM)检测,内部一般都有包产生器,可以根据指定时间间隔周期性发送报文。本可选实施例利用了网络处理器这一特性,配置包产生器周期性发送报文,由微码组装交换头,经过交换系统后再回到NP,由egress方向微码进行报文校验,并对校验失败的情况进行统计,并把相关信息(比如索引、读出来的结果)携带在报文中上送中央处理器(Central Processing Unit,简称为 CPU)。
[0050]如果校验成功,证明整个链路没有问题;如果有校验失败的情况,需要对交换网芯片及中间的链路进行排查,找到问题。
[0051]分组传送网(Packet Transfer Network,简称为PTN)设备目前的一个重要功能就是链路检测,比如OAM/双向转发检测(Bidirect1nal Forwarding Detect1n,简称为BFD)等,因此目前主流NP内部都会有包产生器,可以设置包产生器报文间隔周期性发送检测报文。
[0052]网络处理器的另一个特征是编程灵活性。内部微码可以根据需要实现各种业务逻辑。
[0053]本可选实施例将如上两个NP特性结合起来,通过包产生器产生报文。包产生器速率可控,如果需要的测试速率超过了包产生器的带宽,比如测试100G的处理性能,可以通过配置多个包产生器的方法解决,或者利用NP的报文复制功能,通过复制达到需要的速率。
[0054]包产生器通常可以配置不同的报文内容模板及产生的包长,可以控制发送不同的报文内容及包长,进行单板及整机测试。
[0055]图6是根据本发明实施例的单板级测试方法结构示意图,如图6所示,包括:
[0056]CPU 模块(301):
[0057]CPU负责单板上各个芯片的初始化,是整个控制层面的核心,在本专利中主要负责包产生器、计数器配置,微码下载及错误情况的上送报文处理。
[0058]配置包产生器:配置扫描报文发送间隔。发包间隔根据需要的测试带宽设置。
[0059]上送报文处理:当微码校验失败,会中断上报CPU,CPU负责处理该请求,从报文中读取错误地址Idx。
[0060]包产生器(302):
[0061]包产生器为网络处理器用于周期性产生报文的单元,通常用于实现OAM检测。包产生器可以按照CPU配置的报文间隔时间周期性产生报文。
[0062]复制单元(303):
[0063]复制单元为网络处理器基本单元。在本专利中可选。在包产生器带宽不够情况下,可以通过报文复制,达到期望的带宽。
[0064]交换头封装(304):
[0065]交换芯片要实现报文转发,报文必须在交换芯片入队列,而报文是存储在外围的DDR3中,入队列的前提是网络处理器携带交换头,交换头中包含交换芯片的队列ID。因此网络处理器微码必须根据出端口计算出相应的队列ID,按照交换芯片定义的交换头格式把队列ID封装到报文头中携带给交换芯片。
[0066]校验单元(305):
[0067]由网络处理器出方向微码实现的功能,借助微码指令实现。将从交换侧接收到的报文,和预期的报文进行对比。如果交换网上修改了报文中的某个bit或byte,校验单元能够发现,并由306单元进行计数,并将报文上送301CPU单元处理。
[0068]计数器(306):
[0069]该计数器用于305校验单元检查到报文被修改后的统计计数。
[0070]交换芯片(307):
[0071]入方向根据NP携带过来的交换头中的队列ID,将报文入队列,报文会缓存在外部DDR3中,当得到调度器授权后,芯片切片成信元后调度信元到相应出口交换芯片单元;出口交换单元将信元重组成报文并发给出方向的网络处理器
[0072]DDR3 存储器(308):
[0073]DDR3存储器为挂接于交换芯片的外部存储器,用来缓存报文。
[0074]图7是根据本发明实施例的整机级测试方法结构示意图。如图7所示,与图6区别是多了一个中央交换芯片(406)的集中式调度处理,这样测试系统覆盖到了中央交换芯片单元(406)。
[0075]图8是根据本发明实施例的单板测试流程图,如图8所示,该流程包括如下步骤:
[0076]步骤S802,开始;
[0077]步骤S804,配置包产生器及计数器,配置计数扫描报文的发送间隔,报文内容及长度根据需要配置;
[0078]步骤S806,复制单元复制,本步骤为可选项,在包产生器产生报文速率不够情况下,利用网络处理器的复制单元进行报文复制以达到期望的带宽;
[0079]步骤S808,入方向微码处理,根据交换芯片的交换头格式,以及出端口封装交换头;
[0080]步骤S810,交换网处理,交换网单元根据交换头格式,对报文进行转发,对于单板级测试,交换芯片实现本地交换,整机级测试需要涉及跨板交换;
[0081]步骤S812,出方向微码处理,微码将从交换网收到的报文与预期的报文进行逐字节的对比,如果发现不一致则用步骤S814进行统计并丢弃;否则直接丢弃;
[0082]步骤S814,错误计数统计及上报,对于步骤S812中校验失败的情况进行统计计数,并且将错误报文上送CPU,这样控制层面能感知到错误计数以及具体报文修改的偏移位置;
[0083]步骤S816,结束。
[0084]综上所述,本发明可选实施例利用了目前网络处理器内部包产生器产生报文,同时利用网络处理器微码灵活的特性进行交换头封装、报文复制、校验及计数统计。有效解决了相关技术中测试方法资源耗费、效率低下的问题,成本低,具有很高的推广价值。
[0085]在另外一个实施例中,还提供了一种软件,该软件用于执行上述实施例及优选实施方式中描述的技术方案。
[0086]在另外一个实施例中,还提供了一种存储介质,该存储介质中存储有上述软件,该存储介质包括但不限于:光盘、软盘、硬盘、可擦写存储器等。
[0087]显然,本领域的技术人员应该明白,上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现,它们可以集中在单个的计算装置上,或者分布在多个计算装置所组成的网络上,可选地,它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现,从而,可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行,并且在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤,或者将它们分别制作成各个集成电路模块,或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样,本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
[0088]以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种单板测试方法,其特征在于,包括: 网络处理器产生测试报文,并将所述测试报文发送至交换网络中的交换设备; 所述网络处理器对经过所述交换设备的测试报文进行校验,将校验结果作为对单板的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述测试报文发送至交换设备包括: 所述网络处理器根据所述交换设备的交换头格式以及所述网络处理器的出端口,通过所述网络处理器的微码计算出所述交换设备的队列标识ID ; 将所述队列标识ID封装在所述测试报文中发送至所述交换设备。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述网络处理器对经过所述交换设备的测试报文进行校验包括: 所述网络处理器利用微码将经过所述交换设备的测试报文与所述测试报文进行比较,在比较结果一致的情况下,所述测试结果指示所述单板正常;在比较结果不一致的情况下,所述测试结果指示所述单板异常。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在比较结果不一致的情况下,所述网络处理器利用微码对错误字节进行统计,并将统计结果发送至中央处理器和/或丢弃经过所述交换芯片的测试报文。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,网络处理器产生测试报文包括: 在当前测试报文传输速率小于预定阈值的情况下,所述网络处理器对所述当前测试报文进行复制,得到所述测试报文。6.一种单板测试装置,应用于网络处理器,其特征在于,所述装置包括: 产生模块,用于产生测试报文,并将所述测试报文发送至交换网络中的交换设备; 校验模块,用于对经过所述交换设备的测试报文进行校验,将校验结果作为对单板的测试结果。7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述产生模块包括: 计算单元,用于根据所述交换设备的交换头格式以及所述网络处理器的出端口,通过所述网络处理器的微码计算出所述交换设备的队列标识ID ; 发送单元,用于将所述队列标识ID封装在所述测试报文中发送至所述交换设备。8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述校验模块还用于利用微码将经过所述交换设备的测试报文与所述测试报文进行比较,在比较结果一致的情况下,所述测试结果指示所述单板正常;在比较结果不一致的情况下,所述测试结果指示所述单板异常。9.根据权利要求8述的装置,其特征在于,在比较结果不一致的情况下,所述校验模块利用微码对错误字节进行统计,并将统计结果发送至中央处理器和/或丢弃经过所述交换芯片的测试报文。10.根据权利要求6至9中任一项所述的装置,其特征在于,所述产生模块还用于在当前测试报文传输速率小于预定阈值的情况下,对所述当前测试报文进行复制,得到所述测试报文。
【专利摘要】本发明公开了单板测试方法及装置,其中,该方法包括:网络处理器产生测试报文,并将测试报文发送至交换网络中的交换设备;网络处理器对经过交换设备的测试报文进行校验,将校验结果作为对单板的测试结果。通过本发明解决了相关技术中对单板进行测试效率低下的问题,进而实现了对单板的有效测试,提高了测试效率。
【IPC分类】H04L12/26
【公开号】CN105656708
【申请号】
【发明人】姜海明, 朱延灵
【申请人】中兴通讯股份有限公司
【公开日】2016年6月8日
【申请日】2014年11月19日
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