的方式是相同的，区别仅在于采用第二频谱仪7进行调制系数的测试。具体的，对待测试OBU的调制系数的测试包括以下步骤:
[0081 ] (I)将信号控制单元3与待测试OBU连接，将第二频谱仪7与待测试OBU连接；
[0082](2)信号控制单元3控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号；
[0083](3)第二频谱仪7接收待测试OBU的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试。
[0084]在步骤(I)中，第二频谱仪7通过第二辐射天线8与待测试OBU连接，或者，第二频谱仪7通过第二合路器与第一辐射天线6连接。第一种连接方式中，第二辐射天线8可以与多个待测试OBU通过微波辐射连接，接收待测试OBU发送的调制信号，并发送给第二频谱仪7 ;第二中连接方式中，第一辐射天线6接收待测试OBU发送的调制信号，并通过第二合路器发送给第二频谱仪。
[0085]采用增加了第二频谱仪7的测试装置，虽然会由于第二频谱仪7的增加导致成本的提升，但是采用该装置完成一个OBU的平均测试时间测试仅约为6秒，进一步提高了测试效率。
[0086]显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其同等技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种OBU的微波性能测试装置，包括信号源⑴、第一频谱仪⑵、以及分别与信号源(I)和第一频谱仪⑵连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，其特征在于:还包括功分器⑷和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源⑴的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪⑵的信号输入端连接，功分器⑷的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一福射天线(6)相连接，第一福射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。2.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述第一合路器(5)的个数为η个，与一个第一合路器(5)连接的第一辐射天线(6)与两个待测试OBU连接；其中，η彡103.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述信号控制单元(3)上的与待测试OBU连接的端口为串口。4.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述信号控制单元(3)包括信号控制器和用于显示测试结果的显示器。5.根据权利要求1所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:还包括用于对功分器(4)和第一合路器(5)进行插损校准的插损校准设备。6.根据权利要求1至5之一所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:该测试装置还包括第二频谱仪(7)，第二频谱仪(7)与待测试OBU连接，信号控制单元(3)与第二频谱仪(7)连接。7.根据权利要求6所述的一种OBU的微波性能测试装置，其特征在于:所述第二频谱仪(7)与第二辐射天线(8)连接，第二辐射天线(8)与待测试OBU通过微波辐射连接，或者，所述第二频谱仪(7)通过第二合路器与第一辐射天线(6)连接。8.基于权利要求1所述的OBU的微波性能测试装置的一种OBU的微波性能测试方法，该方法包括对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、对待测试OBU的调制系数的测试、以及对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试； 所述对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试包括以下步骤: (1)将信号控制单元(3)与待测试OBU连接，将每个第一合路器(5)通过第一辐射天线(6)与两个待测试OBU对应连接； (2)信号控制单元(3)控制与同一个第一合路器(5)连接的两个待测试OBU发射不同频率的载波信号； (3)每个第一合路器(5)接收与其对应的两个待测试OBU的载波信号，并将接收到的两个载波信号发送到第一频谱仪(2); (4)第一频谱仪(2)在同一时刻完成一个第一合路器(5)所发送的载波信号的发射频率和发射功率的测试； 所述对待测试OBU的调制系数的测试包括以下步骤: 1)将信号控制单元(3)与待测试OBU连接，将第一合路器(5)通过第一辐射天线(6)与待测试OBU连接； 2)信号控制单元(3)控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号； 3)第一合路器(5)接收待测试OBU的调制信号，并将接收到的调制信号发送到第一频谱仪⑵； 4)第一频谱仪(2)接收第一合路器(6)发送的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试； 所述对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试包括以下步骤: ①将信号控制单元(3)与待测试OBU连接，将功分器(4)通过第一辐射天线(6)与待测试OBU连接； ②信号控制单元(3)控制信号源(I)发射OBU唤醒信号； ③功分器(4)接收信号源(I)发射的OBU唤醒信号，并将所述OBU唤醒信号通过第一辐射天线(6)辐射给待测试0BU，完成待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。9.基于权利要求6所述的OBU的微波性能测试装置的一种OBU的微波性能测试方法，该方法包括对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、对待测试OBU的调制系数的测试、以及对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试； 所述对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试包括以下步骤: (1)将信号控制单元(3)与待测试OBU连接，将每个第一合路器(5)通过第一辐射天线(6)与两个待测试OBU连接； (2)信号控制单元(3)控制与同一个第一合路器(5)连接的两个待测试OBU发射不同频率的载波信号； (3)每个第一合路器(5)接收与其对应的两个待测试OBU的载波信号，并将接收到的两个载波信号发送到第一频谱仪(2); (4)第一频谱仪(2)在同一时刻完成一个第一合路器(5)所发送的载波信号的发射频率和发射功率的测试； 所述对待测试OBU的调制系数的测试包括以下步骤: 1)将信号控制单元(3)与待测试OBU连接，将第二频谱仪(7)与待测试OBU连接； 2)信号控制单元(3)控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号； 3)第二频谱仪(7)接收待测试OBU的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试； 所述对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试包括以下步骤: ①将信号控制单元(3)与待测试OBU连接，将功分器(4)通过第一辐射天线(6)与待测试OBU连接； ②信号控制单元(3)控制信号源(I)发射OBU唤醒信号； ③功分器(4)接收信号源(I)发射的OBU唤醒信号，并将所述OBU唤醒信号通过第一辐射天线(6)辐射给待测试0BU，完成待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。10.根据权利要求9所述的一种OBU的微波性能测试方法，其特征在于:步骤I)中，所述第二频谱仪(7)通过第二辐射天线与待测试OBU连接，或者所述第二频谱仪(7)通过第二合路器与第一福射天线(6)连接。
【专利摘要】本发明公开了一种OBU的微波性能测试装置和方法，属于OBU生产测试设备领域。该装置包括信号源(1)、第一频谱仪(2)、以及分别与信号源(1)和第一频谱仪(2)连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，还包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源(1)的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪(2)的信号输入端连接，功分器(4)的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一辐射天线(6)相连接,第一辐射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。采用该装置和方法，能够大大提升OBU的微波性能的测试效率，降低测试成本。
【IPC分类】H04B17/29, H04B17/15
【公开号】CN105227250
【申请号】CN201510548556
【发明人】李振华
【申请人】北京握奇智能科技有限公司
【公开日】2016年1月6日
【申请日】2015年8月31日