具有通孔式信号测试点的主板的利记博彩app

本实用新型涉及主板技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种具有通孔式信号测试点的主板。

背景技术：

在电子产品的研发和生产过程中，需要对电子产品的主板进行功能和性能上的测试，在生产主板时，需在主板板面上的特定位置预留一些信号测试点，然后再对主板板面的剩余部分涂覆绿油，该信号测试点即为主板上的露铜部分，图6中的11即为信号测试点，在测试主板的功能和性能时，首先需使用烙铁在信号测试点的位置进行飞线，以连接该信号测试点并对其进行性能测试，待测试结束后再使用烙铁摘除飞线，而主板上有多个信号测试点，当需要测试其他的信号测试点或者更换其他待测主板的时候，还需要对该主板上其他的信号测试点或其他待测主板上的信号测试点分别飞线及拆线，操作过程较繁琐，测试效率较低，且不能保证信号测试点处信号的可靠性。

技术实现要素：

本实用新型的一个目的是解决至少上述问题，并提供至少后面将说明的优点。

本实用新型还有一个目的是提供一种具有通孔式信号测试点的主板，在对该主板上的信号测试点进行性能测试时，可将挂钩或插针插入测试通孔并接触所述测试通孔的内侧壁，以将所述挂钩或插针与该信号测试点进行连接，并对该信号测试点进行测试，该测试方式具有操作简单、方便且测试过程信号的可靠性好的优点；也可对信号测试区域的剩余部分飞线，通过飞线连接该信号测试点，并对该信号测试点进行测试，或使用夹具及其顶针接触信号测试区域的剩余部分，以连接该信号测试点并对该信号测试点处的信号进行测试。

为了实现根据本实用新型的这些目的和其它优点，本实用新型提供了一种具有通孔式信号测试点的主板，包括：

主板本体，对所述主板本体的板面进行部分去除并露铜，以形成多个信号测试区域；

多个测试通孔，其分别开设在所述多个信号测试区域内且穿透所述主板本体设置，每个测试通孔的内侧壁和与其对应的信号测试区域的剩余部分形成一信号测试点。

本实用新型所述的主板本体上具有多个开设在多个信号测试区域的测试通孔，所述测试通孔的内侧壁和所述信号测试区域的剩余部分形成信号测试点，因此，在对本实用新型所述的主板本体上的信号测试点进行性能测试时，可对所述信号测试区域的剩余部分飞线，通过飞线连接该信号测试点，并对该信号测试点进行测试，或使用夹具及其顶针接触信号测试区域的剩余部分，以连接该信号测试点并对该信号测试点处的信号进行测试，本实用新型还可将挂钩或插针之类的简单测试辅助工具直接插入测试通孔并接触所述测试通孔的内侧壁，以将所述测试辅助工具与该信号测试点进行连接，然后将这些测试辅助工具连接到测试设备上即可对该信号测试点进行测试，待测试结束时或者更换其他信号测试点时，只需从测试通孔内拔出测试辅助工具，然后将其插接于其他的信号测试点即可，操作简单方便，能够提高测试效率，降低研发成本。

在其中一个实施例中，所述的具有通孔式信号测试点的主板中，所述测试通孔的内侧壁为螺纹状。

在该实施例中，将所述测试通孔的内侧壁设计为螺纹状，可与挂钩或插针之类的简单测试辅助工具的螺纹相匹配，避免测试辅助工具在测试过程中脱离所述测试通孔，同时提高了测试时信号连接的可靠性与稳定性。

在其中一个实施例中，所述的具有通孔式信号测试点的主板中，所述多个信号测试区域为圆形或者方形。所述多个信号测试区域的形状可根据所述主板本体的形状以及测试的需要而定。

在其中一个实施例中，所述的具有通孔式信号测试点的主板中，所述多个信号测试区域与所述测试通孔的直径差为0.3mm～0.5mm。当对信号测试区域的剩余部分飞线连接或使用夹具及其顶针连接信号测试区域的剩余部分，以对信号测试点进行测试时，该直径差能够提供足够的空间用于飞线，便于对信号测试点的性能测试。

在其中一个实施例中，所述的具有通孔式信号测试点的主板中，所述测试通孔的直径为0.3～1.0mm。

在其中一个实施例中，所述的具有通孔式信号测试点的主板中，所述多个信号测试区域设置在所述主板本体的其中一个板面或者两个板面。

本实用新型至少包括以下有益效果：

1、本实用新型所述的具有通孔式信号测试点的主板上的信号测试点包括开设在多个信号测试区域内的测试通孔的内侧壁以及信号测试区域的剩余部分，在对信号测试点处的信号进行性能测试时，除了保留了对信号测试区域的剩余部分飞线以连接信号测试点的测试方式外，增加了将挂钩之类的测试辅助工具直接插入测试通孔并接触所述测试通孔内侧壁，以将所述测试辅助工具与信号测试点进行连接，并对该信号测试点进行测试的方式，具有操作简单，方便的优点。

2、本实用新型所述的具有通孔式信号测试点的主板通过测试辅助工具直接插入测试通孔，对信号测试点进行测试的过程，能够提高信号连接的可靠性和稳定性，从而提高了测试效率，并保证了测试结果的准确性。

3、本实用新型所述的具有通孔式信号测试点的主板结构简单，能够大大降低研发成本。

本实用新型的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本实用新型的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。

附图说明

图1为本实用新型其中一个实施例所述的具有通孔式信号测试点的主板的结构示意图；

图2为本实用新型其中一个实施例所述的具有通孔式信号测试点的主板的信号测试点的俯视图；

图3为本实用新型其中一个实施例所述的具有通孔式信号测试点的主板的信号测试点的剖面图；

图4为本实用新型其中一个实施例所述的具有通孔式信号测试点的主板的信号测试点的剖面图；

图5为本实用新型其中一个实施例所述的具有通孔式信号测试点的主板的信号测试点的俯视图；

图6为现有技术中主板及主板上信号测试点的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。

应当理解，本文所使用的诸如“具有”、“包含”以及“包括”术语并不配出一个或多个其它元件或其组合的存在或添加。

如图1、图2和图3所示，本实用新型其中一个实施例中提供了一种具有通孔式信号测试点的主板，包括：

主板本体1，对所述主板本体1的板面进行部分去除并露铜，以形成多个信号测试区域2；

多个测试通孔3，其分别开设在所述多个信号测试区域2内且穿透所述主板本体1设置，每个测试通孔3的内侧壁和与其对应的信号测试区域1的剩余部分形成一信号测试点。

该实施例所述的主板本体1上具有多个开设在多个信号测试区域2的测试通孔3，所述测试通孔3的内侧壁和所述信号测试区域2的剩余部分形成信号测试点，因此，在对本实用新型所述的主板本体1上的信号测试点进行性能测试时，可对所述信号测试区域2的剩余部分飞线，通过飞线连接该信号测试点，并对该信号测试点进行测试，或使用夹具及其顶针接触信号测试区域2的剩余部分，以连接该信号测试点并对该信号测试点处的信号进行测试，本实用新型还可将挂钩或插针之类的简单测试辅助工具直接插入测试通孔3并接触所述测试通孔的内侧壁，以将所述测试辅助工具与该信号测试点进行连接，然后将这些测试辅助工具连接到测试设备上即可对该信号测试点进行测试，待测试结束时或者更换其他信号测试点时，只需从测试通孔内拔出测试辅助工具，然后将其插接于其他的信号测试点即可，操作简单方便，能够提高测试效率，降低研发成本。

在其中一个实施例中，如图4所示，所述测试通孔3的内侧壁为螺纹状。

在该实施例中，将所述测试通孔3的内侧壁设计为螺纹状，可与挂钩或插针之类的简单测试辅助工具的螺纹相匹配，避免测试辅助工具在测试过程中脱离所述测试通孔3，同时提高了测试时信号连接的可靠性与稳定性。

在其中一个实施例中，如图2和图5所示，所述多个信号测试区域2为圆形或者方形。所述多个信号测试区域2的形状可根据所述主板本体1的形状以及测试的需要而定。

在其中一个实施例中，所述多个信号测试区域2与所述测试通孔3的直径差为0.3mm～0.5mm。当对信号测试区域的剩余部分飞线连接或使用夹具及其顶针连接信号测试区域的剩余部分时，以对信号测试点进行测试时，该直径差能够提供足够的空间用于飞线，便于对信号测试点的性能测试。

在其中一个实施例中，所述测试通孔3的直径为0.3～1.0mm。

在其中一个实施例中，所述多个信号测试区域2设置在所述主板本体1的其中一个板面或者两个板面。

尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。