一种能够防止击穿的智能仪表的利记博彩app
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种智能仪表，尤其涉及一种能够防止击穿的智能仪表。
【背景技术】
[0002]过去若干年以来，技术快速发展，而随着各种便携式个人通信设备与家用电器设备的增加，人们享受蜂窝移动通信系统带来的便利的同时，对安全性能又提出了新的需求，由于智能仪器一开始就显示它强大的生命力，目前已成为仪器仪表发展的一个主导方向，它的不断发展对自动控制、电子技术、国防工程、航天技术与科学试验等将产生极其深远的影响；而面对工业领域复杂的环境要求，如何针对智能仪表提高耐压防击穿、并滤除高频干扰的需求也是越来越高。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是需要提供一种能够提高耐压以防止击穿、并且能够滤除高频干扰的智能仪表。
[0004]对此，本实用新型提供一种能够防止击穿的智能仪表，包括:存储模块、按键模块、采样模块、计量模块、显示模块、MCU、电源模块和通讯模块，所述存储模块、按键模块、计量模块、显示模块、电源模块和通讯模块分别与MCU相连接，所述采样模块通过计量模块连接至MCU ;其中，所述采样模块包括A相电压采样衰减单元、A相电压采样滤波单元、B相电压采样衰减单元、B相电压采样滤波单元、C相电压采样衰减单元和C相电压采样滤波单元，所述A相电压采样滤波单元通过A相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述B相电压采样滤波单元通过B相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述C相电压采样滤波单元通过C相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述A相电压采样滤波单元、B相电压采样滤波单元和C相电压采样滤波单元分别连接至计量模块。
[0005]本实用新型的进一步改进在于，所述A相电压采样衰减单元包括串联连接的电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7和电阻R8，所述外部被测的交流电压的A相电压连接至电阻Rl，所述电阻R8连接至A相电压采样滤波单元。所述A相电压采样衰减单元采用共8个0805封装的贴片电阻，是因为通常0805封装电阻的瞬时耐压约为150V，8个电阻串联所能承受的瞬时耐压约为1200V，而选用8个0805封装的电阻串联是根据产品成本、PCB的布板空间和实际使用情况作出较佳的选择。
[0006]本实用新型的进一步改进在于，所述A相电压采样滤波单元包括电容C11、电阻R31、电阻R27、电阻R33、电容C9和电容Cl3，所述电阻R8分别连接至电容Cll和电阻R31，所述电容Cll和电阻R31并联，所述电阻R31的一端与电阻R27的一端相连接，所述电阻R31的另一端与电阻R33的一端相连接，所述电阻R27的另一端连接至电容C9的一端，所述电阻R33的另一端连接至电容C13的一端，所述电容C9的另一端与电容C13的另一端分别接地。
[0007]本实用新型的进一步改进在于，所述B相电压采样衰减单元包括串联连接的电阻R9、电阻R10、电阻Rl 1、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15和电阻R16，所述外部被测的交流电压的B相电压连接至电阻R9，所述电阻R16连接至B相电压采样滤波单元。本实用新型所述B相电压采样衰减单元采用共8个0805封装的贴片电阻，是因为通常0805封装电阻的瞬时耐压约为150V，8个电阻串联所能承受的瞬时耐压约为1200V，而选用8个0805封装的电阻串联是根据成本、PCB的布板空间和实际使用情况所作出的较佳选择。
[0008]本实用新型的进一步改进在于，所述B相电压采样滤波单元包括电容C10、电阻R32、电阻R28、电阻R34、电容C7和电容C14，所述电阻R16分别连接至电容ClO和电阻R32，所述电容ClO和电阻R32并联，所述电阻R32的一端与电阻R28的一端相连接，所述电阻R32的另一端与电阻R34的一端相连接，所述电阻R28的另一端连接至电容C7的一端，所述电阻R34的另一端连接至电容C14的一端，所述电容C7的另一端与电容C14的另一端分别接地。
[0009]本实用新型的进一步改进在于，所述C相电压采样衰减单元包括串联连接的电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20、电阻R21、电阻R22、电阻R23和电阻R24，所述外部被测的交流电压的B相电压连接至电阻R17，所述电阻R24连接至C相电压采样滤波单元。本实用新型所述C相电压采样衰减单元采用共8个0805封装的贴片电阻，是因为通常0805封装电阻的瞬时耐压约为150V，8个电阻串联所能承受的瞬时耐压约为1200V，而选用8个0805封装的电阻串联是根据成本、PCB的布板空间和实际使用情况所作出的较佳选择。
[0010]本实用新型的进一步改进在于，所述C相电压采样滤波单元包括电容C12、电阻R30、电阻R29、电阻R35、电容C8和电容Cl5，所述电阻R24分别连接至电容Cl2和电阻R30，所述电容C12和电阻R30并联，所述电阻R30的一端与电阻R29的一端相连接，所述电阻R30的另一端与电阻R35的一端相连接，所述电阻R29的另一端连接至电容C8的一端，所述电阻R35的另一端连接至电容C15的一端，所述电容C8的另一端与电容C15的另一端分别接地。
[0011]本实用新型的进一步改进在于，所述通讯模块包括485通讯模块和无线通讯模块，所述485通讯模块和无线通讯模块分别与MCU相连接。
[0012]本实用新型的进一步改进在于，还包括电平转换电路，所述无线通讯模块通过电平转换电路连接至MCU。
[0013]本实用新型的进一步改进在于，还包括时钟模块，所述时钟模块与MCU相连接。
[0014]与现有技术相比:本实用新型的有益效果在于:外部电压通过采样模块的A相电压采样衰减单元、B相电压采样衰减单元和C相电压采样衰减单元衰减至计量模块能承受的测量范围内，并通过A相电压采样滤波单元、B相电压采样滤波单元和C相电压采样滤波单元的滤波网络滤除高频干扰保证计量采样的准确性，进而保证了输入电压在一定范围内的瞬时冲击不至于使电阻耐压不够而导致击穿，防止了损坏后端连接的计量模块，进而提供了一种能够提高耐压以防止击穿，并且能够滤除高频干扰的智能仪表。
【附图说明】
[0015]图1是本实用新型一种实施例的模块结构框图；
[0016]图2是本实用新型一种实施例的采样模块的A相电压采样衰减单元的电路结构图；
[0017]图3是本实用新型一种实施例的采样模块的A相电压采样滤波单元的电路结构图；
[0018]图4是本实用新型一种实施例的采样模块的B相电压采样衰减单元的电路结构图；
[0019]图5是本实用新型一种实施例的采样模块的B相电压采样滤波单元的电路结构图；
[0020]图6是本实用新型一种实施例的采样模块的C相电压采样衰减单元的电路结构图；
[0021]图7是本实用新型一种实施例的采样模块的C相电压采样滤波单元的电路结构图。
【具体实施方式】
[0022]下面结合附图，对本实用新型的较优的实施例作进一步的详细说明。
[0023]如图1所示，本例提供一种能够防止击穿的智能仪表，包括:存储模块、按键模块、采样模块、计量模块、显示模块、MCU、电源模块和通讯模块，所述存储模块、按键模块、计量模块、显示模块、电源模块和通讯模块分别与MCU相连接，所述采样模块通过计量模块连接至MCU ;其中，所述采样模块包括A相电压采样衰减单元、A相电压采样滤波单元、B相电压采样衰减单元、B相电压采样滤波单元、C相电压采样衰减单元和C相电压采样滤波单元，所述A相电压采样滤波单元通过A相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述B相电压采样滤波单元通过B相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述C相电压采样滤波单元通过C相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述A相电压采样滤波单元、B相电压采样滤波单元和C相电压采样滤波单元分别连接至计量模块。
[0024]如图1所示，本例所述通讯模块优选包括485通讯模块和无线通讯模块，所述485通讯模块和无线通讯模块分别与MCU相连接，因此，本例既可以通过485也可以通过无线网络进行数据采集；本例还优选包括电平转换电路，所述无线通讯模块通过电平转换电路连接至MCU，所述电平转换电路用于实现将MCU的电压转换为无线通讯模块可用的电压，如将5.0V的电压转换为3.3V的电压，以实现无线通讯模块的供电，便于MCU直接控制无线通讯模块；本例还优选包括时钟模块，所述时钟模块与MCU相连接，用于实现时间的校准和辅助数据存储。
[0025]本例通过采样模块和计量模块，能够集成数字集成电路进而直接准确地测量各种电参数，并采用MCU通过读取并显示电参数数据，实现各种测控功能；通过电平转换电路满足无线通讯模块的电平转换需求，实现MCU供电需求与无线通讯模块供电需求之间的电平转换，进而实现数据的无线读取；通过存储模块的设置，能够在通讯过程出现异常的情况下实现数据存储功能，例如通讯线路断开或上位主机关闭等类似情况下，将异常过程中的数据存储在存储模块中，不至于丢失数据。
[0026]本例还优选包括时钟模块和485通讯模块，所述时钟模块和485通讯模块分别与MCU相连接。本例通过存储模块和时钟模块的设置，能够在通讯过程出现异常的情