b) 由导电材料制成的第二连接部（3)，所述第二连接部（3)用于将电流导出所述测量 电阻器（1 ;1〇)， c) 由电阻材料制成的电阻元件（4 ;13)，所述电阻元件（4 ;13)沿着电流方向布置在所 述第一连接部与所述第二连接部之间，电流流过所述电阻材料，并且所述测量电阻器还包 括 d) 第一对电压测量触点（7 ;14)，所述第一对电压测量触点用于测量所述电阻元件（4 ; 13)上的电压下降，所述第一对电压测量触点中的一个电压测量触点（7)电连接至所述第 一连接部（2)，而所述第一对电压测量触点中的另一个电压测量触点（7)电连接至所述第 二连接部（3)， 其特征在于 e) 所述测量电阻器（1 ;10)包括至少一对第二对电压测量触点（7 ;14)，所述至少一对 第二对电压测量触点用于测量所述电阻元件（4 ;13)上的电压下降，所述第二对电压测量 触点中的一个电压测量触点（7)电连接至所述第一连接部（2)，而所述第二对电压测量触 点中的另一个电压测量触点（7)电连接至所述第二连接部（3)， f) 所述第一对电压测量触点（7 ;14)布置在所述测量电阻器（1 ;10)的既没有呈现电 容特性又没有感应特性的位置（9)处，并且由此流过所述测量电阻器（1 ;10)的电流与所述 第一对电压测量触点（7 ;14)上的电压基本同相。2. 根据权利要求1所述的测量电阻器（1 ; 10)，其特征在于，多对电压测量触点（7 ; 14) 相对于电流流动方向并排布置在所述测量电阻器（1 ;1〇)上。3. 根据前述权利要求中任一项所述的测量电阻器（1 ;10)，其特征在于，多对电压测量 触点（7 ;14)布置成大致等距分布。4. 根据前述权利要求中任一项所述的测量电阻器（1 ;10)，其特征在于，所述电阻元件 (4 ; 14)横向于电流流动方向的宽度（b)是至少5mm、至少10mm、至少20mm、至少50mm、至少 100mm、或至少 200mm。5. 根据前述权利要求中任一项所述的测量电阻器（1 ;10)，其特征在于，所述电压测量 触点（7 ;14)的对数大于2、大于4、大于6、或大于8。6. 根据前述权利要求中任一项所述的测量电阻器（1 ;10)，其特征在于， a) 所述测量电阻器（1)是平面式，或者 b) 所述测量电阻器（10)是同轴电阻器，其中，多对电压测量触点（14)绕着周向分布。7. 根据前述权利要求中任一项所述的测量电阻器（1 ;10)，其特征在于， a) 所述测量电阻器（1 ;10)在多对电压测量触点（7 ;14)中的至少一对电压测量触点 处呈现电容特性，并且 b) 所述测量电阻器（1 ;10)在多对电压测量触点（7 ;14)中的至少一对电压测量触点 处呈现感应特性。8. -种测量组件，所述测量组件包括根据前述权利要求中任一项所述的测量电阻器 (1 ;1〇)并且包括评估分析单元（15)，所述评估分析单元连接至至少一对电压测量触点（7 ; 14)并获取电压测量值，并且所述评估分析单元还由所述电压测量值确定出所述电阻元件 (4;13)上的电压下降。9. 一种测量方法、尤其是一种借助四线技术、尤其利用根据前述权利要求中的任一项 所述的测量电阻器（1 ;1〇)测量电流的方法，所述方法包括下述步骤： a) 将待测量的电流导入测量电阻器（1 ;10)，以使得所述电流流过所述测量电阻器（1 ; 10)中的电阻元件（4 ; 13)， b) 将所述电流导出所述测量电阻器（1 ;10)，并且 c) 当所述电流流过所述电阻元件（4 ;13)时，确定所述测量电阻器（1 ;10)的所述电阻 元件（4 ;13)上的电压下降，所述电压是在第一对电压测量触点（7 ;14)上测得的， 其特征在于 d) 在多对电压测量触点（7 ;14)上分别测量所述电阻元件（4 ;13)上的电压下降的电 压测量值，其中，由所述多对电压测量触点（7 ;14)上的各电压测量值确定所述电阻元件 (4 ; 13)上的电压下降，或者 f)所述第一对电压测量触点（7 ;14)布置在所述测量电阻器（1 ;10)的既没有呈现电 容特性又没有呈现感应特性的位置（9)处，并且由此流过所述测量电阻器（1 ;10)的电流与 所述第一对电压测量触点（7 ;14)上的电压基本同相。10. 根据权利要求9所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括下述步骤： a) 利用加权因子相应地加权各电压测量值，并且 b) 由加权的电压测量值确定所述电阻元件（4 ;13)上的电压下降，和/或 c) 在校准过程中校准所述加权因子。11. 根据权利要求10所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括下述步骤： a) 确定影响所述电阻元件（4 ;13)中的电流的非均匀性的至少一个测量参数，并且 b) 根据所述至少一个测量参数确定所述加权因子。12. 根据权利要求11所述的测量方法，其特征在于，所述测量参数包括下述变量中的 至少一个： a) 电流的频率， b) 环境温度或所述测量电阻器的温度， c) 执行测量所处的外部磁场的大小和方向， d) 流过所述测量电阻器的电流， e) 所述电压测量触点上的电压。13. 根据权利要求9至12中任一项所述的测量方法，其特征在于，在各对电压测量触点 (7 ;14)上同步测量所述电压测量值。14. 根据权利要求9至13中任一项所述的测量方法，其特征在于，在各对电压测量触点 (7 ; 14)上以至少IOOHz、至少500Hz、至少IkHz、至少2kHz、或至少4kHz的采样速率测量所 述电压测量值。15. 根据权利要求9至14中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括下 述步骤： a)计算所述电压测量值的普通平均值或加权平均值， b)由所述电压测量值的平均值计算所述电阻元件（4 ;13)上的电压下降。16.根据权利要求9至14中任一项所述的测量方法，其特征在于， a) 将模拟电压测量值转换成数字电压测量值，和/或 b) 在所述模拟电压测量值基础上或在所述数字电压测量值基础上进行普通平均值计 算或加权平均值计算。
【专利摘要】本发明涉及一种测量电阻器(1)、尤其是一种低电阻电流检测电阻器，所述测量电阻器包括由导电材料制成的用于导入和导出电流的两个端部(2，3)、以及由电阻材料制成的电阻元件(4)，所述电阻元件(4)沿着电流方向布置在两个端部(2，3)之间，电流流过电阻元件(4)。根据本发明的一个变型例，测量电阻器还包括多对电压测量触点(7)，所述电压测量触点用于测量所述电阻元件(4)上的电压下降以能够在计量上补偿电流密度的非均匀性。相对而言，根据本发明的另一变型例，一对电压测量触点(7)布置在所述测量电阻器(1)的既没有呈现电容特性又没有感应特性的位置(9)处，由此使得流过所述测量电阻器(1)的电流与电压测量触点(7)上的电压基本同相。
【IPC分类】G01R1/20
【公开号】CN105074477
【申请号】CN201480019379
【发明人】U·黑茨勒
【申请人】伊莎贝尔努特·霍伊斯勒两合公司
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2014年2月17日
【公告号】DE102013005939A1, WO2014161624A1