同的规定 值，具体为本技术领域人员所熟知，此处不再赘述。
[0059] 本发明工业计算机1在获得待测数显电测量仪表8的外观、上电全显以及基本误 差测试的检测结果后，工业计算机1将相应的结果进行存储，并通过报表等形式将待测数 显电测量仪表8的检测结果进行输出。
【主权项】
1. 一种基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是；包括工业计算机 (1) ，所述工业计算机（1)与用于扫描待测数显电测量仪表（8)上条码信息的条码扫描仪 (2) 、用于获取待测数显电测量仪表（8)图像信息的工业相机（6)W及用于向待测数显电测 量仪表（8)加载测试信号的程控标准源（4)连接，工业相机（6)与待测数显电测量仪表巧） 一一对应，程控标准源（4)通过分配继电器（5)与若干待测数显电测量仪表（8)连接，所有 的待测数显电测量仪表（8)通过分配继电器巧）的触点与仪表供电电源（9)连接，分配继 电器（5)还与工业计算机（1)连接，工业计算机（1)能控制分配继电器巧）内相应触点的 开关状态，W控制待测数显电测量仪表（8)与程控标准源（4)W及仪表供电电源巧）的连 接状态； 条码扫描仪（2)扫描待测数显电测量仪表巧）的条码信息并将扫描的条码信息传输 至工业计算机（1)内，在收到待测数显电测量仪表（8)的条码信息后，工业计算机（1)通过 与所述进行条码扫描的待测数显电测量仪表（8)对应的工业相机（6)获取待测数显电测量 仪表（8)未供电的外观图像W及供电后的上电全显图像，且工业计算机（1)根据条码信息 提取预先存储在工业计算机（1)内并与所述条码信息匹配的标准数显电测量仪表外观图 像模板W及标准数显电测量仪表上电全显图像模板，工业计算机（1)采用模板匹配法将待 测数显电测量仪表巧）的外观图像、上电全显图像分别与标准数显电测量仪表外观图像模 板、标准数显电测量仪表上电全显图像模板进行比较匹配，W确定并输出所述待测数显电 测量仪表巧）的外观质量W及显示质量； 工业计算机（1)能控制分配继电器巧）W及程控标准源（4)向所述进行条码扫描后的 待测数显电测量仪表（8)加载所需的基本误差测试信号，并通过对应的工业相机（6)获取 所述待测数显电测量仪表（8)在加载基本误差测试信号后的基本误差测试图像，工业计算 机（1)根据获取的基本误差测试图像确定与基本误差测试信号相对应的仪表读数，工业计 算机（1)根据确定的仪表读数确定所述待测数显电测量仪表（8)在基本误差测试时的基本 误差，并根据所述基本误差判定所述待测数显电测量仪表巧）的精度。2. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 所述程控标准源（4)、分配继电器（5)通过232/485转换器（3)与工业计算机（1)连接，工 业相机（6)通过PCIExpressxl6总线接口（7)与工业计算机（1)连接。3. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 所述待测数显电测量仪表（8)包括电流表、电压表、功率表、无功功率表、功率因数表或频 率表，所述待测数显电测量仪表巧）的显示形式包括液晶显示或数码管显示。4. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 工业计算机（1)通过工业相机（6)获取待测数显电测量仪表（8)未上电的外观图像后，将 待测数显电测量仪表（8)未上电的外观图像进行切割分离，W得到待测字符区域、待测图 标区域W及待测标签区域； 工业计算机（1)将得到的待测字符区域、待测图标区域W及待测标签区域与标准数显 电测量仪表外观区域相对应的区域模板直接进行匹配对比，且工业计算机（1)进行匹配对 比的方法为：其中，d为相似性度量函数的匹配度量值，S为M*N大小的待测区域图像，T为同样大小 的模板图像，（i，j)为图像上像素点的坐标。5. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 工业计算机（1)通过分配继电器巧）W及仪表供电电源（9)统一为所有的待测数显电测量 仪表做供电，待测数显电测量仪表做由仪表供电电源（9)供电后，待测数显电测量仪表 (8)进行上电自检； 工业计算机（1)通过工业相机（6)获取对应待测数显电测量仪表巧）的上电自检视 频，并在工业相机（6)获取的上电自检视频中得到所述待测数显电测量仪表巧）的上电全 显图像。6. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 所述工业计算机（1)根据条码扫描仪（2)传输的条码信息自适应判断与所述条码信息相对 应的待测数显电测量仪表（8)的仪表类型；根据判断待测数显电测量仪表（8)的类型，工业 计算机（1)控制分配继电器巧）W及程控标准源（4)向所述进行条码扫描的待测数显电测 量仪表（8)加载所需的基本误差测试信号。7. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 工业计算机（1)对待测数显电测量仪表（8)加载基本误差测试信号进行基本误差测试时， 在等待当前基本误差测试信号对应的待测数显电测量仪表巧）的输出显示稳定期间，工业 计算机（1)利用GPU加速对上一基本误差测试信号对应的基本误差测试图像进行并行处 理，W确定基本误差测试图像对应的仪表读数。8. 根据权利要求1所述的基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其特征是： 工业计算机（1)利用卷积神经网络识别基本误差测试图像对应的仪表读数，并计算所述基 本误差测试信号下仪表读数的引用误差，所述引用误差为：其中，X。为标准数显电测量仪表的标准示数值，X。为待测数显电测量仪表（8)在基本 误差测试信号下的仪表读数，为待测数显电测量仪表巧）的仪表量程； 在对待测量数显电测量仪表（8)加载完基本误差测试信号，工业计算机（1)取引用误 差的最大值为基本误差R;若基本误差R大于规定值，则所述待测数显电测量仪表巧）的精 度不合格，否则，所述待测量数显电测量仪表巧）的精度合格。
【专利摘要】本发明涉及一种基于机器视觉的数显电测量仪表质量群检系统，其包括工业计算机，所述工业计算机与条码扫描仪、工业相机以及程控标准源连接，工业相机与待测数显电测量仪表一一对应，程控标准源通过分配继电器与若干待测数显电测量仪表连接，所有的待测数显电测量仪表通过分配继电器的触点与仪表供电电源连接，分配继电器还与工业计算机连接，工业计算机能控制分配继电器内相应触点的开关状态，以控制待测数显电测量仪表与程控标准源以及仪表供电电源的连接状态；本发明智能化程度高，适宜于中小型仪表生产企业的低附加值数显产品，特别是无通信接口数显电测量仪表的出厂检测，检测效率高，适应范围广，安全可靠。
【IPC分类】G01R35/00
【公开号】CN104931907
【申请号】CN201510242542
【发明人】朱美强, 李明, 王洪栋, 叶景东, 贾文其, 朱文祥, 孔旭
【申请人】中国矿业大学
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年5月13日