[0027] 在其它实施例中，由于相同的原因，仅更换至少一个接触模块。在各情况下，需要 权衡相对于更换的生产费用的投资成本。
【附图说明】
[0028] 本发明其它的细节及优点将通过对实施例的描述得出，参照附图对实施例进行详 细描述。附图中：
[0029] 图Ia与图Ib为在不同位置上的根据本发明的第一实施例的示意性的局部视图，
[0030] 图2a与图2b为在相同位置上的第二实施例的相应的局部视图，
[0031] 图3a与图3b为第三实施例的视图，
[0032] 图4a与图4b示出了其它实施例的细节，以及
[0033] 图5为针对单个测试的处理机构的基本示意图。
[0034] 附图标记说明
[0035] 1 测试插座
[0036] 2 测试接触部
[0037] 3 槽件
[0038] 4 电子元件
[0039] 5 元件接触部
[0040] 6 左基身
[0041] 7 左接触模块
[0042] 8 右基身
[0043] 9 右接触模块
[0044] 10 单件基身
[0045] 11 弹簧元件
[0046] 12 支撑元件
[0047] 13 压力柱塞
[0048] 14 螺纹杆
[0049] 15 负载板
[0050] 16 测试头
[0051] 17 叶片弹簧
[0052] 18 橡胶垫
[0053] 19 轮廓凹陷
[0054] 20 轮廓凸柱
【具体实施方式】
[0055] 根据图5示出的处理机构包括压力柱塞13,所述压力柱塞通过螺纹杆14可以匀速 地上下移动。在压力柱塞13上设置槽件3,所述槽件用于接收待测试的电子元件。然而，还 可以设置支脚，其可通过X-Y-移位装置进行定位，且其配备大量的待测试的电子元件。
[0056] 用标识1表示测试插座或测试插座-组。通过测试插座-组可以同时测试更多的 电子元件。由于是否每次同时仅测试一个电子元件或多个电子元件在本发明中并不重要， 根据本发明的装置将按照单个测试进行详细说明。
[0057] 槽件3定位在压力柱塞13上，使得放置在所述槽件内的电子元件4以其接触部准 确位于测试插座的测试接触部的下面。测试头16作为固定的、不可移动的模块被安装在压 力柱塞上13和槽件3上。在测试头16与测试插座1之间的连接通过负载板15实现。
[0058] 为测试电子元件4,压力柱塞13向上移动，且电子元件的接触部通过较大的压力 挤压在测试插座1的测试接触部上。优选地，接触压力足够大，使得在电子元件4的接触部 与在此未示出的测试插座1的测试接触部之间可以确保导电连接。首先在预先确定的程序 后完成测试。
[0059] 在测试结束后，压力柱塞13下降，使得电子元件的接触部从测试插座1的测试部 脱开。在最下边的位置上，已经测试过的电子元件现在例如可以通过所谓的拾取和放置装 置移开，且与待测试的电子元件进行交换。
[0060] 在参照图1至图3所有三个实施例中，以同样的方式示出了具有测试接触部2的 测试插座1、槽件2及待测试的具有接触部5的电子元件4。在所有附图中，相同部件以同 样的标号标识。在图1至图3中，未示出压力柱塞13,但是，通过槽件3下的双箭头标识。
[0061] 测试插座1包括在两个相对设置的面的测试接触部2。在此，所述接触部作为接触 弹簧示出，所述接触弹簧的尖部可以挤压测试插座1。将接触弹簧固定在测试插座上的角度 仅稍微偏离90°角。通过该方式，测试接触部的尖部的弯曲仅仅在水平面中出现非常小的 测试尖部的偏移。在测试接触部弹性减震过程中，测试接触部2的尖部与待测试电子元件 4的接触部5之间的仍然保持配合。
[0062] 在此，本发明参照具有测试接触部的测试插座进行说明，所述测试接触部被构造 成接触部弹簧。然而，本发明还可以应用在测试插座中，所述测试插座的测试接触部被构造 成弹簧加载的测试引脚（federbelastete Prilf-Pins)。
[0063] 在根据图Ia与图Ib的实施例中，在槽件3的两个相对设置的面上分别固定清洁 单元6、7和8、9。在此，每个清洁单元包括基身6、8与接触模块7、9。优选地，两个清洁单 元与槽件3拧紧，或通过可拆卸的锁紧连接固定在槽件3上。接触模块7、9实施成刷状，具 有刷毛。选择刷毛，使得可以清除在测试接触部2上新产生的沉积物，然而数量众多的测试 过程也不损害测试接触部2。
[0064] 由于在接触中，在测试接触部2与接触模块7、9之间的相对运动期间，测试接触部 2不会磨损，随时间的推移接触模块7、9被消耗。因此，接触模块必须不定期的进行更新。 通常存在下述可能性，即，仅更换模块7、9或者更换包括基身6、8的整个清洁单元。其中， 有两种可能性，费用较低，例如，定向使用用于接触模块。
[0065] 在测试进程开始时，槽件3从上抵靠测试插座1移动。在所述移动过程中，测试接 触部2与接触模块7、9接触，所述移动向下挤压，且接触模块7、9在此弹性变形。当继续移 动到测试位置时（参见图Ib)，所述弹性变形的接触模块7、9沿着测试接触部2密封。在 此，从测试接触部清除沉积物，如灰尘颗粒或锡颗粒。在测试位置上，被固定在测试插座1 上的测试接触部2的支脚部，实际上处在水平方向上。
[0066] 测试后，沉积物可能会再次出现在测试接触部2上。因此，当槽件3向下移动时， 测试模块7、9在另一个方向呈现弹性变形，且沿着测试接触部重新抹过，使得所述沉积物 立刻再次被清除。
[0067] 因此，在每个测试进程中，两次清洁测试接触部，一次在槽件3向上移动中且一次 在其向下移动中。同时，在正常的测试进程中完成清洁，使得无需附加的移动。通过该方式， 不必忍受平均测试周期的延长。所以，测试接触部的清洁不存在时间损失。
[0068] 通过清洁，在测试插座1的测试接触部2与待测试的电子元件4的接触部5之间 的导电性在测试过程中得到长时间保持。这导致，测试接触部2很少必须更换。最终，根据 本发明的配置甚至缩短了平均的周期时间。
[0069] 在参照图2a与图2b的实施例中，仅设置一个清洁单元，与参照图1中的实施例相 比较，所述清洁单元完全是按照另一种方式进行安装。设计成具有两个接触模块7、9的单 件基身10,借助弹簧元件11直接固定在测试插座1上。清洁单元这样定位，使得接触模块 7、9处在清洁单元的静止位置上，在测试接触部2的尖部下。
[0070] 可以通过弹簧元件11操控清洁单元，或者在测试插座1上设置进行自控，确保清 洁单元仅在双箭头的方向上移动，且不可以横向拆下。
[0071] 当测试进程开始时，槽件3向上移动，清洁单元不与槽件3 -起移动。首先，如果 待测试的电子元件4(参见图2b)触碰到单件基身10的底侧，则当槽件3继续移动时，进入 测试位置，清洁单元参与移动。图2示出简化的待测试的电子元件4自身作为用于清洁单 元的同步件（Mitnehmer)。然而，优选地，在槽件上设置同步件，通过所述同步件，移动清洁 单元，而不必使用电子元件4作为滑块。
[0072] 在所述实施例中，具有单件基身10的清洁单元及两个接触模块7与9,仅在非常小 的距离上移动。所述移动足够，使两个接触模块7与9与测试接触部接触，并且沿所述测试 接触部在其上擦拭。
[0073] 相对于根据图1的实施例，清洁单元仅移动一段距离，所述距离对于清洁测试接 触部2是必要的。清洁单元不参与所