出值获取系统的电流检测值；
[0070](3)当待测电流持续为安培档时，Rs-1处于短路状态，INAl的输出值低于微安档阈值电压Vrefl，第一比较器I再次跳转；但是此时的INA2输出值高于安培档阈值电压Vref2，MCU据此判断切档开关Switch继续保持导通，MCU继续根据ADC2的输出值获取系统的电流检测值；
[0071](4)当待测电流由安培档降为微安档时，INA2输出值低于安培档阈值电压Vref2，第二比较器跳转；MCU控制切档开关Switch断开，Rs-1被接入母线，MCU根据ADCl的输出值获取系统的电流检测值。
[0072]实施例1提供的电流检测系统和档位切换方法，可以将档位切换时间降到Ims以下，提高了输出电压的瞬变特性，并有效地降低了电流突变对分流电阻的冲击。
[0073]实施例2
[0074]实施例2提供的电流检测系统的电路如图3所示，具有安培、毫安和微安3个检测的档位，具体如下:
[0075]其电流检测单元包括微安档电流检测单元、毫安档检测单元和安培档检测单元；由第四放大器INA4和第一模数转换器ADCl构成微安培档电流检测单元；由第五放大器INA5和第二模数转换器ADC2构成毫安档检测电路；由第六放大器INA6和第三模数转换器ADC3构成安培档检测电路；
[0076]其中，微安档检测范围为O?ImA ;毫安档检测范围为ImA?IA ;安培档检测范围为IA?4A。
[0077]其分流电阻包括微安档分流电阻Rs-1、毫安档分流电阻Rs-2和安培档分流电阻Rs-3 ;第一切档开关Switchl并联在微安培档分流电阻Rs-1的两端，第二切档开关Switch2并联在毫安培档分流电阻Rs-2的两端。
[0078]实施例2里，微安档分流电阻Rs-1阻值为100 Ω，毫安档分流电阻Rs-2阻值为10mQ,安培档分流电阻Rs-3阻值为ΙΟπιΩ ;在微安档采样时，由于Rs_2和Rs_3极小，且流过Rs-2和Rs-3的电流也在微安档，Rs-2和Rs_3上的分压对电路输出电压造成影响可以忽略；在毫安档采样时，Rs-3极小，流过Rs-3的电流也在毫安档，Rs-3上的分压对电路输出电压造成影响可以忽略。
[0079]其切档触发单元包括第一电压比较单元、第二电压比较单元和第三电压比较单元；第一电压比较单元用于比较微安档分流电阻Rs-1两端的电压与微安档阈值Vrefl，包括第一放大器INAl (、第一阈值电压产生模块DAl和第一比较器；INA1检测Rs-1的端电压，并送入第一比较器1，与DAl设定的微安档阈值Vrefl比较；
[0080]第二电压比较单元用于比较毫安档分流电阻Rs-2两端的电压与毫安档阈值电压Vref2 ;包括第二放大器INA2、第二阈值电压产生模块DA2和第二比较器；INA2检测Rs_2的端电压，并送入第二比较器2，与DA2设定的毫安档阈值电压Vref2比较；
[0081]第三电压比较单元用于比较安培档分流电阻Rs-3两端的电压与安培档阈值电压Vref 3 ;包括第三放大器INA3、第三阈值电压产生模块DA3和第三比较器；INA3检测Rs_3的端电压，并送入第三比较器3，与DA3设定的安培档阈值电压Vref3比较；
[0082]控制单元采用FPGA实现，根据上述三个比较结果生产切档触发信号，控制开关通断；
[0083]同步的，INA4检测Rs-1的端电压并放大，之后送入ADCl进行模数转换；ADC1将模拟的电压信号转换为数字信号后送入控制单元；
[0084]INA5 (PGA281)检测Rs_2的端电压并放大，之后送入ADC2进行模数转换；ADC2将模拟的电压信号转换为数字信号后送入控制单元；
[0085]INA6检测Rs-3的端电压并放大，之后送入ADC3进行模数转换；ADC3将模拟的电压信号转换为数字信号后送入控制单元。
[0086]以下结合实施例2提供的电流检测系统的电流检测过程，具体阐述档位切换的方法及原理:
[0087](I)当待测电流为微安档时，断开第一切档开关Switchl和第二切当开关Switch2 ；INA1的输出值低于微安档阈值电压Vrefl，INA2输出值低于毫安档阈值电压Vref2, INA3输出值低于安培档阈值电压Vref3，MCU采用ADCl的输出值作为系统的检测值；
[0088]其中，Vrefl= 100 Ω *lmA = 10mV ；Vref2 = 100ηιΩ*1ηιΑ = 10uV ；Vref3 =1m Ω *1A = 1mV ；
[0089](2)当待测电流由微安档跳变至毫安档时，INAl的输出值超过设定的微安档阈值Vref 1，第一比较器跳转；INA2输出值高于毫安档阈值电压Vref2，第二比较器跳转，INA3输出值低于安培档阈值电压Vref3，第三比较器不跳转，MCU控制第一切档开关Switchl导通，Rs-1被短路；MCU开始根据ADC2的输出值获取系统的电流检测值；
[0090](3)当待测电流持续为毫安档时，Rs-1处于短路状态，INAl的输出值低于微安档阈值电压Vrefl，第一比较器I再次跳转；但是此时的INA2输出值高于毫安档阈值电压Vref2, MCU据此判断第一切档开关Switchl继续保持导通，MCU继续根据ADC2的输出值获取系统的电流检测值；
[0091](4)当待测电流由微安档跳变至安培档时，INAl的输出值超过设定的微安档阈值Vrefl，第一比较器跳转；INA2输出值高于毫安档阈值电压Vref2，第二比较器2跳转，INA3输出值高于安培档阈值电压Vref3，第三比较器跳转，MCU控制第一切档开关Switchl和第二切档开关Switch2导通，Rs-1和Rs-2被短路；MCU开始根据ADC3的输出值获取系统的电流检测值；
[0092](5)当待测电流持续为安培档时，Rs-1和Rs-2处于短路状态，INAl的输出值低于微安档阈值电压Vrefl，INA2的输出值低于微安档阈值电压Vref2，第一比较器I和第二比较器2再次跳转；但是此时的INA3输出值高于安培档阈值电压Vref3，MCU据此判断第一切档开关Switchl和第二切档开关Switch2继续保持导通，MCU继续根据ADC3的输出值获取系统的电流检测值；
[0093](6)当待测电流由毫安档跳变至安培档时，INA2输出值高于毫安档阈值电压Vref2，第二比较器2跳转，INA3输出值高于安培档阈值电压Vref3，第三比较器跳转，MCU控制保持第一切档开关Switchl的导通，Rs-1保持被短路状态；MCU控制第二切档开关Switch2导通，Rs-2被短路；MCU开始根据ADC3的输出值获取系统的电流检测值；
[0094](7)当待测电流由安培档降为微安档时，INA3输出值低于安培档阈值电压Vref3，第三比较器跳转；MCU控制第一切档开关Switchl和第二切当开关Switch2断开，Rs-1和Rs-2被接入母线，此时INAl输出值低于微安档阈值电压Vrefl，INA2输出值低于毫安档阈值电压Vref2，INA3输出值低于安培档阈值电压Vref3 ;MCU根据ADCl的输出值获取系统的电流检测值。
[0095](8)当待测电流由安培档降为毫安档时，INA3输出值低于安培档阈值电压Vref3，第三比较器跳转；MCU控制第一切档开关Switchl和第二切当开关Switch2断开，Rs-1和Rs-2被接入母线，此时INAl输出值高于微安档阈值电压Vrefl，INA2输出值高于毫安档阈值电压Vref2，INA3输出值低于安培档阈值电压Vref3，MCU控制第一切当开关Switchl导通，并保持第二切当开关Switch2的断开状态；MCU根据ADC2的输出值获取系统的电流检测值。
[0096]现有技术中具有微安、毫安和安培三档的电流检测系统，从检测到电流瞬变到生成档位切换信号，其中间过程需经过复杂数字处理，才能达到要求的精度，而数字处理至少需要1ms以上；因此从电流瞬变到档位的切换，至少有1ms的延时；
[0097]实施例2中，电流瞬变之后的Ims之内有档位切换动作，提高了输出电压的瞬变特性，并有效地降低了电流突变对分流电阻的冲击。
[0098]本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含