本实用新型涉及编带机设备,特别是涉及编带机测试机构。
背景技术:
SMD编带机的基本架构是由一组圆形振动盘与一组平行振动轨道负责送料,再由特制吸嘴将SMD依序送进测试站,经由极性判断后可将该SMD旋转至相同包装方向外,亦可配合混料检知仪进行电性、亮度、波长的检知,再将不合格的SMD吹进废料盒,将合格的SMD依序送进卷带内并包装完毕。
LED材料在具体的使用过程中有严格的要求,在LED材料安装至相应的电器上或者为实现工业化的大批量生产对LED材料进行编带封装之前,都应对LED材料进行相应的测试,以使生产出来的电子产品能够正常使用。SMD编带机的测试机构可以对LED材料的性能进行检测,LED材料测试机构包括探针座、探针和弹簧等,探针在弹簧的作用下可相对探针板上下移动,传统的LED材料测试机构的探针板和探针形状复杂,并且弹簧设置在探针上开设的凹槽内,探针相对探针座移动时容易左右晃动、倾斜,探针与探针座的摩擦力较大,并且内置于探针内的弹簧不易更换,整个测试机构的安装繁琐。
技术实现要素:
基于此,有必要提供一种使用寿命长且容易安装的测试机构。
一种测试机构,包括探针板、探针和弹性件,所述探针贯穿设置于所述探针板上,且可相对所述探针板移动,所述弹性件沿轴向套设于所述探针外且抵接于所述探针与所述探针板之间。
上述测试机构是编带机的一部分,用于检测LED材料,LED材料放置于探针上时探针相对探针板向下移动,进而压缩抵接于探针与探针板之间的弹性件,探针凸出探针板的高度可以通过弹性件调节,使LED材料的各个引脚均可以与探针完全接触,可以提高测试的准确性及稳定性;并且收容于探针板内探针的外周整体被弹性件包围,使得探针在外力作用下移动时受力更加均匀,同时探针在外力作用下沿轴向移动时,因受周向弹性件的限位作用,使其相对探针座移动时更加稳定,不易晃动、倾斜,进而减小了探针与探针板之间的摩擦力,提高了测试机构的使用寿命,同时弹性件设于探针外容易安装,也方便更换。
在其中一个实施例中,所述探针板上设有容纳槽,容纳槽内的所述探针靠近所述容纳槽顶部处沿周向设有凸缘,所述弹性件抵接于所述凸缘与所述容纳槽的底部之间。
在其中一个实施例中,所述探针板由陶瓷材料制成。
在其中一个实施例中,所述探针由铍铜制成。
在其中一个实施例中,还包括隔板,所述探针板的数量为两块,两块所述探针板分别固定于所述隔板相对的两面;所述探针板上设有与所述容纳槽相通的开口,两个所述探针板上的所述开口均面向所述隔板设置。
在其中一个实施例中,还包括支撑架,所述探针板及所述隔板设于所述支撑架上。
在其中一个实施例中,所述支撑架包括底座和调节座,所述探针及所述隔板设于所述调节座上,所述调节座可相对所述底座移动。
在其中一个实施例中,设于所述探针板上的所述探针的数量为多个,多个所述探针凸出所述探针板顶端的高度相同,所述弹性件的数量对应多个所述探针也为多个。
附图说明
图1为本实用新型一具体实施例中测试机构结构示意图;
图2为图1所示测试机构的部分结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1及图2所示,本实用新型一具体实施例中测试机构100包括探针板10、探针12和弹性件14,探针12贯穿设置于探针板10上,且可相对探针板10移动,弹性件14沿轴向套设于探针12外且抵接于探针12与探针板10之间。
上述测试机构100是编带机的一部分用于检测LED材料,LED材料放置于探针12上时探针12向下移动,进而压缩抵接于探针12与探针板10之间的弹性件14,探针12凸出探针板10的高度可以通过弹性件14调节,使LED材料的各个引脚均可以与探针完全接触,提高了测试的准确性及稳定性;并且收容于探针板10内探针12的外周整体被弹性件14包围,使得探针12在外力作用下移动时受力更加均匀,同时探针12在外力作用下沿轴向移动时,因受周向弹性件14的限位作用,使得其相对探针座10移动时更加稳定,不易晃动、倾斜,进而减小了探针12与探针板10之间的摩擦力,提高了测试机构100的使用寿命,同时弹性件14设于探针12外容易安装,也方便更换。
探针板10上设有容纳槽16,容纳槽16内的探针12靠近容纳槽16顶部处沿周向设有凸缘,弹性件12抵接于凸缘与容纳槽16的底部之间,弹性件14可以通过探针12被压缩,探针12凸出探针板10的高度可以通过弹性件14调节。具体地,弹性件12为弹簧。
探针板10上探针12的数量为多个,多个探针12凸出探针板10顶端的高度相同,弹性件14的数量对应多个探针12也为多个,多个探针12的探头汇聚于探针板10的中间位置且分别与LED材料的各个引脚接触,其中一个探针12的探头对应一个LED材料的引脚。在本具体实施例中,探针板10上探针12的数量为三个。可以理解地,在其他一些实施例中,探针12的数量可以根据LED材料的引脚数量设置为其他数量,在此不做限定。
测试机构100还包括隔板30,探针板10的数量为两块,两块探针板10分别固定于隔板30相对的两面;探针板10上设有与容纳槽16相通的开口161,两个探针板10上的开口161均面向隔板30设置。安装测试机构100时,先将弹性件14套设于探针12外,然后将组装好的探针12与弹性件14通过容纳槽16安装于探针板10上,最后通过隔板30将两块探针板10固定在隔板30相对的两面,并且使两块探针板10的开口161均面向隔板30设置,将探针板10上的探针12及弹性件14封闭,如此可以方便的封闭探针板10内的探针12与弹性件14。
进一步地,测试机构100还包括支撑架50,探针板10和隔板30固定于支撑架50上。
进一步地,支撑架50包括底座52和调节座54,探针板10及隔板30固定于调节座54上,调节座54可相对底座52移动,通过调节座54调节探针板10及隔板30相对底座52的高度,满足测试的需求。
具体地,探针板10由陶瓷材料制成,具有很强的耐磨性,探针12由铍铜制成,增加探针12相对探针板10滑动的灵活性,同时又可以增加测试的稳定性,当铍铜制成的探针12与由陶瓷制成的探针板10配合使用安装时,可以延长测试机构100的使用寿命。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。