1.一种低温X射线诱导热释光光谱测量装置，其特征在于，所述测量装置包括X射线源、温度控制单元、设置于温度控制单元内的样品台、光收集系统、以及光栅光谱仪，所述温度控制单元包括保温壳体、以及设置于保温壳体内的温度传感器和加热制冷器，其中，
所述X射线源设置为发射通过温度控制单元的保温壳体上的孔洞、入射至样品台的样品上的X射线；
所述温度传感器设置为检测样品台上样品的温度，所述加热制冷器设置为响应温度传感器测量的样品温度、并调节样品温度至设定温度，所述保温壳体上设置有用于使样品发出的热释光信号传输至保温壳体外部的孔洞；
所述光采集系统设置为采集样品发出的热释光信号、并将热释光信号输送至光栅光谱仪；
所述光栅光谱仪包括设置为接受光采集系统输送的热释光信号、并将热释光信号输送至其内部的图像传感器。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述X射线源为能够定向发射X射线的X射线管。
3.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述温度控制单元设置为能够调节样品温度至77K。
4.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述光采集系统包括准直透镜、聚焦透镜、传导光纤，其中，
准直透镜设置为将采集的热释光信号准直；
聚焦透镜设置为将经准直的热释光信号聚焦至传导光纤；
所述传导光纤设置为输送热释光信号至光栅光谱仪。
5.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述光栅光谱仪还包括狭缝器件、信号光反射镜、反射式闪耀平场光栅、反射聚光镜，其中，
所述狭缝器件设置为用于通过热释光信号；
所述信号光反射镜设置为接受通过狭缝器件的热释光信号、并将热释光信号反射至反射式闪耀平场光栅；
所述反射式闪耀平场光栅设置为接受热释光信号、并将热释光信号反射至反射聚光镜；
所述反射聚光镜设置为接受热释光信号、并将热释光信号反射至图像传感器。
6.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述温度传感器内嵌于所述样品台。