阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置的制造方法

文档序号:9377314阅读:329来源:国知局
阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及有机发光背板的检测装置。
【背景技术】
[0002]有源矩阵有机发光二极管(Active-matrixorganic light emitting d1de,AMOLED)显示面板的制程包括:背板(BP)制程、有机发光层(EL)制程和封装制程。在背板制程中通常会采用阵列检测(Array test)等技术进行背板的检测,检测每个像素单元是否发生不良,以防止不良背板进入后续工艺制程而生产出不良面板,同时可以监控阵列检测工艺的稳定性。
[0003]阵列检测的过程中也会出现误检的情况,为了提高阵列检测的可靠性,需要将部分背板投入有机发光层制成和封装制程,在成盒检测(cell test)阶段点亮面板,通过面板显示结果与阵列检测时的检测结果进行对照以修正阵列检测的检测条件。但是由于有机发光层的制作成本较高,并且制作有机发光层后,有机发光层也可能出现不良,不易与阵列检测时的不良进行区分。

【发明内容】

[0004]本发明的目的在于提供一种阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及有机发光背板的检测装置,无需制作发光层就可以对阵列检测的可靠性进行判断,防止发光层对判断结果的干扰。
[0005]为了实现上述目的,本发明提供一种有机发光背板的阵列检测可靠性判断方法,所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层,所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极,所述判断方法包括:
[0006]S1、从已完成阵列检测的有机发光背板中抽取至少一个有机发光背板作为样本基板;
[0007]S2、对所述样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号;
[0008]S3、检测所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流;
[0009]S4、将所述像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流与预定电流对比,当所述像素电路层输出至像素单元的阳极的电流与预定电流不一致时,判定该像素单元为不良像素;
[0010]S5、将每个像素单元的判定结果与阵列检测的检测结果对比,当所述判定结果和所述检测结果一致时,判定所述阵列检测为可靠检测;当所述判定结果和所述检测结果不一致时,判定所述阵列检测为不可靠检测。
[0011]优选地,所述判断方法还包括在步骤SI和S2之间进行的:
[0012]S15、将多个像素单元内的阳极电连接;
[0013]步骤S3包括:每扫描一行像素单元均检测一个相应的阳极电流;步骤S4包括:
[0014]S41、将检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较,当检测到的阳极电流与所述预定电流一致时,判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内没有不良像素;当检测到的阳极电流与预定电流不一致时,判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素;
[0015]S42、对存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号,并依次向每个像素单元提供数据电压信号;
[0016]S43、检测与每个像素单元相对应的阳极电流;
[0017]S44、将每个阳极电流与预定电流对比,当所述阳极电流与预定电流不一致时,判定所述存在不良像素的一行中对应于所述阳极电流的像素单元为不良像素。
[0018]优选地,所述步骤S15包括在所述样本基板的阳极层上设置阴极层,以将多个像素单元内的阳极电连接。
[0019]优选地,对样本基板进行阵列检测后的检测结果生成第一图像,所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点,当阵列检测判定像素单元为正常像素时,该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色,当阵列检测判定像素单元为不良像素时,该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第二颜色;
[0020]所述判断方法还包括在在S4和S5之间进行的:将步骤S4的判定结果生成第二图像;所述第二图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点,当步骤S4判定像素单元为正常像素时,该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第一颜色,当步骤S4判定像素单元为不良像素时,该像素单元在第二图像中对应的像素点的颜色为第二颜色;
[0021]所述步骤S5包括:将所述第一图像和所述第二图像进行对比,当两个图像中每个像素点的颜色均相同时,判定阵列检测为可靠检测,否则,判定阵列检测为不可靠检测。
[0022]相应地,本发明还提供一种有机发光背板检测方法,包括:
[0023]对多个有机发光背板进行阵列检测;
[0024]利用本发明提供的上述判断方法对阵列检测的可靠性进行判断;
[0025]当判定所述阵列检测为不可靠检测时,所述检测方法包括:对阵列检测进行调节,并利用调节后的阵列检测对所述样本基板进行阵列检测,直至检测结果与步骤S4中的判定结果一致为止。
[0026]相应地,本发明还提供一种有机发光背板的检测装置,所述有机发光背板包括像素电路层和阳极层,所述阳极层包括位于所述有机发光背板的每个像素单元中的阳极,所述检测装置包括:
[0027]阵列检测模块,用于对多个有机发光背板进行阵列检测;
[0028]驱动模块,用于向样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号,所述样本基板为已完成阵列检测的有机发光背板中的至少一个有机发光背板;
[0029]电流检测模块,用于检测样本基板的像素电路层输出至每个像素单元的阳极的电流;
[0030]第一判断模块,将电流检测模块所检测的电流与预定电流对比,当电流检测模块所检测的电流与预定电流不一致时,判定相应的像素单元为不良像素;
[0031]第二判断模块,用于第一判断模块的判定结果与阵列检测模块的检测结果对比,当所述判定结果和所述检测结果一致时,判定所述阵列检测模块的检测结果为可靠检测,当所述判定结果和所述检测结果不一致时,判定所述阵列检测模块的检测结果为不可靠检测;
[0032]调节模块,当第二判断模块判定所述阵列检测模块的检测结果为不可靠检测时,所述调节模块能够对所述阵列检测模块进行调节,直至所述阵列检测模块对所述样本基板的检测结果与所述第一判断模块的判定结果一致。
[0033]优选地,所述样本基板的像素电路层包括位于每个像素单元的写入晶体管、驱动晶体管、存储电容和开关晶体管,所述驱动晶体管的第一极与高电平输入端相连,所述驱动晶体管的第二极与所述阳极相连,所述驱动晶体管的栅极与所述写入晶体管的第二极相连,所述开关晶体管的第一极与所述阳极相连,所述样本基板还包括多条第一扫描线、多条第二扫描线、多条数据线和多条检测线,同一行所述写入晶体管的栅极与相应的第一扫描线相连,同一列写入晶体管的第一极与相应的数据线相连,同一行开关晶体管的栅极与相应的第二扫描线相连,同一列开关晶体管的第二极与相应的检测线相连;
[0034]所述驱动模块向样本基板的多个像素单元逐行扫描时,向同一行像素单元对应的第一扫描线和第二扫描线同时提供扫描信号,所述电流检测模块包括第一检测子模块,用于检测通过所述检测线的电流。
[0035]优选地,所述样本基板上的每个像素单元内的阳极电连接,所述电流检测模块还包括第二检测子模块,每扫描一行像素单元所述第二检测子模块均能够检测到一个相应的阳极电流;
[0036]所述第一判断模块能够将所述第二检测子模块检测到的阳极电流与所述预定电流进行比较,当检测到的阳极电流与预定电流一致时,判定与所述阳极电流对应的一行像素单元内没有不良像素;当检测到的阳极电流与预定电流不一致时,判定与所述阳极电流相对应的一行像素单元内至少存在一个不良像素;
[0037]所述驱动模块能够向存在不良像素的一行像素单元提供扫描信号,并依次向每个像素单元提供数据电压信号,以使得所述第二检测子模块检测与每个像素单元对应的阳极电流,并使得所述第一判断模块将所述第二检测子模块检测到的每个阳极电流与预定电流对比,当所述阳极电流与预定电流不一致时,判定存在不良像素的一行中对应于该阳极电流的像素单元为不良像素。
[0038]优选地,所述样本基板的阳极层上还设置有阴极层,以将多个像素单元内的阳极电连接。
[0039]优选地,所述第二判断模块包括图像生成子模块和图像对比子模块,
[0040]所述图像生成子模块能够将所述阵列检测模块对所述样本基板的检测结果生成第一图像,并将所述第一判定模块对样本基板的判定结果生成第二图像,所述第一图像包括多个与样本基板的像素单元对应的像素点,当阵列检测模块判定像素单元为正常像素时,该像素单元在第一图像中对应的像素点的颜色为第一颜色,当阵
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