检测设备及其探针组件的利记博彩app
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试设备领域，特别是涉及一种探针组件以及使用该探针组件的检测设备。
【背景技术】
[0002]随着LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)显示技术的不断发展，LTPS(LowTemperature Poly-silicon，低温多晶娃技术)工艺面板被认为是目前全球高端应用市场最具发展前景的主流显示技术之一。具有高分辨率、反应速度快、高亮度、高开口率、低功耗等优势，被广泛应用在中高端智能手机、平板电脑等中小尺寸显示领域。但因LTPS工艺面板中的阵列制程复杂导致产品良率不高，出货需求缺口大。而阵列测试仪检查可以监控LTPS制程，反馈产线，达到不断提高良率之目的。所以大多产线都会对产品进行使用阵列测试仪检查。
[0003]现在业界LTPS/AMOLED (Active-matrix organic light emitting d1de，有源矩阵有机发光二极体面板)使用全接触型阵列测试仪设备进行测试，主要包括C0G(chipon grass，玻璃芯片)方式、(Full-Pin Contact Probing，全接脚探针)和Demux(解复用器)方式，现有技术中的探针与LCD显示器中的测试点接触测试过程中，探针需要足够的滑行量才能够与LTPS工艺的面板中的测试点接触，为保证测试结果精确度，不发生漏接触现象。固定探针的探针卡需要足够针卡滑行量保证探针与测试点完全接触，但是由于探针与测试点均过细，难以控制和判断探针将要与测试点接触时的针卡滑行量，滑行过快，容易刮损测试点，滑行过慢容易误以为探针已全部与测试点接触，导致出现部分测试点漏测现象。
【发明内容】
[0004]本发明提供一种检测设备及其探针组件，主要解决现有技术在对LTPS工艺的面板进行测试过程中，探针与测试点接触时容易出现探针刮损测试点以及触点漏测等技术问题。
[0005]为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是:提供一种探针固定组件，其包括固定板、电路板、探针以及弹性件，电路板与固定板相固定，电路板具有测试连接部；探针一端与测试连接部连接，另一端用于与产品的测试点接触，以对产品进行电路测试；弹性件将探针与测试连接部弹性连接，以使探针与产品的测试点弹性接触从而减少探针对产品的测试点的刮损和接触不良。
[0006]其中，探针为多个，对应地，测试连接部为多个，多个测试连接部阵列排布于电路板上。
[0007]其中，弹性件为多个，与探针一一对应。
[0008]其中，弹性件为一块，多个探针阵列于弹性件上。
[0009]其中，弹性件为两块以上，两块以上弹性件排列设于电路板上，其中，每块弹性件上设有两个以上的探针。
[0010]其中，弹性件为弹簧。
[0011]其中，弹性件为硅胶垫或橡胶垫。
[0012]其中，固定板具有通孔，电路板插设于固定板的内部，弹性件设于通孔并与抵接至电路板。
[0013]其中，探针固定组件还包括测面摄像头和测高摄像头，测面摄像头，设于探针的一侧并垂直设于固定板，用于反馈被测物的位置信息以方便探针与产品的测试点对位；测高摄像头垂直设于固定板的侧面，用于反馈探针固定组件所处高度的环境信息以方便探针与产品的测试点快速对位。
[0014]为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是:提供一种阵列基板检测装置，阵列基板检测装置包括上述的探针固定组件。
[0015]本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况，本发明的检测设备及其探针组件在探针与测试连接部通过弹性件弹性连接，以使探针与产品的测试点接触时具有一定的弹性滑行量，从而减少探针对产品的测试点的刮损和避免出现接触不良现象，提高测试精度和被测产品的质量。
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中:
[0017]图1是本发明探针固定组件一实施例的截面示意图；
[0018]图2是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图；
[0019]图3是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图；
[0020]图4是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图；
[0021]图4a是图4所示的探针固定组件的A截面放大示意图；
[0022]图5是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图；
[0023]图6是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图；
[0024]图7是图6中紧固件的另一结构示意图；
[0025]图8是图6中紧固件的另一结构示意图；
[0026]图9是图6中紧固件的另一结构示意图；
[0027]图10是本发明阵列基板检测装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0028]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本发明保护的范围。
[0029]请参阅图1，图1是本发明探针固定组件一实施例的截面示意图。本实施例中的探针固定组件10包括固定板100、电路板200、探针300以及弹性件400，电路板200与固定板100相固定，电路板200具有测试连接部210。探针300 —端与测试连接部210连接，另一端用于与产品的测试点接触，以对产品进行电路测试。弹性件400将探针300与测试连接部210弹性连接，以使探针300与产品的测试点弹性接触从而减少探针300对产品的测试点的刮损并且避免接触不良。本实施例中的电路板200设于固定板100的表面，弹性件覆盖于测试连接部210。
[0030]请一并参阅图2，图2是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图。在其它实施例中，弹性件400可以为弹性柱420，该弹性柱420由硅胶、橡胶或皮革等具有弹性作用的弹性材料制成，探针固定组件10进一步包括导线500，该导线500设于弹性件400中，其一端与探针300连接，另一端与测试连接部210导通。弹性柱420可通过胶水、热熔胶或双面胶等具有粘性的材料粘于电路板200上。
[0031]请一并参阅图3，图3是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图。在其它实施例中的电路板200并不一定限定设于固定板100表面，其也可以设于固定板100的内部，具体地，固定板100具有一通槽110和通孔120，电路板200设于该通槽110中，弹性件400设于通孔120中并抵接至电路板200。进一步地，本实施例的探针固定组件10还包括旋转扣600，该旋转扣600设于固定板100的侧面，用于在电路板200插设于通槽110后可旋转地堵住通槽110以防止电路板200滑出。旋转扣600通过固定件可旋转地设于固定板100的侧面，该固定件可以是螺钉610或柱子。
[0032]本发明的探针300为多个，对应地，测试连接部210为多个，多个测试连接部210阵列排布于电路板200上。弹性件400为多个，与探针300——对应。
[0033]请一并参阅图4，图4是本发明探针固定组件另一实施例的截面示意图。在其它实施例中的弹性件400还可以是弹簧430，弹簧430设于通孔120并抵接至电路板200的测试连接部210。为防止弹簧430过度晃动，通孔120的直径比弹簧430的径向最大宽度只需略大 1.5-0.1mm，优选 0.2mm。
[0034]请一并参阅图4a，图4a是图4所示的探针固定组件的A截面放大示意图。在其它实施例中，进一步地，弹性件400还包括固定片431，弹簧430 —端与测试连接部210导通，另一端插入固定片431并与探针300导通。固定板100进一步具有卡接孔140、插入口 150以及卡接部160，卡接孔140两端分别连通通孔120、插入口 150，固定片431以一定的角度倾斜插入至