一种探针单元及显示面板的检测装置的利记博彩app

本实用新型涉及显示面板制造技术领域，尤其涉及一种探针单元及显示面板的检测装置。

背景技术：

在显示面板的制造过程中，通常需要对显示面板进行检测，以及时发现显示面板的各种不良问题。用于检测显示面板的装置主要包括探针单元(Probe Unit)，如图1和图2所示，探针单元100包括：基座1、PCB(Printed Circuit Board，印刷线路板)2、连接件3及至少一个探针块4，其中，每个探针块4包括：FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)41、信号处理部件42及若干探针43。检测时，将探针单元100的探针块4上的探针43与待测显示面板的检测信号端(由显示面板内部的栅线和数据线以特定方式所引出的信号端)相连，利用探针43向栅线和数据线施加检测信号，点亮显示面板，检查显示时是否存在Mura(姆拉)、暗线等不良。

根据探针单元点亮显示面板的方式的不同，对显示面板的检测可大致分为全接触式(Full Contact)和短路棒式(Shorting Bar)两种。对于全接触式检测，所需要的探针单元具体为全接触探针单元，其所包括的PCB和探针块为适配的全接触PCB和全接触探针块，全接触探针块所包括的信号处理部件具体为驱动芯片，且其所包括的探针与待测显示面板的栅线和数据线一一对应。全接触式检测能够实现对待测显示面板的每个像素独自施加检测信号，因此可以点亮显示面板的任何画面，对检测Mura类不良有优势。但是，全接触式检测存在如下缺陷：只要有一根探针损坏就会给画面造成一个亮线，因此这种检测方式很容易出现探针缺失(Pin Miss)，影响人员检测。

短路棒式检测可分为普通短路棒式(Normal Shorting Bar)、开关短路棒式(Switch Shorting Bar)和6D短路棒式(6D Shorting Bar)。其中，对于6D短路棒式检测，所需要的探针单元具体为6D短路棒探针单元，其所包括的PCB和探针块为适配的6D短路棒PCB和6D短路棒探针块，6D短路棒探针块所包括的信号处理部件具体为6D短路棒信号处理部件，且其所包括的探针类似全接触式探针块也与待测显示面板的栅线和数据线一一对应。进行6D短路棒式检测需要将待测显示面板的数据线分组各自短接(例如将对应R/G/B像素的数据线各自短接)，但是栅线不短接(以下称这种待测显示面板为6D短路棒式显示面板)，探针向相短接数据线所施加的是相同的数据检测信号，这样即便用于施加数据检测信号的探针有损坏，由于数据线短接，因此也能够保证损坏的探针所对应的数据线接收到数据检测信号，从而减少探针缺失，降低亮线对人员检测造成的影响。但是，6D短路棒式检测存在如下缺陷：由于数据线短接，因此无法准确得到不良坐标。

对于6D短路棒式显示面板，进行检测时，通常会优先采用6D短路棒式检测，当发现不良但是无法准确得到不良坐标时，还需要采用全接触式检测。但是，由6D短路棒探针单元切换至全接触探针单元，需要大量的时间对设备进行调试，严重降低检测效率，进而造成产能降低；并且，测试同一规格的6D短路棒式显示面板需要配备6D短路棒和全接触两种探针单元，增加了生产成本；同时，由于需要维修的显示面板相对于量产的显示面板来说是少数，因此全接触探针单元的稼动率不高。

技术实现要素：

本实用新型提供一种探针单元及显示面板的检测装置，以解决6D短路棒式显示面板的检测工序中所存在检测效率低、生产成本高、及全接触探针单元的稼动率低的问题。

为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型的第一方面提供了一种探针单元，所述探针单元包括：6D短路棒PCB；与所述6D短路棒PCB连接的6D短路棒信号处理部件；与所述6D短路棒信号处理部件连接的信号转换部件；能够与所述信号转换部件可拆卸连接的全接触探针块；能够与所述全接触探针块可拆卸连接的全接触PCB；其中，所述6D短路棒PCB用于生成m个数据检测信号，m为进行6D短路棒式检测所需的数据检测信号的数量；所述信号转换部件用于将m个所述数据检测信号转换n个所述数据检测信号，n为所述全接触探针块的驱动芯片所需要的检测信号的数量。

当采用本实用新型所提供的探针单元对6D短路棒式显示面板进行检测时，将6D短路棒PCB、6D短路棒信号处理部件、信号转换部件和全接触探针块依次连接，6D短路棒PCB生成进行6D短路棒式检测所需的m个数据检测信号，信号转换部件将数据检测信号的数量由m个转换为全接触探针块的驱动芯片所需要n个，使得6D短路棒PCB所生成的数据检测信号数量适配于全接触探针块，从而全接触探针块向显示面板中相短接的数据线输入相同的数据检测信号，实现了6D短路棒式检测。

当对该显示面板进行全接触式检测时，由于全接触探针块能够与信号转换部件和全接触PCB可拆卸连接，因此仅需将全接触探针块从信号转换部件上拆卸下来，然后将全接触探针块与全接触PCB相连，即可实现全接触式检测。

可见，相比现有技术中切换检测方式时需要对探针单元进行整体替换的状况，本实用新型利用同样的全接触探针块，仅仅进行简单的拆装即可实现检测方式的切换，因此也就无需花费大量的时间对设备进行调试，极大地提高了检测效率，提高了产能。并且，本实用新型中的探针单元能够实现6D短路棒式和全接触式两种检测，避免了测试同一规格的6D短路棒式显示面板需要配备6D短路棒和全接触两种探针单元的问题，有利于生产成本的降低，同时也避免了全接触探针单元的稼动率低的问题。

本实用新型的第二方面提供了一种显示面板的检测装置，所述显示面板的检测装置包括如第一方面所述的探针单元。

本实用新型所提供的显示面板的检测装置的有益效果与本实用新型所提供的探针单元的有益效果相同，此处不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为现有技术中探针单元的结构示意图；

图2为现有技术中探针单元的探针块的结构示意图；

图3为本实用新型实施例所提供的探针单元的分解结构示意图；

图4为本实用新型实施例所提供的探针单元用于进行6D短路棒式检测时的结构示意图；

图5为本实用新型实施例所提供的探针单元用于进行全接触式检测时的结构示意图。

附图标记说明：

100-探针单元； 1-基座；

2-PCB； 2a-6D短路棒PCB；

2b-全接触PCB； 3-连接件；

4-探针块； 4b-全接触探针块；

41-FPC； 41a-6D短路棒FPC；

41b-全接触FPC； 42-信号处理部件；

42a-6D短路棒信号处理部件； 42b-驱动芯片；

43-探针； 5-信号转换部件；

6-转接板。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，均属于本实用新型保护的范围。

如图3所示，本实施例提供了一种探针单元，该探针单元包括：6D短路棒PCB 2a、6D短路棒信号处理部件42a、信号转换部件5、全接触探针块4b和全接触PCB 2b。其中，6D短路棒PCB 2a、6D短路棒信号处理部件42a和信号转换部件5依次相连。全接触探针块4b能够与信号转换部件5可拆卸连接，全接触探针块4b也能够与全接触PCB 2b可拆卸连接。全接触探针块4b的具体包括：全接触FPC 41b、驱动芯片42b和若干探针43，全接触FPC 41b能够与信号转换部件5和全接触PCB 2b进行可拆卸连接，驱动芯片42b与全接触FPC 41b连接，探针43与驱动芯片42b连接。

在上述探针单元中，6D短路棒PCB 2a用于生成进行6D短路棒式检测所需的m个数据检测信号。当然6D短路棒PCB 2a还能够生成进行6D短路棒式检测所需的栅检测信号及其它辅助信号。

6D短路棒信号处理部件42a用于对6D短路棒PCB 2a所生成的数据检测信号、栅检测信号及其它辅助信号进行相应的数据处理操作。

信号转换部件5用于将m个数据检测信号的数量转换为全接触探针块4b的驱动芯片42b所需要n个数据检测信号。由于6D短路棒PCB 2a所生成的m个数据检测信号相同，因此经信号转换部件5转换得到的n个数据检测信号也相同。

全接触探针块4b中的全接触FPC 41b用于传输转换得到的n个数据检测信号，当然同时传输的还包括栅检测信号及其它辅助信号；驱动芯片42b用于控制数据检测信号、栅检测信号及其它辅助信号的输入；若干探针43与待测的6D短路棒式显示面板的各栅线和各数据线一一对应，用于向6D短路棒式显示面板施加检测信号，该检测信号包括栅检测信号、数据检测信号及其它辅助信号。

全接触PCB 2b用于生成进行全接触式检测所需的数据检测信号。当然全接触PCB 2b还能够生成进行全接触式检测所需的栅检测信号及其它辅助信号。

当采用上述探针单元对6D短路棒式显示面板进行检测时，首先进行6D短路棒式检测，具体过程为：如图4所示，将6D短路棒PCB 2b、6D短路棒信号处理部件42a、信号转换部件5和全接触探针块4b依次连接，6D短路棒PCB 2b生成进行6D短路棒式检测所需的m个数据检测信号，信号转换部件5将数据检测信号的数量由m个转换为全接触探针块4b的驱动芯片42b所需要n个，使得6D短路棒PCB 2b所生成的数据检测信号数量适配于全接触探针块4b，从而全接触探针块4b向显示面板中相短接的数据线输入相同的数据检测信号，实现了6D短路棒式检测。

当发现不良但是无法准确得到不良坐标时，需要对6D短路棒式显示面板进行全接触式检测，具体过程为：如图5所示，将全接触探针块4b从信号转换部件5上拆卸下来，然后直接将全接触探针块4b与全接触PCB 2b连接，全接触PCB 2b生成进行全接触式检测所需的栅检测信号、数据检测信号及其它辅助信号，全接触探针块4b将这些检测信号施加于待测显示面板上，实现全接触式检测。需要说明的是，在进行全接触式检测检测前，需要首先对6D短路棒式显示面板上用于短接数据线的电路进行切除，以便于后续在进行全接触式检测的过程中，可向不同的数据线施加不同的数据检测信号。

由上述探针单元的结构及应用过程不难发现，相比现有技术中切换检测方式时需要对探针单元进行整体替换的状况，本实施例中的探针单元在进行6D短路棒式检测和全接触式检测时共用相同的全接触探针块4b，仅仅进行全接触探针块4b与其它部件简单的拆装即可实现检测方式的切换，因此也就无需花费大量的时间对设备进行调试，极大地提高了检测效率，提高了产能。

并且，本实施例中的探针单元能够实现6D短路棒式和全接触式两种检测，避免了测试同一规格的6D短路棒式显示面板需要配备6D短路棒和全接触两种探针单元的问题，有利于生产成本的降低，同时也避免了全接触探针单元的稼动率低的问题。此外，6D短路棒式和全接触式检测共用探针块，因此在与现有技术中相同投资的前提下，本实施例的技术方案可增加备件数量。

基于上述探针单元，优选的，如图3所示，可在6D短路棒PCB 2a与6D短路棒信号处理部件42a之间增设6D短路棒FPC 41a，通过6D短路棒FPC 41a将6D短路棒PCB 2a与6D短路棒信号处理部件42a连接起来。6D短路棒FPC 41a的作用为将6D短路棒PCB 2a所生成的用于进行6D短路棒式检测的检测信号传输至6D短路棒信号处理部件42a。

请继续参见图3，为了简化探针单元的结构，可设置一转接板6，将6D短路棒信号处理部件42a和信号转换部件5均设置于该转接板6上。其中，6D短路棒信号处理部件42a通过转接板6实现与6D短路棒FPC 41a的连接，进而实现与6D短路棒PCB 2a的连接；信号转换部件5通过转接板6实现与全接触探针块4b的可拆卸连接。

对于不同规格的6D短路棒式显示面板的测试，需要不同的检测信号，因而需要配备不同的信号转换部件5。基于上述转接板的技术方案，为了实现探针单元中其余部件的共用，优选的可使6D短路棒FPC 41a与转接板6的连接方式也为可拆卸连接，这样仅需通过更换转接板6就能够实现信号转换部件5的更换，从而使探针单元适用于多种规格的6D短路棒式显示面板的测试，进一步节省了成本。

为了使本实施例所提供的技术方案更加清楚易懂，下面结合具体的示例进行说明。

对于一个6D短路棒式显示面板，假设其包括R、G、B三种像素，对应R像素的数据线为M1条且相短接，对应G像素的数据线为M2条且相短接，对应B像素的数据线均为M3条且相短接，另外该6D短路棒式显示面板的栅线为P条，则若对该6D短路棒式显示面板进行6D短路棒式检测需要3个数据检测信号(分别为1个R数据检测信号、1个G数据检测信号、1个B数据检测信号)、P个栅检测信号和N个其它辅助信号，若对该6D短路棒式显示面板进行全接触式检测需要M1+M2+M3个数据检测信号、P个栅检测信号和N个其它辅助信号。

当采用本实施例中的探针单元对上述6D短路棒式显示面板进行6D短路棒式检测时，将6D短路棒PCB 2b、6D短路棒信号处理部件42a、信号转换部件5和全接触探针块4b依次连接，6D短路棒PCB 2b生成进行6D短路棒式检测所需的3个数据检测信号、P个栅检测信号和N个其它辅助信号，信号转换部件5将1个R数据检测信号转换为M1个R数据检测信号，将1个G数据检测信号转换为M2个G数据检测信号，将1个B数据检测信号转换为M3个B数据检测信号，使得6D短路棒PCB 2b所生成的数据检测信号数量适配于全接触探针块4b，从而全接触探针块4b向相短接的数据线输入相同的数据检测信号，同时全接触探针块4b向显示面板输入P个栅检测信号和N个其它辅助信号，实现了6D短路棒式检测。

当采用本实施例中的探针单元对上述6D短路棒式显示面板进行全接触式检测时，将全接触探针块4b与全接触PCB 2b连接，全接触PCB 2b生成进行全接触式检测所需的M1+M2+M3个数据检测信号、P个栅检测信号和N个其它辅助信号，全接触探针块4b将这些检测信号施加于待测显示面板上，实现全接触式检测。

当采用本实施例中的探针单元对不同规格的6D短路棒式显示面板进行检测时，例如，对于包括R、G、B三种像素的显示面板和包括W、R、G、B四种像素的显示面板，假设包括R、G、B三种像素的显示面板中对应R/G/B像素的数据线各自短接，包括W、R、G、B四种像素的显示面板中对应W/R/G/B像素的数据线各自短接，由于两种显示面板的规格不同，因此现有的一种6D短路棒探针单元不能同时满足这两种显示面板的测试需要。采用本实施例中的探针单元，可直接将转接板进行更换，以更换适用于上述某种规格的显示面板的信号转换部件42，即可实现对对应规格的显示面板的检测。

通常情况下，待测显示面板所需要的全接触探针块4b的数量为多个，因此在本实施例中，6D短路棒FPC 41a、6D短路棒信号处理部件42a及信号转换部件5的数量也应为多个，均与全接触探针块4b的数量相等，且6D短路棒FPC 41a、6D短路棒信号处理部件42a、信号转换部件5及全接触探针块4b一一对应。

本实施例中，可在探针单元中增设第一基板，将6D短路棒PCB 2a固定安装于该第一基板上。还可在探针单元中增设第二基板，将全接触PCB 2b固定安装于该第二基板上。

本实施例还提供了一种显示面板的检测装置，该显示面板的检测装置包括如上所述的探针单元。该显示面板的检测装置能够产生与上述探针单元相同的有益效果，具体可参见本实施例中对上述探针单元的描述，此处不再赘述。

以上所述仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。