技术编号:9842484
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。具有多种物理化学性能的层状薄单晶材料在各个领域广泛应用,我们需要采用多种实验仪器深入探测这些材料物理化学等性质,才能更好的利用这些性能。在种类繁多的表征仪器中,都会使用到一个承载样品的部件,我们称之为样品托(主要是用于固定层状薄单晶材料)。通常情况下,这些薄单晶材料在应力环境发生变化时,物理化学等性质会发生变化,较为常见是材料晶格结构以及电子结构会随着应力环境变化而发生改变。例如,在铁基超导样品中,施加应力可以改变超导温度;在压电材料中,对其施加应力可以改...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。