技术编号:8771117
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本实用新型涉及一种RRAM存储单元中可变电阻仿真建模电路。背景技术 阻变型随机存储器(RRAM)是一种新型的非易失性信息存储技术,其存储单元是 由一种金属氧化物(例如WOx,HfOx,TiOx,NiOx等)实现的可变电阻。 根据对可变电阻的实际测量数据,通过模型建立的方法是能够较为真实的拟合可 变电阻的直流和交流电气特性,反映可变电阻在不同工作条件下的记忆或存储信息的特 性。建立的仿真模型,可服务于电阻型随机存储器存储单元设计的仿真验证,有效地帮助设 计...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。