技术编号:7148383
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体制作领域,特别涉及一种。背景技术半导体制造工艺主要是进行多次的光刻工艺、刻蚀工艺和成膜工艺等,在半导体晶圆上形成各种结构的半导体器件。其中成膜工艺普遍采用热氧化法、和化学气相沉积工艺。而现有的热氧化法主要采用炉管设备进行,首先将晶片盒内的晶圆传送至晶舟内,然后将装载有晶圆的晶舟置于炉管设备的处理腔室中,接着将反应气体通入高温炉管内,使得反应气体在炉管设备的处理腔室内发生化学反应,在晶圆的表面沉淀一层薄膜,然后将晶舟从反应腔室中取出,进行自然...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。