技术编号：6097856
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种装备有一用来使ICs冷却或加热的恒温室的IC测试处理机，更具体说，它是与恒温室内的一IC支持架旋转机构有关。通常半导体集成电路器件(以下简称ICs)制成后要经受多种电气测试以确定其电气性能和可靠性。图6所示是一先有技术IC测试处理机外部透视图，为便于理解，其上的一个罩盖已取下，此IC测试处理机已在日本已公开的No.7-24770号专利出版物(KoKai)中公布，这项专利与本发明申请属于同一申请人。现参阅图6，许多待测试的IC被排列安装在一输...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。