技术编号：6042057
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于校正电子元件的电学特性的校正方法，该元件是通过具有由参考测量系统所假定获得的电子特性的测量结果的实际测量系统测量的，该系统与参考测量系统不同；本发明还涉及一种利用电子元件的校正方法的质量检查方法；以及用于在电子元件上执行校正方法的特性测量系统。2.现有技术的描述在电子元件的电学特性检测过程中，有时，同样的电子元件或者相同的类型的元件是由多个测量系统测量的，例如，一个设置在电子元件制造厂的测量系统以及其它的设置在电子元件的用户端的其它测量系...
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