技术编号：6029391
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电路测试领域，特别是涉及一种CMOS芯片的闩锁效应测试 方法和系统。背景技术在CMOS ( Complementary Metal Oxide Semiconductor,互孑卜金属IU匕4勿半 导体)集成电路(IC Integrated Circuit)产品中，闩锁(latch up)特性是产 品可靠度中一项十分重要的因素，因而，许多集成电路产品在出厂前均需进行 闩锁测试。目前，业界对IC进行闩锁效应测试，绝大多数都是依据JESD78A 标准进...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。