技术编号：6000531
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及探测光电设备中的缺陷。具体而言，本发明涉及高速成像以探测制造设施中的光伏电池与光电设备中关键分流(critical shunt)缺陷的方法。背景技术由于电流分流的存在，光伏设备经常表现出性能劣化。可能在过程中各点引入这些分流，诸如遇到初始晶体质量、接触面过烧(contact over-firing)、在断裂边界处的表面条件、晶片边缘处的痕量金属(trace metal)沉积等问题。所引起的缺陷总体 (population)通常导致设备性能相对微小...
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