技术编号：2737294
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种使用衰减全内反射(ATR)的光谱仪。背景技术ATR是一种用于FT-IR光谱仪之类的光谱仪中的技术，以便从那些难以通过透射或反射等其他方式来分析的样品中获得光谦测量。典型地，用于执行ATR测量的装置包括提供波长辨别的光语仪、用于将光直射到样品上的照明系统、提供样品平面的ATR镜片、和接收已经与样品交互作用的光的收集/探测系统。ATR镜片以一定的方式布置，以便通过全内反射现象的方式反射来自指定样品平面的所有入射光。与样品相关的光语信息从样品与紧接...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。