技术编号:11277901
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例关于半导体装置的形成方法。背景技术半导体集成电路(IC)产业已快速成长一段时日。IC设计与材料的技术进展,使每一代的IC均比前一代的IC具有更小且更复杂的电路。在IC进化中,功能密度(如单位芯片所具有的内连线装置数目)越来越大,而几何尺寸(如工艺所能形成的最小构件或线路)则越来越小。上述尺寸缩小的工艺的好处在于增加产能并降低相关成本。尺寸缩小也增加IC工艺的复杂性。为了实现这些进展,需要发展IC工艺。虽然制作IC装置的现有方法一般已适用于其发展目的,但无法完全符合所有需求。举例来说,...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。