技术编号：10651043
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 光栅投影三维测量技术具有非接触性、精度高、视场大、获取数据多等特点，在逆 向工程、产品检测、机器视觉、生物医学、文物保护等领域具有广阔的应用前景。相位测量轮 廓术(PMP)作为一种重要的三维传感手段，在三维面形测量具有重要的作用。 传统的光栅投影三维测量技术是以三角测量法为基础的系统光学结构，其整个系 统的建立必须基于3个明显的约束条件 (1)投影系统光瞳与成像系统光瞳连线平行于参考面； (2)成像光轴与投影光轴相交于参考面； (3)成像光轴垂直于参考面...
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