技术编号:10538334
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 宇宙空间中存在大量高能粒子(质子、重离子等)和高能射线。集成电路中的时序 单元,如触发器,受到这些高能粒子和射线的轰击后,会产生单粒子翻转(Single Event Upset,简称SEU)。单粒子翻转的产生会产生软错误,从而使得集成电路运算出错。随着工艺 尺寸的持续缩减,集成电路晶体管密度持续增加,多个晶体管同时受到单粒子轰击的概率 大大提升,并且晶体管本身尺寸的缩减使得表示器件状态的临界电荷持续降低,这给纳米 尺度下触发器设计带来极大的挑战。一方面,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。