一种用于老化后的自动验伤方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶生产领域，特别是一种用于老化后的自动验伤方法。
【背景技术】
[0002]老化工艺是液晶显示器生产过程中不可或缺的一道手续，因为才生产出来的液晶面板，有机物还不是很稳定，同时很多缺陷也没有暴露，只有老化后才会稳定住有机物?’老化后的液晶面板基本都有一定几率产生问题，验伤就成了必备步骤，但是现在的验伤都是人工进行，误差大同时效率还是分低下。
【发明内容】
[0003]本发明所要解决的技术问题是提供了一种用于老化后的自动验伤方法，通过计算机设置好检查装置的运动和使用可以自动对比检查结果和检查表的自动检查装置，达到自动验伤。
[0004]本发明的用于老化后的自动验伤方法，包括如下步骤:
[0005]第一步、计算机设置好支撑检查装置的机械臂的移动方式和停留时间；
[0006]第二步、将要检查的面板放在检查台上，然后按R->G->B->W->0DD->EVEN顺序点売;
[0007]第三步、同时让检查装置按第一步设置好的一个核心一个核心的检查。
[0008]所述第一步的停留时间设置在I秒一个核心，175秒一英寸。
[0009]所述第三步检查时，计算机自动对比检查表和检查结果，如果有问题就自动在核心上标注。
[0010]所述标注是标注在核心的发光面上。
[0011]所述标注分三种，良品、不合格品和可修复品。
[0012]综上所述，本发明的用于老化后的自动验伤方法使用计算机控制检查装置的运动和停留，同时使用了自动对比检查结果和检查表自动检查装置，达到自动验伤同时还能自动标注。使得效率非常高，同时减少了误差。
【具体实施方式】
[0013]下面用具体的实施例对本发明作进一步的阐述。
[0014]本发明的用于老化后的自动验伤方法，包括如下步骤:第一步、计算机设置好支撑检查装置的机械臂的移动方式和停留时间；第二步、将要检查的面板放在检查台上，然后按R->G->B->ff->0DD->EVEN顺序点亮；第三步、同时让检查装置按第一步设置好的一个核心一个核心的检查。所述第一步的停留时间设置在I秒一个核心，175秒一英寸。所述第三步检查时，计算机自动对比检查表和检查结果，如果有问题就自动在核心上标注。所述标注是标注在核心的发光面上。所述标注分三种，良品、不合格品和可修复品。
[0015]工人先通过计算机设置好检查装置的运动和停留，然后将待测面板放到检查装置下方；然后接通待测面板的电源，然后按R->G->B->W->ODD->EVEN顺序点亮；然后启动检查装置和支撑检查装置的机械臂，按照一个核心I秒的速度检查待测面板，同时自动对比检查结果和检查表，得出结果，最后进行良品、不合格品和可修复品的标注。
[0016]本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的原理，应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种用于老化后的自动验伤方法，其特征在于，包括如下步骤: 第一步、计算机设置好支撑检查装置的机械臂的移动方式和停留时间； 第二步、将要检查的面板放在检查台上，然后按R->G->B->W->ODD->EVEN顺序点亮； 第三步、同时让检查装置按第一步设置好的一个核心一个核心的检查。2.如权利要求1所述的用于老化后的自动验伤方法，其特征在于:所述第一步的停留时间设置在I秒一个核心，175秒一英寸。3.如权利要求2所述的用于液晶面板的老化方法，其特征在于:所述第三步检查时，计算机自动对比检查表和检查结果，如果有问题就自动在核心上标注。4.如权利要求3所述的用于液晶面板的老化方法，其特征在于:所述标注是标注在核心的发光面上。5.如权利要求4所述的用于液晶面板的老化方法，其特征在于:所述标注分三种，良品、不合格品和可修复品。
【专利摘要】本发明公开了一种用于老化后的自动验伤方法，包括如下步骤：第一步、计算机设置好支撑检查装置的机械臂的移动方式和停留时间；第二步、将要检查的面板放在检查台上，然后按R->G->B->W->ODD->EVEN顺序点亮；第三步、同时让检查装置按第一步设置好的一个核心一个核心的检查。所述第一步的停留时间设置在1秒一个核心，175秒一英寸。所述第三步检查时，计算机自动对比检查表和检查结果，如果有问题就自动在核心上标注。所述标注是标注在核心的发光面上。综上所述，本发明的用于老化后的自动验伤方法使用计算机控制检查装置的运动和停留，同时使用了自动对比检查结果和检查表自动检查装置，达到自动验伤同时还能自动标注。使得效率非常高，同时减少了误差。
【IPC分类】G02F1/13
【公开号】CN105652479
【申请号】
【发明人】不公告发明人
【申请人】四川虹视显示技术有限公司
【公开日】2016年6月8日
【申请日】2014年12月1日