光模块性能参数测试装置制造方法

光模块性能参数测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开的一种光模块性能参数测试装置，包括光可调衰减器、光分路器和光开关，旨在提供一种搭建测试平台数量少，结构简单，操作方便，测试效率高的光模块性能参数测试装置。本实用新型通过下述技术方案予以实现：光开关上设有连接光模块光纤跳线输入接口IN和USB光开关接口，光开关设有两个输出端。输出端out1连接壳体长光纤输入接口，输出端out2通过二分光分路器，经一分二光分路器连接壳体光谱分析仪输出接口和光示波器，壳体上还设有连接光可调衰减器输出接口OUT和USB光调衰减器接口，可调衰减器通过输入端In经上述二分光分路器连接壳体长光纤输出接口OUT。本实用新型特别适用于对光信号接收和发送分离的光模块。
【专利说明】光模块性能参数测试装置

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光通信网络领域中主要测试光信号收发分离光模块性能的装置。

【背景技术】
[0002]光收发模块作为光纤接入网的核心器件推动了干线光传输系统向低成本方向发展。光模块是一个由光电子器件、功能电路和光接口等结构件组成的光电转换模块。光模块主要用于光信号的收发，光信号通过光纤接入光模块，可以将光信号转为电信号。同时也可以将电信号的信息通过光模块转成光信号，然后通过光纤发送出去。光模块又叫光纤模块(transceiver module),按功能分,光纤模块分为光接收模块，光发送模块，光收发一体模块和光转发模块等。光电子器件包括发射和接收两部分，发射部分包括LED、VCSEL、FP LD、DFB LD等几种光源；接收部分包括PIN型和APD型两种光探测器。目前光收发模块中的光电器件的封装由较大尺寸的双列直插形式为主发展为以同轴封装形式为主；光接口等结构件从ST、FC发展到SC及更小尺寸的LC、MT-RJ型连接口形式，相应的光收发模块的封装形式也从金属封装发展到塑料封装，由单接口的分离模块发展到双接口的收发一体模块。光信号收发分离光模块是光模块的一种。
[0003]光信号收发分离光模块是电光转换和光电转换接口或者介质相互独立的光模块，通常应用于光纤接入网，ATM交换机和SDH系统。电光转换接口或者介质被称为T0SA，是一种把电信号转换为光信号的光发射器组件。光电转换接口或者介质被称为光接收组件ROSA。ROSA是一种将光信号转换为电信号的光接收器件。根据光模块不同的应用环境,米用TOSA、ROSA来实现光电和电光转换的光模块很常见，该类型的光模块对光信号接收和发射功能分别是集成在ROSA和TOSA中。另有一类光模块，采用的是光信号接收机和发射机是一体的，称为B0SA，这类光模块因为接收的光信号和发送的光信号在同一个光通道中，而它们的波长不是同一波长，因此在BOSA的内部有波长隔离器，来实现避免接收和发送的光信号的相互干扰。通常ROSA —般要求:
[0004]1、在系统的工作波长上要有足够高的响应度，即对一定的入射光功率，ROSA能输出尽可能大的电流；
[0005]2、波长响应要和光纤的3个低损耗窗口兼容；
[0006]3、有足够高的响应度和足够的工作带宽；
[0007]4、光电转换线性度好，保真度高；
[0008]5、工作性能稳定，可靠性高，寿命长。
[0009]光模块的主要参数有:平均发送光功率A0P(Average Optical Power)、消光比ER (Extinct1n Rat1n)、谱宽、边模抑制比、灵敏度、过载光功率、信号丢失光功率、信号探测光功率、通道代价。平均发送光功率(Average Optical Power)是指在发送“0”、“ I”码等概率调制的情况下，光发射机输出的平均光功率值。消光比是指电信号“I”码输入时的发光功率与电信号“O”码输入时的发光功率之比。从理论上来说消光比越大越好，但对于有些情况都并非如此。对于高速率比如2.5G以上，若使用的是单纵模激光器是会出现“啁啾”现象。所谓“啁啾”是指单纵模激光器的谐振腔的光通路长度会因注入电流的变化而变化，导致其发光波长发生偏移。谱宽，光发送机中光源器件的谱线宽度分为RMS谱宽和-20dB谱宽，对于多纵模激光器一般用RMS谱宽衡量，对于单纵模激光器一般用-20dB谱宽衡量。边模抑制比SMSR，该指标只针对单纵模激光器而言，其定义为:在全调制的条件下主纵模的光功率和最大边模光功率之比，一般定义要求发射端的SMSR大于30dB，即主纵模的光功率是最大边模光功率的1000倍以上。灵敏度，在保证规定的误码率条件下(如误码率BER =I X 112)，光接收机所需要的最小光功率值，一般以dBm为单位，灵敏度是光接收机一项重要技术指标，灵敏度与光发送机的发光功率、光纤的衰耗系数决定了光纤通信的中继距离。过载光功率在保证规定的误码率条件下(如BER= IX 10_12)，光接收机所允许的最大光功率值，以dBm为单位。在保证规定的误码率条件下(如BER = I X 10_12)，当从误码分析仪发出的电信号与返回误码分析仪电信号同步时；继续减小输出光功率；当且仅当传输回误码分析仪的电信号恰好关断时所对应的输入到光接收机的光功率。信号探测光功率，即最小信号探测功率SDA，在最大信号丢失功率SDD状态下，增大输出光功率，当且仅当传输回误码分析仪的电信号恰好恢复时所对应的输入到光接收机的光功率。要让光模块正常工作，必须保证上述参数均在要求的范围内，任何一个参数超标或者不达标都会直接影响光模块的正常工作。要保证光模块的测试参数准确，也要提高光模块的生产效率，而相对应的测试装置就是关键了。
[0010]光收发模块是一种高速光电器件，高速率发送和接收必然存在复杂的电磁耦合与信号杂扰。在光器件测试中反映光器件性能的参数如眼图、消光比、接收机的灵敏度。光收发模块的性能参数测试是检验成品的重要工序。组装好的光收发模块必须进行参数测试以判断是否能正确实现预设的功能，模块参数的性能测试是成品的最后一道工序，也是判断模块能否成为合格产品的重要依据。光收发合一模块的发射模块和接收模块由于功能上相对独立，结构上也可以分离，收发模块测试时也分为相应独立的发射模块发射参数的接收模块接收参数的测试。光模块性能的参数繁多且复杂，需要测试光模块的测试项很多，需要搭建的测试平台零散而复杂。在需要测试光模块的所有指标参数中，仅对光模块的光接口端面清洁，就需要进行多达5次，由于系统的频繁更换，光模块的插拔因素，光模块的光接口端面的清洁情况不一，导致最终测试出光模块的指标误差大，同时严重耽误光模块的生产效率。现有技术中光模块测试中所涉及的主要仪器主要包括光耦合器、光隔离器和光衰减器，光耦合器主要用于需要传输的光分路/光合路以及光耦合，按结构形式可以分为熔接型、磨型和集成光路型。在光纤系统中通常采用I XN星型耦合器。光隔离器是在光通路中防止光反射回光源，即只允许光单向传输的无源件。常用的光隔离器主要由起偏器、检偏器和旋光器三部分组成。光隔离器的主要技术指标是:低的插入损耗(对正向入射光)和大的隔离度(对反向放射光)。光衰减器是对光功率进行预定量衰减的器件，分为可变光衰减器和固定光衰减器。前者主要用于调节光线路电平，后者主要用于电平过高的光纤通信线路。光衰减器的主要技术要求为高的衰减精度、好的衰减重复性、低的原始损耗。收发模块最重要的性能指标之一是接收灵敏度，它定义为达到一定误码率的条件下光接收端所需接收的最小平均光功率。灵敏度测试的一般方法是在光接收端之前加入可变光衰减器，调整光衰减器的衰减量并观察误码率，当误码率刚好达到指定值时的接收平均光功率。光收发模块最重要的性能指标之一是接收灵敏度，它定义为达到一定误码率的条件下光接收端所需接收的最小平均光功率。灵敏度测试的一般方法是在光接收端之前加入可变光衰减器，调整光衰减器的衰减量并观察误码率，当误码率刚好达到指定值时的接收平均光功率即可认为是该模块的接收灵敏度。但是低误码率情况下的误码测试时间比较长，如需要测试1X10-10的误码率[I]，测试速率为155Mb/s的情况下，测试时间至少需要64s ；1.25Gb/s测试速率下，要达到1X10_12的误码率[2]，测试时间至少需要800s。如此长的测试时间在大规模生产中显然无法接受。为了解决这个问题，《电子测量技术》2010年04期邓维用、程术海、高峰在《光收发模块灵敏度测试方法探讨》一文中提出了先通过最小二乘法拟合出接收光功率与误码率的关系曲线，再利用该曲线通过外推法来近似估算基于PIN的光接收器灵敏度的方法。介绍了基于该方法的自动测试系统的架构，测试程序的执行流程和算法实现以及测试步骤。光接收模块的光接收灵敏度是一个关键的综合技术指标，与很多因素有关。对前端具有APD-TIA组件的光接收模块，其光接收灵敏度不仅与比特差错率、传输速率、光纤稱合效率、波形参数、热噪声、TIA跨阻抗和放大器噪声等相关,还与APD的反向偏置电压、光倍增因子、倍增暗电流等有关。
[0011]测试光模块的不同参数，通常需要搭建不同的测试平台。例如在对光模块光发射机的光功率和消光比测试时，需要搭建图3所示的测试平台。测试时，首先对光模块所在评估板进行上电，然后通过光功率计观察，读出光功率，然后将光线跳线从光功率计拔出，接入到光示波器，测试消光比，读取示波器上的消光比值后，该测试结束。
[0012]测试灵敏度、光功率SDD和SDA时，需要搭建如图4所示的测试平台。测试时，开启误码分析仪测试误码，然后增大光可调衰减器的衰减值，直到误码分析仪出现误码，然后减小光可调衰减器的衰减值，继续测试，直到持续一段时间内误码仪无误码上报，则认为此时输入到光接收机的光功率为该光模块的灵敏度，再将光纤拔出光模块，接入光功率计测试，读得灵敏度值。读得灵敏度后将光纤重新插回光模块，然后继续增加光可调衰减器的衰减量，直到误码分析仪报数据不同步，则再用光功率计测量此时进入光接收机的光功率SDD，再将光纤插回光模块，逐渐减小光可调衰减器的衰减量，直到误码分析仪出现数据同步，用光功率计读取此时的光功率SDA，测试结束。进行光谱测试，光谱测试平台如图6所示，将光模块上电后，在光谱分析仪上读取波长，谱宽和边模抑制比数据，该项测试结束。进行通道代价测试，通道代价测试平台如图7所示，然后按照测试灵敏度的方法测得加入长光纤后的灵敏度，用加长光纤后的灵敏度和不加长光纤的灵敏度作差，得到的值则为该光模块的通道代价。
[0013]综上所述，要将光模块基本参数测试完成至少需要搭建5个测试平台，大部分的时间需要花在搭建测试平台上，且资源利用效率低下。
实用新型内容
[0014]本实用新型的目的是针对上述现有技术光模块性能参数繁多，搭建测试平台零散而复杂的问题，提供一种搭建测试平台数量少，结构简单，成本低，操作方便，测试项齐全，测试效率高，不需要更换实验平台可通过USB接口来进行自动化控制的光模块性能参数测试装置及其测试方法。
[0015]本实用新型的上述目的可以通过以下措施来达到，一种光模块性能参数测试装置，包括光可调衰减器、光分路器和光开关，其特征在于:光开关上设有连接光模块光纤跳线输入接口 IN和USB光开关接口，所述光开关还设有两个输出端，其中，输出端outl连接壳体长光纤输入接口，输出端out2通过二分光分路器,经一分二光分路器连接壳体光谱分析仪输出接口和光示波器，壳体上还设有连接光可调衰减器输出接口 OUT和USB光可调衰减器接口，可调衰减器通过输入端In经上述二分光分路器连接壳体长光纤输出接口 OUT。
[0016]本实用新型相比于现有技术具有如下有益效果。
[0017]结构简单，操作方便。本实用新型采用主要由光可调衰减器、光分路器和光开关组成的测试装置，不仅结构简单，而且操作方便。本实用新型不论对于生产阶段还是研发阶段对于评估光模块性能都是一个成本低，非常便利的测试装置，且该装置精度高、系统误差小。
[0018]搭建测试平台数量少。本实用新型可以在一个平台上测试多种参数，仅需搭建一个实验平台，就可将光模块基本参数测试完成，不仅测试项齐全，而且测试效率高，解决了现有技术至少需要搭建5个测试平台，大部分时间花在搭建测试平台上，且资源利用效率低下的问题。
[0019]操作简单，功能齐全。本实用新型通过采用一个1X2可程控机械式光开关、一个I分2光分路器、一个2分2光分路器和一个可程控光可调衰减器来实现，不需要重复转接光纤跳线，可通过USB接口来进行自动化控制光模块基本参数测试，不论是研发阶段还是自动化生产都可以采用该装置，可节省光模块生产厂家生产光模块的时间，提高生产效率。
[0020]本实用新型适用于速率从1.25Gbps到IL 3Gbps的光模块和接口形式为SFP、SFP+和XFP的光模块，特别是适用于对光信号接收和发送分离的光模块。

【专利附图】

【附图说明】
[0021]图1是本实用新型光模块性能参数测试装置的构造示意图。
[0022]图2是本实用新型光模块性能参数测试装置的搭建测试平台系统示意图。
[0023]图3是本实用新型采用的1X2可程控机械式光开关内部结构示意图。
[0024]图4是现有技术对光模块光功率和消光比测试时需要搭建的测试平台示意图。
[0025]图5是现有技术对光模块进行灵敏度、光功率SDD和SDA测试时需要搭建的测试平台示意图。
[0026]图6是现有技术对光模块进行光谱测试时需要搭建的光谱测试平台示意图。
[0027]图7是现有技术对光模块进行带长光纤灵敏度测试时需要搭建的测试平台示意图。

【具体实施方式】
[0028]在图1中，光模块性能参数测试装置包括光可调衰减器、光分路器和光开关。壳体上设有连接光可调衰减器输出接口 OUT和USB光可调衰减器接口，光可调衰减器通过输入端In经上述二分光分路器连接壳体长光纤输出接口 OUT。光可调衰减器是对光功率进行预定量衰减的器件，分为可变光可调衰减器和固定衰减器两种，前者主要用于调节光线路电平，后者主要用于电平过高的光纤通信线路。优选地，光可调衰减器可以采用可程控光可变衰减器，例如格莱公司的GVPM型号衰减器。光纤输入的光经自聚焦透镜变成平行光光束，平行光束经衰减片送到自聚焦透镜并耦合到输出光纤。衰减片通常是表面蒸镀了金属吸收膜的玻璃基片，为减小反射光，衰减片与光轴可以倾斜放置。
[0029]光开关是一种用于光纤测试系统光纤，光纤设备测试和网络测试，光纤传感多点监测系统的一个或多个可选的传输端口的光学器件，其作用是对光传输线路或集成光路中的光信号进行物理切换或逻辑操作的开关。在光纤传输系统中光开关用于多重监视器，局域网LAN，多光源，探测器和保护以太网的转换。光开关从制造工艺来分类，可分成机械式，微光机电MEMS系统方式开关和其它方式开关。优选地，本实用新型设置在壳体中的光开关采用I X 2可程控机械式光开关，其上设有连接光模块光纤跳线输入接口 IN和USB光开关接口，线输入接口 IN和USB光开关接口设置在壳体的外侧。在上述光开关上还设有两个输出端，其中，输出端outl连接壳体长光纤输入接口，输出端out2通过二分二光分路器，经一分二光分路器连接壳体光谱分析仪输出接口和光示波器，
[0030]上述光分路器实际上就是光纤耦合器，又称分歧器，其原理是通过改变光纤间的消逝场相互耦合(耦合度，耦合长度)以及改变光纤纤半径来实现不同大小的分支量，制作方式有烧结式、微光学式、光波导式，以烧结式生产方法占绝大多数，其中熔锥型光纤耦合器利记博彩app简单、价格便宜、容易与外部光纤连接成为一整体，而且可以耐受机械振动和温度变化，目前成为主流的制造技术。熔融拉锥法就是将两根或多根出去涂覆层的光纤以一定的方法靠拢，在高温加热下熔融，同时向两侧拉伸，最终在加热区形成双锥体形式的特殊波导结构，通过控制光纤扭转的角度和拉伸的长度，可得到不同的分光比例，最后把拉锥区用固化胶固化在石英基片上插入不锈铜管内形成光分路器。2分2光分路器和I分2光分路器有一个重要参数就是分光损耗，分光损耗是输出端口每一路的光功率相对于输入光功率相差的dB数，是和分光比有直接关系的，这里的dB数之差是把光功率换算成dB后进行的差计算得出的，例如分光比是50%的分路器(也就是2分2光分路器)，12mff的光发射机,理论上是这样计算的:101gl2-101g(12X0.5) = 10.79-7.78 = 3.0ldB0
[0031]光分路器另一个很重要的参数就是同侧隔离度，隔离度是指光分路器的某一光路对其他光路中的光信号的隔离能力。在所有指标中，隔离度对于光分路器的意义更为重大，一般来说光分路器的隔离度一般都会在40dB以上。光分路器可采用武汉光迅科技公司的Splitter/03.0X60(2X21230 ?1390nm/1450 ?1510nm50%:50% 0.9mm 尾纤 SC/UPC)和Splitter/03.0X60(1X21230 ?1390nm/1450 ?1510nm50%:50% 0.9mm 尾纤 SC/UPC)，I X 2可程控机械式光开关，可以采用成都第三十四所光电研究所开发的FSWl X 2-SM-C。可便利测试者对光模块的性能进行快捷准确的测试。但是对于采用收发一体光器件的的光模块则一次只能测试收发端其中一端的参数，测试收端时需要外部加光源测试。同时若该装置在校验过程中出现问题后，检查过程略有些麻烦。所以一般在保证装置校验正确后，不要轻易拆卸该装置，避免造成系统光路误差变化太大。
[0032]在图2中，在光模块性能参数测试装置上，将光谱分析仪和光示波器连接在光谱分析仪输出接口和光示波器接口中，把长光纤并联在长光纤输入接口 In和长光纤输出接口 OUT之间，PC机分别通过USB2、USB3连接线连接于光模块性能参数测试装置的光可调哀减器接口和光开关接口，通过USBl连接线连接误码分析仪，误码分析仪通过光模块测试板，将标准光模块上的光纤跳线连接在光纤跳线输入接口 IN接口内，光可调衰减器通过可程控衰减器USB接口和PC连接，误码测试仪通过PC串口或USB接口和PC连接，搭建成一个完整的测试平台。搭建好测试平台后，需要对组成的测试系统进行光路校准，用一个标准光模块，直接通过光纤跳线连接光功率计，上电后读出标准模块实际发射光功率AOPl，然后将连接在光功率计上的光纤跳线接口取下并连接到光模块性能参数测试装置光纤跳线输入接口 IN，并在PC机上通过USB接口将机械式光开关置为通道I，则可在光示波器上读得光功率A0P2，则可得到光功率的系统校准值为δ I = Α0Ρ1-Α0Ρ2。
[0033]然后再通过上位PC机选择机械式光开关的通道2，将光可调衰减器OUT处光纤跳线连接到光功率计，通过上位PC机将光可调衰减器设置为固定输出，并和实际光功率计的读数作差，通过可调衰减器的控制软件进行光路校准，使得控制软件的界面上显示的输出光功率和实际在光可调衰减器OUT处读得的光功率相等。这样做的好处是不用将光纤从光模块拔出通过光功率计测量接收到的光功率，直接可以从可调衰减器的控制软件界面即可读得被测模块接收到的实际光功率。
[0034]搭建好测试平台后，需要对该系统进行光路校准。用一个标准1G XFP40KM波分复用DWDM C21光模块来校验光模块性能参数测试装置。1G XFP 40ΚΜ DffDM C21的指标参数要求如下，光功率:-ldBm < AOP < +2dBm，消光比:ER > 8.2dB,中心波长:λ-0.2 < λ< λ +0.2，-20dB 谱宽:RMS < 0.3nm,边模抑制比:SMSR > 35dB,灵敏度:Sens < 16dBm,通道代价:Dispers1n Penalty < 2dB。校验包括如下步骤,首先将可程控机械式光开关设置为通道I可用，直接通过光功率计连接光纤跳线到标准光模块，读出该模块实际发射光功率，假设是1.5dBm，理想情况下光开关是没有衰减的，但是由于插损等原因，一般会有0.5dB的损耗，再经过一个2分2光分路器和一个I分2光分路器，每个分路器会有3dB衰减，因此理想情况下进入示波器的光功率为1.5dBm-0.5dB-6dB = _5dBm。又由于示波器的系统误差是不固定的，所以对于系统的光路校准一般是采用直接在光示波器上，读得光功率假设为-6.5dBm，则可得到光功率的系统衰减量为δ = 1.5dBm-(-6.5dBm) =8dB，一般认为测量光功率的光路衰减量和理论值偏差不超过3dB，假如该处若算的系统的衰减量大于lldB，就认为是光纤跳线存在端面脏污或者光纤跳线有问题，或者是光纤跳线的连接有问题，则需要逐步排查，否则因为脏污等问题会产生光反射影响眼图质量和通道代价测试结果；然后再选择可程控机械式光开关的通道2，即图中的0UT2通道，将光可调衰减器OUT处光纤跳线连接到光功率计，通过上位机将光可调衰减器设置为固定输出例如_20dBm，并和实际光功率计的读数例如-19.8dBm，将可调衰减器控制软件设定值和实际光功率计读数作差得到0.2，通过光可调衰减器的控制软件进行校准，补偿0.2dB，此时可以得到光可调衰减器的控制软件读数和实际光功率计的读数一致。另外通过光谱分析仪读得中心波长为1560.61nm，并可读得边模抑制比为48dB。同时在光示波器上可以看到光眼图，消光比为11.2dB，至此系统校准和校验结束，同时判定了该装置的工作状态是正常的。
[0035]校准后，换上被测光模块，使用上位PC机将机械式光开关选择通道1，即可在光示波器上看到光模块的眼图，测试出消光比为10.5dB，，同时可读的光功率为-7dBm，实际光模块发射光功率AOP = -7dBm+ δ dB = -7dBm+8dB = IdBm ;在光谱分析仪中也可看到光模块光发射机的光谱，得到被测模块的中心波长为1560.60nm、谱宽为0.123nm和边模抑制比为40dB参数；然后再通过上位PC机控制光可调衰减器的衰减量来进行灵敏度测试，结果为_18dBm、SDA测试为-20.2dBm和SDD为-18.9dBm ;最后选择调节机械式光开关，选择通道2，进行长距离传输测试，测得保持连续90s误码分析仪无误码上报时的最大衰减量，从上位机软件可读得此时的接收光功率为_17dBm，根据通道代价计算公式Λ ==-17dBm-(-18dBm) = ldB。由此光模块的基本参数均已测试完毕，而不需要更换实验平台，只需读数和进行简单计算即可。
[0036]上述即为典型的实施例。
【权利要求】
1.一种光模块性能参数测试装置，包括光可调衰减器、光分路器和光开关，其特征在于:光开关上设有连接光模块光纤跳线输入接口 IN和USB光开关接口，所述光开关还设有两个输出端，其中，输出端out 1连接壳体长光纤输入接口，输出端out2通过二分二光分路器，经一分二光分路器连接壳体光谱分析仪输出接口和光示波器，壳体上还设有连接光可调衰减器输出接口 OUT和USB光调衰减器接口，可调衰减器通过输入端In经上述二分二光分路器连接壳体长光纤输出接口 OUT。
2.如权利要求1所述的光模块性能参数测试装置，其特征在于:光可调衰减器采用可程控光可变衰减器。
3.如权利要求1所述的光模块性能参数测试装置，其特征在于:光开关是光纤传感多点监测系统的一个或多个可选的传输端口的光学器件，其作用是对光传输线路或集成光路中的光信号进行物理切换或逻辑操作的开关。
4.如权利要求1所述的光模块性能参数测试装置，其特征在于:设置在壳体中的光开关采用1 X 2可程控机械式光开关，其上设有连接光模块光纤跳线输入接口 IN和USB光开关接口，连接光模块光纤跳线输入接口 IN和USB光开关接口设置在壳体的外侧。
5.如权利要求1所述的光模块性能参数测试装置，其特征在于:光谱分析仪和光示波器连接在光谱分析仪输出接口和光示波器接口中，长光纤并联在长光纤输入接口 In和长光纤输出接口 OUT之间。
6.如权利要求1所述的光模块性能参数测试装置，其特征在于:PC机分别通过USB2、USB3连接线连接于光模块性能参数测试装置的光可调衰减器接口和光开关接口，通过USB1连接线连接误码分析仪，误码分析仪通过光模块测试板，标准光模块发射端上的光纤跳线连接在光纤跳线输入接口 IN，光可调衰减器通过USB接口和PC连接，误码测试仪通过PC串口或USB接口和PC连接，搭建成一个完整的测试平台。
7.如权利要求1所述的光模块性能参数测试装置，其特征在于:上位PC机通过光开关USB接口选择机械式光开关的通道2，光可调衰减器OUT处光纤跳线连接光功率计，光可调衰减器设置为固定输出。
【文档编号】H04B10/073GK204089820SQ201420526277
【公开日】2015年1月7日 申请日期:2014年9月15日 优先权日:2014年9月15日
【发明者】邓彬 申请人:四川泰瑞创通讯技术有限公司