专利名称：网络接口测试电路的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种测试电路，特别涉及一种用于测试网络接口的测试电路。
背景技术：
随着通信技术的发展，以太网已普遍应用在各个领域，而RJ45作为最常见的网络接口在电脑上得到了广泛的应用，目前应用RJ45网络接口传输的以太网标准为lOBase-T， 100Base-TX, lOOOBase-T。为保证RJ45接口发送的以太网信号的品质，必须对其传输的信号进行信号完整性测量，然而现有的测试装置在测试过程中需要手动的插换示波器和测试装置，这种测试方式不但占用大量测试时间而且可能由于人为原因会造成测量结果的不准确。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种自动的网络接口测试电路，以提高网络接口的测试准确度及测试效率。一种网络接口测试电路用于测试一电子设备的网络接口，所述网络接口测试电路包括一连接器、两探棒、一微控制器、一高速开关芯片、第一至第三开关芯片、一总线开关芯片及一第一负载板，所述连接器用于连接所述电子设备上的网络接口，所述探棒用于连接至一测量仪器上，所述微控制器的第一输出引脚连接所述高速开关芯片的一控制引脚，所述高速开关芯片的第一至第七输入引脚分别对应连接所述连接器上的引脚，所述高速开关芯片的第一及第二输出引脚分别连接所述第一开关芯片的两输入引脚，所述第一及第二开关芯片的两控制引脚均连接所述微控制器的第二输出引脚，所述第一及第二开关芯片的第一至第四开关引脚均连接至所述第一负载板上，所述第二开关芯片的两输出引脚分别连接所述第三开关芯片的第一及第二输入引脚，所述第三开关芯片的两控制引脚连接所述微控制器的第三输出引脚，所述第三开关芯片的两输出引脚分别连接探棒，所述总线开关芯片的第一至第三输入引脚分别连接所述微控制器的第四至第六输出引脚，所述总线开关芯片的第一至第六输出引脚均连接至所述第一负载板上，所述总线开关的接地引脚接地，所述微控制器及所述高速开关芯片分别输出控制信号控制所述第一及第二开关及所述总线开关芯片选择性的导通，以将所述第一负载板上的不同负载接入所述网络接口测试电路，所述微控制器通过所述第二开关芯片输出控制信号控制所述第三开关芯片导通以将测试结果通过一测量仪器显示。相较现有技术，所述网络接口测试电路可以方便的对电子设备上的网络接口的传输标准的信号进行自动测试，而不需要手动插换示波器和测试电路，方便了测试人员，节省了测试时间，提高了测试效率。
下面参考附图结合具体实施方式
对本发明作进一步的说明。
图1及图2为本发明网络接口测试电路的较 主要元件符号说明网络接口测试电路100连接器10探棒40微控制器Ul高速开关芯片U2
开关芯片U3-U8总线开关芯片U9
负载板20,30开关Kl电阻R1-R13电容C1、C2发光二极管Dl-DlO负载L1-L具体实施例方式请参考图1，本发明网络接口测试电路100用于测试一电子设备(如一电脑主板) 的网络接口。所述网络接口测试电路100的较佳实施方式包括一连接器10、两探棒40、 一微控制器U1、一高速开关芯片U2、开关芯片U3-U8、一总线开关芯片U9、两负载板20及 30、一开关K1、电阻R1-R13、电容Cl及C2及若干发光二极管，如十个发光二极管D1-D10。 所述连接器10用于连接所述电脑主板上的网络接口，所述探棒40用于连接至一测量仪器(如示波器)上。在本实施方式中，所述开关Kl为一按钮开关，所述微控制器Ul的型号为MK7A20P，所述高速开关芯片U2的型号为MAX4892E，所述开关芯片U3-U8的型号为 FSA2267，所述总线开关U9的型号为SN74CBTLV3125。所述负载板20上设置第一至第六负载L1-L6，所述第一至第六负载L1-L6的大小可以根据测试的需要进行选择。所述负载板 30上设置一第七负载L7，所述第七负载L7为一电阻。所述微控制器Ul的输出引脚PCO连接所述高速开关芯片U2的控制引脚SEL，所述高速开关芯片U2的输入引脚A1-A7分别对应连接所述连接器10上的引脚，所述高速开关芯片U2的电压引脚VCC连接一电压源VCCl。所述高速开关芯片U2的输出引脚OBl、IBl 分别连接所述开关芯片U3的输入引脚2A、1A，所述开关芯片U3的控制引脚1S、2S均连接所述微控制器的输出引脚PC1，所述开关芯片U3的开关引脚1B0、2B0分别连接所述第一至第三负载L1-L3的两端，所述开关引脚1B1、2B1分别连接所述第四至第六负载L4-L6的两端。 所述开关芯片U4的控制引脚1S、2S连接所述微控制器Ul的输出引脚PC1，其开关引脚1B0、 2B0分别连接所述第一至第三负载L1-L3的两端，其开关引脚1B1、2B1分别连接所述第四至第六负载L4-L6的两端，其输出引脚1A、2A分别连接所述开关U8的输入引脚1B0、2B0，所述开关U8的控制引脚1S、2S连接所述微控制器Ul的输出引脚PC4，其输出引脚1A、2A分别连接探棒40。所述高速开关芯片U2的输出引脚0B2、1B2、2B2、3B2分别连接所述开关芯片U5 的输入引脚1B0、2B0、1B1、2B1，所述开关芯片U5的控制引脚1S、2S均连接所述微控制器Ul的输出引脚PC2，其输出引脚1A、2A分别连接所述开关芯片U7的输入引脚1B0、2B0，所述开关芯片U7的控制引脚连接所述微控制器Ul的输出引脚PC3，其输出引脚1A、2A连接所述负载L7的两端及连接所述开关芯片U8的输出引脚1B1、2B1。所述高速开关芯片U2的输出引脚4B2、5B2、6B2、7B2分别连接所述开关芯片U6的输入引脚1B0、2B0、1B1、2B1，所述开关芯片TO的控制引脚1S、2S均连接所述微控制器Ul的输出引脚PC2，其输出引脚1A、2A分别连接所述开关芯片U7的输入引脚1B1、2B1。所述开关芯片U3-U8的电压引脚均连接所述电压源VCC1，其接地引脚均接地。所述总线开关芯片U9的电压引脚连接所述电压源VCC1，其输入引脚10E-30E分别连接所述微控制器Ul的输出引脚PC5、PC6、PC7，其输出引脚1A、1B 分别连接所述第一至第六负载L1-L6的两端，其输出引脚2A、2B分别连接所述第一至第六负载L1-L6的两端，其输出引脚3AJB分别连接所述第一至第六负载L1-L6的两端，所述总线开关芯片U9的接地引脚GND接地。所述微控制器Ul的输出引脚PB6经所述开关Kl接地及经所述电阻Rl连接所述电压源VCCl，所述微控制器Ul的电压引脚RESETB经所述电阻 R3连接所述电压源VCC1，其时钟引脚OSCl经所述电阻R2连接所述电压源VCC1，所述电容 Cl串接在所述微控制器Ul的时钟引脚OSCl与地之间，所述微控制器Ul的电压引脚VDD连接所述电压源VCCl，所述电容C2串接在所述微控制器Ul的电压引脚VDD与地之间，所述微控制器Ul的接地引脚VSS接地。所述微控制器Ul的输出引脚PA0-PA3、PB0-PB5分别经所述电阻R4-R13连接对应所述发光二极管Dl-DlO的阳极，所述发光二极管Dl-DlO的阴极均接地。本实施方式中以RJ45网络接口为例进行说明。因为RJ45网络接口可以传输的以太网标准为lOBase-T，100Base-TX, IOOOBase-T三种，而其中传输的以太网标准为 100Base-TX及lOOOBase-T的输出信号相同。因此，需要对这两组传输的以太网标准的信号分别进行信号完整性测试。首先以传输的以太网标准为IOBase-T为例进行测试原理说明。测试时，将所述网络接口测试电路100通过所述连接器10连接到所述电脑主板的网络接口上，将所述网络接口测试电路100通过所述探棒40连接到所述示波器上。首先按下按钮开关Kl使所述网络接口测试电路100启动。当所述微控制器Ul的输出引脚PCO输出一低电平信号给所述高速开关芯片U2的控制引脚SEL时，所述高速开关芯片U2的输出引脚OBl及IBl与所述开关芯片U3的输入引脚IA及2A连接导通，同时所述微控制器Ul 的输出引脚PCl输出一低电平信号给所述开关芯片U3及U4的控制引脚IS与2S，则所述开关芯片U3及U4的输出引脚IBO与2B0连接导通并连接至所述负载板20上，当所述微控制器Ul的输出引脚PC5输出一低电平信号给所述总线开关U9的输入引脚10E，而输出引脚PC6、PC7分别输出高电平信号给所述总线开关U9的输入引脚20E、30E时，所述总线开关 U9的输出引脚IA与IB连接导通，此时所述负载板20上的第一负载Ll被接入进行第一次测试，此时所述开关芯片U8的输入引脚1B0、2B0与所述开关芯片U4的输出引脚1A、2A连接导通，所述微控制器Ul的输出引脚PC4输出一低电平信号给所述开关芯片U8的控制引脚1S、2S，所述开关U8的输出引脚1A、2A通过所述探棒40将通过所述第一负载的信号显示在所述示波器上，以便测试人员判断测试结果。当第一次测试完成后，所述微控制器Ul的输出引脚PC6输出一低电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚20E，而输出引脚PC5、 PC7分别输出高电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚10E、30E，此时所述总线开关芯片U9的输出引脚2A与2B连接导通，所述负载板20上的第二负载L2被接入进行测试。 当所述微控制器Ul的输出引脚PC7输出一低电平信号给所述总线开关U9的输入引脚30E， 而输出引脚PC5、PC6分别输出高电平信号给所述总线开关U9的输入引脚10E、20E，此时所述总线开关芯片U9的输出引脚3A与;3B连接导通，所述负载板20上的第三负载L3被接入进行测试。当前面的测试完成后，所述微控制器Ul的输出引脚PCl输出一高电平信号给所述开关芯片U3、U4的控制引脚1S、2S，所述开关U3及U4的输出引脚IBl与2B1连接导通并连接到所述负载板20上，所述微控制器Ul的输出引脚PC5输出一低电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚10E，而输出引脚PC6、PC7分别输出高电平信号给所述总线开关U9 的输入引脚20E、30E，此时所述总线开关芯片U9的输出引脚IA与IB连接导通，所述负载板20上的第四负载L4被接入进行测试。当所述微控制器Ul的输出引脚PC6输出一低电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚20E，而输出引脚PC5、PC7分别输出高电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚10E、30E，所述总线开关U9的输出引脚2A与2B连接导通，所述负载板20上的第五负载L5被接入进行测试。当所述微控制器Ul的输出引脚PC7 输出一低电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚30E，而输出引脚PC5、PC6分别输出高电平信号给所述总线开关芯片U9的输入引脚10E、20E，此时所述总线开关U9的输出引脚3A与;3B连接导通，所述负载板20上的第六负载被接入进行测试。当所述负载板20上的六种负载L6均被接入测试完成后，则所述网络接口测试电路对通过所述网络接口的传输速率为IOBase-T的信号完整性测试完成。当所述网络接口测试电路100需要对通过所述网络接口的传输的以太网标准为 100Base-T及lOOOBase-T进行测试时，只需使所述微控制器Ul的输出引脚PCO输出一高电平信号给所述高速开关芯片U2的控制引脚SEL，即可实现自动将所述网络接口测试电路 100切换到对传输的以太网标准为100Base-T及lOOOBase-T的信号进行测试。当所述微控制器Ul的输出引脚PC2输出一低电平信号给所述开关芯片TO、TO的控制引脚1S、2S时， 所述高速开关芯片U2的输出引脚0B2、1B2分别与所述开关芯片U5的1B0、2B0连接导通， 所述高速开关芯片U2的输出引脚4B2、5B2分别与所述开关芯片U6的输入引脚1B0、2B0连接导通，当所述微控制器Ul的输出引脚PC3输出一低电平给所述开关U7的控制引脚1S、 2S时，所述开关U7的输入引脚1B0与2B0连接导通，其输出引脚1A、2A连接至所述第七负载L7上并与所述开关芯片U8的输入引脚1B1、2B1连接导通，所述微控制器Ul的输出引脚 PC4输出一低电平信号给所述开关芯片U8的控制引脚1S、2S，所述开关U8的输出引脚1A、 2A通过所述探棒40将通过所述第七负载L7的信号显示在所述示波器上，以便测试人员判断测试结果。当所述微控制器Ul的输出引脚PC2输出一高电平信号给所述开关芯片U5、U6的控制引脚1S、2S时，所述高速开关芯片U2的输出引脚2B2、3B2分别与所述开关芯片U5的 1BU2B1连接导通，所述高速开关芯片U2的输出引脚6B2、7B2分别与所述开关芯片U6的输入引脚IBl、2B1连接导通，当所述微控制器Ul的输出引脚PC3输出一低电平给所述开关U7 的控制引脚1S、2S时，所述开关U7的输入引脚1B0与2B0连接导通，其输出引脚1A、2A连接至所述第七负载L7并与所述开关芯片U8的输入引脚1B1、2B1连接导通，所述微控制器 Ul的输出引脚PC4输出一低电平信号给所述开关芯片U8的控制引脚1S、2S，所述开关U8
7的输出引脚1A、2A通过所述探棒40将通过所述第七负载L7的信号显示在所述示波器上， 以便测试人员判断测试结果。当所述微控制器Ul的输出引脚PC2输出一低电平信号给所述开关芯片U5、U6的控制引脚1S、2S时，所述高速开关芯片U2的输出引脚0B2、1B2分别与所述开关芯片U5的 1B0.2B0连接导通，所述高速开关芯片U2的输出引脚4B2、5B2分别与所述开关芯片U6的输入引脚1B0、2B0连接导通，当所述微控制器Ul的输出引脚PC3输出一高电平给所述开关U7 的控制引脚1S、2S时，所述开关U7的输入引脚IBl与2B1连接导通，其输出引脚1A、2A连接至所述第七负载L7并与所述开关芯片U8的输入引脚1B1、2B1连接导通，所述微控制器 Ul的输出引脚PC4输出一低电平信号给所述开关芯片U8的控制引脚1S、2S，所述开关U8 的输出引脚1A、2A通过所述探棒40将通过所述第七负载L7的信号显示在所述示波器上， 以便测试人员判断测试结果。当所述微控制器Ul的输出引脚PC2输出一高电平信号给所述开关芯片U5、U6的控制引脚1S、2S时，所述高速开关芯片U2的输出引脚2B2、3B2分别与所述开关芯片U5的 1BU2B1连接导通，所述高速开关芯片U2的输出引脚6B2、4B2分别与所述开关芯片U6的输入引脚1B1、2B1连接导通，当所述微控制器Ul的输出引脚PC3输出一高电平给所述开关U7 的控制引脚1S、2S时，所述开关U7的输入引脚IBl与2B1连接导通，其输出引脚1A、2A连接至所述第七负载L7并与所述开关芯片U8的输入引脚1B1、2B1连接导通，所述微控制器 Ul的输出引脚PC4输出一低电平信号给所述开关芯片U8的控制引脚1S、2S，所述开关U8 的输出引脚1A、2A通过所述探棒40将通过所述第七负载L7的信号显示在所述示波器上， 以便测试人员判断测试结果。本实施方式中，因为传输的以太网标准为IOBase-T的测试需要对所述负载板20 上的负载L1-L6进行六次负载状态测试，而传输的以太网标准为100Base-TX及lOOOBase-T 的测试需要对负载板30上的负载L7进行四次负载状态测试，因此，采用十个发光二极管 Dl-DlO对每一负载状态测试进行显示，当测试通过时，则一发光二极管亮，否则不亮。在每一测试完成时，所述微控制器Ui控制一发光二极管的亮或灭。所述网络接口测试电路100可以方便的对所述电脑主板上的网络接口的不同传输的以太网标准的的信号进行自动测试，而不需要手动插换示波器和测试电路，方便了测试人员，节省了测试时间，提高了测试效率。同时也可通过所述发光二极管的亮或灭很容易的观察到测试状态。
权利要求
1.一种网络接口测试电路，用于测试一电子设备的网络接口，所述网络接口测试电路包括一连接器、两探棒、一微控制器、一高速开关芯片、第一至第三开关芯片、一总线开关芯片及一第一负载板，所述连接器用于连接所述电子设备上的网络接口，所述探棒用于连接至一测量仪器上，所述微控制器的第一输出引脚连接所述高速开关芯片的一控制引脚，所述高速开关芯片的第一至第七输入引脚分别对应连接所述连接器上的引脚，所述高速开关芯片的第一及第二输出引脚分别连接所述第一开关芯片的两输入引脚，所述第一及第二开关芯片的两控制引脚均连接所述微控制器的第二输出引脚，所述第一及第二开关芯片的第一至第四开关引脚均连接至所述第一负载板上，所述第二开关芯片的两输出引脚分别连接所述第三开关芯片的第一及第二输入引脚，所述第三开关芯片的两控制引脚连接所述微控制器的第三输出引脚，所述第三开关芯片的两输出引脚分别连接探棒，所述总线开关芯片的第一至第三输入引脚分别连接所述微控制器的第四至第六输出引脚，所述总线开关芯片的第一至第六输出引脚均连接至所述第一负载板上，所述总线开关的接地引脚接地，所述微控制器及所述高速开关芯片分别输出控制信号控制所述第一及第二开关及所述总线开关芯片选择性的导通，以将所述第一负载板上的不同负载接入所述网络接口测试电路，所述微控制器通过所述第二开关芯片输出控制信号控制所述第三开关芯片导通以将测试结果通过一测量仪器显示。
2.如权利要求1所述的网络接口测试电路，其特征在于所述网络接口测试电路还包括第四至第六开关芯片及一第二负载板，所述高速开关芯片的第三至第六输出引脚分别连接所述第四开关芯片的第一至第四开关引脚，所述第四开关芯片的两控制引脚均连接所述微控制器的第七输出引脚，所述第四开关芯片的两输出引脚分别连接所述第五开关芯片的第一及第二输入引脚，所述第五开关芯片的两控制引脚连接所述微控制器的第八输出引脚，所述第五开关芯片的两输出引脚连接至所述第二负载板上，所述第三开关芯片的第三及第四开关引脚连接至所述第二负载上，所述高速开关芯片的第七至第十输出引脚分别连接所述第六开关芯片的第一至第四输入引脚，所述第六开关芯片的两控制引脚均连接所述微控制器的第七输出引脚，所述第六开关芯片的两输出引脚分别连接所述第五开关芯片的第三及第四输入引脚，所述微控制器及所述高速开关芯片分别输出控制信号控制所述第四及第五开关芯片选择性的导通，并通过所述第六开关芯片的导通将所述第二负载板上的负载接入所述网络接口测试电路，并通过所述第三开关芯片的导通将测试结果通过一测量仪器显不。
3.如权利要求2所述的网络接口测试电路，其特征在于所述第一负载板包括第一至第六负载，所述第一开关芯片的第一及第二开关引脚分别连接所述第一至第三负载的两端，所述第三及第四开关引脚分别连接所述第四至第六负载的两端，所述第二开关芯片的第一及第二开关引脚分别连接所述第一至第三负载的两端，第三及第四开关引脚分别连接所述第四至第六负载的两端，所述总线开关芯片的第一及第二输出引脚分别连接所述第一至第六负载的两端，第三及第四输出引脚分别连接所述第一至第六负载的两端，第五及第六输出引脚分别连接所述第一至第六负载的两端，所述第二负载板包括一第七负载，所述第六开关芯片的输出引脚连接所述第七负载的两端。
4.如权利要求2所述的网络接口测试电路，其特征在于所述网络接口测试电路还包括一开关、第一至第三电阻及第一及第二电容，所述微控制器的第九输出引脚经所述开关接地及经所述第一电阻连接所述电压源，所述微控制器的第一电压引脚经所述第二电阻连接所述电压源，所述微控制器的时钟引脚经所述第三电阻连接所述电压源，所述第一电容串接在所述微控制器的时钟引脚与地之间，所述第二电容串接在所述微控制器的第二电压引脚与地之间。
5.如权利要求4所述的网络接口测试电路，其特征在于所述网络接口测试电路还包括第一至第十发光二极管及第四至第十三电阻，所述微控制器的第九至第十七输出引脚分别经所述第四至第十三电阻连接所述第一至第十发光二极管的阳极，所述第一至第十发光二极管的阴极均接地。
6.如权利要求1所述的网络接口测试电路，其特征在于所述电子设备为一电脑主板。
7.如权利要求1所述的网络接口测试电路，其特征在于所述开关为一按钮开关。
全文摘要
一种网络接口测试电路，包括连接器、探棒、微控制器、高速开关芯片、第一至第三开关芯片、总线开关芯片及负载板，微控制器的第一输出引脚连接高速开关芯片的控制引脚，其第一至第七输入引脚连接连接器，高速开关芯片的第一及第二输出引脚连接第一开关芯片的两输入引脚，第一及第二开关芯片的两控制引脚连接微控制器的第二输出引脚，其第一至第四开关引脚连接负载板，第二开关芯片的两输出引脚连接第三开关芯片的第一及第二输入引脚，第三开关芯片的两控制引脚连接微控制器的第三输出引脚，其两输出引脚分别连接探棒，总线开关芯片的第一至第三输入引脚分别连接微控制器的第四至第六输出引脚，其第一至第六输出引脚均连接负载板。
文档编号H04L12/26GK102340427SQ201010239060
公开日2012年2月1日 申请日期2010年7月28日 优先权日2010年7月28日
发明者侯作林 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司