一种基于虚拟仪器的dac测试系统的利记博彩app
【专利摘要】本实用新型公开了半导体芯片测试领域的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，包括码型发生器、被测DAC、输出数据采集模块、分析显示模块和电源，其中，码型发生器连接到被测DAC的数字输入端用于输入预定的逻辑电平，输出数据采集模块连接到被测DAC的模拟输出端用于采集输出端对应的模拟电压，输出数据采集模块通过通信线缆连接到分析显示模块用以分析和显示计算结果，电源连接到被测DAC用来给被测DAC供电。本实用新型采用虚拟仪器的设计技术，能够完成数模转换器的静态和动态参数测试，提高数模转换器测试效率和可靠性的同时，功能扩展方便、测试成本低。
【专利说明】
一种基于虚拟仪器的DAC测试系统
技术领域
[0001]本实用新型涉及半导体芯片测试领域，具体涉及一种数模转换器的测试系统。
【背景技术】
[0002]随着电子信息技术的迅猛发展特别是消费电子对半导体产业的拉动，人们越来越多的利用数字系统处理模拟信号，然后将数字系统处理过后的模拟信号返回到实际应用当中，其中沟通现实世界与数字世界的电子器件是数模转换器(Digital to analogconverter ,DAChDAC作为数字量与模拟量之间一个十分关键的部位，同时也成为了电子技术发展的关键和瓶颈所在，常常决定了系统的性能。
[0003]同时，由于应用范围的极速扩张，使得DAC技术不再仅仅应用于单一的电子设备中，许多交叉领域对高速高精度DAC的广泛需求，使得对DAC技术的测试精度、测试方法、测试条件都提出了更为苛刻的要求。鉴于现代电子信息领域均具备高速高精度的共性，相对传统的模数转换器，在实际的应用中，数模转换器性能的影响因素也必然更多、更细节化，也许任何一个细节都将会导致其性能的不稳定性或严重降低，从而引发电子设备作为一个整体出现不良耦合。因此可以认为，数模转换器的性能指标对该电子设备系统指标和性能的影响十分具体，就必然将DAC的性能测试推向十分重要的地位。因而现阶段对高速高精度DAC测试技术的研究有着非常重要现实而又深远的意义。
[0004]现有的DAC测试的通用办法是利用实验室PC机、示波器、逻辑分析仪等仪器，通过数字信号处理机中的DSP模块及和仿真模块采集、处理、存储，最后处理和显示测试数据或波形数据，其测试过程设计到的仪器较多且测试过程复杂。另外，在大规模的半导体芯片生产中，芯片测试普遍采用的是自动测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)，ATE是一套由计算机控制的高性能测试装置。对于高速DAC的测试，主要是使用ATE的数字波形发生器提供输入信号，用内置ADC采集被测DAC的模拟输出并作计算和评价。然而，由于系统结构十分复杂，使得高精度ATE的造价相当高昂，而且随着半导体工艺和设计水平的提高，芯片性能也不断提高，用于测试这些芯片的ATE也要有更高的精度才能满足测试需求，这将进一步加剧成本的开支。
[0005]虚拟仪器技术配合灵活高效的LabVIEW开发软件平台和运用高精度的模块化硬件完成各种自动化、测量和测试的应用。用户界面完全可以通过灵活高效的LabVIEW软件开发平台来自定义，模块化的硬件设备提供了全方位的系统集成服务，标准化的软件和硬件平台能满足系统对同步和定时应用的需求。与传统的测试方法相比，虚拟仪器技术应用到高速DAC测试当中，可以充分发挥其性能高、扩展性强、开发时间少以及无缝集成的优势。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，其具有能够完成数模转换器的静态和动态参数测试，提高数模转换器测试效率的同时，功能扩展方便、测试成本低等特点。
[0007]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，包括码型发生器、被测DAC、输出数据采集模块、分析显示模块和电源，其中，码型发生器连接到被测DAC的数字输入端用于输入预定的逻辑电平，输出数据采集模块连接到被测DAC的模拟输出端用于采集输出端对应的模拟电压，输出数据采集模块通过通信线缆连接到分析显示模块用以分析和显示计算结果，电源连接到被测DAC用来给被测DAC供电。
[0008]其进一步技术方案为:所述码型发生器的型号为NI PX1-6541和NI PXIe_6545。
[0009]其进一步技术方案为:所述被测DAC为高速模数转换器，所述被测DAC的转换位数为8位和12位。
[0010]其进一步技术方案为:所述输出数据采集模块型号为NIPXIe-6366和NI PXIe-4499 ο
[0011]其进一步技术方案为:所述一种基于虚拟仪器的DAC测试系统包括如下步骤:
[0012]码型发生器输入预定的逻辑电平；
[0013]测试并采集被测DAC模拟输出端的电压；
[0014]通过通星线缆将采集到的数据传到LabVIEW;
[0015]LabVIEW编程实现测试过程的控制，数据的计算和处理，以及处理结果的可视化，通过直观的图形和表格形式输出结果。
[0016]其中，所述测试并采集被测DAC模拟输出端的电压还包括被测DAC测试板卡上的低通滤波器电路和陷波滤波器电路，低通滤波器电路用于抗混叠，陷波滤波器电路用于分离基频成分和其他频率成分。所述LabVIEW软件编程实现测试过程的控制还包括程序设计架构采用生产者/消费者事件架构，工作模式有测试准备检测模式、静态参数测试模式、动态参数测试模式、测试结果绘制保存模式。
[0017]本实用新型的有益效果是:采用虚拟仪器的设计技术，配合灵活高效的LabVIEW开发平台和运用高精度的模块化硬件完成DAC的测试，人机交互界面通过LabVIEW开发平台来自定义，可视化效果丰富，能够完成数模转换器的静态和动态参数测试，提高数模转换器测试效率和可靠性的同时，功能扩展方便、测试成本低。
【附图说明】
[0018]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0019]图1为本实用新型的测试系统示意图。
[0020]图2为本实用新型的系统结构框图。
【具体实施方式】
[0021]有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点及有益效果，在配合附图式的较佳实施例详细说明中将可清楚的呈现。通过【具体实施方式】的说明，当可对本实用新型为达成预定解决技术问题所采取的技术方案及有益效果得以更加深入且具体的了解，然而这些实施例是用于说明本实用新型而不是用于限制本实用新型的范围。
[0022]如图1所示的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统的测试系统示意图，主要由码型发生器、被测DAC、输出数据采集模块、分析显示模块和电源，其中，码型发生器连接到被测DAC的数字输入端用于输入预定的逻辑电平，输出数据采集模块连接到被测DAC的模拟输出端用于采集输出端对应的模拟电压，输出数据采集模块通过通信线缆连接到分析显示模块用以分析和显示计算结果，电源连接到被测DAC用来给被测DAC供电。
[0023]其中，所述码型发生器的型号为NI PX1-6541和NI PXIe_6545，其作用是产生数模转换器的预定输入逻辑电平(也就是数字码)，所述被测DAC为高速模数转换器且转换位数为8位和12位，所述输出数据采集模块型号为NI PXI e-6366和NI PXI e_4499，其作用是采集被测DAC模拟输出端对应的模拟电压，通过通信线缆连接到处理器进行数据计算，将计算结果以图形和表格的形式在人机交互界面呈现。
[0024]如图2所示的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统的系统结构框图，包括如下步骤:
[0025]码型发生器输入预定的逻辑电平；
[0026]测试并采集被测DAC模拟输出端的电压；
[0027]通过通星线缆将采集到的数据传到LabVIEW;
[0028]LabVIEW软件编程实现测试过程的控制，数据的计算和处理，以及处理结果的可视化，通过直观的图形和表格形式输出结果。
[0029]其中，所述测试并采集被测DAC模拟输出端的电压还包括被测DAC测试板卡上的低通滤波器电路和陷波滤波器电路，低通滤波器电路用于抗混叠，陷波滤波器电路用于分离基频成分和其他频率成分。所述LabVIEW软件编程实现测试过程的控制还包括程序设计架构采用生产者/消费者事件架构，工作模式有测试准备检测模式、静态参数测试模式、动态参数测试模式、测试结果绘制保存模式。
[0030]如上所述，本实用新型所提供的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统具有如下有益效果:采用虚拟仪器的设计技术，配合灵活高效的LabVIEW开发平台和运用高精度的模块化硬件完成DAC的测试，人机交互界面通过LabVIEW开发平台来自定义，可视化效果丰富，能够完成数模转换器的静态和动态参数测试，提高数模转换器测试效率和可靠性的同时，功能扩展方便、测试成本低。
[0031]本实用新型并不局限于上述实施例，在本实用新型公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，其特征在于:包括码型发生器、被测DAC、输出数据采集模块、分析显示模块和电源，其中，码型发生器连接到被测DAC的数字输入端用于输入预定的逻辑电平，输出数据采集模块连接到被测DAC的模拟输出端用于采集输出端对应的模拟电压，输出数据采集模块通过通信线缆连接到分析显示模块用以分析和显示计算结果，电源连接到被测DAC用来给被测DAC供电。2.如权利要求1所述的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，其特征在于:所述码型发生器的型号为NI PX1-6541 和NI PXIe_6545。3.如权利要求1所述的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，其特征在于:所述被测DAC为高速模数转换器，所述被测DAC的转换位数为8位和12位。4.如权利要求1所述的一种基于虚拟仪器的DAC测试系统，其特征在于:所述输出数据采集模块型号为NI PXIe-6366和NI PXIe_4499。
【文档编号】H03M1/10GK205430209SQ201620093310
【公开日】2016年8月3日
【申请日】2016年1月29日
【发明人】李岳
【申请人】李岳