专利名称：波形整形装置以及差错测定装置的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及通过对输入数据信号进行波形整形处理，从而除去振幅方向 的摆动的波形整形装置，特别涉及可进行正确的波形整形处理而不会受到输
入数据信号的振幅或标记率(markratio)的影响的波形整形装置。
背景技术：
作为处理数据信号的设备或进行传输路径的性能评价的 一个方法，有将 基准模式的数据信号作为测试用信号而提供给评价对象，测定对于从该评价 对象输出的数据信号的比特差错率的方法。
实现这样的方法的差错测定装置是，接受从评价对象输出的数据信号， 输入到波形整形装置后除去振幅方向的摆动分量，对该被波形整形的数据信 号通过被相位调整的时钟信号进行符号读取处理，除去相位方向的摆动分量。 而且，该差错测定装置将被除去了振幅方向和相位方向的摆动分量的数据信 号的符号、和提供给评价对象的测试用信号的模式的符号 一个 一个进行比较， 从而求出差错率。
例如在以下的专利文献1、 2中，公开了这样通过对于数据信号的波形整 形处理和通过时钟信号的读取处理而消除了振幅和相位的摆动分量之后求出 比特差错率的差错测定装置。
专利文献l:(日本)特开平5-7135号公报
专利文献2:(日本)特开平8-88625号公报
发明内容
发明要解决的课题
在上述专利文献l、 2中，公开了如下的技术，即对输入数据信号进行检 波从而求出其振幅中心电压，通过将用于波形整形处理的参照电压根据振幅 中心电压而进行可变控制，从而应对输入数据信号的直流补偿的变动。
但是，在如上所述那样通过检波器求出输入数据信号的振幅的情况下，
5根据数据信号的标记率所检测的中心电压的值产生误差。该误差的影响在输 入数据信号的振幅小时变得显著。因此，以往的差错测定装置存在如下问题， 即在没有振幅余量的位置上进行波形整形处理，不能进行正确的差错率测定。
本发明的目的在于，提供一种解决了上述问题，即使在输入数据信号的 振幅小的情况下使用标记率大不相同的符号的情况下，也能够对输入数据信 号在具有振幅余量的位置上进行波形整形处理的波形整形装置以及差错测定 装置。
用于解决课题的手段
本发明的波形整形装置，包括比较器(25)，比较输入数据信号和阈 值，从而将该输入数据信号进行波形整形后输出；以及电压检测部件(22)， 将该输入数据信号进行检波，检测其振幅电压以及振幅中心电压，其特征在 于，所述波形整形装置还包括校正信息输出部件(27),基于所述输入 数据信号的标记率(M)和该振幅电压，输出校正信息；以及校正部件(28), 根据来自所述校正信息输出部件的校正信息，校正该输入数据信号的直流 补偿(offset)值以及该阈值的任一个。
周围温度、所述输入数据信号的比特率、所述输入数据信号的标记率的每 个组合所确定的至少 一个系数、以及通过所述电压检测部件所检测的振幅 电压而一皮决定。
此外，本发明的差错测定装置，包括波形整形装置，接受输入数据 信号，将该波形进行整形；可变延迟器(31),将所述被波形整形的数据 信号和输入时钟信号相对进行移相；以及识别器(30),接受来自所述波 形整形装置的输出和通过所述可变延迟器相对地进行移相的输入时钟信 号，读取来自所述波形整形装置的输出的符号，基于从所述识别器输出的 识别数据信号，测定该输入数据信号的符号差错，其特征在于，所述波形 整形装置为上述的波形整形装置。
另外，本发明的差错测定装置，也可以还包括基准信号产生部件 (41),对所述校正信息输出部件输出所指定的基准信号的标记率作为所 述输入数据信号的标记率。
此外，本发明的差错测定装置，也可以包括延迟器(32a),将从 所述识别器输出的识别数据信号以比特为单位延迟输出；第l相位检波器
6(32b)，输出与来自所述波形整形装置的输出和从该识别器输出的识别
数据信号之间的相位差对应的电压；第2相位检波器(32c),输出与所 述识别数据信号和从所述延迟器输出的数据信号之间的相位差对应的电 压；第3相位检波器(32d),输出成为所述第l相位检波器的输出电压 的基础的基础电压；以及相位控制部件(33)，控制所述可变延迟器的移 相量，使得从所述第1相位检波器输出的电压与来自所述第2相位检波器 的输出电压和所述基础电压之间的中间电压相等。
此外，所述第1至第3相位检波器可以由相同的相位检波器构成，所 述第3相位检波器输出与相同符号并且相同相位的数字数据信号之间的相 位差对应的电压作为所述基础电压。
此外，本发明的波形整形装置(21")，包括第1电压检测部件(22A)， 对构成差动数字信号的一个第l输入数据信号进行检波，检测该第l振幅 电压以及第1振幅中心电压；第2电压^r测部件(22B),对构成该差动 数字信号的另一个第2输入数据信号进行检波，检测该第2振幅电压以及 第2振幅中心电压；以及比较器(25),比较所述第1输入数据信号和所 述第2输入数据信号，将该差动数字信号变换为数字信号后输出，其特征 在于，所述波形整形装置(21〃)还包括第1校正信息输出部件(27A)， 基于所述第1输入数据信号的标记率和该第l振幅电压，输出第l校正信 息；第l校正部件(28A)，根据所述第l校正信息，校正该第l输入数 据信号的直流补偿值；第2校正信息输出部件(27B)，基于所述第2输 入数据信号的标记率和该第2振幅电压，输出第2校正信息；以及第2校 正部件(28B)，根据所述第2校正信息，校正该第2输入数据信号的直 流补偿值。
此外，本发明的差错测定装置，包括波形整形装置(21"),接受 差动数字信号，比较构成该差动数字信号的第l输入数据信号和第2输入 数据信号，输出被波形整形的数据信号；可变延迟器(31),将所述被波 形整形的数据信号和输入时钟信号相对进行移相；以及识别器(30)，接 受通过所述可变延迟器相对地进行移相的、来自所述波形整形装置的输出 和输入时钟信号，读取来自所述波形整形装置的输出的符号，基于从所述 识别器输出的识别数据信号，测定该差动数字信号的符号差错，其特征在 于，所述波形整形装置(21")为上述的波形整形装置。另外，本发明的差错测定装置，也可以还包括基准信号产生部件 (41),对所述第1以及第2校正信息输出部件输出所指定的基准信号的 标记率作为所迷差动数字信号的标记率。
此外，本发明的差错测定装置，也可以包括延迟器(32a)，将从 所述识别器输出的识别数据信号以比特为单位延迟输出；第l相位检波器 (32b),输出与来自所述波形整形装置的输出和从该识别器输出的识别 数据信号之间的相位差对应的电压；第2相位检波器(32c)，输出与所 述识别数据信号和从所述延迟器输出的数据信号之间的相位差对应的电 压；第3相位检波器(32d)，输出成为所述第1相位检波器的输出电压 的基础的基础电压；以及相位控制部件(33),控制所述可变延迟器的移 相量，使得从所述第1相位检波器输出的电压与来自所述第2相位检波器 的输出电压和所述基础电压之间的中间电压相等。
此外，本发明的差错测定装置，所述第1至第3相位检波器可以由相 同的相位检波器构成，所述第3相位检波器输出与相同符号并且相同相位 的数字数据信号之间的相位差对应的电压作为所述基础电压。
发明效果
这样，本发明的波形整形装置以及差错测定装置，根据输入数据信号的 振幅和原来的标记率，对输入到比较器的数据信号的直流偏置(bias)或者参 照电压进行校正，所以即使存在输入数据信号的标记率的大幅变化或振幅的 减少变化等，也能够在具有振幅余量的状态下进行波形整形处理。
此外，本发明的差错测定装置除了进行所述波形整形处理之外，还能够 在相位余量最高的定时进行对于数据信号的数据识别。
图1是表示本发明的实施方式的结构的图。
图2是实施方式的主要部分的结构图。
图3是用于说明实施方式的主要部分的动作的图。
图4是实施方式的主要部分的结构图。
图5是实施方式的主要部分的动作说明图。
图6是将本发明适用于使用了电平偏移器(level shifter)的波形整形装 置的第2实施方式的例子的图。图7是表示第3实施方式的主要部分的结构例子的图。
标号说明
20差错测定装置
21波形整形装置
22、 22A、 22B电压4全测部件
23参照电压产生部件
24、 24A、 24B偏置电压产生部件
25比较器
27、 27A 、 27B校正信息输出部件
28、 28A、 28B校正部件
29、 29A、 29B电平偏移器(level shift ) 30识别器
31可变延迟器 32相位;险波部件 33相位控制部件 40差错测定单元 41基准信号产生部件 42符号比较部件 43运算单元
具体实施方式
(第1实施方式)
以下，基于
本发明的实施方式。
图1表示具有本发明的波形整形装置21的差错测定装置20的结构。 波形整形装置21包括电压检测部件22、参照电压产生部件23、比较
器25、校正信息输出部件27以及校正部件28。
电压检测部件22对输入数据信号Da进行检波，求出其振幅值和振幅中
心电压。
更具体地说，如图2所示，电压检测部件22包括高电平电压检测器 22a，将输入数据信号Da迸行二极管^r波，从而检测高电平的电压Va;低电 平电压检测器22b,将输入数据信号Da进行二极管检波，从而检测低电平的电压Vb;以及中心电压检测器22c，求出振幅中心电压Vc= ( Va+Vb ) /2。
参照电压产生部件23生成与通过电压4企测部件22所检测的l展幅中心电 压Vc对应的参照电压Vr。但该参照电压Vr通过后述的校正部件28而被校 正。参照电压产生部件23例如由低通滤波器构成。另外，在振幅中心电压 Vc的脉动分量非常小的情况下，也可以从波形整形装置21的结构中除去参 照电压产生部件23， ^使用振幅中心电压Vc作为参照电压Vr。
比较器25比较输入数据信号Da和被校正的参照电压Vr'，生成被波形 整形的数据信号Db,使得例如在输入数据信号Da的电压超过参照电压Vr' 的期间成为高电平，在输入数据信号Da的电压在参照电压Vr'以下的期间成 为低电平，并将其输出到后述的识别器30。
校正信息输出部件27基于从后述的基准信号产生部件41输出的标记率 M和输入数据信号的振幅，将用于校正电压检测部件22检测的振幅中心电压 Vc的误差的校正信息AV输出到校正部件28。
校正部件28使用校正信息AV进行参照电压Vr的校正(此时，减法运 算或者加法运算校正)。另外，这里表示了将输入数据信号直接输入到比较器 25，校正参照电压侧的情况，但也可以如后述那样，预先固定参照电压侧， 将输入数据信号输入到电平偏移器来改变其直流补偿后输入到比较器25。
这里，说明数据信号的标记率和检波输出之间的关系，若将数据信号的 标记率设为高电平数据的比特数/全比特数，则标记率越大，正极侧(高电平 侧)的检波输出的平均值上升，负极侧(低电平侧)的检波输出的平均值也 上升。
因此，如图3 (a)那样，正负的检波输出的中间值Vc变得比数据信号 Da的真正的振幅中心Vcr高，振幅余量变小。
此外，若标记率变小，则正极侧(高电平侧)的检波输出的平均值下降， 负极侧(低电平侧)的检波输出的平均值下降。
因此，如图3(b)那样，正负的检波输出的中间值Vc变得比数据信号 Da的真正的振幅中心Vcr低，振幅余量仍变小。
此外，若如上所述那样通过较低的S/N输入小振幅的数据信号，则振幅 余量必然变小，相对于上述标记率的变化的振幅余量越发变小。
因此，在该实施方式的波形整形装置21中，例如对数据信号不同的标记 率以及振幅值，预先求出检波输出的中间值Vc和数据信号的振幅中心Vcr和振幅的校正信息AV，将其存储到存4诸 器(未图示)中，校正信息输出部件27基于通过电压;f企测部件22所检测的 振幅值和标记率M来读出校正信息AV，校正部件28将校正信息AV加到参 照电压Vr后输出到比较器25。
根据这样的结构，即使在数据信号的振幅小的情况或数据信号的标记率 被大幅变更的情况下，波形整形装置21也能够进行充分具有振幅余量的波开
整形处理。
另外，校正信息输出部件27除了将预先存储在存储器中的校正信息读出 来使用之外，也可以在每次进行其测定时进行运算处理来计算校正信息AV。 通过电路方式等，可以考虑各种其运算的方法。作为倾向，由于所述中间电 压的误差对于标记率和振幅的依赖性高，所以例如如下的运算式那样，能够 使用系数(x、 (3、和对于标记率M的50%的差以及振幅(Va-Vb)来计算校 正信息AV。
AV= ( M-0.5 ) [a ( Va-Vb ) +p]
另外，系数ot、 p并不限定于常数。例如可以将系数a、 P对波形整形装置 21的周围温度、输入数据信号Da的比特率(输入时钟Cka的频率)、输入数 据信号Da的标记率M的每个组合预先决定，并存储在上述的存储器中，校
此外，校正信息输出部件27也可以才艮据通过电压4企测部件22检测的Va 以及Vb所得到的振幅值(Va-Vb)、如上那样选择的a以及P、标记率M，按 照上述运算式计算校正信息AV。
在对波形整形装置21的周围温度、输入数据信号Da的比特率、输入数 据信号Da的标记率M,对于各自几个点的每个组合决定了系数a、 |3的情况 下，例如对输入数据信号Da的比特率决定了在1Gbps、 5Gbps中的ot、 P的情
对所有的测定状况求出校正信息AV。
此外，在存储器中存储的组合中还可以包含振幅值(Va-Vb)，校正信息 输出部件27不使用上述运算式求出AV。
这样被波形整形的数据信号Db输入到识别器30，与输入数据信号Da 一起从外部输入的输入时钟CKa在可变延迟器31中受到延迟，该被延迟的 时钟CKb输入到识别器30中。
ii如图4所示，识别器30由触发器30a构成，将数据信号Db的符号对时 钟CKb的一个电平偏移定时(例如，上升定时)进行锁存，并将其锁存结果 输出到差错测定单元40作为识别数据信号Dc。
相位检波部件32接受数据信号Db和从识别器30输出的识别数据信号 Dc,生成用于判定识别器30的识别定时即时钟信号CKb的电平偏移定时是 否合适所需的三个信号P1 P3。
即，如图4所示，相位检波部件32包括延迟器32a，由触发器构成， 并对识别数据信号Dc提供1比特量的延迟；第1相位;险波器32b，检测数据 信号Db和识别数据信号Dc之间的相位差；第2相位4企波器32c,检测识别 数据信号Dc和从延迟器32a输出的数据信号Dd的相位差；以及第3相位检 波器32d,检测同一信号(这里是数据信号Dd)的相位差(始终为零)。
另外，各个相位检波器32b 32d由用于判定相位比较对象的两个信号的 一致、不一致的EXOR ("异或")电路和提取EXOR的输出波形的直流平均 值的LPF构成。
这里，在第2相位检波器32c中，由于同一符号的数据信号之间以相差 1比特的状态下输入，所以高概率地产生符号不一致，其输出值P2与在电路 上可输出的最大电压VH大致相等。
此外，在第3相位检波器32d中，由于输入同一符号的数据信号，所以 其输出值P3与在电路上可输出的最小电压VL大致相等。该第3相位检波器 32d是输出成为第l相位检波器32b以及第2相位检波器32c的输出值的基础 的电压的基础电压产生部件，可以是单纯地为电源线或输出被固定为低电平 的任意的逻辑电路的输出线，但如本实施方式那样，由与第l相位检波器32b 以及第2相位检波器32c相同结构的相位检波器构成，不会受到电压漂移 (drift)等的影响。
而且，在第l相位检波器32b中，由于同一符号的数据信号Db、识别数 据信号Dc以不超过1比特的相位差输入，所以其输出值Pl成为电压VH和 电压VL之间。
这里，在数据信号Db和识别数据信号Dc之间的相位大致相等的情况下， 输出值Pl与电压VL大致相等，在数据信号Db和识别数据信号Dc之间的 相位大致相差1比特量的情况下，输出值P1与电压VH大致相等。
即，如图5所示，第1相位检波器32b的输出值Pl相对于数据信号Db和识别数据信号Dc的相位差(j)的0-27t的变化，从电压VL到电压VH为止按 照一定的斜率单调增加。因此，该输出值Pl与电压VL和VH的中间值Vm 相等的状态为相位余量最高的状态。
相位控制部件33求出输出值P2和输出值P3之间的中间电压作为电压 VL、 VH的中间值Vm,比较对其中间值Vm所设定的容许电压范围Vm土y 和输出值P1 ，在输出值P1比Vm+Y高时使其沿时钟的延迟量减少的方向改变， 在输出值Pl比Vm-y小时使其沿时钟的延迟量增加的方向改变，使输出值Pl 追加到容许电压范围Vm±y，在相位余量高的状态维持(参照图5的箭头)。
这样得到的识别数据信号Dc与时钟信号CKb —起输入到差错测定单元40。
差错测定单元40的基准信号产生器41与时钟信号CKb同步，将与识别 数据信号Dc同 一符号串的基准信号Dr输入到符号比较器42。
符号比较器42判定识别数据信号Dc和基准信号Dr之间的符号的一致、 不一致，并将其判定结果输出到运算单元43。运算单元43对符号比较器42 的判定结果进行计数，计算比特差错率E。
这里，测定者可任意地选择(通常，与应输出提供了基准模式的数据信 号的评价对象的模式相同)用于差错判定的符号串(模式)，基准信号产生器 41具有作为输出标记率的部件的功能，生成通过模式指定部件44所指定的 符号串的基准信号Dr。
此外，该基准信号产生器41将所指定的模式的标记率M输出到校正信 息^T出部件27。
这里，基准信号产生器41根据所指定的模式通过运算求出标记率M， 但除此之外，也可以预先对每个模式求出标记率M后存储在内部的存储器中， 在模式被指定时，参照其存储器。
这样，本实施方式的波形整形装置21根据输入数据信号Da的标记率M 和振幅，对输入到比较器25的参照电压进行校正，所以即使存在输入数据信 号的原来的标记率的大幅变化或振幅的减少变化等的情况下，也能够在具有 振幅余量的状态下进行波形整形处理。
但是，虽然未图示，但波形整形装置21可以具有读取被校正的参照电压 Vr'的电压值的功能和根据需要将其读取的值的电压代替被校正的参照电压 Vr'而输入到比较器25的功能。例如在校正部件28具有这些功能的情况下，校正部件28读取被校正的参照电压Vr'的电压后输出到未图示的控制单元， 该控制单元可以将该电压值作为输入数据信号Da的补偿值而使用于处理或 者显示。此外，校正部件28根据测定的种类，将读取的值的电压代替被;&正 的参照电压Vr'而输入到比较器25。若这样，在其之后即使输入数据信号Da 的振幅等变动，也能够使在比较器25中进行波形整形时的阈值设为一定。 (第2实施方式)
另外，在所述实施方式中，表示了对输入到比较器25的参照电压进行校 正的例子，但也可以代替地如图6所示的波形整形装置21'那样，将输入数据 信号Da进行电平偏移。
波形整形装置21'包括电平偏移器29、电压检测部件22、参照电压产 生部件23'、偏置电压产生部件24、比较器25、校正信息输出部件27以及校 正部件28。
电平偏移器29将输入数据信号Da电平偏移通过校正部件28所提供的 偏置电压VB'量。参照电压产生部件23'生成参照电压Vr。
比较器25比较通过电平偏移器29而被电平偏移的输入数据信号Da'和 参照电压Vr,生成被波形整形的数据信号Db,使得例如在输入数据信号Da' 的电压超过参照电压Vr的期间成为高电平，在输入数据信号Da'的电压在参 照电压Vr以下的期间成为低电平，并将其输出到识别器30。
电压检测部件22求出输入数据信号Da'的高电平的电压Va和低电平的 电压Vb以及振幅中心电压Vc。校正信息输出部件27基于从基准信号产生部 件41输出的标记率M、和被电平偏移的输入数据信号Da'的振幅值(Va-Vb )， 将校正信息AV输出到校正部件28。
这里，可以与上述的第1实施方式的情况相同地求出校正信息AV。
偏置电压产生部件24例如由低通滤波器构成，接受通过电压检测部件 22所检测的振幅中心电压Vc而生成偏置电压VB,但在振幅中心电压Vc的 脉动分量非常小的情况下，可以使用振幅中心电压Vc作为偏置电压VB。
校正部件28使用参照电压Vr、校正信息AV以及偏置电压VB,将偏置 电压VB'提供给电平偏移器29,从而输入数据信号Da'的补偿值被参照电压 Vr所控制。
这样，本实施方式的波形整形装置21'根据被电平偏移的输入数据信号 Da'的标记率M和振幅，对施加到输入数据信号Da的偏置电压VB'进行一交正，所以与第1实施方式的波形整形装置21相同地，即使存在输入数据信号的原 来的标记率的大幅变化或振幅的减少变化等的情况下，也能够在具有振幅余 量的状态下进行波形整形处理。
(第3实施方式)
此外，在本实施方式中，表示了输入数据信号Da为一个端的例子，但 在输入数据信号由差动输入Da以及Da的反转输入构成的情况下，通过如图 7所示的波形整形装置21"那样构成，从而即使存在输入数据信号的原来的标 记率的大幅变化或振幅的减少变化等的情况下，也能够在具有振幅余量的状 态下进行波形整形处理。
即，该例子是输入到比较器25的参照电压信号不是如图6所示的直流电 压而是反转的数据信号的情况，波形整形装置21〃分别控制输入到比较器25 的数据信号Dal、 Da2的直流补偿电压之间相等。
详细地说明，则波形整形装置21〃与上述的第2实施方式相同地通过校 正部件28A对从偏置电压产生部件24A输出的偏置电压VB1进行校正，并 将该校正的偏置电压VB1'提供给电平偏移器29A。由此，输入数据信号Da 被电平偏移到规定的补偿值的数据信号Dal,从电平偏移器29A输出后输入 到比较器25。
同样地，波形整形装置21〃与上述第2实施方式相同地通过校正部件28B 校正从偏置电压产生部件24B输出的偏置电压VB2,将其被校正的偏置电压 VB2'提供给电平偏移器29B。由此，输入数据信号Da的反转输入被电平偏 移到规定的补偿值的数据信号Da2,从电平偏移器29B输出后输入到比较器 25。
因此，输入数据信号Da的真正的振幅中心Vcrl和输入数据信号Da的 反转输入的真正的振幅中心Vcr2被控制成为相同电位。由此，即使存在输入 数据信号的原来的标记率的大幅变化或振幅的减少变化等的情况下，波形整 形装置21"也能够在具有振幅余量的状态下进行波形整形处理。
另外，在本实施方式中，也可以从波形整形装置21"的结构中除去第2 校正信息输出部件27B，将输出到校正部件28A的第1校正信息AV1反转后 的信息提供给第2校正部件28B,也可以从波形整形装置21〃的结构中除去第 1校正信息输出部件27A，将输出到第2校正部件28B的第2校正信息AV2 反转后的信息提供给第1校正部件28A。
权利要求
1. 一种波形整形装置，包括比较器(25)，比较输入数据信号和阈值，从而将该输入数据信号进行波形整形后输出；以及电压检测部件(22)，将该输入数据信号进行检波，检测其振幅电压以及振幅中心电压，其特征在于，所述波形整形装置还包括校正信息输出部件(27)，基于所述输入数据信号的标记率(M)和该振幅电压，输出校正信息；以及校正部件(28)，根据来自所述校正信息输出部件的校正信息，校正该输入数据信号的直流补偿值以及该阈值的任一个。
2. 如权利要求1所述的波形整形装置，其特征在于， 所述校正信息是基于预先决定的对所述波形整形装置的周围温度、所述输入数据信号的比特率、所述输入数据信号的标记率的每个组合所确定定。
3. —种差错测定装置，包括波形整形装置，接受输入数据信号，将其波形进行整形； 可变延迟器(31),将所述被波形整形的数据信号和输入时钟信号相对进行移相；以及识别器(30)，接受来自所述波形整形装置的输出和通过所述可变延迟器相对地进行移相的输入时钟信号，读取来自所述波形整形装置的输出的符号，基于从所述识别器输出的识别数据信号，测定该输入数据信号的符号 差错，其特征在于，所述波形整形装置为权利要求1所述的波形整形装置。
4. 如权利要求3所述的差错测定装置，其特征在于，还包括 基准信号产生部件(41)，对所述校正信息输出部件输出所指定的基准信号的标记率作为所述输入数据信号的标记率。
5. 如权利要求3所述的差错测定装置，其特征在于，包括 延迟器(32a)，将从所述识别器输出的识别数据信号以比特为单位延迟输出；第1相位检波器(32b)，输出与来自所述波形整形装置的输出和从 该识别器输出的识别数据信号之间的相位差对应的电压；第2相位检波器(32c),输出与所述识别数据信号和从所述延迟器 输出的数据信号之间的相位差对应的电压；第3相位检波器(32d),输出成为所述第1相位检波器的输出电压 的基础的基础电压；以及相位控制部件(33)，控制所述可变延迟器的移相量，使得从所述第 1相位检波器输出的电压与来自所述第2相位检波器的输出电压和所述基 础电压之间的中间电压相等。
6. 如权利要求5所述的差错测定装置，其特征在于， 所述第1至第3相位检波器由相同的相位检波器构成，所述第3相位检波器输出与相同符号并且相同相位的数字数据信号之 间的相位差对应的电压作为所述基础电压。
7. —种波形整形装置，包括第1电压检测部件(22A)，对构成差动数字信号的一个第1输入数 据信号进行检波，；险测其第l振幅电压以及第l振幅中心电压；第2电压检测部件(22B)，对构成该差动数字信号的另一个第2输 入数据信号进行4全波，检测该第2振幅电压以及第2振幅中心电压；以及比较器(25 )，比较所述第1输入数据信号和所述第2输入数据信号， 将该差动数字信号变换为数字信号后输出，其特征在于，所述波形整形装置(21")还包括第l校正信息输出部件(27A)，基于所述第l输入数据信号的标记 率和该第l振幅电压，输出第l校正信息；第l校正部件(28A)，根据所述第l校正信息，校正该第1输入数 据信号的直流补偿值；第2校正信息输出部件(27B)，基于所述第2输入数据信号的标记 率和该第2振幅电压，输出第2校正信息；以及第2校正部件(28B)，根据所述第2校正信息，校正该第2输入数 据信号的直流补偿值。
8. —种差错测定装置，包括波形整形装置(21〃)，接受差动数字信号，比较构成该差动数字信号的第l输入数据信号和第2输入数据信号，输出被波形整形的数据信号； 可变延迟器(31)，将所述被波形整形的数据信号和输入时钟信号相对进行移相；以及识别器(30)，接受通过所述可变延迟器相对地进行移相的、来自所述波形整形装置的输出和输入时钟信号，读取来自所述波形整形装置的输出的符号，基于从所述识别器输出的识另ij数据信号，测定该差动数字信号的符号 差错，其特征在于，所述波形整形装置(21〃)为权利要求7所述的波形整形装置。
9. 如权利要求8所述的差错测定装置，其特征在于，还包括 基准信号产生部件(41 )，对所述第1以及第2校正信息输出部件输出所指定的基准信号的标记率作为所述差动数字信号的标记率。
10. 如权利要求8所述的差错测定装置，其特征在于，包括 延迟器(32a),将从所述识别器输出的识别数据信号以比特为单位延迟输出；第1相位检波器(32b),输出与来自所述波形整形装置的输出和从 该识别器输出的识别数据信号之间的相位差对应的电压；第2相位检波器(32c)，输出与所述识别数据信号和从所述延迟器 输出的数据信号之间的相位差对应的电压；第3相位检波器(32d),输出成为所述第l相位检波器的输出电压 的基础的基础电压；以及相位控制部件(33),控制所述可变延迟器的移相量，使得从所述第 1相位检波器输出的电压与来自所述第2相位检波器的输出电压和所述基 础电压之间的中间电压相等。
11. 如权利要求IO所述的差错测定装置，其特征在于， 所述第1至第3相位检波器由相同的相位检波器构成，所述第3相位检波器输出与相同符号并且相同相位的数字数据信号之 间的相位差对应的电压作为所述基础电压。
全文摘要
本发明的目的在于提供一种波形整形装置以及差错测定装置，即使在输入数据信号的振幅小的情况下使用标记率大不相同的符号的情况下，也能够对输入数据信号在具有振幅余量的位置上进行波形整形处理。本发明的波形整形装置(21)包括电压检测部件(22)，对输入数据信号(Da)进行检波，求出其振幅以及振幅中心电压；参照电压产生部件(23)，生成与振幅中心电压对应的参照电压；比较器(25)，比较输入数据信号(Da)和参照电压；校正信息输出部件(27)，基于输入数据信号(Da)的标记率(M)和振幅，输出用于校正电压检测部件(22)所检测的振幅中心电压的误差的校正信息(ΔV)；以及校正部件(28)，通过该校正信息(ΔV)，校正输入到比较器(25)的参照电压(或者输入数据信号的直流补偿值)。
文档编号H03K5/08GK101454977SQ20078001944
公开日2009年6月10日 申请日期2007年3月26日 优先权日2006年3月31日
发明者山根一浩, 藤沼一弘 申请人:安立股份有限公司