专利名称：光学光阑装置、投影机、修正参数校正装置及方法
技术领域：
本发明涉及光学光阑装置、投影机、修正参数校正装置及修正参数校正方法。
背景技术：
以往，下述投影机已为众所周知，该投影机具备光源装置；光调制装置，将从光源装置所射出的光束按照图像信息进行调制并形成光学像；和投影光学装置，放大投影光学像。
在这种投影机中，以投影图像的对比度提高等为目的，人们提出了一种具备开闭遮光部件(光学光阑装置)的投影机，该开闭遮光部件为了调整从光源装置射出且向光调制装置入射的光束的光量，对从光源装置所射出的光束进行部分遮蔽(例如，参见文献特开2004-264819号公报)。
该文献所述的光学光阑装置具有一对矩形板状的遮光板(遮光叶片)，其转动自如地构成。而且，光学光阑装置通过由脉冲电动机等的驱动装置使遮光叶片以高准确度移动到预期的位置，来分级地对从光源装置所射出的光束进行遮蔽。
但是，就上述文献所述的光学光阑装置来说，由于作为驱动装置使用了脉冲电动机等，因而按驱动装置本身的大小就会妨碍光学光阑装置的小型化。另外，还由于驱动装置驱动时的振动而无法实现稳定的驱动。
因此，人们迫切期望一种使光学光阑装置的结构简单化并能够使遮光叶片以高准确度进行移动、实现稳定的驱动之技术。
发明内容
本发明的主要目的涉及能谋求结构的简单化并且可以使遮光叶片以高准确度进行移动、实现稳定的驱动之光学光阑装置、投影机、修正参数校正装置及修正参数校正方法。
本发明的光学光阑装置用来调整所入射光束的光量，其特征为，具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件和输出特性修正部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性。
在本发明中，光学光阑装置作为使遮光叶片进行移动的驱动装置，具备电磁致动器。而且，作为电磁致动器，具有下面的特征。
也就是说，可以进行低电压驱动，能谋求光学光阑装置的低消耗电力化。
另外，可以在较小尺寸的区域产生较大的力，使遮光叶片平滑移动。
再者，即便在高湿度等的恶劣环境下也可以使用，能谋求光学光阑装置的长寿命化。
再者还有，驱动响应特性良好，可以使遮光叶片进行高速响应令其平滑转动。
因而，通过作为驱动装置使用电磁致动器，与像以往那样作为驱动装置使用脉冲电动机等的结构相比较，可以采用永久磁性体及线圈等的简单结构来构成驱动装置，能够使光学光阑装置的结构简单化及小型化。另外，与以往的结构相比较，还可以使驱动时的振动得到减低，能够实现光学光阑装置稳定的驱动。
此外，作为对上述光学光阑装置进行驱动控制的控制装置，通过采用下面所示的处理结构，就可以构成使处理负荷得到减轻的控制装置。
也就是说，控制装置根据来自位置检测部(磁元件)的输出值(电压值)，对电磁致动器进行驱动控制。更为具体而言，控制装置根据存储器等中所存储的、使开口面积和设计上的设计电压值相关联的开口面积-电压值关联信息，在使遮光叶片位于成为预定开口面积的位置时，识别与上述预定开口面积相关联的设计电压值。然后，控制装置使得所识别出的设计电压值与来自位置检测部的输出值大致相同地，对电磁致动器进行驱动控制，使永久磁性体位于预定位置。也就是说，通过使永久磁性体位于上述预定位置，而使遮光叶片进行移动，使其位于成为上述预定开口面积的位置。
但是，在光学光阑装置中产生了制造误差如永久磁性体安装位置的制造误差、永久磁性体磁化位置的制造误差及位置检测部安装位置的制造误差等时，存在下面的问题。
也就是说，即便在使永久磁性体位于与预定开口面积对应的位置时，也从位置检测部输出下述输出值，该输出值和与上述预定开口面积对应的设计电压值不同。因此，如上所述，在控制装置使得来自位置检测部的输出值大致相同于与预定开口面积对应的设计电压值地，对电磁致动器进行了驱动控制时，不能使永久磁性体位于与上述预定开口面积对应的位置。也就是说，无法使遮光叶片位于成为上述预定开口面积的位置。
在本实施方式中，位置检测部具备磁元件及输出特性修正部。据此，只要将修正参数校正为最佳的修正参数，输出特性修正部就根据校正后的修正参数来修正磁元件的输出特性，因此即便在光学光阑装置中产生了上述制造误差的情况下，也可以在使永久磁性体位于与预定开口面积对应的位置时，使得从位置检测部(磁元件)输出与上述预定开口面积对应的设计电压值。因此，如上所述，在控制装置使得来自位置检测部的输出值大致相同于与预定开口面积对应的设计电压值地、对电磁致动器进行了驱动控制时，可以使永久磁性体位于与上述预定开口面积对应的位置，能够使遮光叶片以高准确度位于成为上述预定开口面积的位置。因而，使对光学光阑装置进行驱动控制的控制装置的处理负荷得到减低，同时可以使用上述控制装置，以高准确度使遮光叶片进行移动，实现稳定的驱动。
在本发明的光学光阑装置中，优选的是，上述修正参数是偏移(offset)修正参数，用来使对规定电压值的上述永久磁性体的位置产生偏移，来修正输出特性，以便在上述永久磁性体位于上述开口面积为预定开口面积的规定位置的状态下，上述磁元件输出上述预定的规定电压值。
根据本发明，由于修正参数是偏移修正参数，因而输出特性修正部使用偏移修正参数来实施磁元件输出特性的修正(偏移修正)，借此可以使对规定电压值(例如，偏移电压值)的永久磁性体位置产生偏移，在永久磁性体位于成为预定开口面积的规定位置的状态下，使磁元件输出规定电压值。因而，这样构成为，能进行使用偏移修正参数的偏移修正，因此可以采用简单的电路结构来实现磁元件输出特性的修正。
在本发明的光学光阑装置中，优选的是，上述修正参数是增益修正参数，用来修正输出特性，以便在使上述永久磁性体位于下述范围时，上述磁元件对应于上述永久磁性体的上述范围内的各位置，输出设计上的各设计电压值，该范围为从上述开口面积为最小开口面积的第1位置到上述开口面积为最大开口面积的第2位置。
根据本发明，由于修正参数是增益修正参数，因而输出特性修正部使用增益修正参数来实施磁元件输出特性的修正(增益修正)，借此可以在使永久磁性体位于从开口面积为最小开口面积的第1位置到开口面积为最大开口面积的第2位置的范围的状态下，对应于永久磁性体的范围内的各位置，使磁元件输出设计上的各设计电压值。因而，这样构成为，能进行使用增益修正参数的增益修正，因此可以采用简单的电路结构来实现磁元件输出特性的修正。
另外，由于可以通过增益修正，将磁元件输出的电压值在所有的范围(第1位置到第2位置)内修正为各设计电压值，因而能够以更高准确度使遮光叶片进行移动，实现稳定的驱动。
在本发明的光学光阑装置中，优选的是，上述位置检测部具备修正参数存储部，该修正参数存储部可以重写地存储上述修正参数；上述输出特性修正部读取上述修正参数存储部中所存储的上述修正参数，根据所读取的上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性。
根据本发明，由于位置检测部中所设置的修正参数存储部可以重写地存储修正参数，因而可以对修正参数进行适当校正将其更新为最佳的修正参数。因而，通过输出特性修正部使用更新后的最佳修正参数来修正磁元件的输出特性，就可以在使永久磁性体位于与预定开口面积对应的位置时，使磁元件输出与上述预定开口面积对应的设计电压值。
本发明的投影机，具备光源装置；光调制装置，对从上述光源装置所射出的光束进行调制；和投影光学装置，放大投影由上述光调制装置调制后的光束；其特征为，具备上述光学光阑装置，配设于从上述光源装置射出、到上述光调制装置的光束的光路中，调整从上述光源装置向上述光调制装置照射的光束的光量；和控制装置，根据来自上述位置检测部的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制。
这里，作为控制装置，可以采用上述使处理负荷得到减轻的控制装置的结构。
根据本发明，由于投影机具备上述的光学光阑装置，因而可以达到和上述光学光阑装置相同的作用、效果。
另外，由于可以通过光学光阑装置调整从光源向光调制装置照射的光束的光量，因而例如控制装置按照图像的亮度对光学光阑装置进行控制，在整体较暗的场面的情况时减低光量，在整体较明亮的场面的情况时增加光量，借此可以实现高对比度比的投影图像。
再者，由于具备能实现结构简单化及小型化的光学光阑装置，因而可以在投影机内部，在临近配置的光学部件间容易配设光学光阑装置，能够使投影机设计的自由度得到提高。
再者还有，由于具备可以在驱动时抑制振动而实现稳定的驱动的光学光阑装置，因而能够抑制因振动而给投影图像带来的影响，良好维持投影图像。
另外，由于使控制装置的处理负荷得到减低，并且可以使用控制装置使遮光叶片以高准确度进行移动，因而能够以高准确度调整从光源装置向光调制装置照射的光束的光量，能使投影图像的图像质量得到提高。
在本发明的投影机中，优选的是，上述控制装置具备修正参数存储部，该修正参数存储部可以重写地存储上述修正参数，上述输出特性修正部读取上述修正参数存储部中所存储的上述修正参数，并根据所读取的上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性。
根据本发明，由于控制装置中所设置的修正参数存储部可以重写地存储修正参数，因而可以对修正参数进行适当校正将其更新为最佳的修正参数。因而，通过输出特性修正部使用更新后的最佳修正参数来修正磁元件的输出特性，就可以在使永久磁性体位于与预定开口面积对应的位置时，使磁元件输出与上述预定开口面积对应的设计电压值。
本发明的修正参数校正装置使用于下述投影机中，用来校正修正参数，该投影机具备光源装置；光调制装置，对从上述光源装置所射出的光束进行调制；投影光学装置，放大投影由上述光调制装置调制后的光束；光学光阑装置，配设于从上述光源装置射出、到上述光调制装置的光束的光路中，调整从上述光源装置向上述光调制装置照射的光束的光量；以及投影机侧控制装置，对上述光源装置、上述光调制装置及上述光学光阑装置进行驱动控制；该修正参数校正装置的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；上述投影机侧控制装置基于来自上述位置检测部的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制；该修正参数校正装置具备校正侧控制装置，其对上述投影机侧控制装置输出预定的控制指令，对上述投影机进行驱动控制；和光束检测装置，其检测从上述投影机所放大投影的光学像的光量，输出与上述光量有关的检测光量信息；上述校正侧控制装置，具备光量信息存储部，其存储与作为基准的基准光量有关的基准光量信息；输出值信息存储部，其存储与作为基准的基准输出值有关的基准输出值信息；光源驱动控制部，其使上述投影机侧控制装置对上述光源装置进行驱动控制，使得从上述光源装置射出光束；光阑驱动控制部，其使上述投影机侧控制装置对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于下述位置，该位置为从上述位置检测部输出基于上述基准输出值信息的基准输出值的基准位置；以及参数更新部，其使得基于从上述光束检测装置输出的检测光量信息的检测光量与基于上述基准光量信息的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
由于本发明的修正参数校正装置使用于上述投影机中，因而可以达到和上述投影机相同的作用、效果。
另外，由于修正参数校正装置具备校正侧控制装置和光束检测装置，因而在将投影机组装起来的状态下，例如如下面所示，可以对修正参数进行校正。
首先，校正侧控制装置的光源驱动控制部使投影机侧控制装置对光源装置进行驱动控制，使得从光源装置射出光束(光束射出步骤)。
接着，校正侧控制装置的光阑驱动控制部使投影机侧控制装置对电磁致动器进行驱动控制，使永久磁性体位于从位置检测部(磁元件)输出基于输出值信息存储部中所存储的基准输出值信息的基准输出值之基准位置(永久磁性体定位步骤)。
接着，校正侧控制装置使光束检测装置检测从投影机放大投影的光学像的光量(光束检测步骤)。
接着，校正侧控制装置的参数更新部，使得由光束检测装置所检测到的检测光量与基于光量信息存储部中所存储的基准光量信息的基准光量大致相同地，更新修正参数存储部中所存储的修正参数(参数更新步骤)。
例如，如上所述在光学光阑装置中产生了制造误差的情况下，即使通过永久磁性体定位步骤由投影机侧控制装置使永久磁性体位于从位置检测部输出与预定开口面积对应的基准输出值(设计电压值)之基准位置时，遮光叶片也不位于成为上述预定开口面积的位置。也就是说，由光束检测步骤所检测到的检测光量并不和与上述预定开口面积对应的基准光量相同。因此，通过由参数更新步骤更新修正参数，而利用输出特性修正部修正磁元件的输出特性，变更从磁元件输出的输出值。另外，投影机侧控制装置通过控制，使得永久磁性体位于从位置检测部输出与上述预定开口面积对应的基准输出值之基准位置，来变更永久磁性体的位置，变更由遮光叶片得到的开口面积。然后，通过由参数更新步骤更新修正参数，使得检测光量和与上述预定开口面积对应的基准光量相同，而可以在使永久磁性体位于与上述预定开口面积对应的位置时，使位置检测部输出与上述预定开口面积对应的基准输出值。
如上所述，由于修正参数校正装置在将投影机组装起来的状态下，根据从光源装置射出且经过光学光阑装置及光调制装置后并由投影光学装置放大投影的光学像的光量，也就是实际由光学光阑装置进行光量调整的光束，来更新修正参数，因而能够以更高准确度调整从光源装置向光调制装置照射的光束的光量，可以使投影图像的图像质量得到进一步提高。
本发明的修正参数校正装置使用于调整入射光束光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，其特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正装置具备修正用光源装置，其朝向上述光学光阑装置射出光束；光束检测装置，其检测从上述修正用光源装置射出、经过上述光学光阑装置后的光束的光量；和校正侧控制装置，其对上述修正用光源装置及上述电磁致动器进行驱动控制；上述校正侧控制装置，具备光量信息存储部，其存储与作为基准的基准光量有关的基准光量信息；输出值信息存储部，其存储与作为基准的基准输出值有关的基准输出值信息；光源驱动控制部，其使上述修正用光源装置射出光束；光阑驱动控制部，其基于从上述位置检测部输出的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于下述位置，该位置为从上述位置检测部输出基于上述基准输出值信息的基准输出值的基准位置；以及参数更新部，其使得基于从上述光束检测装置所输出的检测光量信息的检测光量与基于上述基准光量信息的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
由于本发明的修正参数校正装置使用于上述光学光阑装置，因而可以达到和上述光学光阑装置相同的作用、效果。
另外，由于修正参数校正装置具备修正用光源装置、光束检测装置及校正侧控制装置，因而在将光学光阑装置组装起来的状态下，例如如下面所示，可以对修正参数进行校正。
首先，校正侧控制装置的光源驱动控制部使修正用光源装置朝向光学光阑装置射出光束(光束射出步骤)。
接着，校正侧控制装置的光阑驱动控制部对电磁致动器进行驱动控制，使永久磁性体位于从位置检测部(磁元件)输出基于输出值信息存储部中所存储的基准输出值信息的基准输出值之基准位置(永久磁性体定位步骤)。
接着，校正侧控制装置使光束检测装置检测从修正用光源装置射出且经过光学光阑装置后的光束的光量(光束检测步骤)。
接着，校正侧控制装置的参数更新部更新修正参数存储部中所存储的修正参数，使得由光束检测装置所检测到的检测光量与基于光量信息存储部中所存储的基准光量信息的基准光量大致相同(参数更新步骤)。
例如，如上所述在光学光阑装置中产生了制造误差的情况下，即使通过永久磁性体定位步骤，由光阑驱动控制部使永久磁性体位于从位置检测部输出与预定开口面积对应的基准输出值(设计电压值)之基准位置时，遮光叶片也不会位于成为上述预定开口面积的位置。也就是说，由光束检测步骤所检测到的检测光量并不和与上述预定开口面积对应的基准光量相同。因此，通过由参数更新步骤更新修正参数，而利用输出特性修正部修正磁元件的输出特性，变更从磁元件输出的输出值。另外，光阑驱动控制部通过控制，使得永久磁性体位于从位置检测部输出与上述预定开口面积对应的基准输出值之基准位置，来变更永久磁性体的位置，变更由遮光叶片得到的开口面积。而且，通过由参数更新步骤来更新修正参数，使得检测光量和与上述预定开口面积对应的基准光量相同，而可以在使永久磁性体位于与上述预定开口面积对应的位置时，使位置检测部输出与上述预定开口面积对应的基准输出值。
如上所述，由于修正参数校正装置在将光学光阑装置组装起来的状态下，根据从修正用光源装置射出且经过光学光阑装置后的光束的光量，来更新修正参数，因而不需要在对投影机等光学设备装载了光学光阑装置的状态下更新修正参数，而可以使用光学光阑装置单体和修正参数校正装置来更新修正参数，可谋求更新修正参数时作业空间的高效化。
在本发明的修正参数校正装置中，优选的是，上述修正用光源装置由固体发光元件构成。
根据本发明，由于修正用光源装置由固体发光元件来构成，因而例如与作为修正用光源装置采用放电发光型光源灯的结构相比较，能谋求修正参数校正装置的小型、轻质化。另外，由于可以使修正用光源装置射出亮度稳定的光束，因而通过根据亮度稳定的光束光量来更新修正参数，就能够以高准确度校正修正参数。
本发明的修正参数校正装置使用于调整入射光束光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，其特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正装置具备机械式光阑驱动装置，其与上述光学光阑装置进行机械连接，通过进行驱动使上述遮光叶片位于预定位置；和校正侧控制装置，其对上述机械式光阑驱动装置进行驱动控制；上述校正侧控制装置，具备输出值信息存储部，其存储与作为基准的基准输出值有关的基准输出值信息；机械式光阑驱动控制部，其使上述机械式光阑驱动装置进行驱动，使上述遮光叶片位于预定的基准位置；以及参数更新部，其使得从上述位置检测部所输出的输出值与基于上述基准输出值信息的基准输出值大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
由于本发明的修正参数校正装置使用于上述光学光阑装置，因而可以达到和上述光学光阑装置相同的作用、效果。
另外，由于修正参数校正装置具备机械式光阑驱动装置和校正侧控制装置，因而在将光学光阑装置组装起来的状态下，例如如下面所示，可以对修正参数进行校正。
首先，校正侧控制装置的机械式光阑驱动控制部使机械光阑驱动装置驱动，使遮光叶片位于预定的基准位置(遮光叶片定位步骤)。
接着，校正侧控制装置的参数更新部更新修正参数存储部中所存储的修正参数，使得从位置检测部输出的输出值与基于输出值信息存储部中所存储的基准输出值信息的基准输出值大致相同(参数更新步骤)。
例如，如上所述在光学光阑装置中产生了制造误差的情况下，即使通过遮光叶片定位步骤，由机械式光阑驱动控制部使遮光叶片位于与预定开口面积对应的基准位置时，仍从位置检测部输出下述输出值，该输出值和与上述预定开口面积对应的基准输出值(设计电压值)不同。因此，在参数更新步骤中，将其更新成用来修正输出特性的修正参数，以便从磁元件输出基准输出值。
如上所述，由于修正参数校正装置在将光学光阑装置组装起来的状态下，使用机械式光阑驱动装置使遮光叶片位于预定的基准位置，并根据从位置检测部输出的输出值，来更新修正参数，因而不需要在对投影机等光学设备装载了光学光阑装置的状态下更新修正参数，而可以使用光学光阑装置单体和修正参数校正装置来更新修正参数，能谋求更新修正参数时作业空间的高效化。另外，和向光学光阑装置射出光束且根据经过光学光阑装置后的光束来更新修正参数的结构相比较，不依赖于作业环境，就可以良好校正修正参数。
本发明的修正参数校正方法利用修正参数校正装置，该修正参数校正装置使用于下述投影机，用来校正上述修正参数，该投影机具备光源装置；光调制装置，对从上述光源装置所射出的光束进行调制；投影光学装置，放大投影由上述光调制装置调制后的光束；光学光阑装置，设置于从上述光源装置射出且到上述光调制装置的光束的光路中，调整从上述光源装置向上述光调制装置照射的光束的光量；以及投影机侧控制装置，对上述光源装置、上述光调制装置及上述光学光阑装置进行驱动控制；该修正参数校正方法的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；上述投影机侧控制装置基于来自上述位置检测部的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制；该修正参数校正方法，包括光束射出步骤，其中，使上述投影机侧控制装置对上述光源装置进行驱动控制，使得从上述光源装置射出光束；永久磁性体定位步骤，其中，使上述投影机侧控制装置对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于从上述位置检测部输出作为基准的基准输出值的基准位置；光束检测步骤，其中，检测从上述投影机放大投影的光学像的光量；以及参数更新步骤，其中，使得通过上述光束检测步骤所检测到的检测光量与作为基准的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
由于本发明的修正参数校正方法是由上述修正参数校正装置实施的，因而可以达到和上述修正参数校正装置相同的作用、效果。
本发明的修正参数校正方法利用修正参数校正装置，该修正参数校正装置使用于调整入射光束光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，该修正参数校正方法的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正方法，包括光束射出步骤，其中，朝向上述光学光阑装置射出光束；永久磁性体定位步骤，其中，对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于从上述位置检测部输出作为基准的基准输出值的基准位置；光束检测步骤，其中，检测经过上述光学光阑装置后的光束的光量；以及参数更新步骤，其中，使得通过上述光束检测步骤所检测到的检测光量与作为基准的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
由于本发明的修正参数校正方法是由上述修正参数校正装置实施的，因而可以达到和上述修正参数校正装置相同的作用、效果。
本发明的修正参数校正方法利用修正参数校正装置，该修正参数校正装置使用于调整入射光束光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，该修正参数校正方法的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正方法，包括遮光叶片定位步骤，其中，使上述遮光叶片位于预定的基准位置；和参数更新步骤，其中，使得从上述位置检测部输出的输出值与作为基准的基准输出值大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
由于本发明的修正参数校正方法是由上述修正参数校正装置实施的，因而可以达到和上述修正参数校正装置相同的作用、效果。
图1是模式表示本发明第1实施方式中的投影机概略结构的附图。
图2是表示上述第1实施方式中的光学光阑装置概略结构一例的附图。
图3是表示上述第1实施方式中的光学光阑装置概略结构一例的附图。
图4是从光束入射侧看到上述第1实施方式中的基体(base)板主体的立体图。
图5A～图5C分别是模式表示上述第1实施方式中的电磁致动器及位置传感器结构的附图。
图6A及图6B分别是表示上述第1实施方式中的输出特性修正部处理功能一例的附图。
图7是模式表示上述第1实施方式中的投影机及修正参数校正装置控制结构的框图。
图8A～图8C分别是模式表示上述第1实施方式中的光学光阑装置制造误差的附图。
图9是说明上述第1实施方式中利用修正参数校正装置的修正参数校正方法的流程图。
图10是说明上述第1实施方式中的偏移修正参数校正方法的流程图。
图11是说明上述第1实施方式中的增益修正参数校正方法的流程图。
图12是模式表示本发明第2实施方式中的修正参数校正装置控制结构的框图。
图13是说明上述第2实施方式中利用修正参数校正装置的修正参数校正方法的流程图。
图14是模式表示本发明第3实施方式中的修正参数校正装置控制结构的框图。
图15是说明上述第3实施方式中利用修正参数校正装置的修正参数校正方法的流程图。
图16是说明上述第3实施方式中的偏移修正参数校正方法的流程图。
图17是说明上述第3实施方式中的增益修正参数校正方法的流程图。
具体实施例方式下面，根据附图，来说明本发明的第1实施方式。
〔投影机的结构〕
图1是模式表示投影机1概略结构的附图。
投影机1用来将从光源射出的光束按照图像信息进行调制并形成光学像，将所形成的光学像放大投影到屏幕(未图示)上。该投影机1如图1所示，具备外装壳体2、作为投影光学装置的投影透镜3、光学组件4及控制装置6(参见图7)等。
还有，在图1中虽然省略了图示，但是在外装壳体2内，在投影透镜3及光学组件4之外的空间里，配置冷却组件，由用来对投影机1内部进行冷却的冷却风扇等构成；电源组件，用来给投影机1内的各构成部件供给电力；以及控制装置6；等。
外装壳体2由合成树脂等构成，并且如图1所示，形成为将投影透镜3及光学组件4收置于内部进行配置的整体大致长方体状。该外装壳体2虽然省略了图示，但是包括上部壳体，分别构成投影机1的顶面、前面、背面及侧面；和下部壳体，分别构成投影机1的底面、前面及背面；并且上述上部壳体及上述下部壳体相互用螺纹件等来固定。
还有，外装壳体2不限于合成树脂制等，也可以采用其他材料来形成，例如也可以采用金属等来构成。
光学组件4用来在由控制装置6做出的控制之下，对从光源所射出的光束进行光学处理并形成与图像信息相对应的光学像(彩色图像)。该光学组件4如图1所示，具有沿着外装壳体2背面延伸并且沿着外装壳体2侧面延伸的平面看大致L形状。还有，对于该光学组件4的详细结构，将在下面进行说明。
投影透镜3将由光学组件4所形成的光学像(彩色图像)放大投影到未图示的屏幕上。该投影透镜3作为在筒状的镜筒内收置了多个透镜的透镜组，来构成。
〔光学组件的详细结构〕光学组件4如图1所示，具备照明光学装置41、色分离光学装置42、中继光学装置43、光学装置44、光学光阑装置5以及光学部件用壳体45，该光学部件用壳体将这些装置41～44、5收置于内部进行配置，并且把投影透镜3支持并固定在预定位置。
照明光学装置41是用来对构成光学装置44的下述液晶面板的图像形成区域大致均匀地进行照明的光学系统。该照明光学装置41如图1所示，具备光源装置411、第1透镜阵列412、第2透镜阵列413、偏振转换元件414及重叠透镜415。
光源装置411如图1所示，具备光源灯416，射出放射状的光线；反射器417，反射从该光源灯416所射出的放射光并使之会聚于预定位置；平行化凹透镜418，使由反射器417会聚的光束相对照明光轴A平行化；以及灯驱动器416A(参见图7)，对光源灯416进行驱动。作为光源灯416，大多使用卤素灯或金属卤化物灯、高压水银灯。另外，作为反射器417，虽然由具有旋转椭圆面的椭圆面反射器来构成，但是也可以采用具有旋转抛物面的抛物面反射器来构成。这种情况下，其结构省略了平行化凹透镜418。
第1透镜阵列412具有下述小透镜排列成矩阵状的结构，该小透镜从光轴方向看上去具有大致矩形状的轮廓。各小透镜将从光源装置411射出的光束分割成多个部分光束。
第2透镜阵列413具有和第1透镜阵列412大致相同的结构，具有小透镜排列成矩阵状的结构。该第2透镜阵列413同重叠透镜415一起，具有使第1透镜阵列412各小透镜的像在光学装置44下述的液晶面板图像形成区域成像的功能。
偏振转换元件414配置于第2透镜阵列413和重叠透镜415之间，用来将来自第2透镜阵列413的光转换为大致1种偏振光。
具体而言，由偏振转换元件414转换成大致1种偏振光后的各部分光通过重叠透镜415最后基本都重叠于光学装置44下述的液晶面板图像形成区域。对于使用调制偏振光类型的液晶面板之投影机来说，因为只能利用1种偏振光，所以不能利用来自发出任意偏振光的光源装置411的光的大致一半。因此，通过使用偏振转换元件414，将来自光源装置411的射出光转换成大致1种偏振光，提高了光学装置44中光的利用效率。
色分离光学装置42如图1所示，具备2片分色镜421、422和反射镜423，具有由分色镜421、422将从照明光学装置41所射出的多个部分光束分离成红、绿、蓝3色色光的功能。
中继光学装置43具备入射侧透镜431、中继透镜433及反射镜432、434，具有将由色分离光学装置42所分离出的色光引导到红色光用液晶面板的功能。
此时，通过色分离光学装置42的分色镜421，透射从照明光学装置41所射出的光束的红色光分量和绿色光分量，并反射蓝色光分量。由分色镜421所反射的蓝色光通过反射镜423进行反射，并经过场透镜419到达蓝色光用液晶面板。该场透镜419将从第2透镜阵列413所射出的各部分光束转换成对其中心轴(主光线)平行的光束。其他绿色光及红色光用液晶面板的光入射侧所设置的场透镜419也相同。
在透射分色镜421后的红色光和绿色光之中，绿色光由分色镜422进行反射，并经过场透镜419到达绿色光用液晶面板。另一方面，红色光透射分色镜422，经过中继光学装置43，进而经过场透镜419到达红色光用液晶面板。还有，对红色光使用中继光学装置43的原因是，因为红色光的光路长度比其他色光的光路长度长，所以要防止因光的散射等而引起的光利用效率下降。也就是说，是为了将入射到入射侧透镜431的部分光束，按原状传导给场透镜419。还有，虽然对中继光学装置43，设为通过3种色光之中的红色光的结构，但是并不限于此，例如也可以通过蓝色光。
光学装置44具备作为光调制装置的3个液晶面板441(将红色光用的液晶面板设为441R、将绿色光用的液晶面板设为441G、将蓝色光用的液晶面板设为441B)、3个入射侧偏振板442、3个射出侧偏振板443及十字分色棱镜444。
3个入射侧偏振板442如图1所示，分别配置于各场透镜419的光路后级。这些入射侧偏振板442用来入射由偏振转换元件414使偏振方向一致为大致一个方向后的各色光，并且只使所入射的光束之中的、和通过偏振转换元件414而一致后的光束偏振方向大致相同方向的偏振光透射，吸收其他的光束。这些入射侧偏振板442虽然省略了图示，但是具有在蓝宝石或水晶等透光性基板上粘贴了偏振膜的结构。
3个液晶面板441如图1所示，分别配置于各入射侧偏振板442的光路后级。这些液晶面板441虽然省略了图示，但是具有在一对透明的玻璃基板内密封封入了作为电光物质的液晶之结构，并且按照从控制装置6输出的驱动信号，来控制预定像素位置的上述液晶取向状态，分别调制从各入射侧偏振板442所射出的偏振光束的偏振方向。
3个射出侧偏振板443如图1所示，分别配置于各液晶面板441的光路后级。这些射出侧偏振板443具有和入射侧偏振板442大致相同的结构，并且虽然省略了图示，但是具有在透光性基板上粘贴了偏振膜的结构。还有，构成射出侧偏振板443的上述偏振膜其配置为，透射光束的透射轴与由入射侧偏振板442透射光束的透射轴大致正交。
十字分色棱镜444是一种光学元件，配置于射出侧偏振板443的光路后级，用来合成为从各射出侧偏振板443所射出的按每种色光调制后的光学像，并形成彩色图像。该十字分色棱镜444呈粘贴了4个直角棱镜的平面看正方形状，并且在粘贴直角棱镜之间的界面，形成2个多层电介质膜。这些多层电介质膜反射从液晶面板441R、441G、441B射出且经过各射出侧偏振板443后的各色光，并透射从液晶面板441G射出且经过射出侧偏振板443后的色光。这样一来，就能合成由各液晶面板441调制后的各色光，形成彩色图像。
光学光阑装置5如图1所示，配设于第1透镜阵列412和第2透镜阵列413之间，用来在由控制装置6做出的控制之下，通过移动下述的遮光叶片来变更可透射光束的开口面积，调整从光源装置411射出且经过第1透镜阵列412后的光束的光量。
还有，对于光学光阑装置5的具体结构，将在下面进行说明。
图2及图3是表示光学光阑装置5概略结构一例的附图。具体而言，图2是从光束射出侧(第2透镜阵列413侧)看到光学光阑装置5的立体图。图3是从光束射出侧(第2透镜阵列413侧)看到光学光阑装置5的分解立体图。
光学光阑装置5如图2或图3所示，具备基体板51、4个遮光叶片52、4个转动轴53(图3)、叶片按压部件54、4个螺旋弹簧55(图3)、光阑环56(图3)、环按压部件57(图3)、电磁致动器58(图3)及作为位置检测装置的位置传感器59。
基体板51是支持光学光阑装置5整体并固定于光学部件用壳体45内部的部分。该基体板51如图3所示，具备基体板主体511和定子连接部512。
图4是从光束入射侧(第1透镜阵列412侧)看到基体板主体511的立体图。
基体板主体511如图2至图4所示，由具有平面看大致矩形形状的金属制板体构成，该板体沿着与入射的光束光轴正交的平面延展。
在该基体板主体511，在平面看大致中央部分如图3或图4所示，形成可通过从第1透镜阵列412所射出光束的平面看圆形状开口部5111。
另外，在该基体板主体511，在光束射出侧端面如图3所示，于该基体板51的四角位置附近分别形成平面看圆形状的凹部5112(从光束射出侧看上去，由右上方侧的凹部开始按顺时针设为5112A、5112B、5112C、5112D)。而且，这些凹部5112分别固定4个转动轴53的一方端部侧，并且按间隙接合状态分别配置4个遮光叶片52下述的轴承部。
在下面，为了说明的方便，如图3或图4所示，在基体板主体511，将开口部5111周边的区域，设为包括凹部5112A在内的上侧的第1区域RA、包括凹部5112B在内且从光束射出侧看上去右侧的第2区域RB、包括凹部5112C在内的下侧的第3区域RC以及包括凹部5112D在内且从光束射出侧看上去左侧的第4区域RD。
再者，在该基体板主体511，在光束射出侧端面的各区域RA～RD如图3所示，于接近各凹部5112的位置，分别形成具有以各凹部5112(各转动轴53)为中心的平面看圆弧形状的第1突条部5113A，使之包围各凹部5112。这些第1突条部5113A在将光学光阑装置5组装起来的状态下，分别触接于构成各遮光叶片52的下述各叶片板板面。
这里，虽然省略了具体的图示，但是各第1突条部5113A之中，在处于对角位置的各区域RA、RC所形成的各第1突条部5113A各高度尺寸设定为相同。同样，在处于对角位置的各区域RB、RD所形成的各第1突条部5113A各高度尺寸设定为相同。而且，其设定为，对于各区域RA、RC所形成的第1突条部5113A的各高度尺寸，比在各区域RB、RD所形成的第1突条部5113A的各高度尺寸增大预定尺寸。
再者还有，在该基体板主体511，在光束射出侧端面的各区域RA～RD如图3所示，于离开各凹部5112的位置分别形成具有以各凹部5112(各转动轴53)为中心的平面看圆弧形状的第2突条部5113B。这些第2突条部5113B在将光学光阑装置5组装起来的状态下，和上述第1突条部5113A相同，分别触接于构成各遮光叶片52的下述各叶片板板面。还有，各第2突条部5113B的高度尺寸设定得和上述的各第1突条部5113A相同。
另外，在该基体板主体511，在各区域RA～RD如图3或图4所示，于接近各凹部5112的位置分别形成轨道孔5114，该轨道孔贯通光束射出侧端面及光束入射侧端面，并且具有以各凹部5112(各转动轴53)为中心的平面看圆弧形状。这些轨道孔5114是一种避开孔，在将光学光阑装置5组装起来的状态下分别插通各遮光叶片52下述的销状部，其形成为在各销状部的移动时不和各销状部产生机械干涉。
再者，在该基体板主体511，在光束射出侧端面的各区域RA～RD如图3所示，分别形成用来安装叶片按压部件54的安装用孔5115A。这些安装用孔5115A分别形成于下述位置，该位置即使在基体板主体511设置各遮光叶片52且各遮光叶片52进行了转动时，该安装用孔5115A也不和各遮光叶片52产生机械干涉。
再者还有，在该基体板主体511，在上方端部侧如图3或图4所示，形成以开口部5111的中心轴(入射光束的光轴)为中心的平面看圆弧形状的圆弧状孔5116。
该圆弧状孔5116是一种避开孔，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，可插通电磁致动器58下述的动子以及光阑环56下述的动子连接部一部分，并且即使在光阑环56进行了转动时，也不和上述动子及上述动子连接部的一部分产生机械干涉。
另外，在该圆弧状孔5116周边部分的光束射出侧端面如图3所示，形成用来安装定子连接部512的2个定位突起5115B及2个安装用孔5115C。
另外，在该基体板主体511，在光束入射侧端面如图4所示，形成从开口部5111周缘朝向光束入射侧突出的平面看圆形框状的环支持部5117。该环支持部5117是按间隙接合状态嵌合于光阑环56下述的圆孔的部分。
在该环支持部5117的周缘部分如图4所示，形成平面看圆形状的凹部5118。另外，该凹部5118形成为，上方侧一直延伸到基体板主体511的上端边缘。而且，该凹部5118是设置光阑环56且以开口部5111的大致中心轴(入射光束的光轴)为中心地支持光阑环56使之可以转动的部分，并且具有与光阑环56的外形形状相应的形状。
再者，在该基体板主体511，在光束入射侧端面的各区域RA～RD如图4所示，于凹部5118的周缘部分分别形成用来安装环按压部件57的安装用孔5115D。这些安装用孔5115D分别形成于下述位置，该位置即使在对基体板主体511通过光阑环56安装环按压部件57并且光阑环56进行了转动时，该安装用孔也不和光阑环56产生机械干涉。
再者还有，在该基体板主体511，在光束射出侧端面的下方侧及光束入射侧端面的上方侧分别形成固定部5110，该固定部向该基体板主体511的面外方向突出，用来将其固定于光学部件用壳体45内部。也就是说，通过利用这些固定部5110将基体板主体511固定于光学部件用壳体45内部，使光学光阑装置5整体被固定于光学部件用壳体45内部。
定子连接部512是将电磁致动器58下述的定子连接于基体板主体511的部件。该定子连接部512如图3所示，由平面看大致矩形状的板体构成，安装于基体板主体511的光束射出侧端面，覆盖圆弧状孔5116。
在该定子连接部512，在光束射出侧端面虽然省略了具体图示，但是与电磁致动器58下述作为定子的电磁线圈的形状相对应，形成平面看大致圆形状的凹部。该凹部是收置并配置上述电磁线圈的部分。
另外，在该定子连接部512如图3所示，形成平面看矩形状的贯通孔5121，该贯通孔位于上述凹部的大致中心，贯通光束射出侧端面及光束入射侧端面。
再者，在该定子连接部512，在四个角部分如图3所示，与基体板主体511的2个定位突起5115B及2个安装用孔5115C相对应，分别形成2个定位用孔5122A及2个安装用孔5122B。而且，定子连接部512在将上述电磁线圈收置并配置到上述凹部的状态下，通过使基体板主体511的2个定位突起5115B嵌合于2个定位用孔5122A进行定位，并通过将固定螺纹件5A插通于2个安装用孔5122B、螺纹接合于基体板主体511的2个安装用孔5115C，将其固定于基体板主体511。
在这样将定子连接部512固定到基体板主体511的状态下，在定子连接部512的上述凹部所收置并配置的上述电磁线圈就配置于从基体板主体511偏移到光束射出侧(离开光阑环56的一侧)的位置。
再者还有，在该定子连接部512，在贯通孔5121的周缘部分如图3所示，形成用来定位位置传感器59的2个定位用突起5123和用来固定位置传感器59的2个固定用孔5124。
4个遮光叶片52由金属制部件构成，并且如图3所示，在基体板主体511的光束射出侧端面的各区域RA～RD，通过4个转动轴53分别被轴支承于各凹部5112，使之可沿着与入射的光束光轴正交的平面进行转动，并且通过转动来变更可透射光束的开口面积，调整从第1透镜阵列412射出的光束的光量。还有，在下面将配置于各区域RA～RD的遮光叶片52分别设为52A～52D。
这些遮光叶片52具有相同的形状，并且如图3所示，由叶片板521、轴承部522及销状部523分别构成。
叶片板521如图3所示，具有端缘形成为曲线状的平面看大致L形状，由对入射光束进行遮光的金属制板体来构成。而且，各叶片板521在将光学光阑装置5组装起来的状态下，各叶片板521的各L形状的内侧部分朝向开口部5111内侧进行配置，使之包围开口部5111。另外，各叶片板521在将光学光阑装置5组装起来的状态下其配置为，各板面与入射的光束光轴正交。
轴承部522是在叶片板521的L形状的一端侧整体设置并且可转动叶片板521的转动轴53的轴承。
该轴承部522虽然省略了具体的图示，但是具有从叶片板521的光束入射侧端面向光束入射侧突出且可插通转动轴53的大致圆筒形状。也就是说，轴承部522的光束的光轴方向厚度尺寸形成得比叶片板521的光束的光轴方向厚度尺寸大。而且，轴承部522可以在插通了转动轴53的状态下相对转动轴53进行转动，并且通过相对转动轴53进行转动，使叶片板521进行转动。通过这样使各叶片板521进行转动，来变更以各叶片板521的各L形状的内侧端缘形成的、可通过光束的开口的开口面积。
而且，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，在轴承部522中插通转动轴53，并且轴承部522的光束入射侧端面触接于基体板主体511的凹部5112基底部分。
另外，叶片板521构成为，相对轴承部522大致垂直，并且在将光学光阑装置5组装起来的状态下，相对插通于轴承部522中的转动轴53大致垂直。也就是说，各叶片板521在将光学光阑装置5组装起来的状态下，成为与基体板主体511的板面大致平行的状态。
还有，各叶片板521不限于相对轴承部522大致垂直的结构，只要在各遮光叶片52的转动时各叶片板521之间不进行接触，也可以采用具有相对轴承部522为大致垂直之外的角度的结构。也就是说，只要在各遮光叶片52的转动时各叶片板521之间不进行接触，也可以采用各叶片板521相对与基体板主体511的板面平行的平面倾斜了预定角度的结构。
这里，轴承部522触接的基体板主体511的各凹部5112的基底部分高度尺寸虽然省略了具体的图示，但是其设定为，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，也就是在各遮光叶片52的各轴承部522的光束入射侧端面触接到各凹部5112基底部分的状态下，在相邻的各叶片板521间形成预定尺寸的间隙。
具体而言，各凹部5112A～5112D之中，处于对角位置的凹部5112A、5112C的基底部分高度尺寸以相同的尺寸来形成。处于对角位置的凹部5112B、5112D的基底部分高度尺寸也同样以相同的尺寸来形成。而且，各凹部5112A、5112C的基底部分高度尺寸设定得比各凹部5112B、5112D的基底部分高度尺寸大预定尺寸。按照这种结构，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，也就是在各遮光叶片52的各轴承部522的光束入射侧端面触接到各凹部5112基底部分的状态下，在各遮光叶片52A～52D，从基体板主体511开始的各叶片板521的高度位置有所不同。
也就是说，处于对角位置的各遮光叶片52的各叶片板521位于从基体板主体511开始相同高度的位置，相邻的各遮光叶片52的各叶片板521位于从基体板主体511开始不同高度的位置。由于按上述方法来设定，因而在相邻的各叶片板521间形成预定尺寸的间隙，当使各叶片板521进行转动时，避免了各叶片板521之间产生机械干涉。
销状部523在轴承部522的旁边，并且相对于轴承部522设置在叶片板521的另一端侧，是和光阑环56接合并承受来自光阑环56的按压力的部分。
该销状部523如图3所示，从叶片板521的光束入射侧端面向光束入射侧突出。而且，销状部523在将光学光阑装置5组装起来的状态下如图3所示，插通于基体板主体511的轨道孔5114中，通过轨道孔5114从基体板主体511的光束入射侧端面突出，和光阑环56下述的长孔接合。
4个转动轴53由具有大致圆柱形状的金属制部件构成，固定于基体板主体511及叶片按压部件54间，是对各遮光叶片52进行轴支承使之可以转动的部分。
叶片按压部件54如图3所示，通过和定子连接部512进行组合而成为和基体板主体511大致相同的外形形状，具有平面看大致矩形形状，并且由合成树脂制的板体构成，是将各遮光叶片52相对基体板51可以转动地按压的部分。
在该叶片按压部件54，在平面看大致中央部分如图2或图3所示，形成和基体板主体511的开口部5111相同的、可透射从第1透镜阵列412所射出的光束的平面看圆形状开口部541。
另外，在该叶片按压部件54如图2或图3所示，在与基体板主体511的各凹部5112对应的位置分别形成轴固定孔542，该轴固定孔贯通光束射出侧端面及光束入射侧端面，嵌合并固定转动轴53的另一方端部。
再者，在该叶片按压部件54如图2或图3所示，在与基体板主体511的各安装用孔5115A对应的位置分别形成贯穿了光束射出侧端面及光束入射侧端面的安装用孔543。而且，通过各安装用孔543插通固定螺纹件5B、将固定螺纹件5B螺纹接合于各安装用孔5115A，由此而在相对基体板主体511按压各遮光叶片52的状态下，固定叶片按压部件54。
4个螺旋弹簧55如图3所示，可插通各转动轴53，并且在插通了各转动轴53另一方端部侧的状态下，配设于各遮光叶片52和叶片按压部件54之间，一端侧触接于各遮光叶片52的光束射出侧(轴承部522旁边)，另一端侧触接于叶片按压部件54的光束入射侧端面(轴固定孔542周缘部分)。而且，各螺旋弹簧55在对基体板主体511安装了叶片按压部件54时，把各遮光叶片52朝向基体板主体511加力，使各遮光叶片52的各轴承部522触接于基体板主体511的凹部5112基底部分。
光阑环56可以转动地设置于基体板主体511的凹部5118内，并且在设置到凹部5118的状态下和各遮光叶片52的各销状部523接合，通过进行转动来推压各销状部523，使各遮光叶片52的各叶片板521以各转动轴53为中心进行转动。该光阑环56由合成树脂构成，并且如图3所示，环主体561和动子连接部562整体形成。
环主体561具有可插通基体板主体511的环支持部5117的圆孔5611，并且由平面看圆形框状的板体构成。
在该环主体561如图3所示，在与基体板主体511的各轨道孔5114对应的位置分别形成长孔5612，该长孔可插通从各轨道孔5114突出的各销状部523，并且按下述方向延伸成大致直线状，该方向和以开口部5111的大致中心轴为中心的圆周方向交叉。
动子连接部562如图3所示，是从环主体561的外围边缘沿着环主体561的板面向外侧延伸，将电磁致动器58下述的动子与环主体561连接的部分。而且，动子连接部562在将光学光阑装置5组装起来的状态下如图3所示，其配置为与基体板主体511的上方端部侧对向。
该动子连接部562如图3所示，形成有与基体板主体511的圆弧状孔5116形状对应且朝向光束射出侧突出的平面看大致矩形框形状的突出部5621。该突出部5621是在其内部收置并配置电磁致动器58下述的作为动子的永久磁性体的部分。而且，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，突出部5621内部所收置并配置的上述永久磁性体及突出部5621的一部分插通于基体板主体511的圆弧状孔5116。
这里，突出部5621的光阑环56转动方向(以入射光束的光轴为中心的转动方向)的长度尺寸设定得比基体板主体511的圆弧状孔5116的光阑环56转动方向的长度尺寸小。因此，其构成为，即使在使光阑环56进行了转动时，圆弧状孔5116和突出部5621也不产生机械干涉。
而且，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，通过光阑环56进行转动，因为环主体561的各长孔5612其形成为按下述方向延伸成大致直线状，该方向和以开口部5111的大致中心轴为中心的圆周方向交叉，所以利用各长孔5612的端缘来推压各遮光叶片52的各销状部523，各销状部523沿着各长孔5612进行移动。另外，各销状部523在沿着各长孔5612进行移动时，不与基体板51的各轨道孔5114产生机械干涉，其移动为以基体板51的各凹部5112(各转动轴53)为中心进行转动。而且，通过各销状部523的移动，各遮光叶片52的各叶片板521以各转动轴53为中心进行转动。
环按压部件57如图3所示，按和基体板主体511大致相同的外形形状具有平面看大致矩形形状，由金属制的板体构成，是将光阑环56对基体板51可以转动地按压的部分。
在该环按压部件57，在平面看大致中央部分如图3所示，形成和基体板主体511的开口部5111相同的、可透射从第1透镜阵列412所射出的光束的平面看圆形状开口部571。
另外，在该环按压部件57如图3所示，在与基体板主体511的各轨道孔5114对应的位置形成和各轨道孔5114相同的轨道孔572。这些轨道孔572和各轨道孔5114相同，是一种避开孔，其形成为，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，插通各遮光叶片52的各销状部523，在各销状部523的移动时不和各销状部523产生机械干涉。
再者，在该环按压部件57如图3所示，在与基体板主体511的安装用孔5115D对应的位置形成贯通了光束射出侧端面及光束入射侧端面的安装用孔573。而且，通过各安装用孔573插通固定螺纹件5C，将固定螺纹件5C螺纹接合于各安装用孔5115D中，由此而在对基体板主体511按压光阑环56的状态下，固定环按压部件57。
图5A～图5C是分别模式表示电磁致动器58及位置传感器59结构的附图。
电磁致动器58如图3或图5A～图5C所示，具备作为定子的电磁线圈581和作为动子的永久磁性体582，用来在由控制装置6做出的控制之下，通过将电能量转换成机械能量，相对电磁线圈581使永久磁性体582进行移动，来使光阑环56进行转动。
电磁线圈581如图3所示，具有环形状，使线圈轴与入射光束的光轴大致平行地，收置并配置于定子连接部512的上述凹部。
永久磁性体582如图3或图5A～图5C所示，具有第1磁性体部5821(图5A～图5C)和第2磁性体部5822(图5 A～图5C)被一体化后的结构，并固定于光阑环56的动子连接部562的突出部5621内侧。
第1磁性体部5821如图5A～图5C所示，使动子连接部562侧为N极、使和动子连接部562侧离开的一侧(和电磁线圈581对向的一侧)为S极地，嵌合固定于突出部5621内侧。
第2磁性体部5822如图5A～图5C所示，和第1磁性体部5821相反，使动子连接部562侧为S极、使离开动子连接部562的一侧(和电磁线圈581对向的一侧)为N极地，嵌合固定于突出部5621内侧。
而且，控制装置6和电磁线圈581进行电连接，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，来变更电磁力的方向，该电磁力是由来自永久磁性体582的磁通和在与该磁通大致正交的电磁线圈581流通的电流(图3中，是在电磁线圈581中按上下方向延伸的部分流通的电流)之间的相互作用而产生的。而且，利用电磁力，使永久磁性体582移动到图5A、图5C所示的终端位置或图5B所示的中立位置。相应于永久磁性体582的移动，光阑环56进行转动，并且与该光阑环56的转动产生联动，各遮光叶片52进行转动，来调整从第1透镜阵列412所射出的光束的光量。还有，在本实施方式中，在永久磁性体582位于图5A所示的终端位置的状态下，由各遮光叶片52得到的开口面积为最小开口面积Smin，在永久磁性体582位于图5C所示的终端位置的状态下，由各遮光叶片52得到的开口面积为最大开口面积Smax，在永久磁性体582位于图5B所示的中立位置的状态下，由各遮光叶片52得到的开口面积为中间开口面积Smid，该中间开口面积是最大开口面积Smax及最小开口面积Smin的中间。
位置传感器59安装于定子连接部512，检测相对电磁线圈581的永久磁性体582的位置。而且，位置传感器59将与所检测到的位置相应的信号输出给控制装置6。控制装置6根据从位置传感器59输出的信号，如上所述对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582(各遮光叶片52)位于预定位置。
该位置传感器59如图3或图5A～图5C所示，具备位置传感器主体591(图5A～图5C)和安装位置传感器主体591的电路基板592(图3)。
位置传感器主体591如图5A～图5C所示，在位置传感器59安装到定子连接部512的状态下，配置于电磁线圈581的内部且与线圈轴大致一致的位置。也就是说，在将光学光阑装置5组装起来的状态下，位置传感器主体591如图5A～图5C所示，配设于与永久磁性体582对向的位置。而且，该位置传感器主体591具备作为磁元件的霍尔元件5911、输出特性修正部5912及修正参数存储部5913(参见图7)。由这些霍尔元件5911、输出特性修正部5912及修正参数存储部5913构成的位置传感器主体591采用1个芯片的IC(Integrated Circuit，集成电路)来构成。
霍尔元件5911是一种利用霍尔效应的磁元件，相应于来自永久磁性体582的磁场强度输出预定的电压。
输出特性修正部5912根据修正参数存储部5913中所存储的修正参数(偏移修正参数及增益修正参数)，来修正霍尔元件5911的输出特性。
图6A及图6B分别是表示输出特性修正部5912处理功能一例的附图。具体而言，在图6A及图6B中，纵向轴表示从霍尔元件5911输出的输出值(电压值)，横向轴表示永久磁性体582的位置(由各遮光叶片52得到的开口面积)。另外，在图6A及图6B中，实线表示由输出特性修正部5912做出的输出特性修正前的霍尔元件5911的输出特性，虚线表示由输出特性修正部5912做出的输出特性修正后的霍尔元件5911的输出特性。
在由输出特性修正部5912做出的基于偏移修正参数的霍尔元件5911输出特性修正(下面，记述为偏移修正)中，例如如图6A所示地，修正霍尔元件5911的输出特性。
更为具体而言，在偏移修正中，使相对偏移电压值Vof的永久磁性体582的位置产生偏移来修正输出特性，以便在永久磁性体582位于由各遮光叶片52得到的开口面积为中间开口面积Smid的规定位置P1的状态下，霍尔元件5911输出偏移电压值Vof(为最大输出电压值Vdd一半的电压值Vdd/2)。例如如图6A所示，虽然在偏移修正前在永久磁性体582位于预定位置P2的状态下，从霍尔元件5911输出了偏移电压值Vof，但是通过偏移修正，来修正输出特性以便在永久磁性体582位于规定位置P1的状态下，霍尔元件5911输出偏移电压值Vof。也就是说，在偏移修正中，如图6A所示，在相对于永久磁性体582位置的霍尔元件5911的输出值的斜度为一定的状态，使永久磁性体582的位置产生偏移。
而且，在本实施方式中，由下述的修正参数校正装置100将其更新为最佳的偏移修正参数，通过使用该偏移修正参数的偏移修正，进行修正以在由各遮光叶片52得到的开口面积为中间开口面积Smid的状态下、霍尔元件5911输出偏移电压值Vof(为最大输出电压值Vdd一半的电压值Vdd/2)。
另外，在由输出特性修正部5912做出的基于增益修正参数的霍尔元件5911输出特性的修正(下面，记述为增益修正)中，例如如图6B所示地，修正霍尔元件5911的输出特性。
更为具体而言，在增益修正中，霍尔元件5911的输出特性如图6B所示，以在由各遮光叶片52得到的开口面积为中间开口面积Smid的状态下、霍尔元件5911输出的偏移电压值Vof为基准，来修正斜度。
而且，在本实施方式中，由下述的修正参数校正装置100将其更新为最佳的增益修正参数，通过使用该增益修正参数的增益修正，进行修正，以便在永久磁性体582位于由各遮光叶片52得到的开口面积为最小开口面积Smin的规定位置P3(第1位置)的状态下、霍尔元件5911输出最小输出电压值0，在永久磁性体582位于由各遮光叶片52得到的开口面积为最大开口面积Smax的规定位置P4(第2位置)的状态下、霍尔元件5911输出最大输出电压值Vdd。
也就是说，输出特性修正部5912虽然省略了图示，但是由实施偏移修正的偏移电路部和实施增益修正的增益电路部来构成。
修正参数存储部5913能重写地存储偏移修正参数及增益修正参数。更为具体而言，修正参数存储部5913由下述的修正参数校正装置100，来适当重写偏移修正参数及增益修正参数。
也就是说，修正参数存储部5913虽然省略了图示，但是由存储偏移修正参数的偏移存储部和存储增益修正参数的增益存储部来构成。作为这些偏移存储部及增益存储部，例如可以采用EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器)等。
而且，作为上面所说明的位置传感器主体591，例如可以采用旭化成电子有限公司制的CM8201。
〔投影机的控制结构〕
图7是模式表示投影机1及修正参数校正装置100控制结构的框图。
控制装置6对投影机1整体进行控制。该控制装置6如图7所示，具备接口部61、控制部主体62、帧存储器63及存储器64等。
接口部61对从外部经由信号线输入的信号执行预先所设定的输入接口处理，将其转换成可由控制部主体62处理的信号，并加以输出。例如，接口部61输入从各种外部设备输出的图像信号等，将其转换成可由控制部主体62处理的图像信号，加以输出。而且，从接口部61所输出的图像信号(数字图像信号)暂时记录于帧存储器63。另外，例如接口部61与修正参数校正装置100经由信号线Si1进行连接，输入从修正参数校正装置100输出的控制信号，将其转换成可由控制部主体62处理的信号并加以输出。
控制部主体62例如由CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)等构成，如图7所示，对各液晶面板441、光源装置411及光学光阑装置5等进行控制。该控制部主体62如图7所示，具备液晶面板驱动控制部621、灯驱动控制部622及光阑驱动控制部623等。
液晶面板驱动控制部621按照预定的程序、从修正参数校正装置100输出的控制指令，对各液晶面板441进行驱动控制。例如，液晶面板驱动控制部621按照预定的程序，适当读取从接口部61输出、依次存储于帧存储器63中的数字图像信号，对所读取的数字图像信号实施预定的处理，将与实施过处理的图像对应的、作为图像信息的驱动信号输出给各液晶面板441，使之形成预定的光学像。作为该液晶面板驱动控制部621中上述预定的处理，例如有放大/缩小等的图像尺寸调整处理、梯形失真修正处理、画面质量调整处理及灰度系数修正处理等。这些各处理由于是众所周知的技术，因而详细的说明予以省略。另外，液晶面板驱动控制部621按照从修正参数校正装置100输出的控制指令，和上面相同地使各液晶面板441形成预定的光学像。
灯驱动控制部622按照预定的程序、从修正参数校正装置100输出的控制指令，将表示以预定的驱动频率使光源灯416驱动的内容的控制指令输出给灯驱动器416A，让灯驱动器416A生成与预定的驱动频率相应的驱动信号，使之驱动光源灯416。
光阑驱动控制部623按照预定的程序、从修正参数校正装置100输出的控制指令，根据从位置传感器59(霍尔元件5911)输出的输出值(电压值)，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使各遮光叶片52位于预定位置。
更为具体而言，光阑驱动控制部623按照预定的程序，对所输入的图像信息进行分析，生成与图像信息对应的图像明亮度信息。作为该明亮度信息，例如可以在与图像信息对应的、对应于图像的各像素的各亮度值中，采用与最大亮度值、最小亮度值及平均亮度值等有关的信息。另外，光阑驱动控制部623根据存储器64中所存储的、使明亮度信息和由各遮光叶片52得到的开口面积相关联的明亮度-开口面积关联信息，来确定与所生成的明亮度信息对应的开口面积。进而，光阑驱动控制部623根据存储器64中所存储的、使开口面积和从霍尔元件5911输出的设计上的设计电压值相关联的开口面积-电压值关联信息，来确定与所确定出的开口面积相关联的设计电压值。然后，光阑驱动控制部623直到从位置传感器59输出上述确定出的设计电压值为止，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使各遮光叶片52位于与上述明亮度信息及上述开口面积相应的预定位置。
另外，光阑驱动控制部623按照从修正参数校正装置100输出的控制指令，直到从位置传感器59输出上述控制指令中所包括的指令电压值为止，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使各遮光叶片52位于预定位置。
存储器64存储由光阑驱动控制部623使用的上述明亮度-开口面积关联信息及开口面积-电压值关联信息。作为这些明亮度-开口面积关联信息及开口面积-电压值关联信息，例如可以采用由LUT(Look-Up-Table，查找表)等构成的数据结构。作为开口面积-电压值关联信息，例如关于上述最小开口面积Smin、中间开口面积Smid及最大开口面积Smax，对于最小开口面积Smin要使最小输出电压值0相关联，对于中间开口面积Smid要使偏移电压值Vdd/2相关联，对于最大开口面积Smax要使最大输出电压值Vdd相关联。
可是，当制造光学光阑装置5时，在产生了永久磁性体582的磁化位置制造误差、永久磁性体582的安装位置制造误差或位置传感器59的安装位置制造误差等时，却无法按照由光阑驱动控制部623做出的控制，使各遮光叶片52位于与预期的开口面积相应的位置。
图8A～图8C分别是模式表示光学光阑装置5制造误差的附图。具体而言，图8A是表示在光学光阑装置5中没有产生制造误差时的附图。图8B、图8C是表示在光学光阑装置5中产生了制造误差时的附图。
在光学光阑装置5中没有产生制造误差时，光阑驱动控制部623如图8A所示，当使各遮光叶片52位于由各遮光叶片52得到的开口面积为中间开口面积Smid的位置时，根据开口面积-电压值信息，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出与中间开口面积Smid对应的偏移电压值Vdd/2之位置，也就是使第1磁性体部5821及第2磁性体部5822的异极间位置P0与位置传感器主体591对向。
另外，在光学光阑装置5中产生了制造误差时，也就是如图8B所示在相对突出部5621内侧的永久磁性体582的安装位置产生了制造误差时，也和上面相同，光阑驱动控制部623当使各遮光叶片52位于由各遮光叶片52得到的开口面积为中间开口面积Smid的位置时，根据开口面积-电压值信息，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出与中间开口面积Smid对应的偏移电压值Vdd/2之位置，也就是使第1磁性体部5821及第2磁性体部5822的异极间位置P0与位置传感器主体591对向。因此，使永久磁性体582位于从原来为中间开口面积Smid的永久磁性体582位置(图8C所示的位置)偏离了的位置(图8B所示的位置)。
还有，在永久磁性体582的安装位置产生了制造误差时，不限于中间开口面积Smid，使永久磁性体582位于为其他开口面积的位置的情形也相同，使永久磁性体582位于偏离了的位置，不能使各遮光叶片52位于为预期开口面积的位置。永久磁性体582的NS极边界错乱等在磁化位置产生了制造误差的情形或在位置传感器59的安装位置产生了制造误差的情形，也相同。
因而，即便在光学光阑装置5中产生了制造误差时，仍需要在由光阑驱动控制部623做出的控制下，使永久磁性体582位于预期的位置，使各遮光叶片52位于成为预期的开口面积的位置。
〔修正参数校正装置的结构〕修正参数校正装置100在投影机1的制造后，更新修正参数存储部5913中所存储的偏移修正参数及增益修正参数，以便在永久磁性体582位于成为预期的开口面积的位置时，位置传感器59输出基于上述开口面积-电压值信息的、与上述预期开口面积对应的电压值(设计电压值)。该修正参数校正装置100如图7所示，具备光束检测装置110和校正装置主体120，该校正装置主体由具备CPU及硬盘的PC(Personal Computer，个人计算机)来构成。
光束检测装置110在校正装置主体120的控制之下，按照来自校正装置主体120的控制指令，驱动投影机1，检测从投影机1放大投影的光学像的光量。作为该光束检测装置110，例如可以采用二维光传感器等，该二维光传感器由照度计、光传感器、光电传感器、CCD(Charge CoupledDevice，电荷耦合器件)及MOS(Metal Oxide Semiconductor，金属氧化物半导体)等拍摄元件来构成。而且，光束检测装置110与校正装置主体120经由信号线Si2(图7)进行连接，将与所检测到的光学像的光量相应的信号输出给校正装置主体120。
校正装置主体120如图7所示，具备操作部121、显示部122及控制装置123。
操作部121具有例如通过键盘、鼠标等进行输入操作的各种操作按键。通过实施该操作按键的输入操作，使控制装置123适当进行工作，并且例如对显示于显示部122的信息，实施控制装置123工作内容的设定等。然后，通过由操作人员做出的对操作部121的输入操作，从操作部121适当将预定的操作信号输出给控制装置123。
还有，作为该操作部121不限于操作按键的输入操作，例如也可以通过利用触摸式面板的输入操作或利用声音的输入操作等，来设定并输入各种条件。
显示部122被控制装置123所控制，显示预定的信息。例如，在由控制装置123处理过的信息显示或通过操作部121的输入操作设定并输入或更新控制装置123下述的存储器中所存储的信息时，使之适当显示从控制装置123输出的存储器内的数据。该显示部122例如使用液晶或有机EL(Electroluminescence，电致发光)、PDP(Plasma Display Panel，等离子显示面板)、CRT(Cathode-Ray Tube，阴极射线管)等。
控制装置123按照来自操作部121的操作信号输入，执行预定的程序，对投影机1输出预定的控制指令使之驱动投影机1，将偏移修正参数及增益修正参数更新为最佳的值。该控制装置123如图7所示，具备接口部1231、控制部主体1232及存储器1233。
接口部1231与投影机1的接口部61经由信号线Si1进行连接，对从控制部主体1232输入的信号执行预先所设定的输出接口处理，并输出给投影机1。
另外，接口部1231与光束检测装置110经由信号线Si2进行连接，对从控制部主体1232输入的信号执行预先所设定的输出接口处理，并输出给光束检测装置110。
进而，接口部1231将从光束检测装置110输出的信号转换为可由控制部主体1232处理的信号，并输出给控制部主体1232。
存储器1233存储由控制部主体1232执行的程序、由控制部主体1232使用的基准光量信息及基准输出值信息。
具体而言，上述光量信息由中间光量信息、最大光量信息、最小光量信息构成，该中间光量信息是在开口面积为中间开口面积Smid时、与从投影机1放大投影且由光束检测装置110检测的设计上的中间光量有关的信息，该最大光量信息或最小光量信息是在开口面积为最大开口面积Smax或最小开口面积Smin时、与从投影机1放大投影且由光束检测装置110检测的设计上的最大光量或最小光量有关的信息。另外，这些中间光量信息、最大光量信息及最小光量信息是与对设计上的中间光量Lmid、最大光量Lmax及最小光量Lmin考虑了预定允许值P的预定范围有关的信息。更为具体而言，中间光量信息是与Lmid-P～Lmid+P的范围有关的信息，最大光量信息是与Lmax-P～Lmax+P的范围有关的信息，最小光量信息是与Lmin-P～Lmin+P的范围有关的信息。
另外，上述基准输出值信息是设计偏移电压值信息、设计最大输出电压值信息及设计最小输出电压值信息，该设计偏移电压值信息是在永久磁性体582位于开口面积为中间开口面积Smid的位置时、与从位置传感器59输出的设计上的偏移电压值Vdd/2有关的信息，该设计最大输出电压值信息是在永久磁性体582位于开口面积为最大开口面积Smax的位置时、与从位置传感器59输出的设计上的最大输出电压值Vdd有关的信息，该设计最小输出电压值信息是在永久磁性体582位于开口面积为最小开口面积Smin的位置时、与从位置传感器59输出的设计上的最小输出电压值0有关的信息。
也就是说，存储器1233相当于本发明所涉及的光量信息存储部及输出值信息存储部。
控制部主体1232包括CPU等来构成，按照由操作人员做出的操作部121的输入操作，从存储器1233读取预定的程序并执行预定的处理，对投影机1输出预定的控制指令使投影机1驱动，并且根据从光束检测装置110输出的信号，将偏移修正参数及增益修正参数更新为最佳的值。
而且，控制部主体1232相当于本发明所涉及的光源驱动控制部、光阑驱动控制部及参数更新部。
〔利用修正参数校正装置的修正参数校正方法〕下面，根据附图，来说明利用上述修正参数校正装置100的修正参数校正方法。
图9是说明利用修正参数校正装置100的修正参数校正方法的流程图。
还有，在实施下面的修正参数校正方法之前，设为投影机1在全部组装起来的状态下，电源已被导通并进行驱动。另外，其状态为，由信号线Si1将修正参数校正装置100及投影机1间连接起来。再者，其状态为，由信号线Si2将光束检测装置110及接口部1231间连接起来。
首先，操作人员通过修正参数校正装置100的操作部121，来实施表示对投影机1中的修正参数(偏移修正参数及增益修正参数)进行校正的内容的输入操作。然后，修正参数校正装置100的控制部主体1232输入从操作部121输出的操作信号，按照预定的程序，如下所示对修正参数进行校正。
也就是说，控制部主体1232经由信号线Si1对投影机1输出表示使光源灯416点亮的内容的控制指令。然后，投影机1的灯驱动控制部622按照上述控制指令，使灯驱动器416A将光源灯416点亮(步骤S1光束射出步骤)。
步骤S1之后，控制部主体1232经由信号线Si1对投影机1输出表示使各液晶面板441进行白色显示的内容的控制指令。然后，投影机1的液晶面板驱动控制部621按照上述控制指令，使各液晶面板441分别形成白色显示的光学像(步骤S2)。
步骤S2之后，控制部主体1232对偏移修正参数进行校正(步骤S3)。
具体而言，图10是说明偏移修正参数校正方法的流程图。
首先，控制部主体1232读取存储器1233中所存储的设计偏移电压值信息，经由信号线Si1对投影机1输出下述控制指令，该控制指令表示使永久磁性体582位于从位置传感器59输出基于设计偏移电压值信息的偏移电压值Vdd/2的位置的内容。然后，投影机1的光阑驱动控制部623按照上述控制指令，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的基准位置(偏移基准位置)(步骤S3A永久磁性体定位步骤)。
步骤S3A之后，控制部主体1232经由信号线Si2对光束检测装置110输出预定的控制信号，使光束检测装置110检测从投影机1放大投影的光学像的光量LX(步骤S3B光束检测步骤)。然后，光束检测装置110将与所检测到的光学像的检测光量LX相应的信号输出给控制部主体1232。
步骤S3B之后，控制部主体1232对存储器1233中所存储的中间光量信息和由光束检测装置110所检测到的检测光量LX进行比较。
具体而言，首先，控制部主体1232判定检测光量LX是否为基于中间光量信息的Lmid-P以上(步骤S3C)。
在步骤S3C中，控制部主体1232在判定为“否”时，也就是判定为检测光量LX未达到Lmid-P时，经由信号线Si1对投影机1输出表示使偏移修正参数增加的内容的控制指令。然后，投影机1使位置传感器59的修正参数存储部5913中所存储的偏移修正参数增加(步骤S3D)。然后，修正参数存储部5913存储变更后的偏移修正参数(步骤S3E)。
更为具体而言，在步骤S3C中，作为判定出检测光量LX未达到Lmid-P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的偏移基准位置时，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为比中间开口面积Smid小的开口面积之位置的状态。
然后，在步骤S3D及步骤S3E中，通过使偏移修正参数得到增加并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的偏移修正参数来实施上述的偏移修正。也就是说，通过该偏移修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出和偏移电压值Vdd/2不同的电压值。
步骤S3E之后，再次回到步骤S3A。也就是说，光阑驱动控制部623按照从修正参数校正装置100输出的控制指令，再次对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的偏移基准位置。
然后，控制部主体1232在步骤S3C中，直到判定为“是”为止，也就是直到判定为检测光量LX为Lmid-P以上为止，反复实施上述的步骤S3A～S3E。
在步骤S3C中，控制部主体1232在判定为“是”时，也就是判定出检测光量LX为Lmid-P以上时，接着判定检测光量LX是否为基于中间光量信息的Lmid+P以下(步骤S3F)。
在步骤S3F中，控制部主体1232在判定为“否”时，也就是判定出检测光量LX超过Lmid+P时，经由信号线Si1对投影机1输出表示使偏移修正参数减少的内容的控制指令。然后，投影机1使位置传感器59的修正参数存储部5913中所存储的偏移修正参数减少(步骤S3G)。然后，修正参数存储部5913在步骤S3E中，存储变更后的偏移修正参数。
更为具体而言，在步骤S3F中，作为判定出检测光量LX超过Lmid+P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的偏移基准位置时，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为比中间开口面积Smid大的开口面积之位置的状态。
然后，在步骤S3G及步骤S3E中，通过使偏移修正参数得到减少并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的偏移修正参数，来实施上述的偏移修正。也就是说，通过该偏移修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出和偏移电压值Vdd/2不同的电压值。
在步骤S3G中使偏移修正参数减少，在步骤S3E中重写偏移修正参数，之后再次回到步骤S3A。也就是说，光阑驱动控制部623按照从修正参数校正装置100输出的控制指令，再次对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的偏移基准位置。
然后，控制部主体1232在步骤S3F中，直到判定为“是”为止，也就是直到判定为检测光量LX为Lmid+P以下为止，反复实施上述的步骤S3A～S3G。
通过上面的偏移修正参数校正(步骤S3)，检测光量LX进入大于等于Lmid-P且小于等于Lmid+P的范围内，因此即便在光学光阑装置5中产生了上述制造误差的情况下，在永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的偏移基准位置时，其状态仍成为，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为大致中间开口面积Smid的位置。
步骤S3之后，控制部主体1232对增益修正参数进行校正(步骤S4)。
具体而言，图11是说明增益修正参数校正方法的流程图。
首先，控制部主体1232读取存储器1233中所存储的设计最大输出电压值信息，经由信号线Si1对投影机1输出下述控制指令，该控制指令表示使永久磁性体582位于从位置传感器59输出基于设计最大输出电压值信息的最大输出电压值Vdd之基准位置(增益基准位置)的内容。然后，投影机1的光阑驱动控制部623按照上述控制指令，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置(步骤S4A永久磁性体定位步骤)。
步骤S4A之后，控制部主体1232经由信号线Si2对光束检测装置110输出预定的控制指令，使光束检测装置110检测从投影机1放大投影的光学像的光量LX(步骤S4B光束检测步骤)。然后，光束检测装置110将与所检测到的光学像的检测光量LX相应的信号输出给控制部主体1232。
步骤S4B之后，控制部主体1232对存储器1233中所存储的最大光量信息和由光束检测装置110所检测到的检测光量LX进行比较。
具体而言，首先，控制部主体1232判定检测光量LX是否为基于最大光量信息的Lmax-P以上(步骤S4C)。
在步骤S4C中，控制部主体1232在判定为“否”时，也就是判定为检测光量LX未达到Lmax-P时，经由信号线Si1对投影机1输出表示使增益修正参数增加之内容的控制指令。然后，投影机1使位置传感器59的修正参数存储部5913中所存储的增益修正参数增加(步骤S4D)。然后，修正参数存储部5913存储变更后的增益修正参数(步骤S4E)。
更为具体而言，在步骤S4E中，作为判定出检测光量LX未达到Lmax-P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置时，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为比最大开口面积Smax小的开口面积之位置的状态。
然后，在步骤S4D及步骤S4E中，通过使增益修正参数得到增加并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的增益修正参数来实施上述的增益修正。也就是说，通过该增益修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出和最大输出电压值Vdd不同的电压值。
步骤S4E之后，再次回到步骤S4A。也就是说，光阑驱动控制部623按照从修正参数校正装置100输出的控制指令，再次对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置。
然后，控制部主体1232在步骤S4C中，直到判定为“是”为止，也就是直到判定为检测光量LX为Lmax-P以上为止，反复实施上述的步骤S4A～S4E。
在步骤S4C中，控制部主体1232在判定为“是”时，也就是判定出检测光量LX为Lmax-P以上时，接着判定检测光量LX是否为基于最大光量信息的Lmax+P以下(步骤S4F)。
在步骤S4F中，控制部主体1232在判定为“否”时，也就是判定出检测光量LX超过Lmax+P时，经由信号线Si1对投影机1输出表示使增益修正参数减少之内容的控制指令。然后，投影机1使位置传感器59的修正参数存储部5913中所存储的增益修正参数减少(步骤S4G)。然后，修正参数存储部5913在步骤S4E中，存储变更后的增益修正参数。
更为具体而言，在步骤S4F中，作为判定出检测光量LX超过Lmax+P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置时，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为比最大开口面积Smax大的开口面积之位置的状态。
然后，在步骤S4G及步骤S4E中，通过使增益修正参数得到减少并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的增益修正参数，来实施上述的增益修正。也就是说，通过该增益修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出和最大输出电压值Vdd不同的电压值。
在步骤S4G中使增益修正参数减少、在步骤S4E中重写增益修正参数，之后再次回到步骤S4A。也就是说，光阑驱动控制部623按照从修正参数校正装置100输出的控制指令，再次对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置。
然后，控制部主体1232在步骤S4F中，直到判定为“是”为止，也就是直到判定为检测光量LX为Lmax+P以下为止，反复实施上述的步骤S4A～S4G。
通过上面的增益修正参数校正(步骤S4)，检测光量LX进入大于等于Lmax-P且小于等于Lmax+P的范围内，因此即便在光学光阑装置5中产生了上述制造误差的情况下，在永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置时，其状态仍成为，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为大致最大开口面积Smax的位置。另外，如上所述，在增益修正中，由于霍尔元件5911输出特性的斜度以偏移电压值Vof为基准进行变更，因而在永久磁性体582位于从位置传感器59输出最小输出电压值0的位置时，其状态为，位于由各遮光叶片52得到的开口面积为大致最小开口面积Smin的位置。也就是说，通过对增益修正参数进行校正，使霍尔元件5911的输出特性修正为，与存储器64中所存储的开口面积-电压值关联信息对应的输出特性。
而且，上述的步骤S3C～S3G、S4C～S4G相当于本发明所涉及的参数更新步骤。
在步骤S4之后，控制部主体1232经由信号线Si1对投影机1输出表示修正参数的校正已结束之内容的信号。然后，投影机1的灯驱动控制部622按照上述控制指令，使灯驱动器416A将光源灯416熄灭(步骤S5)。
通过上面的步骤S1～S5，修正参数的校正就得以结束。
根据上述的第1实施方式，具有下面的效果。
在本实施方式中，由于光学光阑装置5，作为使各遮光叶片52进行转动的驱动装置具备电磁致动器58，因而有下面的效果。
也就是说，可以进行低电压驱动，可谋求光学光阑装置5的低消耗电力化。
另外，可以在较小尺寸的区域产生较大的力，使光阑环56平滑转动，使遮光叶片52平滑转动。
再者，即便在高湿度等的恶劣环境下也可以使用，能谋求光学光阑装置5的长寿命化。
再者还有，驱动响应特性良好，可以使遮光叶片52做出高速响应使其平滑转动。
因而，通过作为驱动装置使用电磁致动器58，与像以往那样作为驱动装置使用脉冲电动机等的结构相比较，可以采用电磁线圈581及永久磁性体582的简单结构来构成驱动装置，能够使光学光阑装置5的结构简单化及小型化。另外，与以往的结构相比较，还可以使驱动时的振动得到减低，能够实现光学光阑装置5稳定的驱动。
另外，对光学光阑装置5进行驱动控制的光阑驱动控制部623根据存储器64中所存储的开口面积-电压值信息，在使遮光叶片52位于成为预定开口面积的位置时，识别与上述预定开口面积相关联的设计电压值。然后，光阑驱动控制部623，使得从位置传感器59输出的输出值与所识别出的设计电压值大致相同地，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于预定位置。根据这种结构，使光阑驱动控制部623的处理负荷得到减轻，能谋求控制装置6的控制结构简单化。
再者，由于位置传感器59具备霍尔元件5911及输出特性修正部5912，因而只要将修正参数(偏移修正参数及增益修正参数)校正为最佳的修正参数，输出特性修正部5912就根据校正后的修正参数来修正霍尔元件5911的输出特性，因此即使在光学光阑装置5中产生了上述制造误差的情况下，也可以在使永久磁性体582位于与预定开口面积对应的位置时，使霍尔元件5911输出与上述预定开口面积对应的设计电压值。因此，在光阑驱动控制部623对电磁线圈581实施正向通电或反向通电、使得来自位置传感器59的输出值大致相同于与预定开口面积对应的设计电压值时，可以使永久磁性体582位于与上述预定开口面积对应的位置，能够使各遮光叶片52以高准确度位于成为上述预定开口面积的位置。因而，使光阑驱动控制部623的处理负荷得到减轻，同时可以通过光阑驱动控制部623使遮光叶片52以高准确度进行移动，实现稳定的驱动。
在此，由于修正参数包括偏移修正参数，因而通过输出特性修正部5912使用偏移修正参数来实施偏移修正，而可以使相对偏移电压值Vdd/2的永久磁性体582的位置产生偏移，在永久磁性体582位于成为中间开口面积Smid的偏移基准位置的状态下，使霍尔元件5911输出偏移电压值Vdd/2。因而，这样构成为，可以进行使用偏移修正参数的偏移修正，因此能够采用简单的电路结构来实现霍尔元件5911输出特性的修正。
再者，由于修正参数除了偏移修正参数之外，还包括增益修正参数，因而通过输出特性修正部5912使用增益修正参数来实施增益修正，而可以在永久磁性体582位于从成为最小开口面积Smin的位置P3到成为最大开口面积Smax的位置P4的范围的状态下，对应于永久磁性体582的上述范围内各位置，使霍尔元件5911输出设计上的各设计电压值。因而，这样构成为，可以进行使用增益修正参数的增益修正，因此能够采用简单的电路结构来实现霍尔元件5911输出特性的修正。
另外，由于可以通过增益修正，将霍尔元件5911输出的电压值在所有的范围(位置P3～位置P4)内修正为各设计电压值，因而能够使各遮光叶片52以更高准确度进行移动，实现稳定的驱动。
再者，由于位置传感器59中所设置的修正参数存储部5913能重写地存储修正参数，因而可以对修正参数进行适当校正将其更新为最佳的修正参数。因而，通过输出特性修正部5912使用更新后的最佳修正参数来修正霍尔元件5911的输出特性，就可以在永久磁性体582位于与预定开口面积对应的位置时，使霍尔元件5911输出与上述预定开口面积对应的设计电压值。
而且，由于投影机1可以通过光学光阑装置5调整从光源装置411向液晶面板441照射的光束的光量，因而通过光阑驱动控制部623按照图像的明亮度信息对光学光阑装置5进行控制，在整体较暗的场面时减低光量，在整体较明亮的场面时增加光量，而可以实现高对比度比的投影图像。
另外，由于投影机1具备能使结构简单化及小型化的光学光阑装置5，因而在投影机1内部，可以在接近配置的第1透镜阵列412及第2透镜阵列413的部件间容易配设光学光阑装置5，能够使投影机1的设计自由度得到提高。
再者，由于投影机1具备能在驱动时抑制振动而实现稳定的驱动的光学光阑装置5，因而可以抑制因振动而给投影图像带来的影响，能良好维持投影图像。
再者还有，由于能使光阑驱动控制部623的处理负荷得到减低，同时可以通过光阑驱动控制部623使各遮光叶片52以高准确度进行转动，因而能够以高准确度调整从光源装置411向液晶面板441照射的光束的光量，可以使投影图像的图像质量得到提高。
而且还有，由于修正参数校正装置100在将投影机1组装起来的状态下，根据从光源装置411射出、经过光学光阑装置5且由投影透镜3放大投影的光学像的光量，也就是实际由光学光阑装置5进行光量调整的光束，来更新修正参数，因而能够以更高准确度调整从光源装置411向液晶面板441照射的光束的光量，可以使投影图像的图像质量得到进一步提高。
〔第2实施方式〕下面，根据
本发明的第2实施方式。
还有，在下面的说明中，对于和已经说明的部分相同的部分，附上相同的符号以省略其说明。
在上述第1实施方式中，修正参数校正装置100在将投影机1组装起来之后，通过使投影机1进行适当驱动，来校正修正参数。
相对于此，在第2实施方式中，修正参数校正装置200通过使用光学光阑装置5单体，使光学光阑装置5进行适当驱动，来校正修正参数。也就是说，本实施方式对于上述第1实施方式来说，只是修正参数校正装置200的结构不同，其他的投影机1的结构则和上述第1实施方式相同。
图12是模式表示第2实施方式中的修正参数校正装置200控制结构的框图。
修正参数校正装置200如图12所示，相对于上述第1实施方式中所说明的修正参数校正装置100而言，不同之处只是，具备修正用光源装置230以及与控制装置123对应的控制装置223的控制结构。
修正用光源装置230在由控制装置223做出的控制之下，朝向光学光阑装置5射出光束。作为该修正用光源装置230，例如可以采用LED(LightEmitting Diode，发光二极管)元件、激光二极管、有机EL元件及硅发光元件等的各种固体发光元件。
控制装置223按照来自操作部121的操作信号的输入，执行预定的程序，驱动光学光阑装置5，将偏移修正参数及增益修正参数更新为最佳的值。该控制装置223如图12所示，除上述第1实施方式中所说明的存储器1233之外，还具备接口部2231和控制部主体2232。
接口部2231和光学光阑装置5经由信号线Si3进行连接，对从控制部主体2232输入的信号执行预先所设定的输出接口处理，将其输出给光学光阑装置5(电磁线圈581、位置传感器59)。
另外，接口部2231将从光学光阑装置5(位置传感器59)输出的信号转换成可由控制部主体2232处理的信号，并输出给控制部主体2232。
再者，接口部2231和光束检测装置110经由信号线Si2进行连接，对从控制部主体2232输入的信号执行预先所设定的输出接口处理，将其输出给光束检测装置110。
再者还有，接口部2231将从光束检测装置110输出的信号转换成可由控制部主体2232处理的信号，并输出给控制部主体2232。
控制部主体2232包括CPU等来构成，按照由操作人员做出的对操作部121的输入操作，从存储器1233读取预定的程序，执行预定的处理，对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，并且根据从光束检测装置110输出的信号，将偏移修正参数及增益修正参数更新成最佳的值。
而且，控制部主体2232相当于本发明所涉及的光源驱动控制部、光阑驱动控制部及参数更新部。
下面，根据附图，来说明利用上述修正参数校正装置200的修正参数校正方法。
图13是说明第2实施方式中利用修正参数校正装置200的修正参数校正方法的流程图。
还有，在实施下面的修正参数校正方法之前，其状态为，光学光阑装置5在全部组装起来的状态下，使光学光阑装置5和接口部2231经由信号线Si3进行连接。另外，其状态为，光束检测装置110和接口部2231经由信号线Si2进行连接。
首先，修正参数校正装置200的控制部主体2232，若对操作部121实施了表示校正修正参数的内容的输入操作，则按照预定的程序，如下所示对修正参数进行校正。
也就是说，控制部主体2232对修正用光源装置230输出预定的控制指令，使修正用光源装置230射出光束(步骤S11光束射出步骤)。
步骤S11之后，控制部主体2232对偏移修正参数进行校正(步骤S12)。还有，因为偏移修正参数的校正方法和上述第1实施方式中所说明的偏移修正参数校正方法大致相同，所以在下面参照图10进行说明。
首先，控制部主体2232读取存储器1233中所存储的设计偏移电压值信息，并识别基于设计偏移电压值信息的偏移电压值Vdd/2。另外，控制部主体2232对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出偏移电压值Vdd/2的基准位置(偏移基准位置)(步骤S12A永久磁性体定位步骤)。
步骤S12A之后，控制部主体2232经由信号线Si2对光束检测装置110输出预定的控制信号，使光束检测装置110检测从修正用光源装置230射出且经过光学光阑装置5后的光束的光量LX(步骤S12B光束检测步骤)。然后，光束检测装置110将与所检测到的光束的检测光量LX相应的信号输出给控制部主体2232。
步骤S12B之后，实施和上述第1实施方式中所说明的步骤S3C～S3G大致相同的处理。也就是说，控制部主体2232对存储器1233中所存储的中间光量信息和由光束检测装置110所检测到的检测光量LX进行比较(步骤S12C、S12F)，按照比较结果来适当变更偏移修正参数(步骤S12D、S12G)，使变更后的偏移修正参数存储于修正参数存储部5913中(步骤S12E)。
步骤S12之后，控制部主体2232对增益修正参数进行校正(步骤S13)。还有，因为增益修正参数校正方法和上述第1实施方式中所说明的此修正参数校正方法大致相同，所以在下面参照图11进行说明。
首先，控制部主体2232读取存储器1233中所存储的设计最大输出电压值信息，并识别基于设计最大输出电压值信息的最大输出电压值Vdd。另外，控制部主体2232对电磁线圈581实施正向通电或反向通电，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的基准位置(增益基准位置)(步骤S13A永久磁性体定位步骤)。
步骤S13A之后，控制部主体2232经由信号线Si2对光束检测装置110输出预定的控制信号，使光束检测装置110检测从修正用光源装置230射出且经过光学光阑装置5后的光束的光量LX(步骤S13B光束检测步骤)。然后，光束检测装置110将与所检测到的光束的检测光量LX相应的信号输出给控制部主体2232。
步骤S13B之后，实施和上述第1实施方式中所说明的步骤S4C～S4G大致相同的处理。也就是说，控制部主体2232对存储器1233中所存储的最大光量信息和由光束检测装置110所检测到的检测光量LX进行比较(步骤S13C、S13F)，按照比较结果来适当变更增益修正参数(步骤S13D、S13G)，使变更后的增益修正参数存储于修正参数存储部5913中(步骤S13E)。
而且，上述的步骤S12C～S12G、S13C～S13G相当于本发明所涉及的参数更新步骤。
通过上面的步骤S11～S13，修正参数的校正就得以结束。
在上述的第2实施方式中，除了和上述第1实施方式大致相同的效果之外，还有下面的效果。
由于本实施方式的修正参数校正装置200在将光学光阑装置5组装起来的状态下，根据从修正用光源装置230射出且经过光学光阑装置5后的光束的光量，来更新修正参数，因而不需要在对投影机1装载了光学光阑装置5的状态下更新修正参数，而可以使用光学光阑装置5单体和修正参数校正装置200来更新修正参数，能谋求更新修正参数时作业空间的高效化。
另外，由于修正用光源装置230由固体发光元件来构成，因而例如与作为修正用光源装置230采用放电发光型光源灯的结构相比较，能谋求修正参数校正装置200的小型、轻质化。另外，由于可以使修正用光源装置230射出亮度稳定的光束，因而通过根据亮度稳定的光束的光量来更新修正参数，就能够以高准确度校正修正参数。
〔第3实施方式〕下面，根据
本发明的第3实施方式。
还有，在下面的说明中，对于和已经说明的部分相同的部分，附上相同的符号而省略其说明。
在上述第1实施方式中，修正参数校正装置100在将投影机1组装起来之后，通过使投影机1进行适当驱动，来校正修正参数。另外，根据由光束检测装置110所检测到的检测光量LX，来校正修正参数。
相对于此，在第3实施方式中，修正参数校正装置300通过使用光学光阑装置5单体，使光学光阑装置5进行适当驱动，来校正修正参数。另外，修正参数校正装置300具备机械式光阑驱动装置340，其和光学光阑装置5进行机械连接，以机械方式使各遮光叶片52位于成为预定开口面积的位置。而且，在由机械式光阑驱动装置340，使各遮光叶片52位于成为预定开口面积的位置的状态下，校正修正参数，以使位置传感器59输出与上述预定开口面积对应的设计上的输出值。也就是说，本实施方式相对于上述第1实施方式来说，只是修正参数校正装置300的结构不同，其他的投影机1的结构则和上述第1实施方式相同。
图14是模式表示第3实施方式中的修正参数校正装置300的控制结构的框图。
修正参数校正装置300如图14所示，相对于上述第1实施方式中所说明的修正参数校正装置100而言，不同之处只是，省略了光束检测装置110、具备机械式光阑驱动装置340以及与控制装置123对应的控制装置323的控制结构。
机械式光阑驱动装置340例如采用电动机等来构成，并且和光学光阑装置5中的光阑环56进行机械连接，通过驱动使光阑环56进行转动。也就是说，通过驱动机械式光阑驱动装置340，使光阑环56进行转动，使各遮光叶片52位于成为预定开口面积的位置。
控制装置323按照来自操作部121的操作信号的输入，执行预定的程序，使机械式光阑驱动装置340进行适当驱动，并根据从位置传感器59输出的输出值，将偏移修正参数及增益修正参数更新为最佳的值。该控制装置323如图14所示，具备接口部3231、控制部主体3232及存储器3233。
接口部3231和光学光阑装置5(位置传感器59)经由信号线Si3进行连接，对从控制部主体3232输入的信号执行预先所设定的输出接口处理，将其输出给位置传感器59。
另外，接口部3231将从位置传感器59输出的信号转换成可由控制部主体3232处理的信号，并输出给控制部主体3232。
再者，接口部3231和机械式光阑驱动装置340经由信号线Si4进行连接，对从控制部主体3232输入的信号执行预先所设定的输出接口处理，将其输出给机械式光阑驱动装置340。
存储器3233存储由控制部主体3232执行的程序、由控制部主体3232使用的基准输出值信息及驱动值信息。
具体而言，上述基准输出值信息是设计偏移电压值信息、设计最大输出电压值信息及设计最小输出电压值信息，该设计偏移电压值信息是永久磁性体582时位于开口面积为中间开口面积Smid的位置时、与从位置传感器59输出的设计上的偏移电压值有关的信息，该设计最大输出电压值信息是永久磁性体582位于开口面积为最大开口面积Smax的位置时、与从位置传感器59输出的设计上的最大输出电压值有关的信息，该设计最小输出电压值信息是永久磁性体582位于开口面积为最小开口面积Smin的位置时、与从位置传感器59输出的设计上的最小输出电压值有关的信息。另外，这些设计偏移电压值信息、设计最大输出电压值信息及设计最小输出电压值信息是与对设计上的偏移电压值Vdd/2、最大输出电压值Vdd及最小输出电压值0考虑了预定允许值P的预定范围有关的信息。更为具体而言，设计偏移电压值信息是与Vdd/2-P～Vdd/2+P的范围有关的信息，设计最大输出值信息是与Vdd-P～Vdd+P的范围有关的信息，设计最小输出值信息是与P以下的范围有关的信息。
也就是说，存储器3233相当于本发明所涉及的输出值信息存储部。
另外，上述驱动值信息是与驱动机械式光阑驱动装置340时的驱动值(如果机械式光阑驱动装置340采用脉冲电动机等来构成，则是脉冲值等)有关的信息。更为具体而言，上述驱动值信息由中间驱动值信息、最大驱动值信息、最小驱动值信息构成，该中间驱动值信息是与用来使各遮光叶片52位于开口面积为中间开口面积Smid的位置的机械式光阑驱动装置340的中间驱动值有关的信息，该最大驱动值信息或最小驱动值信息是与用来使各遮光叶片52位于开口面积为最大开口面积Smax或最小开口面积Smin的位置的机械式光阑驱动装置340的最大驱动值或最小驱动值有关的信息。
控制部主体3232包括CPU等来构成，按照由操作人员做出的对操作部121的输入操作，从存储器3233读取预定的程序，执行预定的处理，使机械式光阑驱动装置340驱动而使各遮光叶片52位于成为预定开口面积的基准位置，并且根据从位置传感器59输出的信号，将偏移修正参数及增益修正参数更新为最佳的值。
而且，控制部主体3232相当于本发明所涉及的机械式光阑驱动控制部及参数更新部。
下面，根据附图，来说明利用上述修正参数校正装置300的修正参数校正方法。
图15是说明第3实施方式中利用修正参数校正装置300的修正参数校正方法的流程图。
还有，在实施下面的修正参数校正方法之前，其状态为，光学光阑装置5在全部组装起来的状态下，使光阑环56和机械式光阑驱动装置340进行机械连接，使位置传感器59和接口部3231经由信号线Si3进行连接。另外，其状态为，机械式光阑驱动装置340和接口部3231经由信号线Si4进行连接。再者，使光学光阑装置5的光阑环56位于预定的转动位置，并且使各遮光叶片52位于成为预定开口面积(例如，最小开口面积Smin、最大开口面积Smax)的位置。
首先，修正参数校正装置300的控制部主体3232，若对操作部121实施了表示校正修正参数的内容的输入操作，则按照预定的程序，如下所示对修正参数进行校正。
也就是说，首先控制部主体3232对偏移修正参数进行校正(步骤S21)。
具体而言，图16是说明偏移修正参数校正方法的流程图。
首先，控制部主体3232读取存储器3233中所存储的中间驱动值信息，并将基于中间驱动值信息的中间驱动值输出给机械式光阑驱动装置340。然后，机械式光阑驱动装置340使光阑环56按与中间驱动值相应的转动量转动，使各遮光叶片52位于开口面积成为中间开口面积Smid的基准位置(偏移基准位置)(步骤S21A遮光叶片定位步骤)。
步骤S21A之后，控制部主体3232对存储器3233中所存储的设计偏移电压值信息和从位置传感器59输出的输出值V进行比较。
具体而言，首先控制部主体3232判定输出值V是否为基于设计偏移电压值信息的Vdd/2-P以上(步骤S21B)。
在步骤S21B中，控制部主体3232在判定为“否”时，也就是判定出输出值V未达到Vdd/2-P时，使位置传感器59的修正参数存储部5913中所存储的偏移修正参数增加(步骤S21C)，使变更后的偏移修正参数存储于修正参数存储部5913中(步骤S21D)。
更为具体而言，在步骤S21B中，作为判定出输出值V未达到Vdd/2-P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在各遮光叶片52位于成为中间开口面积Smid的偏移基准位置时，从位置传感器59输出下述输出值的状态，该输出值比对设计上的偏移电压值Vdd/2考虑了允许值P的值小。
然后，在步骤S21D之后，再次回到步骤S21B，直到在步骤S21C中判定为“是”为止，也就是直到判定为输出值V为Vdd/2-P以上为止，反复实施上述的步骤S21B～步骤S21D。也就是说，在步骤S21C及步骤S21D中，通过使偏移修正参数得到增加并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的偏移修正参数来实施上述的偏移修正。而且，通过该偏移修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出Vdd/2-P以上的输出值V。
在步骤S21B中，控制部主体3232在判定为“是”时，也就是判定出输出值V为Vdd/2-P以上时，接着判定输出值V是否为基于设计偏移值信息的Vdd/2+P以下(步骤S21E)。
在步骤S21E中，控制部主体3232在判定为“否”时，也就是判定出输出值V超过Vdd/2+P时，使修正参数存储部5913中所存储的偏移修正参数减少(步骤S21F)。然后，在步骤S21D中，使变更后的偏移修正参数存储于修正参数存储部5913中。
更为具体而言，在步骤S21E中，作为判定出输出值V超过Vdd/2+P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在各遮光叶片52位于成为中间开口面积Smid的偏移基准位置时，从位置传感器59输出下述输出值的状态，该输出值比对设计上的偏移电压值Vdd/2考虑了允许值P的值大。
在步骤S21F中使偏移修正参数减少，在步骤S21D中重写偏移修正参数，之后再次回到步骤S21B，直到在步骤S21F中判定为“是”为止，也就是直到判定出输出值V为Vdd/2+P以下为止，反复实施上述的步骤S21B～步骤S21F。也就是说，在步骤S21F及步骤S21D中，通过使偏移修正参数得到减少并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的偏移修正参数来实施上述的偏移修正。而且，通过该偏移修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出Vdd/2+P以下的输出值V。
通过上面的偏移修正参数校正(步骤S21)，当各遮光叶片52位于成为中间开口面积Smid的偏移基准位置时，使来自霍尔元件5911的输出值V进入大于等于Vdd/2-P且小于等于Vdd/2+P的范围内。
步骤S21之后，控制部主体3232对增益修正参数进行校正(步骤S22)。
具体而言，图17是说明增益修正参数校正方法的流程图。
首先，控制部主体3232读取存储器3233中所存储的最大驱动值信息，并将基于最大驱动值信息的最大驱动值输出给机械式光阑驱动装置340。然后，机械式光阑驱动装置340使光阑环56按与最大驱动值相应的转动量转动，使各遮光叶片52位于开口面积为最大开口面积Smax的基准位置(增益基准位置)(步骤S22A遮光叶片定位步骤)。
步骤S22A之后，控制部主体3232对存储器3233中所存储的设计最大输出电压值信息和从位置传感器59输出的输出值V进行比较。
具体而言，首先控制部主体3232判定输出值V是否为基于设计偏移电压值信息的Vdd-P以上(步骤S22B)。
在步骤S22B中，控制部主体3232在判定为“否”时，也就是判定出输出值V未达到Vdd-P时，使位置传感器59的修正参数存储部5913中所存储的增益修正参数增加(步骤S22C)，使变更后的增益修正参数存储于修正参数存储部5913中(步骤S22D)。
更为具体而言，在步骤S22B中，作为判定出输出值V未达到Vdd-P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在各遮光叶片52位于成为最大开口面积Smax的增益基准位置时，从霍尔元件5911输出下述输出值的状态，该输出值比对设计上的最大输出电压值Vdd考虑了允许值P的值小。
然后，步骤S22D之后，再次回到步骤S22B，直到在步骤S22C中判定为“是”为止，也就是直到判定出输出值V为Vdd-P以上为止，反复实施上述的步骤S22B～步骤S22D。也就是说，在步骤S22C及步骤S22D中，通过使增益修正参数得到增加并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的增益修正参数来实施上述的增益修正。而且，通过该增益修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出为Vdd-P以上的输出值V。
在步骤S22B中，控制部主体3232在判定为“是”时，也就是判定出输出值V为Vdd-P以上时，接着判定输出值V是否为基于设计最大输出电压值信息的Vdd+P以下(步骤S22E)。
在步骤S22E中，控制部主体3232在判定为“否”时，也就是判定出输出值V超过Vdd+P时，使修正参数存储部5913中所存储的增益修正参数减少(步骤S22F)。然后，在步骤S22D中，使变更后的增益修正参数存储于修正参数存储部5913中。
更为具体而言，在步骤S22E中，作为判定出输出值V超过Vdd+P的状态，是由于在光学光阑装置5中产生的上述制造误差，因而在各遮光叶片52位于成为最大开口面积Smax的增益基准位置时，从霍尔元件5911输出下述输出值的状态，该输出值比对设计上的最大输出电压值Vdd考虑了允许值P的值大。
在步骤S22F中使增益修正参数减少，在步骤S22D中重写增益修正参数，之后再次回到步骤S22B，直到在步骤S22F中判定为“是”为止，也就是直到判定出输出值V为Vdd+P以下为止，反复实施上述的步骤S22B～步骤S22F。也就是说，在步骤S22F及步骤S22D中，通过使增益修正参数得到减少并被重写，输出特性修正部5912根据重写后的增益修正参数来实施上述的增益修正。而且，通过该增益修正，霍尔元件5911的输出特性得到修正，使得从霍尔元件5911输出Vdd+P以下的输出值V。
通过上面的增益修正参数校正(步骤S22)，当各遮光叶片52位于成为最大开口面积Smax的增益基准位置时，来自霍尔元件5911的输出值V进入到大于等于Vdd-P且小于等于Vdd+P的范围内。另外，如上所述就增益修正而言，由于霍尔元件5911的输出特性的斜度以偏移电压值Vof为基准进行变更，因而在永久磁性体582位于各遮光叶片52形成为最小开口面积Smin的位置时，从霍尔元件5911输出下述输出值V，该输出值进入基于设计最小输出电压值信息的P以下的范围。也就是说，通过校正增益修正参数，和上述第1实施方式相同，霍尔元件5911的输出特性被修正为与存储器64中所存储的开口面积-电压值关联信息对应的输出特性。
而且，上述的步骤S21B～S21F、S22B～S22F相当于本发明所涉及的参数更新步骤。
通过上面的步骤S21、S22，修正参数就得以校正。
在上述的第3实施方式中，除了和上述第1实施方式大致相同的效果之外，还有下面的效果。
由于本实施方式的修正参数校正装置300在将光学光阑装置5组装起来的状态下，使用机械式光阑驱动装置340使各遮光叶片52位于预定的基准位置，并根据从位置传感器59输出的输出值，来更新修正参数，因而不需要在对投影机1装载了光学光阑装置5的状态下更新修正参数，而可以使用光学光阑装置5单体和修正参数校正装置300来更新修正参数，能谋求更新修正参数时作业空间的高效化。另外，与向光学光阑装置5射出光束并根据经过光学光阑装置5后的光束来更新修正参数的结构相比较，不依赖于作业环境，而可以良好地校正修正参数。
还有，本发明并不限定为上述的实施方式，可以达到本发明目的的范围内的变形、改良等均包括于本发明中。
在上述各实施方式中，虽然在位置传感器59中设置了修正参数存储部5913，但是不限于此，例如也可以在投影机1的控制装置6中设置和修正参数存储部5913相同的修正参数存储部。然后，位置传感器59的输出特性修正部5912读取控制装置6中所设置的修正参数存储部内所存储的修正参数，实施偏移修正或增益修正。
在上述各实施方式中，光学光阑装置5的结构不限于上述各实施方式中所说明的结构，而也可以采用其他结构的光学光阑装置。
在上述第1实施方式及上述第2实施方式中，当校正增益修正参数时，在永久磁性体定位步骤S4A、S13A中，使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最大输出电压值Vdd的增益基准位置。另外，在步骤S4C、S13C、S4F及S13F中，对最大光量信息和检测光量LX进行了比较。不限于此结构，在上述各步骤中，也可以使永久磁性体582位于从位置传感器59输出最小输出电压值0的增益基准位置，并且对最小光量信息和检测光量LX进行比较。
同样，在上述第3实施方式中，当校正增益修正参数时，在遮光叶片定位步骤S22A中，使各遮光叶片52位于成为最大开口面积Smax的增益基准位置。另外，在步骤S22B、S22E中，对设计最大输出值信息和输出值V进行了比较。不限于此结构，在上述各步骤中，也可以使各遮光叶片52位于成为最小开口面积Smin的增益基准位置，并且对设计最小输出值信息和输出值V进行比较。
在上述各实施方式中，虽然光学光阑装置5配设于第1透镜阵列412和第2透镜阵列413之间，但是不限于此，只要是光源装置411和第1透镜阵列412之间等从光源装置411射出、到各液晶面板441的光束的光路中，配设于任何位置都可以。
在上述各实施方式中，虽然说明了使用3个液晶面板441的投影机1，但是不限于此。例如，也可以适用于只使用1个液晶面板的投影机、使用2个液晶面板的投影机或者使用4个以上液晶面板的投影机。
在上述各实施方式中，虽然光学组件4具有平面看大致L状的形状，但是也可以采用其他的形状，例如也可以取为平面看大致U状的形状。
在上述实施方式中，虽然只说明了从观看屏幕的方向进行投影的正投式投影机的例子，但是对于本发明来说，也可以使用于从和观看屏幕的方向相反侧进行投影的背投式投影机。
在上述各实施方式中，虽然作为光调制装置采用了透射型的液晶面板441，但是不限于此，也可以采用反射型的液晶面板、数字微镜器件(德克萨斯仪器公司的商标)以及利用光衍射现象的GLV(Grating Light Valve，栅格光阀)器件(Silicon Light Machines公司的商标)等。
在上述各实施方式中，虽然说明了将光学光阑装置5装载于投影机1中的结构，但是光学光阑装置5也可以采用下述结构，该结构不限于装载于投影机1，而装载到其他的光学设备如相机等中。另外，在将光学光阑装置5装载到相机中时，除了作为光阑装置使用的结构之外，还可以作为透镜快门等来使用。
用来实施本发明的最佳结构等虽然在上述的记述中进行了公示，但是本发明并不限定于此。也就是说，本发明主要对于特定的实施方式特别进行了图示及说明，而在不脱离本发明的技术构思及目的范围的状况下，可以对上面所述的实施方式，在形状、材料性质、数量及其他详细结构上，由从业人员加以各种各样的变形。
因而，限定了上面所公示的形状、材料性质等的记述是为了易于理解本发明所示例记述的，并不用来限定本发明，因此这些形状、材料性质等限定一部分或全部限定之外的部件名称上的记述，均包括在本发明内。
本发明的光学光阑装置因为能谋求结构的简单化，并且能够以高准确度使遮光叶片进行移动来实现稳定的驱动，所以作为使用于展示、家庭影院中的投影机的光学光阑装置，是有用处的。
权利要求
1.一种光学光阑装置，其调整所入射的光束的光量，其特征为，具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件和输出特性修正部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性。
2.根据权利要求1所述的光学光阑装置，其特征为上述修正参数是偏移修正参数，用来使对规定电压值的上述永久磁性体的位置产生偏移，来修正输出特性，以便在上述永久磁性体位于上述开口面积为预定开口面积的规定位置的状态下，上述磁元件输出预定的上述规定电压值。
3.根据权利要求1或2所述的光学光阑装置，其特征为上述修正参数是增益修正参数，用来修正输出特性，以便在使上述永久磁性体位于下述范围时，上述磁元件对应于上述永久磁性体的上述范围内的各位置，输出设计上的各设计电压值，该范围为从上述开口面积为最小开口面积的第1位置到上述开口面积为最大开口面积的第2位置。
4.根据权利要求1到3中任一项所述的光学光阑装置，其特征为上述位置检测部具备修正参数存储部，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；上述输出特性修正部读取在上述修正参数存储部所存储的上述修正参数，基于所读取的上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性。
5.一种投影机，其具备光源装置；光调制装置，其对从上述光源装置所射出的光束进行调制；和投影光学装置，其放大投影由上述光调制装置所调制的光束；其特征为，具备权利要求1到4中任一项所述的光学光阑装置，其配设于从上述光源装置射出、到上述光调制装置的光束的光路中，调整从上述光源装置向上述光调制装置照射的光束的光量；和控制装置，其基于来自上述位置检测部的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制。
6.根据权利要求5所述的投影机，其特征为上述控制装置具备修正参数存储部，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数，上述输出特性修正部读取在上述修正参数存储部所存储的上述修正参数，基于所读取的上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性。
7.一种修正参数校正装置，其用于下述投影机，用来校正修正参数，该投影机具备光源装置；光调制装置，其对从上述光源装置所射出的光束进行调制；投影光学装置，其放大投影由上述光调制装置所调制的光束；光学光阑装置，其配设于从上述光源装置射出、到上述光调制装置的光束的光路中，调整从上述光源装置向上述光调制装置照射的光束的光量；以及投影机侧控制装置，其对上述光源装置、上述光调制装置及上述光学光阑装置进行驱动控制；该修正参数校正装置的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；上述投影机侧控制装置基于来自上述位置检测部的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制；该修正参数校正装置具备校正侧控制装置，其对上述投影机侧控制装置输出预定的控制指令，对上述投影机进行驱动控制；和光束检测装置，其检测从上述投影机所放大投影的光学像的光量，输出与上述光量有关的检测光量信息；上述校正侧控制装置，具备光量信息存储部，其存储与作为基准的基准光量有关的基准光量信息；输出值信息存储部，其存储与作为基准的基准输出值有关的基准输出值信息；光源驱动控制部，其使上述投影机侧控制装置对上述光源装置进行驱动控制，使得从上述光源装置射出光束；光阑驱动控制部，其使上述投影机侧控制装置对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于下述位置，该位置为从上述位置检测部输出基于上述基准输出值信息的基准输出值的基准位置；以及参数更新部，其使得基于从上述光束检测装置输出的检测光量信息的检测光量与基于上述基准光量信息的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
8.一种修正参数校正装置，其用于调整入射光束的光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，其特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正装置具备修正用光源装置，其朝向上述光学光阑装置射出光束；光束检测装置，其检测从上述修正用光源装置射出、经过上述光学光阑装置后的光束的光量；和校正侧控制装置，其对上述修正用光源装置及上述电磁致动器进行驱动控制；上述校正侧控制装置，具备光量信息存储部，其存储与作为基准的基准光量有关的基准光量信息；输出值信息存储部，其存储与作为基准的基准输出值有关的基准输出值信息；光源驱动控制部，其使上述修正用光源装置射出光束；光阑驱动控制部，其基于从上述位置检测部输出的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于下述位置，该位置为从上述位置检测部输出基于上述基准输出值信息的基准输出值的基准位置；以及参数更新部，其使得基于从上述光束检测装置所输出的检测光量信息的检测光量与基于上述基准光量信息的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
9.根据权利要求8所述的修正参数校正装置，其特征为上述修正用光源装置由固体发光元件构成。
10.一种修正参数校正装置，其用于调整入射光束的光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，其特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正装置具备机械式光阑驱动装置，其与上述光学光阑装置进行机械连接，通过进行驱动使上述遮光叶片位于预定位置；和校正侧控制装置，其对上述机械式光阑驱动装置进行驱动控制；上述校正侧控制装置，具备输出值信息存储部，其存储与作为基准的基准输出值有关的基准输出值信息；机械式光阑驱动控制部，其使上述机械式光阑驱动装置进行驱动，使上述遮光叶片位于预定的基准位置；以及参数更新部，其使得从上述位置检测部所输出的输出值与基于上述基准输出值信息的基准输出值大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
11.一种利用修正参数校正装置的修正参数校正方法，该修正参数校正装置用于下述投影机，用来校正上述修正参数，该投影机具备光源装置；光调制装置，其对从上述光源装置所射出的光束进行调制；投影光学装置，其放大投影由上述光调制装置所调制的光束；光学光阑装置，其配设于从上述光源装置射出、到上述光调制装置的光束的光路中，调整从上述光源装置向上述光调制装置照射的光束的光量；以及投影机侧控制装置，其对上述光源装置、上述光调制装置及上述光学光阑装置进行驱动控制；该修正参数校正方法的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；上述投影机侧控制装置基于来自上述位置检测部的输出值，对上述电磁致动器进行驱动控制；该修正参数校正方法，包括光束射出步骤，其中，使上述投影机侧控制装置对上述光源装置进行驱动控制，使得从上述光源装置射出光束；永久磁性体定位步骤，其中，使上述投影机侧控制装置对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于从上述位置检测部输出作为基准的基准输出值的基准位置；光束检测步骤，其中，检测从上述投影机放大投影的光学像的光量；以及参数更新步骤，其中，使得通过上述光束检测步骤所检测到的检测光量与作为基准的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
12.一种利用修正参数校正装置的修正参数校正方法，该修正参数校正装置用于调整入射光束的光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，该修正参数校正方法的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正方法，包括光束射出步骤，其中，朝向上述光学光阑装置射出光束；永久磁性体定位步骤，其中，对上述电磁致动器进行驱动控制，使上述永久磁性体位于从上述位置检测部输出作为基准的基准输出值的基准位置；光束检测步骤，其中，检测经过上述光学光阑装置后的光束的光量；以及参数更新步骤，其中，使得通过上述光束检测步骤所检测到的检测光量与作为基准的基准光量大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
13.一种利用修正参数校正装置的修正参数校正方法，该修正参数校正装置用于调整入射光束的光量的光学光阑装置，用来校正修正参数，该修正参数校正方法的特征为，上述光学光阑装置具备遮光叶片，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过上述光束的开口面积，调整上述光束的光量；电磁致动器，其具有流通电流的线圈及永久磁性体，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对上述线圈进行移动，与上述遮光叶片连接而使上述遮光叶片进行移动，上述电磁力是由在上述线圈所流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；以及位置检测部，其具有磁元件、输出特性修正部及修正参数存储部，该磁元件相应于来自上述永久磁性体的磁场的强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数，基于上述修正参数来修正上述磁元件的输出特性，该修正参数存储部能重写地存储上述修正参数；该修正参数校正方法，包括遮光叶片定位步骤，其中，使上述遮光叶片位于预定的基准位置；和参数更新步骤，其中，使得从上述位置检测部输出的输出值与作为基准的基准输出值大致相同地，更新在上述修正参数存储部所存储的修正参数。
全文摘要
本发明的光学光阑装置(5)具备遮光叶片(52)，其移动自如地构成，通过移动来变更可通过光束的开口面积，调整光束的光量；电磁致动器(58)，其具有流通电流的电磁线圈(581)及永久磁性体(582)，该永久磁性体使磁通发生，利用电磁力相对电磁线圈(581)进行移动，与遮光叶片(52)连接使遮光叶片(52)进行移动，上述电磁力是由在电磁线圈(581)流通的电流和上述磁通之间的相互作用而产生的；和位置传感器(59)，具有磁元件及输出特性修正部，该磁元件相应于来自永久磁性体的磁场强度输出预定的电压，该输出特性修正部取得预定的修正参数并根据修正参数来修正磁元件的输出特性。
文档编号H02K33/18GK1991561SQ200610171498
公开日2007年7月4日 申请日期2006年12月28日 优先权日2005年12月29日
发明者竹内启佐敏, 饭坂英仁 申请人:精工爱普生株式会社