专利名称：一种阳极超低型测试转接器的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种测试转接器，具体涉及一种阳极超低型测试转接器。 技术背景随着通讯技术的发展，各种使用于微波通信、移动通信、精密测试仪器等设备中的 连接器在结构上不断地增加自主开发的各种元素，然而各连接器制造商自主开发后带来了 非标准的各种连接器产品，存在各种性能测试困难的困惑。
发明内容为了克服上述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供了一种阳极超低型测 试转接器，能够测试非标准连接器的性能，结构简单，使用方便，具有测试成本低的优点。为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种阳极超低型测试转接器，包括内导体1，内导体1和外导体3通过绝缘体2连 接成整体，内导体1的一端为阳极超低端口 4，另一端为标准接口 5，内导体1的内部为倒刺 结构A，外部为阶梯外圆结构，转接器的整体长度比普通N型简短至少3. 9mm。所述的内导体1与绝缘体2为过盈配合。所述的绝缘体2与外导体3为过盈配合。本实用新型工作原理为将非标准连接器的测试端和阳极超低端口 4连接，信号经内导体1从阳极超低端 口 4转至标准接口 5，实现阳极超低型连接器的性能测试。由于本实用新型能够对非标准连接器进行性能测试，结构简单，使用方便，故而具 有测试成本低的优点。
图1为本实用新型的结构示意图。图2为内导体1的阶梯外圆结构示意图。图3为内导体1的倒刺结构位置示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型作进一步描述。参照图1、2、3，一种阳极超低型测试转接器，包括内导体1，内导体1和外导体3通 过绝缘体2连接成整体，内导体1的一端为阳极超低端口 4，另一端为标准接口 5，内导体1 的内部为倒刺结构A，外部为阶梯外圆结构，S卩内导体1的一端为锥形头6，锥形头6和第 一柱形体7相接，第一柱形体7的另一端和锥形台8的大端头相接，锥形台8的小端头和第 二柱形体9相接，第二柱形体9的另一端和第三柱形体10的一端相接，第一柱形体7的外 圆直径和锥形头6的锥底直径相同，锥形台8的大端头的直径大于第一柱形体7的外圆直径，锥形台8的小端头直径等于第一柱形体7的外圆直径，第二柱形体9的直径等于第一柱 形体7的外圆直径，第三柱形体10的外圆直径小于第一柱形体7的外圆直径，转接器的整 体长度比普通N型产品缩短至少3. 9mm。所述的内导体1与绝缘体2为过盈配合。所述的绝缘体2与外导体3为过盈配合。本实用新型工作原理为将非标准连接器的测试端和阳极超低端口 4连接，信号经内导体1从阳极超低端 口 4转至标准接口端口 5，实现阳极超低型连接器的性能测试。附图中1为内导体；2为绝缘体；3为外导体；4为阳极超低端口 ；5为标准接口 ；A 为倒刺结构；6为锥形头；7为第一柱形体；8为锥形台；9为第二柱形体；10为第三柱形体。
权利要求1.一种阳极超低型测试转接器，包括内导体(1)，内导体(1)和外导体C3)通过绝缘体 (2)连接成整体，其特征在于内导体(1)的一端为阳极超低端口 G)，另一端为标准接口 (5)，内导体⑴的内部为倒刺结构(A)，外部为阶梯外圆结构，转接器的整体长度比普通N 型简短至少3. 9mm。
2.根据权利要求1所述的一种阳极超低型测试转接器，其特征在于所述的内导体(1) 与绝缘体( 为过盈配合。
3.根据权利要求1所述的一种阳极超低型测试转接器，其特征在于所述的绝缘体(2) 与外导体(3)为过盈配合。
专利摘要一种阳极超低型测试转接器，包括内导体，内导体和外导体通过绝缘体连接成整体，内导体的一端为阳极超低端口，另一端为标准接口，内导体的内部为倒刺结构，外部为阶梯外圆结构，转接器的整体长度缩短至少3.9mm，将非标准连接器的测试端和阳极超低端口连接，信号经内导体从阳极超低端口转至标准接口，实现阳极超低型连接器的性能测试，本实用新型能够对非标准连接器进行性能测试，结构简单，使用方便，具有测试成本低的优点。
文档编号H01R31/06GK201860016SQ201020527739
公开日2011年6月8日 申请日期2010年9月13日 优先权日2010年9月13日
发明者胡波 申请人:安费诺科耐特(西安)科技有限公司