专利名称：84线1.27节距陶瓷无引线片式载体老化测试插座的利记博彩app
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对84线陶瓷无引线片式 载体元器件可靠性进行高温老化筛选试验和性能测试的插座；本实用新型属电子信息技术 微电子元器件可靠性领域。
背景技术：
目前，在我国电子元器件可靠性技术领域，公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅 为-25°c +85°C，工作时间短、引线根数少、接触件节距宽、结构简单，存在着与被测器件 之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量 筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对 配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、 通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的集成电路、微电子元器件，尚无高低温老化、测 试、筛选及可靠性试验的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂 贵，国家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重 要产品还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。
发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不 足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元器件在线通电状态下进行高低 温老化、测试、筛选及可靠性试验的84线1. 27节距陶瓷无引线片式载体老化测试插座。该 插座不仅能将老化工作温度范围从_25°C +85°C扩展到-55°C +150°C，一次老化连续工 作时间长达1500h(150°C )以上，插拔寿命8000次以上，而且在对被测试器件进行高温老 化试验和性能测试过程中，具有接触件细节距、引线根数多、接触电阻小、一致性好、可靠性 高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是插座采用当前最先进的零插拔力 翻盖式结构，由基座、盖、接触件和钩即锁紧装置四大部分组成，各部分间以轴和扭簧相连 接。插座基座四边分布有数个狭长型小空腔，用于容纳插座接触件。空腔底部为贯穿式， 贯穿处孔径以接触件线径为准，紧密配合。接触件采用弹性结构曲梁式设计及硬金层技术 表面镀金，由轴向对称的84线、1. 27mm间距的镀金簧片四面排列组成，嵌入基座，顶端露出 于基座内，用于与被测试元器件引线连接，末端从基座贯穿处引出，用于连接线路板。接触 件的弹性结构设计，可根据被测试器件厚度实现上下位移。基座中心处有方形或长方形较 大空腔，用于容纳被测试器件，大空腔四个角上分布有四个定位装置，可与被测试器件尺寸 紧密配合，防止器件因滑动引起的接触不良。锁紧装置采用“丁”型弯钩设计，在插座闭合 后起连接固定作用。插座处于非工作状态时，基座和盖在连接处扭簧作用力下，处于张开状 态。放入被测试器件后，在基座四角定位装置的控制下，保证了被测试器件引线与插座接触件的一一对应。下按插座盖，插座锁紧装置可自动将盖个底座锁紧，此时插座即处于工作状 态，实现对电子元器件的测试、老化、筛选功能。使用结束后，只需轻按插座钩顶端，插座即 可处于张开状态，取出器件，进行下一轮测试或老化工作。这种翻盖扣紧式机构把插座设计 成零插拔力的结构，避免了在插拔过程中对被试器件损伤，同时该结构可以避免插座过程 磨损插座接触件电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中 的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点。本实用新型的有益效果是可以满足军民两用84线和其它同类陶瓷四边无引线 片式载体元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外 汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和军事效益。
以下结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。图2是本实用新型外型结构俯视图。图1 :1钩、2扭簧、3盖、4扭簧、5轴、6基座、7前脚接触件、8后脚接触件具体实施方式
在图1中，先将接触件即前脚接触件(7)和后脚接触件(8)按与被试器件引出线 相对应结构插入基座(6)中；再将轴(5)、钩1和扭簧( 装入插座体的盖C3)之中；最后 将装好的盖(3)、扭簧(4)和轴( 一起装入插座体的座(6)中。该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，同时还起着压紧装置的作用，当钩受 力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出 端相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插座体的座中。
权利要求1.一种84线1. 27节距陶瓷无引线片式载体老化测试插座，其特征是插座采用零插 拔力翻盖式结构，由基座(6)、盖(3)、接触件(7)、(8)和钩(1)即锁紧装置四大部分组成， 接触件(7)、(8)采用弹性结构曲梁式设计及硬金层技术表面镀金，由轴向对称的84线、 1.27mm间距的镀金簧片四面排列组成，锁紧装置采用“丁”型弯钩设计，各部分间以轴(5) 和扭簧O)、⑷相连接。
2.根据权利要求1所述的84线1.27节距陶瓷无引线片式载体老化测试插座，其特征 是插座基座(6)四边分布有数个狭长型小空腔，用于容纳接触件(7)、(8)，空腔底部为贯 穿式，贯穿处孔径以接触件(7)、⑶线径为准，紧密配合，接触件(7)、⑶嵌入基座(6)， 顶端露出于基座内，用于与被测试元器件引线连接，末端从基座贯穿处引出，用于连接线路 板。
专利摘要插座采用当前最先进的零插拔力翻盖式，由基座、盖、接触件和钩既锁紧装置四大部分组成，各部分间以轴和扭簧相连接。插座基座四边分布有数个狭长型小空腔，空腔底部为贯穿式。接触件采用弹性结构曲梁式设计。基座中心处有方形或长方形较大空腔，大空腔四个角上分布有定位装置。锁紧装置采用“丁”型弯钩设计，在插座闭合后起连接固定作用。插座处于非工作状态时，基座和盖在连接处扭簧作用力下，处于张开状态。下按插座盖，插座锁紧装置可自动将盖、底座锁紧，此时插座即处于工作状态，实现对电子元器件的测试、老化、筛选。
文档编号H01R13/24GK201918562SQ20102028553
公开日2011年8月3日 申请日期2010年8月2日 优先权日2010年8月2日
发明者曹宏国 申请人:曹宏国