专利名称：多光轴光电传感器的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种利用构成投光器的多个投光元件和构成受光器的多个受光元件来形成多光轴的物体检测区域的多光轴光电传感器，特别是，本发明涉及一种实施了相互干涉对策的多光轴光电传感器。
背景技术：
通常，多光轴光电传感器，如图12所示，是由将多个投光元件3A排成一列而设置的投光器1A、和将与投光元件3A成对的相同数量的受光元件4A排成一列而设置的受光器2A构成的。
投光器1A和受光器2A相隔适当的距离而设置，使得成对的投光元件3A和受光元件4A一一成对地相对向。连接成对的投光元件3A和受光元件4A的光轴(图中用点划线表示)相互平行，而在投光器1A与受光器2A之间，通过平行的多个光轴，形成用于检测物体的有无的二维物体检测区域S。
通常，投光元件使用发光二极管，而受光元件使用光电二极管。各投光元件至少每回1次进行发光动作，但为了缩短判定物体的有无所需的时间，也可以使各投光元件每回多次连续进行发光动作。
这种多光轴光电传感器，在物体检测区域S内能够大范围地检测物体的存在与否，因此例如利用在冲压机械的安全装置等中。当人体闯入冲压机械的危险区域内时，有任意的光轴被人体遮挡而变为遮光状态。若变为该遮光状态的光轴例如存在一个以上时，发出物体检测信号而向机械的控制装置提供输出，紧急停止冲压机械的动作。
多光轴光电传感器对物体的检测错误，可能关系到人身事故而非常危险。诱发物体的检测错误的主要原因是干扰光。不论是否有任意的光轴被人体所遮挡，当干扰光入射到该光轴的受光元件时，就不会成为遮光状态，而不会发出物体检测信号。
图13是说明多个多光轴光电传感器A、B的设置例的图。
参照图13，向第1多光轴光电传感器A的受光器2A，不仅是入射来自其投光器1A的检出光a，而作为干扰光也入射来自第2多光轴光电传感器B的投光器1B的检出光b。在这样的情况下，在第1多光轴光电传感器A中，即使有任意的光轴被人体遮挡，只要第2多光轴光电传感器B的检出光b作为干扰光而入射到该光轴的受光元件，就不会成为遮光状态。另外，图中，与第2多光轴光电传感器B的投光器1B对应而示出了受光器2B。
但是，如上述这样的多光轴光电传感器，在生产现场接近设置多台的情况很多，在这样的情况下，有可能产生所谓的相互干涉。因此，目前为止，提出了很多种针对这样的相互干涉实施对策的多光轴光电传感器。
例如，在JP特开2002-217703号公报中，公开了一种多光轴光电传感器，该多光轴光电传感器是在各投光元件的发光动作定时附近检测与各投光元件的发光动作定时同步的干扰光，而在检测干扰光时，通过错开投光元件的发光动作定时，从而使由与各投光元件的发光动作定时同步的干扰光造成的物体的检测错误不会发生。
专利文献1为JP特开2002-217703号公报。
但是，上述公报所公开的各投光元件的发光动作定时、即投射接收光(投受光)周期的错开方式是将定时提前或者推迟规定的一定期间。
因此，根据情况，为了调整到合适的定时，也发生必须数次错开定时的情况，该期间可能会发生检测错误。也就是说，最好根据确认了相互干涉的状态来调整投受光周期是适当的。
发明内容
本发明是为了解决上述这样的问题而完成的，其目的是提供一种多光轴光电传感器，通过根据确认了相互干涉的状态而调整投受光周期，简单且有效地防止干扰光造成的物体的检测错误的发生。
本发明所述的多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其按每个光轴，针对投受光期间之前以及之后的至少任意一方的期间，进行仅进行受光的受光取样，而判定有无干扰光的入射；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过干扰光有无判定装置确认的受光传感头的干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过对应于由入射状态判别装置确认到干扰光的入射的光轴的位置，变更预定的下次的同步定时，从而使以后的周期的相位错开。
本发明所述的另外的多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其按每个光轴，针对投受光期间之前以及之后的至少任意一方的期间，进行仅进行受光的受光取样，而判定有无干扰光的入射；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过干扰光有无判定装置确认的受光传感头的干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过变更与由入射状态判别装置依次连续确认到干扰光的入射的光轴数量相对应的期间、预定的下次的同步定时的开始，从而使以后的周期的相位错开。
本发明所述的又一另外的多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其针对规定的周期的多次进行一次受光取样，而判定有无干涉光的入射，该受光取样是按每个光轴，在与周期的投受光期间对应的期间，从排列的一端向另一端依次仅进行受光；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过干扰光有无判定装置确认的受光传感头的干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过对应于由入射状态判别装置确认到干扰光的入射的光轴的位置，变更预定的下次的同步定时，从而使以后的周期的相位错开。
本发明所述的又一另外的多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其针对规定的周期的多次进行一次受光取样，而判定有无干涉光的入射，该受光取样是按每个光轴，在与周期的投受光期间对应的期间，从排列的一端向另一端依次仅进行受光；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过干扰光有无判定装置确认的受光传感头的干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过变更与由入射状态判别装置依次连续确认到干扰光的入射的光轴数量相对应的期间、预定的下次的同步定时的开始，从而使以后的周期的相位错开。
本发明所述的又一另外的多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其按每个光轴，针对投受光期间之前以及之后的至少任意一方的期间，进行仅进行受光的受光取样，而判定有无干扰光的入射；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过干扰光有无判定装置确认的受光传感头的干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过入射状态判别装置，对于依次进行受光取样的全部的光轴，将判别干扰光的入射状态的期间作为全部期间，在该全部期间中的前半期间确认到干扰光的入射状态时，将预定的下次的同步定时延迟而进行设定，而在前半期间之后的后半期间中确认到干扰光的入射状态时，将预定的下次的同步定时提前而进行设定。
特别是，前半期间被分为第1次级前半期间以及第1次级前半期间之后的第2次级前半期间，周期变更装置，在入射状态判别装置中，在第1次级前半期间中确认到干扰光的入射状态时，将预定的下次的同步定时从规定期间延迟第1定时期间而进行设定，而在第1以及第2次级前半期间中确认到干扰光的入射状态时，将从规定期间延迟比第1定时期间长的第2定时期间而进行设定，后半期间被分为第1次级后半期间以及第1次级后半期间之后的第2次级后半期间，周期变更装置，在入射状态判别装置中，在第2次级后半期间中确认到干扰光的入射状态时，将预定的下次的同步定时从规定期间提前第3定时期间而进行设定，而在第1以及第2次级后半期间中确认到干扰光的入射状态时，将预定的下次的同步定时从规定期间提前比第3定时期间长的第4定时期间而进行设定。
特别是，周期变更装置，在入射状态判别装置中，在第2次级前半期间以及第1及第2次级后半期间中确认到干涉光的入射状态时，将预定的下次的同步定时从规定期间提前大于等于第4定时的长的第5定时期间而进行设定，在第1及第2次级前半期间以及第1次级后半期间中确认到干涉光的入射状态时，将预定的下次的同步定时从规定期间延迟大于等于第2定时期间的长的第6定时期间而进行设定。
特别是，周期变更装置，通过入射状态判别装置，依次连续地确认到干扰光的入射的光轴数量越多，则使变更预定的下次的同步定时的开始的期间变得越大。
最好是，针对规定的周期的多次，暂停1次投受光期间中的各光轴的依次投光动作，而且，除了暂停投光动作的周期之外在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
最好是，除了进行仅进行受光的受光取样的周期之外，在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
特别是，多次的次数是以多次的周期为单位设定成随机的次数。
本发明所述的又一另外的多光轴光电传感器，包括排列多个投光器的投光传感头；排列多个受光器的受光传感头；监视装置，其按每个光轴使投受光期间同步而进行投受光动作，以规定的周期，基于检出光监视向规定的区域有无物体侵入，监视装置，针对规定的周期的多个，暂停1次投光动作，多次的次数是以多个的周期为单位设定成随机的次数，监视装置，除了暂停投光动作的周期之外，在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
最好是，其是检测到向前述规定区域侵入物体时，生成外部控制设备的动作停止信号的光帘。
最好是，其是根据检测到遮光的至少一个光轴，检测出前述规定区域内的物体的侵入位置的区域传感器。
本发明所述的多光轴光电传感器，设置了通过变更与由入射判别装置确认到干扰光的入射的光轴的位置或者连续确认到的光轴数量相对应的期间、预定的下次的同步定时，从而错开以后的周期的相位的周期变更装置。也就是，通过对应于确认相到互干涉的状态而调整投受光周期，而能够简单且有效地避免干扰光造成的物体的检测错误的发生。
图1是按照本发明第一实施方式的多光轴光电传感器的外观结构图。
图2是按照本发明第一实施方式的多光轴光电传感器的主体部的大致方框结构图。
图3是按照本发明实施方式的受光传感头2的大致方框结构图。
图4是说明按照本发明实施方式的多光轴光电传感器的投受光定时的图。
图5是对于用于实现相互干涉回避的、本发明实施方式的多光轴光电传感器的动作内容的全体进行说明的流程图。
图6是说明步骤S5所示的投受光处理的详细内容的流程图。
图7是对于按照本发明实施方式的多光轴光电传感器所具有的投光器以及受光器进行说明的图。
图8是在按照本发明实施方式的多光轴光电传感器中说明投受光周期的错开的图。
图9是说明按照本实施方式的相互干涉数据处理的流程图。
图10是说明按照本发明第二实施方式的投受光周期的图。
图11是说明按照本发明第三实施方式的投受光周期的图。
图12是说明一般的多光轴光电传感器的图。
图13是说明多个多光轴光电传感器A、B的设置例的图。
具体实施例方式
以下，参照附图对本发明的实施方式进行详细说明。另外，将图中相同或者相当的部分标上相同的附图标记，其说明不再反复。
(第一实施方式)图1是按照本发明第一实施方式的多光轴光电传感器的外观结构图。
参照图1，按照本发明第一实施方式的多光轴光电传感器100包括投光传感头1、受光传感头2、利用于这些元件的收发信用的通信用电缆101。还有，虽然未图示，但这些投光传感头1以及受光传感头2是通过通信用电缆101而与外部设定器以及上位装置等连接的，并执行各种处理。
图2是按照本发明第一实施方式的多光轴光电传感器的主体部(传感头)的大致方框结构图。
参照图2，投光传感头1包括由投光元件和电流控制电路以及光轴选择电路构成的n个投光器11(111-11n)；生成这些投光器11的驱动信号等的CPU12；用于进行与受光传感头2之间的通信以及与外部设定器3之间的通信的通信电路13；用于进行与上位装置(在本例中为PLC)之间的通信的I/O接口14。
另外，受光传感头2包括由具有受光元件的光电转换部、将来自受光元件的受光信号放大的前置放大器以及光轴选择电路构成的受光器21(211-21n)；由主放大器、滤波器(COM滤波器)以及A/D转换器构成的信号处理部22；生成受光器21的驱动信号等的同时根据来自信号处理部22的信号进行用于检出判定的运算的CPU23；用于进行与投光传感头1之间的通信以及与外部设定器3之间的通信的通信电路24；用于进行与上位装置(在本例中为PLC)之间的通信的I/O接口25。
图3是按照本发明实施方式的受光传感头2的大致方框结构图。
参照图3，各投光传感头2是以包括有光电转换部21a和前置放大器21b以及光轴选择电路21c的投光器21、将来自前置放大器21的受光信号放大的主放大器22a、从被放大的受光信号中提取基于检出光的受光信号成分的滤波器22b、将滤波后的受光信号通过A/D转换器22c接收并根据该受光信号水平进行检出判定处理的CPU23为主体而构成。
CPU23具有内部存储器，用于执行检出判定处理的受光信号水平的阀值(以下也称为受光判定阀值)的设定值，是通过外部设定器3而被指定，并存储在该内部存储器中。通过进行该受光判定阀值和来自信号处理部22的受光信号(SI4)的比较，执行检出判定处理。还有，从CPU23输出用于规定主放大器22a中的受光信号放大率的信号(SI5)。即，在本发明实施方式中，根据该信号(SI5)，能够在主放大器22a中设定受光信号放大率。还有，该受光信号放大率也通过外部设定器3设定，其设定值被存储于CPU23的内部存储器中。另外，从CPU23输出用于通过具有晶体管(未图示)的光轴选择电路21c而选择性地驱动光电转换部21中的受光元件的光轴选择信号(SI6)、和指示受光信号的有效化(栅极(ゲ一ト)开)的栅极控制信号(SI7)。
图4是说明按照本发明实施方式的多光轴光电传感器的投受光定时的图。
在本例中，作为一例而表示出6个投光器以及受光器的投受光定时。在这里，一个脉冲波形表示投光以及受光的定时。即，投受光定时相当于各投光器以及受光器执行投受光动作的投受光期间。
如图4所示，从排列的一端向着另一端依次从投光元件投射光，而由相对应的受光元件依次接受光。用虚线表示的是受光取样，是为了执行后述的相互干涉判定而只有受光元件接受光的定时。而基本上是以周期T反复进行投受光动作、也就是投射光以及接受光。还有，在本例中，在每一个周期交互反复进行仅投光期间之前的受光取样和仅投光期间之后的受光取样，这是为了缩短传感器的应答时间。如果不管应答速度如何，而重视预测干涉产生的速度，则每一个周期中，在投光期间之前和受光期间之后的两方面都可以进行受光取样。还有，该图中，纵向的虚线所夹着的区域“I”表示用于自我诊断或传感器间通信等的期间。还有，示出了作为执行图中一系列的投受光动作(全光轴)中的投受光动作的期间的投受光动作期间。还有，在本实施方式中，把执行在全光轴上的投受光动作的一系列的周期称为投受光周期。
接着，利用图5的流程图，针对按照用于实现上述的相互干涉回避的本发明的实施方式的多光轴光电传感器的动作内容全体进行说明。
如图5所示，按照本发明实施方式的多光轴光电传感器，当接通电源(步骤S1)时，首先，执行传感头以及外部设定器的存储器的初始化等的启动处理(步骤S2)。
当启动处理结束时，接着执行检出处理(步骤S3)。该检出处理中，是通过重复进行投受光的定时调整处理(步骤S4)、投受光处理(步骤S5)、自我诊断处理(步骤S6)、进行投光传感头1和受光传感头2以及外部设定器3之间的通信或者受光传感头2和其他的多光轴光电传感器(多个多光轴光电传感器同时设置的情况)的受光传感头之间的通信的通信处理(步骤S7)而执行。
另外，在本发明实施方式中，在通信处理(步骤S7)结束后，进行异常有无确认(步骤S8)、和是否切换到用于进行受光判定阀值、投光量、受光信号放大率等的设定的设定模式的确认(步骤S11)。在步骤S8进行的有无异常确认中，进行针对步骤S6的自我诊断的异常有无确认、针对步骤S7的通信处理的异常确认、步骤S4的定时调整是否连续进行规定次数以上(即，即使反复进行定时调整也不能回避干涉的情况)的确认。在这些中确认有异常时(步骤S8中为“是”)，向异常模式转换(步骤S9)，而传感器的动作暂时被停止。
还有，在本例中，若有来自外部设定器3的规定的设定开始信号的输入时(步骤S11中为“是”)，向设定模式(步骤S13)转换。
接着，利用图6的流程图，对步骤S5所示的投受光处理的详细内容进行说明。还有，在该图中，并列表示了投光传感头1的处理(步骤S20、S21)和受光传感头2的处理(步骤S22-步骤S29)。
还有，虽然没有在该流程图中表示，但在投受光处理时，首先，在投光传感头1，在CPU12，从内部存储器读入用于规定投光量的设定值(投光电流数据)。另一方面，在受光传感头2，首先，在CPU23，从内部存储器读入受光信号放大率、以及受光判定阀值的设定值，由此，决定用于规定来自图3所示的CPU23的受光信号放大率的信号(SI5)以及受光判定阀值。
接着，在投光传感头1以及受光传感头2，通过通信用电缆101，进行用于得到投光传感头1和受光传感头2之间的同步的同步通信(步骤S20、S22)。
而且，在受光传感头2中，根据同步通信，决定也包括相互干涉的定时等的投受光的图形(步骤S23)。
然后，进行仅与光轴的数量相同次数的循环处理。在投光传感头1中，通过将先前决定的投光量和规定的投光数量作为前提，将各投光器11依次选择性地驱动，从而进行来自各投光器11的投光(步骤S21)。重复上述步骤直到全光轴部分结束。
另一方面，在受光传感头2中，将先前决定的受光信号放大率作为前提，将各受光器21的受光取样栅极分别选择性地依次断开两次(通断(オンオフ)判定用1次+干涉检查用1次)。而且，将来自各受光器21的受光信号依次取入。受光信号通过A/D转换器22c进行A/D转换，而被取入到CPU23。
在CPU23，通过比较被取入的受光信号与先前决定的受光判定阀值，执行受光判定处理(各光轴中有无受光的判定)(步骤S24)。更详细的说，该判定处理，是将通过与来自投光器的投光同步的1次的受光取样而得到的受光信号，分别与受光判定阀值比较，超过阀值时认定为通，没有超过阀值时认定为断，而进行受光判定。而且，此时，同时对于通过干涉检查用的受光取样而得到的受光信号也进行开闭确认。该结果在后述的相互干涉判定处理(步骤S29)中被使用。
在该例中，由于是以光帘(ライトカ一テン)为用途，所以在受光判定处理(步骤S24)中，在任何的光轴上没有确认到受光时(认定为断时)，换而言之，在遮光状态时，执行与其相对应的规定动作(例如生成控制对象设备的停止信号)(输出控制处理，步骤S25)。还有，该多光轴光电传感器以区域传感器为用途时，在受光判定处理(步骤S24)中，根据没有确认到受光的光轴，执行与其相对应的规定动作(例如，生成用于特定物体侵入区域的信号)(输出控制处理，步骤S25)。还有，关于这些受光判定处理后的输出控制处理，对于本领域的普通技术人员来说是不言而喻的，因此在这里省略其详细说明。
步骤S24以及S25中所表示的循环处理结束时，接着，生成基于投受光循环处理的结果的辅助输出(步骤S28)。该辅助输出，是用来在多个周期的每一个中向PLC等上位装置通知传感器的通断认定的状态。
接着，执行步骤S29所示的相互干涉判定处理。
以下，对于按照本发明实施方式的相互干涉判定处理进行说明。
图7是说明按照本发明实施方式的多光轴光电传感器所具有的投光器以及受光器的图。
在这里，为简便起见，使用12个投光器以及受光器进行说明。如图7所示，对投光器以及对应的受光器标上号码。另外，从号码小的下面到上面，即从排列的一端到另一端，依次使投光器以及受光器动作。还有，在本例中，将12个投光器以及受光器分成4组。从而表示出从第1个到第3个的投光器以及受光器的区域C3、从第1个到第6个的投光器以及受光器的区域C4、从第7个到第12个的投光器以及受光器的区域C2、从第10个到第12个的投光器以及受光器的区域C1、从第1个到第9个的投光器以及受光器的区域C5、从第4个到第12个的投光器以及受光器的区域C6。
图8是在按照本发明实施方式的多光轴光电传感器中，说明投受光周期的错开的图。还有，在这里，为简单起见而针对如图4所示那样将全光轴的投受光定时等集中了的投受光动作期间进行说明。
本发明的结构是，通过根据检测范围以及场所而适当地改变投受光周期，即使检测(预测)到干涉也不停止动作等，而适当地回避该干涉，使动作继续。还有，在本实施方式中，当连续多次发生相互干涉时判别为受到干扰光的影响，而执行规定的动作。
作为为此的结构，在本发明的多光轴光电传感器中，如图所示，在各光轴(在此例中表示(a)-(f)的6种变化)中，如图4所说明的那样，通过在投受光定时之前或者之后的非投光期间进行受光取样而判定有无入射光，从而识别检测干涉。
在图8的(a)中，表示了投光以及受光的投受光周期T1，但受干扰光的影响，在投受光动作期间的全部期间中的后半期间发生相互干涉。更具体地说，将后半期间进一步分为前半部分以及后半部分的2部分，在后半期间中的进一步的后半部分中发生相互干涉。所表示的是在例如如图7中所示的号码大的受光器、也就是区域C1的受光器检测出了相互干涉的情况。
这时，在由于受光取样而连续被确认入射光的情况下，如果使作为下次的同步定时的自身的投受光定时，与规定期间T1相比稍微提早定时期间α1，则可以不与相邻的其他的多光轴光电传感器的投受光定时重合。具体的说，将下次的投受光定时的周期变更为投受光周期T2(T1＞T2)。由此，将以后的投受光定时的周期的相位时间上向前错开，因此可以防止相互干涉于未然的同时，也不会使动作停止等而可以使传感器继续动作。但是之后的投受光定时的周期T1原样维持。
图8的(b)中，受到干扰光的影响，在投受光动作期间的后半期间、也就是说从中央附近以后的后半部分中发生相互干涉。具体的说，所表示的是在例如如图7所示的号码的后边的后半部分的受光器、即区域C2的受光器检测出相互干涉的情况。
在这时，在由于受光取样而连续被确认入射光的情况下，如果将作为下次的同步定时的自身的投受光定时，比规定期间T1稍微提前定时期间α2，则可以不与相邻的其他的多光轴光电传感器的投受光定时重合。具体的说，将下次的投受光定时的周期变更为投受光周期T3(T1＞T2＞T3)。由此，将以后的投受光定时的周期的相位在时间上向前错开，因此可以防止相互干涉于未然的同时，不会使动作停止等而可以使传感器继续动作。但是之后的投受光定时的周期T1原样维持。
图8的(c)中，表示了投光以及受光的周期T1，但受到干扰光的影响，在投受光动作期间的前半期间发生相互干涉。更具体的说，若将前半期间进一步分为前半部分以及后半部分的2个部分，则在前半期间中的前半部分发生相互干涉。具体的说，所表示的是在例如如图7所示的号码小的受光器、即区域C3的受光器检测出相互干涉的情况。
这时，由于受光取样而连续被确认入射光时，如果将作为下次的同步定时的自身的投受光定时，比规定期间T1稍微延迟定时期间β1，则能够不与相邻的其他的多光轴光电传感器的投受光定时重叠。具体的说，将下次的投受光定时的周期变更为投受光周期T4(T1＜T4)。由此，将以后的投受光定时的周期的相位在时间上向后错开，因此防止相互干涉于未然的同时，不会使动作停止等而可以使传感器继续动作。但是，之后的投受光定时的周期T1原样维持。
在图8的(d)中，受干扰光的影响，在投受光动作期间的前半期间、即从前半部分到中央部分附近发生相互干涉。具体地说，表示的是在例如如图7所示的号码的前面的前半部分的受光器、即区域C4的受光器检测出相互干涉的情况。
在这时，由于受光取样而连续被确认入射光时，如果将作为下次的同步定时的自身的投受光定时，比规定期间T1延迟定时期间β2，则可以不与相邻的其他的多光轴光电传感器的投受光定时重合。具体地说，将下次的投受光定时的周期变更为投受光周期T5(T1＜T4＜T5)。由此，将以后的投受光定时的周期的相位在时间上向后错开，因此防止相互干涉于未然的同时，不会使动作停止等而可以使传感器继续动作。但是，之后的投受光定时的周期T1原样维持。
在图8的(e)中，受到干扰光的影响，而在投受光动作期间的前半期间、即从前半部分越过中央附近直到上述的后半期间的前半部分左右发生相互干涉。具体地说，所表示的是在例如如图7所示的区域C5的受光器检测出相互干涉的情况。
在此情况下，在由于受光取样而连续被确认入射光的情况下，如果将作为下次的同步定时的自身的投受光定时大幅度延迟，例如比规定期间T1延迟定时期间β3，则可以不与相邻的其他的多光轴光电传感器的投受光定时重合。具体地说，将下次的投受光定时的周期变更为周期T6(T1＜T4＜T5≤T6)。由此，由于将以后的投受光定时的周期的相位在时间上向后错开，因此能够防止相互干涉于未然的同时，不会使动作停止等而可以使传感器继续动作。但是，之后的投受光定时的周期T1原样维持。
在图8的(f)中，受到干扰光的影响，在投受光动作期间的前半期间、即从上述的前半期间的后半部分到后半期间全部发生相互干涉。具体地说，所表示的是在例如如图7所示的区域C6的受光器检测出相互干扰的情况。
在这种情况下，在由于受光取样而连接被确认入射光时，如果将作为下次的同步定时的自身的投受光定时大幅度提前，例如比规定期间T1提前定时期间α3，则可以不与相邻的其他的多光轴光电传感器的投受光定时重合。具体地说，将下次的投受光定时的周期变更为投受光周期T7(T1＞T2＞T3≥T7)。由此，由于将以后的投受光定时的周期的相位在时间上向前错开，所以可以防止相互干涉于未然的同时，不会使动作停止等而使传感器继续动作。但是，之后的投受光定时的周期T1原样维持。
另外，上述的定时期间可以将在全部光轴中受到干扰光影响的光轴数作为基准而设定。具体地说，可以以期间(直到下一个光轴的投受光处理的时间)×受到干扰光的影响的光轴数而设定，进一步，也可以设定为每数个光轴数的期间。还有，受到干扰光的影响的光轴数越多，上述的定时期间的宽度也变得越大，而变更下次的同步定时的开始的期间的变化也越大。
图9是说明本实施方式的相互干涉数据处理的流程图。
如图9所示，首先，判断是否发生干涉(步骤SP1)。接着，在步骤SP1判断有干涉时，进到下面的步骤SP2。在步骤SP2，在投受光动作期间的全部期间中，判断在前半期间或者后半期间发生了干涉。换而言之，判断在依次动作的多个受光器的前半区域或者后半区域中发生了干涉。另外，在双方都产生干涉的情况下，判断为在期间更长的期间中产生了干涉。
在步骤SP2中，在判定在前半期间发生了干涉时，接着判断检测幅度是否小，即前半期间的哪个部分发生了干涉(步骤SP3)。在步骤SP3中，在判断检测幅度(相当于检测到干扰光的光轴数)小的情况下，即在将前半期间进一步分为前半部分以及后半部分的情况下判断为前半部分时，将下次的周期设定为投受光周期T4。
另一方面，在步骤SP3中，在判断检测幅度不小的情况下，进到步骤SP5。在步骤SP5中，判断检测幅度是否为特大。检测幅度是否为特大是考虑到检测幅度包含有全部的前半期间的情况。在这种情况下，在步骤SP7中，将下次的周期设定为投受光周期T6。另一方面，在判断检测幅度不是特大的情况下，将下次的周期设定为投受光周期T5(步骤SP6)。
另一方面，在步骤SP2中，在判断在后半期间有干涉的情况下，接着判断检测幅度是否小、即在后半期间的哪个部分发生了干涉(步骤SP8)。步骤SP8中，在检测幅度小，即将后半期间进一步分为前半部分以及后半部分的情况下判断为后半部分时，将下次的周期设定为投受光周期T2。另一方面，在步骤SP8中，在判断检测幅度不小的情况下，进到步骤SP10。在步骤SP10中，判断检测幅度是否为特大。检测幅度是否为特大是考虑到检测幅度包含有全体的后半期间的情况。在这种情况下，将下次的周期设定为投受光周期T7。另一方面，在判断检测幅度不是特大的情况下，将下次的周期设定为投受光周期T3。
这样，在本实施方式，在各光轴中，在投受光定时之前或者之后的非投光期间中进行受光取样，根据之前或者之后的各自的通断的认定结果，将之后的投受光周期适当地前后移动，因此即使检测到或预测到干涉也不会使动作停止等，适当地回避该干涉，从而可以使动作继续进行。
还有，根据本实施方式，能够维持相对于成为相互干涉的原因、即干扰光的其他的多光轴光电传感器的投受光周期，一直以稍微之前或者稍微之后的定时进行投受光的关系的状态，因此在存在多个多光轴光电传感器的情况下，可以在某一种程度上将相互平均的周期保持一定，从而可以使产生相互干涉的可能性变低。例如，在多个多光轴光电传感器随机地使周期变化时，可能会在周期变化之后与其他的多光轴光电传感器发生相互干涉，但通过本实施方式的结构，以平均大致相同的周期，通过使其以不同的相位动作，从而可以使发生相互干涉的可能性变低。
还有，在本实施方式中，针对将如图7所示排列的投光器以及受光器分为4部分的同时，分为多个区域，并根据干扰光的入射在任意的区域是否能确认到，从而变更投受光周期的情况进行了说明，但不仅限于此，也可以设计成，进一步分割成多个区域，而从进一步从多个投受光周期中设定适当的投受光周期。
还有，根据受到干扰光的入射的影响的光轴位置，也可以变更投受光周期。还有，在按顺序进行投受光动作时的连续的光轴，即相互相邻的连续光轴中，也可以变更与干扰光的入射依次连续被确认到的光轴数相对应的期间、定时期间的变化量。
(第二实施方式)上述的实施方式中，对在全部的周期中反复进行一系列的投受光动作的方式进行了说明。本例中，对于在某一部分的周期中，仅进行没有执行投光处理的干扰光处理、即相互干涉判定处理，或者不进行投受光处理而是执行其他处理的方式进行说明。
图10是说明本发明第二实施方式的投受光周期的图。
参照图10，具体地说，执行多次(本例中为2次)的投受光处理，而在一部分周期中，仅进行干扰光处理，或者不进行投受光处理而是执行其他处理(图10中的斜线部分)。而且，在仅进行受光处理的周期中，仅执行是否发生上述的相互干涉的相互干涉判定处理。这里，作为一个例子，在2次投受光处理的周期之后设置了用于1次相互干涉判定处理或者其他的处理的周期。
更具体的说，在利用图4说明的多光轴光电传感器的投受光定时，在各光轴中，将执行2次受光抽样变更为1次受光抽样。而且，在通常的周期中，执行用于通断判定的受光判定处理。而且，在一部分的周期中，执行用于相互干涉判定的受光判定处理。即，用于相互干涉判定处理的受光抽样是仅在上述一部分的周期中执行。
对于相互干涉判定处理，按照上述的图8以及图9说明的方式执行，因此其详细的说明不再反复。
另外，在上述的实施方式中，对连续在多个周期中发生相互干涉时调整投受光周期的方式进行了说明，但也可以在1个周期中发生相互干涉时调整投受光周期。
通常，上述的相互干涉判定处理，是通过按每个周期执行而可以实现提高其精度，但实际上那样频繁的发生相互干涉的可能性并不高。
因此，通过在某一定间隔也就是一部分周期中，设置用于相互干涉判定处理的周期，而将重点置于用于应优先的传感器的通断判定的受光判定处理上。即，可以实现高速且更加高精度的判定处理。
还有，针对在一部分的周期中设置用于相互干涉判定处理的周期进行了说明，但也可以作为在相关的周期中执行其他功能的周期。例如，也可以将在图4说明过的用来执行自我诊断等的区域“I”分在该周期而执行自我诊断。
(第三实施方式)图11是说明本发明第三实施方式的投受光周期的图。
参照图11，例如，上部的投受光周期为按照本实施方式的多光轴光电传感器的投受光周期，而下部的投受光周期为成为干扰光的其他的多光轴光电传感器的投受光周期。
在第二实施方式中，对于在某一部分的周期中，仅进行没有执行投光处理的干扰光处理、即相互干涉判定处理，或者不进行投受光处理而执行其他处理的方式进行了说明，但特别是在本实施方式中，其周期是随机设置的(图11中的斜线部分)。
例如，如果没有仅进行受光处理的周期，即在全部的周期中进行投受光处理时，与全部其他的例如相邻的多光轴光电传感器的投受光周期重叠，因此相互干涉在全部的周期会相互发生。
但是，如本例那样，对于多光轴光电传感器的投受光周期的多次，暂停一次投光动作。而且，多次的次数是用多次的周期单位设定为任意次数。由此，可以大幅度减少与其他的多光轴光电传感器的相互间发生的相互干涉的比例。另外，本方式是对上述的第一以及第二实施方式当然也可以适用。
还有，除去暂停投光动作的周期，至少经2次以上，连接在投受光周期中确认到遮光时，可以通过上述的输出控制处理输出外部控制设备的动作停止信号。
另外，通过根据上述的相互干涉判定处理的投受光周期的变更，即使反复进行定时调整也不能回避干涉时，即干扰光连接被检测出规定次数以上时，可以认为是处于错误动作的危险性高的状态，所以也可以输出外部控制设备的动作停止信号。
应考虑到本次公开的实施方式在所有的方面只是例示，而并不具有限制性。本发明的范围并不是通过上述的说明而是通过权利要求书所表示，包括与权利要求书的范围等同的意思以及在范围内的全部的变更。
权利要求
1.一种多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其按每个光轴，针对投受光期间之前以及之后的至少任意一方的期间，进行仅进行受光的受光取样，而判定有无干扰光的入射；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过前述干扰光有无判定装置确认的前述受光传感头的前述干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过对应于由前述入射状态判别装置确认到前述干扰光的入射的光轴的位置，变更预定的下次的同步定时，从而使以后的周期的相位错开。
2.一种多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其按每个光轴，针对投受光期间之前以及之后的至少任意一方的期间，进行仅进行受光的受光取样，而判定有无干扰光的入射；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过前述干扰光有无判定装置确认的前述受光传感头的前述干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过变更与由前述入射状态判别装置依次连续确认到前述干扰光的入射的光轴数量相对应的期间、预定的下次的同步定时的开始，从而使以后的周期的相位错开。
3.一种多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其针对前述规定的周期的多次进行一次受光取样，而判定有无干涉光的入射，该受光取样是按每个光轴，在与前述周期的投受光期间对应的期间，从排列的一端向另一端依次仅进行受光；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过前述干扰光有无判定装置确认的前述受光传感头的前述干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过对应于由前述入射状态判别装置确认到前述干扰光的入射的光轴的位置，变更预定的下次的同步定时，从而使以后的周期的相位错开。
4.一种多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其针对前述规定的周期的多次进行一次受光取样，而判定有无干涉光的入射，该受光取样是按每个光轴，在与前述周期的投受光期间对应的期间，从排列的一端向另一端依次仅进行受光；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过前述干扰光有无判定装置确认的前述受光传感头的前述干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过变更与由前述入射状态判别装置依次连续确认到前述干扰光的入射的光轴数量相对应的期间、预定的下次的同步定时的开始，从而使以后的周期的相位错开。
5.一种多光轴光电传感器，具有排列多个投光器的投光传感头、排列多个受光器的受光传感头，以规定的周期，从按每个光轴排列的一端向另一端依次使投受光期间同步而进行投受光动作，基于检出光监视向规定区域有无物体侵入，其特征在于，包括干扰光有无判定装置，其按每个光轴，针对投受光期间之前以及之后的至少任意一方的期间，进行仅进行受光的受光取样，而判定有无干扰光的入射；入射状态判别装置，其按每个光轴判别通过前述干扰光有无判定装置确认的前述受光传感头的前述干扰光的入射状态；周期变更装置，其通过前述入射状态判别装置，对于依次进行受光取样的全部的光轴，将判别前述干扰光的入射状态的期间作为全部期间，在该全部期间中的前半期间确认到前述干扰光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时延迟而进行设定，而在前述前半期间之后的后半期间中确认到前述干扰光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时提前而进行设定。
6.如权利要求5所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述前半期间被分为第1次级前半期间以及前述第1次级前半期间之后的第2次级前半期间，前述周期变更装置，在前述入射状态判别装置中，在前述第1次级前半期间中确认到前述干扰光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时从规定期间延迟第1定时期间而进行设定，而在前述第1以及第2次级前半期间中确认到前述干扰光的入射状态时，将从前述规定期间延迟比前述第1定时期间长的第2定时期间而进行设定，前述后半期间被分为第1次级后半期间以及前述第1次级后半期间之后的第2次级后半期间，前述周期变更装置，在前述入射状态判别装置中，在前述第2次级后半期间中确认到前述干扰光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时从规定期间提前第3定时期间而进行设定，而在前述第1以及第2次级后半期间中确认到前述干扰光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时从前述规定期间提前比第3定时期间长的第4定时期间而进行设定。
7.如权利要求6所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述周期变更装置，在前述入射状态判别装置中，在前述第2次级前半期间以及前述第1及第2次级后半期间中确认到前述干涉光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时从前述规定期间提前大于等于前述第4定时的长的第5定时期间而进行设定，在前述第1及第2次级前半期间以及前述第1次级后半期间中确认到前述干涉光的入射状态时，将前述预定的下次的同步定时从前述规定期间延迟大于等于前述第2定时期间的长的第6定时期间而进行设定。
8.如权利要求2所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述周期变更装置，通过前述入射状态判别装置，依次连续地确认到前述干扰光的入射的光轴数量越多，则使变更预定的下次的同步定时的开始的期间变得越大。
9.如权利要求4所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述周期变更装置，通过前述入射状态判别装置，依次连续地确认到前述干扰光的入射的光轴数量越多，则使变更预定的下次的同步定时的开始的期间变得越大。
10.如权利要求1所述的多光轴光电传感器，其特征在于，针对前述规定的周期的多次，暂停1次投受光期间中的各光轴的依次投光动作，而且，除了暂停前述投光动作的周期之外在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
11.如权利要求2所述的多光轴光电传感器，其特征在于，针对前述规定的周期的多次，暂停1次投受光期间中的各光轴的依次投光动作，而且，除了暂停前述投光动作的周期之外在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
12.如权利要求3所述的多光轴光电传感器，其特征在于，除了进行仅进行受光的受光取样的周期之外，在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
13.如权利要求4所述的多光轴光电传感器，其特征在于，除了进行仅进行受光的受光取样的周期之外，在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
14.如权利要求10所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述多次的次数是以前述多次的周期为单位设定成随机的次数。
15.如权利要求11所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述多次的次数是以前述多次的周期为单位设定成随机的次数。
16.如权利要求12所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述多次的次数是以前述多次的周期为单位设定成随机的次数。
17.如权利要求13所述的多光轴光电传感器，其特征在于，前述多次的次数是以前述多次的周期为单位设定成随机的次数。
18.一种多光轴光电传感器，其特征在于，包括排列多个投光器的投光传感头；排列多个受光器的受光传感头；监视装置，其按每个光轴使投受光期间同步而进行投受光动作，以规定的周期，基于检出光监视有无向规定区域的物体侵入，前述监视装置，针对前述规定的周期的多个，暂停1次投光动作，前述多次的次数是以前述多个的周期为单位设定成随机的次数，前述监视装置，除了暂停投光动作的周期之外，在至少2次以上的周期中，连续在投受光期间确认到遮光时，输出外部控制设备的动作停止信号。
19.如权利要求1所述的多光轴光电传感器，其特征在于，其是一种光帘，该光帘检测到向前述规定区域的物体侵入时，生成外部控制设备的动作停止信号。
20.如权利要求1所述的多光轴光电传感器，其特征在于，其是一种区域传感器，该区域传感器根据检测到遮光的至少一个光轴，检测出前述规定区域内的物体的侵入位置。
全文摘要
本发明提供一种多光轴光电传感器，通过对应于确认到相互干涉的状态而调整投受光周期，从而简单且有效地避免干扰光造成的物体的检测错误的发生。本发明中，通过判别发生相互干涉的范围、即检测到干扰光的位置是在投受光动作期间的全部期间中的前半期间还是后半期间，从而决定将相位向前错开还是向后错开。从而变更与确认到干涉光的入射的光轴的位置或者连续确认到的光轴数量对应的期间、预定的下次的同步定时。
文档编号H01H35/00GK1756078SQ20051010767
公开日2006年4月5日 申请日期2005年9月29日 优先权日2004年9月30日
发明者尾﨏一功, 赤木哲也, 山本拓 申请人:欧姆龙株式会社