光学头性能检查调整设备的利记博彩app

文档序号:6760009阅读:443来源:国知局
专利名称:光学头性能检查调整设备的利记博彩app
技术领域
本实用新型涉及一种光学头性能的检测装置,尤其是一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检査调整设备。
背景技术
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光学头是利用激光束读取光盘上的坑点信号并通过光电转换,将光盘上的
坑点信号转变为电信号,继而进行后续的处理。光学头是CD/DVD机中最关键的部件,其性能好坏直接影响整机性能,因此光学头在生产过程中的调整检査是非常重要的。目前,用于光学头调整检査设备大都采用模拟电路实现的方式,包括计算机控制单元、机械平台单元、信号处理单元、伺服控制单元和测量单元等。虽然功能齐全,但是其结构复杂、体积大、成本高,设备维护也非常麻烦,加大了产品的制造成本。
发明内容
本实用新型是为了解决现有技术所存在的上述技术问题,提供一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检査调整设备。
本实用新型的技术解决方案是 一种光学头性能检查调整设备,其特征在

设有上位机,上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接,DSP芯片与FPGA控制器相接,FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接;
FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接;FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接;用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接;信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接,Jitter表的输出通过A/D-l与FPGA控制器相接。
本实用新型是将ARM技术、DSP技术和FPGA技术应用到光学头检査调整系统中,DSP和FPGA实现数字伺服算法,ARM与上位机进行通讯(接收来自上位机的指令并将测量数据发送到上位机)。上位机采用Labview编写的程序控制光学头检査调整的流程,除了光学头激光管的发光控制、伺服误差信号
的生成和RF信号的处理采用模拟方式之外,其余全部采用数字化处理技术,使伺服控制(包括主轴电机伺服、聚焦伺服和循迹伺服)、数据采集处理及评价全部由软件灵活实现,极大的简化了系统硬件结构,降低了设备制造及维护成本,提高了设备的通用性。


图1是本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图说明本实用新型的具体实施方式
。如图l所示设有上位
机(普通电脑即可),上位机通过ARM芯片(AT91M40800等)与DSP芯片(TMS320C6711D)及FPGA控制器(EP1C20F400)相接,DSP芯片与FPGA控制器相接,FPGA控制器通过D/A-l与用于与主轴电机相接的电机驱动电路(驱动芯片BA6664等)相接;FPGA控制器的输出与激光管控制电路(运放器LM2904、 LM358等等)相接;FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路(驱动芯片AM5668等)相接;用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接;信号处理电路(运放器OPA691、 LF412、 AD830、TL071、 LT1364、 LM6361等等)的输出与示波器、Jitter表相接,Jitter表的输出通过A/D-l与FPGA控制器相接。工作原理
检查调整时,将激光管控制电路、线圈驱动电路及信号处理电路与光头相应部件相接,电机驱动电路与驱动光盘的主轴电机相接。ARM芯片负责系统启动时DSP和FPGA控制器芯片的初始化,并且负责与上位机进行通信,DSP芯片主要完成伺服信号的算法,FPGA控制器芯片通过激光管控制电路控制光头激光管的发光、通过线圈驱动电路驱动光头线圈、控制所有的A/D和D/A协助DSP完成伺服算法、通过电机驱动电路控制主轴电机的转速等。
光头所产生的聚焦误差信号FE、循迹误差信号TE、 RF信号通过信号处理电路、A/D-2送至FPGA控制器,聚焦误差信号FE、循迹误差信号TE由FPGA控制器、DSP芯片及ARM芯片等进行伺服控制,RF信号通过示波器和Jitter表、A/D-l送至FPGA控制器。主轴电机的运行信号(脉冲信号)可以直接反馈至FPGA控制器,也可以通过电机驱动电路整合后再反馈至FPGA控制器,上位机利用Labview编写的程序,控制整个光学头检查调整的流程并对所测得的参数进行评判。
权利要求1.一种光学头性能检查调整设备,其特征在于设有上位机,上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接,DSP芯片与FPGA控制器相接,FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接;FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接;FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接;用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接;信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接,Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。
专利摘要本实用新型公开一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检查调整设备,有上位机,上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接,DSP芯片与FPGA控制器相接,FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接;FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接;FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接;用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接;信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接,Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。
文档编号G11B20/18GK201417606SQ20092001489
公开日2010年3月3日 申请日期2009年6月26日 优先权日2009年6月26日
发明者刘大伟, 冬 孙, 温庆坡, 路忠良, 韩勇权 申请人:中国华录·松下电子信息有限公司
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