专利名称：可录式光盘刻录品质的动态检测方法
技术领域：
本发明涉及一种光盘刻录品质的检测方法，且特别是有关于利用抖动值(Jitter)来决定光盘上检测位置的可录式光盘刻录品质的动态检测方法。
背景技术：
可录式光驱在执行数据刻录动作之前必须在可录式光盘上先进行最 佳化功率校正(Optimal Power Calibration, 0PC)动作用以获得一最佳刻 录功率(Optimal Write Power)并进行后续的数据刻录动作。请参照图l， 其所绘示为可录式光盘的资讯区(Information Area)示意图。根据规格书 (Specification)的规范，可录式光盘由内而外的资讯区100可区分为功 率校正区(Powetr Calibration Area, PCA) 10、数据记忆区(Program Memory Area, PMA)20、导入区(Lea-In Area) 30、数据区(Program Area) 40、以 及导出区(Lead-Out Area)50。而可录式光盘的光学读写头即利用功率校 正区域进行最佳化功率校正动作。而最佳化功率校正动作则是利用光学读 写头的激光二极管发射不同的刻录功率，而每一刻录功率皆可在功率校正 区域上形成相对应的测试图样(Test Pattern)。经由读取不同刻录功率所形成的测试图样之后，可录式光盘即可经由计算而决定一最佳刻录功率以及写入策略(Write Strategy),而所谓的写入策略即为驱动激光二极管在 可录式光盘的轨道上形成标记(Mark)的驱动信号。然而，可录式光驱经由计算后获得的最佳刻录功率有可能造成可录式 光盘的刻录品质不理想。原因在于(1) 可录式光驱最佳化功率校正动作有一定的时间限制，且可录式光 盘上的功率校正区域的空间有限，因此可录式光驱无法进行完整的最佳化 功率校正动作，可录式光驱仅可利用少数的刻录功率来形成相对应的测试 图样，并利用内插法(interpolation)来决定最佳刻录功率。(2) 可录式光盘的功率校正区域是位于光盘的最内侧或者最外侧的区 域，而最外侧与最内侧之间的大部分区域即为数据区，也就是可录式光驱 执行数据刻录动作的区域。由于可录式光盘可能在染料(Dye)的涂布过程 控制不当，造成可录式光盘的内外测功率校正区域的染料厚度与数据区不 同，因此，可录式光盘刻录机经过计算之后获得的最佳刻录功率可能造成 可录式光盘在数据区的刻录品质不理想。(3) 由于数据刻录动作的过程中，可录式光驱内部的温度会越来越高， 使得光学读写头的激光输出功率随着温度的上升而下降，因此，也会造成 刻录品质随着数据刻录动作的时间越长而逐渐变差。(4) 由于每台可录式光驱内的控制芯片以及光学读写头都会有些许的差异，使得设定在记忆体中的写入策略相同，但是，当数据刻录动作的完 成后，仍会有部分的可录式光盘会有刻录品质不佳的问题。为了解决上述问题，现有可录式光驱制造厂商提出一种在数据区进行最佳化功率校正动作，称之为运转中的最佳化功率校正(Running 0PC)动 作。也就是说，当可录式光驱在功率校正区域中求得最佳刻录功率之后在 数据区进行数据刻录动作的过程中，为了保持较佳的可录式光盘的刻录品 质，可录式光盘会在刻录一固定数量的数据或者刻录一固定时间之后暂停 数据刻录动作，并根据前一段刻录数据来再次进行最佳化功率校正的动 作，并重新计算出更新的最佳刻录功率使用在后续的数据刻录动作。也就 是说，经由设定一固定数量的数据或者刻录一固定时间使得可录式光盘上 的数据区有复数个固定间距的检测位置，如图1中的 i的检测位置，当 可录式光驱在数据刻录动作的过程中到达其中一检测位置时即暂时中断 数据刻录动作，并根据己经写入可录式光盘轨道上的数据进行最佳化功率 校正，并更新最佳刻录功率，之后，在可录式光盘轨道上该检测位置之后 继续以更新后的最佳刻录功率进行数据刻录动作。如此，不断的在可录式 光盘的数据区进行最佳化功率校正动作，直到数据刻录动作完成。上述运转中的最佳化功率校正虽能有效的提升可录式光盘的刻录品 质。然而，每次可录式光驱到达检测位置并进行运转中的最佳化功率校正 动作皆会耗费时间，使得数据刻录动作时间会延长。因此，如何有效的降 低数据刻录动作的时间并且达成较佳的刻录品质即为本发明所要解决的 问题。发明内容本发明的目的是提出一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，经由 动态的决定可录式光盘上的检测位置，使得光盘的刻录品质可以提升并可以缩短可录式光盘数据刻录动作的时间。因此，本发明提出一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，包括下 列步骤在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置；利用一最佳刻录 功率在该数据区进行一数据刻录动作；当该可录式光盘该数据区上的一刻 录位置大于或等于该检测位置时，暂停该数据刻录动作；读取先前记录在 该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新 该最佳刻录功率并计算出一抖动值；根据该抖动值更新该检测位置；以及， 利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作，直到 该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。根据上述构想，该最佳化功率校正动作是计算出一 3值用以补偿该 最佳刻录功率。根据上述构想，该最佳化功率校正动作是计算出一 P值用以修正一 写入策略。根据上述构想，更包括当该抖动值远大一规范值时，降低一刻录速度。根据上述构想，当该抖动值小于该规范值时，更新的该检测位置被设 定为大于一基本距离。根据上述构想，当该抖动值大于该规范值时，更新的该检测位置被设 定为小于一基本距离。再者，本发明提出一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，包括下 列步骤在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置；利用一最佳刻录 功率在该数据区进行一数据刻录动作；当该可录式光盘该数据区上的一刻 录位置大于或等于该检测位置时，暂停该数据刻录动作；读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新 该最佳刻录功率并计算出一数据读取错误率；根据该数据读取错误率更新 该检测位置以及，利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该 数据刻录动作，直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。根据上述构想，该最佳化功率校正动作是计算出一 P值用以补偿该 最佳刻录功率。根据上述构想，该最佳化功率校正动作是计算出一 6值用以修正一 写入策略。根据上述构想，更包括当该数据读取错误率远大一临限值时，降低一 刻录速度。根据上述构想，当该数据读取错误率小于该规范值时，更新的该检测 位置被设定为大于一基本距离。根据上述构想，该数据读取错误率接近或大于该规范值时，更新的该 检测位置被设定为小于一基本距离。为了能更进一步了解本发明特征及技术内容，请参阅以下有关本发明 的详细说明与附图，然而所附图式仅提供参考与说明，并非用来对本发明 加以限制。
图1所绘示为可录式光盘的资讯区示意图；图2所绘示为本发明可录式光盘刻录品质的动态检测方法流程试3所绘示为刻录品质较佳时可录式光盘在可录式光盘上进行区域定线速数据刻录动作示意图；图4所绘示为刻录品质较差时可录式光盘在可录式光盘上进行区域定线速数据刻录动作示意图。 (主要元件符号说明)10功率校正区 20数据记忆区30导人区 40数据区50导出区 100资讯区 210 300步骤流程具体实施方式
请参照图2，其所绘示为本发明可录式光盘刻录品质的动态检测方法 流程试图。首先，当可录式光驱在数据区开始进行数据刻录动作时(步骤 210)，在数据刻录动作的过程中可录式光驱会检测可录式光盘轨道上的刻 录位置(步骤22())，当刻录位置小于检测位置时，可录式光驱继续执行数 据刻录动作(步骤280);反之，当刻录位置大于或等于检测位置时，可录 式光驱暂时中断数据刻录动作(步骤230)。再者，当可录式光驱暂时中断 时，可录式光驱会控制光学读写头跳至中断数据刻录位置前方的轨道，并 读取已经记录在轨道上的刻录数据来进行最佳化功率校正动作并计算出 新的最佳刻录功率。根据本发明的实施例，可录式光驱是读取已经记录在 轨道上的刻录数据并计算出P值用以补偿最佳刻录功率并修正写入策略(步骤240)。接着，当更新后的最佳刻录功率决定之后，本发明的实施例会进一步计算出记录在轨道上的刻录数据的一抖动值(Jitter)，并根据抖动值来决 定下一个检测位置(步骤250)，也就是说，当抖动值很小代表可录式光盘 的刻录品质很好，因此，更新的检测位置可以设定较长的距离；反之，当 抖动值很大代表可录式光盘的刻录品质较差，因此，更新的检测位置可以 设定较短的距离。接着，可录式光驱会根据量测的抖动值来决定是否该降 低可录式光驱的转速。 一般来说，当抖动值远大于规范值(9。/0太多，例 如，抖动值到达20%，此时，可录式光驱必须降低可录式光驱的刻录速度， 也就是降倍速刻录(步骤270)，否则，可录式光驱维持原数据刻录速度。 之后，可录式光驱控制光学读写头再次回到中断数据刻录位置并继续启动 数据刻录动作(步骤280)。接着，当判断数据刻录动作尚未结束时(290)，可录式光驱会再次检 测可录式光盘轨道上的刻录位置与更新的检测位置之间的位置关系，并再 次的执行步骤230 260的动作，直到数据刻录动作结束300为止。根据本发明的实施例，可录式光盘上的检测位置可以动态的来调整。 也就是说，当可录式光盘的刻录品质很好时，可录式光盘下一次的检测位 置可以被延长；反之，当可录式光盘的刻录品质较差时，可录式光盘下一 次的检测位置需要被缩短。而刻录品质的好坏是由抖动值来决定，举例来 说，假设检测位置之间的基本距离为L，当可录式光盘的刻录品质很好时， 例如小在3%，可录式光盘下一次的检测位置可以被设定为1.5L;当可录 式光盘的刻录品质较差时，例如10%，可录式光盘下一次的检测位置可以被设定为0.8L。当可录式光盘的刻录品质太差时，则可录式光盘必须降低 降倍速刻录。请参照图3，其所绘示为刻录品质较佳时可录式光驱在可录式光盘上进行区域定线速(ZCLV)数据刻录动作示意图。其中，横座标为碟片位置， 纵座标为数据刻录速度。由于可录式光驱是利用区域定线速(Zoned Constant Linear Velocity, ZCLV)，所以虚线4t表可录式光驱的转速， 而实线则代表可录式光驱的数据刻录速度。其中，检测位置即位于数据刻 录速度或者可录式光驱转速突然下降的位置，所以，由图3的绘示可知， 可录式光盘的刻录品质较佳时检测位置之间距离较长，也就是说，刻录品 质较佳时，可录式光盘上的检测位置较少。请参照图4，其所绘示为刻录 品质较差时可录式光驱在可录式光盘上进行区域定线速(ZCLV)数据刻录 动作示意图。由图4的绘示可知，可录式光盘的检测位置之间距离较短， 也就是说，刻录品质较差时，可录式光盘上的检测位置较多。因此，本发明的优点在于除了执行运转中的最佳化功率校正(Running 0PC)动作之外，本发明可以利用可录式光盘的抖动值来决定下一次再次进 行最佳化功率校正的检测位置。因此，本发明可以有效的降低数据刻录动 作的时间并且达成较佳的刻录品质。再者，图2所示步骤250与步骤260皆是利用抖动值来做进一步的判 断。当然，刻录品质的好坏也可以利用其他的标准来进行判断。举例来说， 步骤250可以运用数据读取错误率来决定可录式光盘的刻录品质判断，并 根据数据读取错误率来更新检测位置。而步骤260则可以根据数据读取错 误率是否远大于一临限值来决定是否执行降倍速刻录步骤270的动作。也就是说，当可录式光盘的刻录品质很好时代表数据读取错误率很低，可录 式光盘下一次的检测位置可以被延长；反之，当可录式光盘的刻录品质较 差时代表数据读取错误率很高，可录式光盘下一次的检测位置需要被縮 短。综上所述，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定 本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各 种更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定的为
权利要求
1. 一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，包括下列步骤在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置；利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作；当该可录式光盘该数据区上的一刻录位置大于或等于该检测位置时，暂停该数据刻录动作；读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一抖动值；根据该抖动值更新该检测位置；以及利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作，直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。
2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于该最佳化功率校正动作是 计算出一 P值用以补偿该最佳刻录功率。
3. 如权利要求1所述的方法，其特征在于该最佳化功率校正动作是 计算出一 P值用以修正一写入策略。
4. 如权利要求l所述的方法，其特征在于更包括下列步骤 当该抖动值远大一规范值时，降低一刻录速度。
5. 如权利要求4所述的方法，其特征在于当该抖动值小于该规范值 时，更新的该检测位置被设定为大于一基本距离。
6. 如权利要求4所述的方法，其特征在于当该抖动值接近或大于该 规范值时，更新的该检测位置被设定为小于一基本距离。
7. —种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，其特征在于包括下列步骤在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置；利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作；当该可录式光盘该数据区上的一刻录位置大于或等于该检测位置时，暂停该数据刻录动作；读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一数据读取错误率；根据该数据读取错误率更新该检测位置；以及利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作， 直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。
8. 如权利要求7所述的方法，其特征在于该最佳化功率校正动作 是计算出一 P值用以补偿该最佳刻录功率。
9. 如权利要求7所述的方法，其特征在于该最佳化功率校正动作是计算出一 e值用以修正一写入策略。
10. 如权利要求7所述的方法，其特征在于更包括下列步骤 当该数据读取错误率远大一临限值时，降低一刻录速度。
11. 如权利要求10所述的方法，其特征在于当该数据读取错误率 小于该规范值时，更新的该检测位置被设定为大于一基本距离。
12. 如权利要求10所述的方法，其特征在于当该数据读取错误率接近或大于该规范值时，更新的该检测位置被设定为小于一基本距离。
全文摘要
本发明一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，包括下列步骤在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置；利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作；当该可录式光盘该数据区上的一刻录位置大于或等于该检测位置时，暂停该数据刻录动作；读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一抖动值；根据该抖动值更新该检测位置；以及，利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作，直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。
文档编号G11B7/007GK101246700SQ20071007923
公开日2008年8月20日 申请日期2007年2月13日 优先权日2007年2月13日
发明者翁势凯, 范纲铭 申请人:建兴电子科技股份有限公司