专利名称：检测光盘内的数据恶化的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及存储介质内的缺陷管理，更具体来说，涉及检测在光 盘介质的正常恶化过程中出现的缺陷。
背景技术：
存在多种规定光盘上的存储的标准。其中有CD、 CD-R、 CD-R/W、 歸、歸-R、 ,+R、 ,+RW、蹈-R/W以及蓝光盘(DB)格式。所 述多种标准提供ROM类型介质、可记录类型介质以及可记录/可擦除类 型介质。在每种所述标准中使用的光学介质都提供长期存储，然而， 所述光学介质将最终随着使用时间而恶化。在所述光学介质随着使用 时间而恶化时，记录层也将恶化，从而导致在读出先前写在所述光学 介质上的数据的过程中所出现的错误的数目增多。这些错误可能是可 校正的错误，或者可能是不可校正的错误。所述可校正的错误能够被 所述系统校正达到某一阈值数量，该数量取决于对于所使用的特定类 型的光学介质所采用的标准。不可校正的错误总是不可接受的。随着 光学介质老化，最终，可校正的错误的数目将超出该特定标准所允许 的最大值。因此，在光学介质的领域内存在这样一个问题确定应当 在其间把包含在旧介质上的数据拷贝到新光学介质上的正确时间段， 以便在变得不可能恢复所有数据之前保留所述数据。此外，在本领域内还需要一种能够识别盘内的正常恶化以防止错 误损失的系统和方法。发明内容本发明的一个目的是解决现有技术中的上述需求，并且提供关于 应当把记录在光学介质上的数据重新记录在新光学介质上以保留重写 动作的确定，其中， 一旦检测到写入错误之后，只需要一次重写数据 的尝试。上述目的由各实施例实现，所述实施例限定了用于识别出存储介 质已经恶化到 一定程度从而建议把该存储介质上的数据拷贝到新的或 不同的存储介质上的方法和系统。一个实施例以均匀的方式把ECC码放置在光学介质上。在把光盘 插入到播放器/记录器中之后，所述ECC码被读取，并且确定已经对于 每个ECC块所进行的校正的数目。记录已经对于每个ECC块所进行的 校正的数目，这是通过把该数目存储在所述光学介质上而进行的。这 些校正通常被称作可校正的校正，这是因为被提供在所述光学介质上 的纠错能够从产生所述错误的被破坏的数据中解译出正确的数据。把 对于每个ECC块所进行的校正的数目与表示已经对于每个ECC块所进 行的校正的先前记录进行比较。设想随着光盘的记录层变得老化，该 记录层将会发生相对均匀的恶化。随着所述光学介质变得更为老化， 最终，每个ECC块所需的校正数目将会增多。基于当前从所述ECC块 读取的可校正错误的数目、所述可校正错误从对所述ECC块的先前读 取增多的速率或者二者的组合确定一个阈值，以便确立一个程度，在 该程度下很明显应当把记录在所使用的当前存储介质上的数据转移到 另一个存储介质上，以防止该数据损失。对于所述错误数目做出响应 如果ECC校正的数目没有超出所述预定阈值，则继续正常使用所述光 学介质；或者提供一个指示，以表明ECC校正的数目超出了该预定阈 值。在另一个实施例中，所述纠错码(ECC)块组以均匀的方式被放置 在所述光学介质上，并且每次当所述光学介质被置于使用中时被读 取。对于该组ECC块当中的每一个的读取,皮执^f亍几次，并且确定对于 该组ECC块当中的每一个所读出的错误的平均值。把各个ECC块的所 确定的平均值与一个预定阈值进行比较，该预定阈值表明可接受的校 正水平。所述可接受的校正水平可以是可校正错误的总数、从先前读 取确定的可校正错误增多的速率或者二者的组合。通过把来自各个ECC 块的可校正错误的平均值存储在所述光学介质上来记住这些值。对于 各个ECC块的该平均错误数目做出响应如果ECC校正的数目没有超 出所述预定阈值，则继续正常使用所述光学介质；或者提供一个指示， 以表明ECC校正的数目超出了该预定阈值，并且应当把存储在当前光 学介质上的数据保存在不同的存储介质上。
图1是示出本发明所设想的基本系统的方框图； 图2是本发明的一个实施例的流程图。
具体实施方式
光学介质(比如CD-R/W、 DVD土R/W和蓝光)上的信息层保存所记 录的数据，其往往会在较长时间段(以年计)内緩慢地恶化。这些光 盘介质通常被用于对数据进行归档。随着所述记录层恶化，到达一定 的恶化水平，从而需要把存储在该光学介质上的数据拷贝到另一个存 储设备上。这里公开的实施例详细描述了 一种用来提供指示的系统和 方法，在该指示的程度下有必要把所述数据拷贝到另 一个存储介质 上。光学介质通常采用检错码(EDC)来检测出现在存储于所述光学介 质上的错误；这些错误可能是可校正或不可校正的错误。不可校正的 错误导致数据不可使用。可校正错误可以由包含在所述光学介质上的 纠错码(ECC)校正。所述ECC可以只能够把所述可校正错误校正达到 一定的数量，该数量由对于该特定类型的光学介质所采用的标准决 定。如果可校正错误的数目低于特定最大数量，则可以完全校正数据。 随着光学介质老化，所述记录层如前所述地那样恶化，从而导致可校 正错误的数目增多。在读取光学介质的过程中，所述ECC块产生所找 到并修复的缺陷的数目，其是该光学介质的当前读出质量的指示。随 着所述信息层恶化，其导致缺陷的数目增多。通过分析缺陷的数目， 有可能检测记录层的恶化并且在可校正错误的数目变得过大并达到一 定程度从而其无法再由ECC块校正或变成不可校正的错误之前提供警 告。初始地，定义一组ECC块。来自该组的每个ECC块被读出几次， 并且对于每个ECC块所进行的ECC校正的平均数也被存储在盘上。在 较长时间段内规则地执行该过程可以检测盘的恶化。该组ECC块应当 被选择成在盘表面上相对均匀，从而可以静态地消除划痕、黑点。在 长的时间段内，介质恶化在盘表面上应当是均匀的；因此，ECC校正的 数目应当按照相对均匀的方式在盘表面上增多。参照图1，根据本发明的一个实施例，按照均匀的方式把ECC码6 放置在光学介质5上。控制10是在光盘播放器/读取器内采用的系统
机械、电子和光学装置的非常高级别的概括，其用来从/向诸如光学介质5的光学存储设备进行读取/写入。在把盘插入到播放器/记录器中 之后，控制10开始进行读取，所述ECC码6被读取，并且通过对ECC 块的缺陷进行计数13来确定已经为每个ECC块所进行的校正的数目。 本领域技术人员应当理解，图1中的光学介质5并不是按真实比例表 示的，并且ECC块6将小得多并且多得多。分析ECC块中的错误12将 注意当前在读取光学介质5的过程中所出现的错误，并且确定光学介 质5的总体质量。控制记录已经对于每个ECC块所进行的校正的数目， 这是通过把该数目存储在所述光学介质上进行的。这些校正通常被称 作可校正的校正，这是因为被提供在所述光学介质上的纠错能够从产 生所述错误的被破坏的数据中解译出正确的数据。在另一个实施例中，把对于每个ECC块6所进行的校正的数目与 表示已经对于每个ECC块所进行的校正的先前记录进行比较。随着光 学介质5的记录层变得更为老化，记录层将会发生相对均匀的恶化。 随着所述光学介质变得更为老化，最终，对于每个ECC块6所需要的 校正的数目将增多。通过分析ECC块中的错误12基于当前从所述ECC 块读取的可校正错误的数目、所述可校正错误从对所述ECC块的先前 读取增多的速率或者二者的组合确定一个阈值，以便确立一个程度， 在该程度下很明显应当把记录在所使用的当前光学介质5上的数据转 移到另一个存储介质上，以防止该数据损失。对于所述错误数目做出 响应如果ECC校正的数目没有超出所述预定阈值，则继续正常使用 所述光学介质；或者提供一个指示，以表明ECC校正的数目超出了该 预定阈值。在另一个实施例中，该组纠错码(ECC)块6以均匀的方式被放置 在所述光学介质5上，并且每次当所述光学介质被置于使用中时被读 取。该组ECC块当中的每一个被读取几次，并且对ECC块的缺陷进行 计数13确定对于该组ECC块6当中的每一个所读出的错误的平均值， 并且使用该平均值作为所述计数。分析ECC块6中的错误取得对于各 个ECC块6所确定的平均值，并且把所确定的该平均值与一个预定阈 值进行比较，该预定阈值表明可接受的校正水平。所述可接受的校正 水平可以是可校正错误的总数、通过观察先前读取所确定的可校正错 误增多的速率或者二者的组合。控制IO通过把来自各个ECC块的可校
正错误的平均值存储在所述光学介质5上来记住这些值。对于各个ECC 块的该平均错误数目做出响应如果ECC校正的数目没有超出所述预 定阈值，则继续正常使用所述光学介质；或者提供一个指示，以表明 ECC校正的数目超出了该预定阈值，并且应当把存储在当前光学介质上 的数据保存在不同的存储介质上。在另一个实施例中，所述"错误数据"被作为文件存储在目标盘 上，或者被存储在逻辑地址空间之外的保留区域内。利用被用于普通 数据的相同的ECC结构来编码被存储在该盘上的错误数据。该盘上的 保留区域也可以被使用；然而，由于各种盘标准中的差异，这一做法 可能更为复杂。此外，不是所有的标准都提供用于这种区域的空间。 很容易看出，在相同的盘上存储"错误数据，，并不总是可能的，特别 对于只读介质以及完成的可记录介质来说更是如此。对于这些介质来 说，所述"错误数据，，可以被存储在具有读/写能力的另一个介质上。 可替换地，所述扫描算法可以仅仅使用最大阈值来确定该盘是否必须 被拷贝。图2是示出由前述实施例所采用的基本算法的流程图。上面讨论 的实施例可以被实现为用于CD、 CD-R、 CD-R/W、 DVD、歸-R、歸+R、 DVD+RW、 DVD-R/W和蓝光(BD )类型的光学介质。这些不同格式当中 的每一种都将具有被组织成信息块的信息，其中每个信息块包含特定 数目的用户数据字节加上纠错数据、同步标记和地址信息的字节。一 旦控制10开始读取光学介质5，在开始21处进入该例程。随着控制 IO读取盘上的数据，其还顺序地识别要读取的下一个ECC块6 22。读 取ECC块24读取当前ECC块6并且确定当前ECC块的错误26，将确 定对于该ECC块6所发生的错误的数目。对应于ECC块6的错误数目 可以通过单一读取来确定，或者可以通过由多次读取确定的平均错误 数目来确定。存储错误数据28将记住对应于该ECC块6的错误数据， 这是通过把所述错误数据存储在该盘上，从而其与该ECC块6相关联。 前述各步骤将被重复循环，直到是否由更多要读取30的结果为负，此 时分析错误数据32将确定该光学介质5上的错误是否表明该光学介质 5的记录层的严重恶化。如果分析错误数据32的结果表明应当执行呈 现指示34，则设置指示36将设置一个标志。呈现指示34将警告用户 应当把该光学介质5上的数据拷贝到另一个存储设备上，以防止数据
损失，其后是在就绪38处退出该例程。如果分析错误数据的结果没有 表明所述记录层的严重恶化，则所述设置指示将不设置标志，并且该 例程将在就绪38处退出。上面的描述详细阐述了发明人最为优选的实施例。本领域技术人 员将很容易想到这些实施例的变型，因此本发明的范围应当由所附权 利要求书限定。
权利要求
1、一种用于确定光学介质上的错误的方法，包括按照均匀的方式在该光学介质上定义一组纠错码(ECC)块；读取该组ECC块当中的每一个；为该组ECC块确定ECC校正的数目；把所述ECC校正的数目与预定阈值进行比较，该预定阈值表明可接受的校正水平；以及响应于所述比较步骤，如果所述ECC校正的数目没有超出该预定阈值则继续正常使用该光学介质，或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。
2、 权利要求l的方法，其中，所述读取步骤还包括把该组ECC块 当中的每一个读取多次。
3、 权利要求2的方法，其中，所述确定步骤还包括为该组ECC块 当中的每一个确定ECC校正的平均数目，并且把所述ECC校正的平均数 目存储在所述光学介质上。
4、 权利要求3的方法，其中，所述比较步骤还包括对于该组ECC 块当中的每一个，把所述ECC校正的平均数目与先前存储的ECC校正的 平均数目进行比较。
5、 权利要求4的方法，其中，所述响应步骤还包括响应于所述 比较步骤，如果所述ECC校正的数目没有超出所述预定阈值则继续正常 使用所述光学介质，或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出 该预定阈值。
6、 权利要求l的方法，还包括以下步骤存储所述ECC校正的数目。
7、 权利要求6的方法，其中，存储所述ECC校正的数目的步骤还包 括把所述ECC校正的数目作为文件存储在所述光学介质上。
8、 权利要求6的方法，其中，存储所述ECC校正的数目的步骤还包 括把所述ECC校正的数目存储在所述光学介质上的逻辑地址空间之外 的保留区域内。
9、 权利要求6的方法，其中，存储所述ECC校正的数目的步骤还包 括把利用与该组ECC块相同的ECC结构进行编码的所述ECC校正的数目 存储在所述光学介质上。
10、 权利要求l的方法，其中，所述预定阈值是最大阈值，并且所 述响应步骤还包括如果达到该最大阈值，则警告必须拷贝所述光学 介质。
11、 一种用于确定光学介质上的错误的系统，包括 光学系统，其能够读取按照均匀的方式被包含在该光学介质上的一组纠错码(ECC)块；处理设备，其被编程来为该组ECC块确定ECC校正的数目； 比较例程，其把所述ECC校正的数目与预定阈值进行比较，该预定阈值表明可接受的校正水平；以及响应例程，其对所述比较例程做出响应，如果所述ECC校正的数目没有超出该预定阚值则继续正常使用该光学介质，或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。
12、 权利要求ll的系统，其中，所述光学系统还能够进行的读取 还包括把该组ECC块当中的每一个读取多次。
13、 权利要求12的系统，其中，所述处理设备还为该组ECC块当中 的每一个确定ECC校正的平均数目，并且把所述ECC校正的平均数目存 储在所述光学介质上。
14、 权利要求13的系统，其中，所述比较例程还包括求平均例程， 其对于该组ECC块当中的每一个，把所述ECC校正的数目与先前存储的 ECC校正的平均数目求平均。
15、 权利要求14的系统，其中，所述响应例程还对所述比较例程 步骤做出响应，如果所述ECC校正的数目没有超出所述预定阈值则继续 正常使用所述光学介质，或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目 超出该预定阈值。
16、 权利要求ll的系统，其中，所述光学系统还能够存储所述ECC 校正的数目。
17、 权利要求16的系统，其中，所述光学系统把所述ECC校正的数 目作为文件存储在所述光学介质上。
18、 权利要求16的系统，其中，所述光学系统把所述ECC校正的数 目存储在所述光学介质上的逻辑地址空间之外的保留区域内。
19、 权利要求16的系统，其中，所述光学系统把利用与该组ECC 块相同的ECC结构进行编码的所述ECC校正的数目存储在所述光学介质 上。
20、权利要求ll的系统，其中，所述预定阈值是最大阈值，并且 所述响应例程还包括警告例程，如果达到该最大阈值，则该警告例程 提供关于必须拷贝所述光学介质的警告。
全文摘要
本发明涉及一种用于检测光学介质中的恶化的系统和方法，这是通过在光学介质(5)上均匀地定义一组纠错码(ECC)块(6)并且读取每一个所述ECC块，以便在一旦把该光学介质置于使用中之后确定每一个所述ECC块的可校正错误的数目(13)。对各ECC块的读取的结果被存储在所述光学介质上。可以统计地重复对所述ECC块的读取，并且对每一个所述ECC块的结果求平均。通过在较长时间段内执行对所述ECC块的读取，可以确定盘的长期恶化，并且产生一个指示以表明应当把该盘上的数据拷贝到另一个存储设备上。在所述盘表面上均匀地选择所述ECC块，从而可以消除划痕、黑点。
文档编号G11B20/18GK101213605SQ200680024051
公开日2008年7月2日 申请日期2006年6月27日 优先权日2005年6月29日
发明者J·J·M·M·吉伦 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司