专利名称：改善最优功率校准的偏差的装置和方法
技术领域：
本发明的一个方面涉及光学记录设备，尤其涉及能够减小最优功率校准(Optimum Power Calibration)操作的偏差并能提高速度的技术。
背景技术：
在光学记录/再现设备中，使用具有精确功率的照射光束将信息记录到光学记录介质上是很重要的。由于所有记录介质和记录设备组合而成的环境以及设备之间的偏差的影响，基本上不能始终提供这种精确功率(例如，通过预先在盘上进行记录)因此，为了找到适合于记录操作的最优光功率，光学记录/再现设备一般在插入其中的光盘的测试区中进行最优功率校准(Optimum PowerCalibration)操作以检测最优光功率(Popt)，并在记录操作过程中使用所检测的最优记录光功率。
测试区是为记录测试模式特别保留的。这种保留区，例如，已知为盘测试分区或者OPC测试分区。这种测试区可构造成一个连续的区域或者构造成多个子区域。
也就是说，在对一次性可记录光盘(比如CD-R和DVD-R)执行一种记录模式时，光盘驱动系统通过功率校准区(PCA)来控制在相应的光盘上记录数据所需的激光功率(或记录功率)级。这被称为最优功率控制(OPC)。
不过，尽管能通过OPC操作获得最优记录功率，但如果记录环境在实际记录操作进行时被改变，就不可能产生精确的记录特性。例如，由OPC操作确定的最优记录功率可能会改变，于是被记录信号的贝塔(Beta)(或，不对称)也可能被改变从而产生不精确的记录特性。这在以下示例情形下有可能出现在光盘上每一个位置处产生功率敏感性的情况下，在LD的波长由于高温而偏移并且盘的倾斜现象引起射束点上产生偏差，从而改变了盘的厚度或导致盘上的射束点散焦的情况下，和/或在由于OPC完成以后很长时间之内都不能执行实际的记录而导致盘和/或光学条件改变的情况下。
为了解决以上问题，已经提出了一种通过在逐渐改变记录光功率的同时重复地进行记录和测量试验数据以便进行β补偿的方法。
下面，参考图1描述如上所讨论的相关技术的记录光功率补偿方法。
如图1所示，光盘插入装置中，请求执行记录操作(21)，并在记录操作开始之前在光盘的功率校准区(PCA)中执行OPC操作以确定最优记录功率(22)。也就是说，检测到最优光功率，该最优光功率对应于赋予每一个MID的最优β值。
根据相关技术，一般地，利用由OPC检测到的最优记录功率在光盘的特定区域中进行测试记录。然后，测量该区域中的记录信号的无线电频率(RF)级以设定目标β。
检测到的记录功率被记录作为盘的用户数据(24)。然后，确定记录介质是否是DVD-R(26)。如果在步骤26中确定记录介质是DVD-R(或在适当的情况下是CD-R)，就进行β补偿操作。
为了执行β补偿操作，模式被切换到读取模式，即引导程序切换到备用模式(30)，并且找到最后被记录的区域(31)。
基于操作31中在已记录区域处测量的射频(RF)级，通过OPC操作计算β值(32)。此时，通过测量上/中/下级来计算RF级。
在普通的OPC(光功率校准)操作中，系统的控制器施加控制信号至光学驱动器，并同时基于从光盘检测到的目标记录光功率(例如，8mW)而逐渐改变记录光功率。其间，光学驱动器利用与所施加的控制信号相对应的光功率输出用于测试数据的记录信号，并且光学拾波器记录PCA测试区域中的测试数据的特定量。
如果完全记录了测试数据，那么系统控制器控制光学拾波器按顺序读出测试数据，然后从更新的RF信号检测β值，该信号从R/F单元输出。
此外，系统控制器核对已经测量了多少次被检测的β值(图1的例子中设定为5次)(33)，如果测量已经进行了超过5次，就将被检测的β值存储在内存储器中(40)，并且如果已经执行了5次以上的测量，就计算被测β值的平均值(34)。
在操作34中算出的平均值与操作22中检测到的光盘β值(或目标β值)相比较(35)。如果发现被测β值与目标β值之间的绝对差值大于预定等级(或允许的范围a)，那么记录功率减少0.1mW(39)。相反，如果被测β值与目标β值之间的绝对差值小于预定级，那么记录功率增大0.1mW(37)。这样，完成了β补偿操作(38)。
如果在操作26中或者进行β补偿操作之后发现记录介质不是DVD-R，那么引导程序进入备用状态直到下一记录操作开始(28)，然后该过程结束(29)。否则，过程进行到操作24以利用上述操作中检测到的最优光功率将数据记录在盘的用户数据区中。
不过，存在这样的问题检测到的最优光功率可能由于记录光功率的严重偏差(通常，不小于0.4mV)而引起抖动，其中所述偏差是对被保留的PCA进行直流电完全擦除之后的记录光功率与在新盘的未记录区域中首先被OPC操作发现的记录光功率之间的偏差。这样，OPC操作可能不适合用于Blu-射线装置(Blu-ray set)。
此外，与普通的光盘相比，Blu-射线装置需要相对大量的时间以搜索OPC操作所需的区域。
也就是说，参考图2，如果插入了Blu-射线盘并请求进行记录操作(50)，则在记录操作开始之前，系统控制器在Blu-射线盘的OPC测试分区中搜索用于OPC操作的空白区(以下，称作物理ADIP(预凹槽中的地址)地址(PAA)区)(52)。此外，如果没有找到空白区，则利用擦除直流功率操作擦除所有PAA区(54)。
此后，用户数据通过功率摆动操作记录在PAA区中，且最优记录光功率通过测量和Kappa曲线来检测(56)。然后，记录信号由对应于最优记录光功率的光驱动电流来记录(58)。
在以上过程中普通的Blu-射线装置平均需要5秒钟来进行操作52，需要大约30秒钟执行操作54。
这样，由于至少需要5秒到35秒来设定PAA区，所以可以通过减少区域搜索时间来缩短整个记录时间。
发明内容
本发明为解决相关技术的以上和/或其他问题而设计，因此，本发明的一个方面是提供一种能够减少Blu-射线盘中的最优记录光功率的偏差并缩短记录时间的方法和装置。
为了实现本发明的以上和/或其他方面，本发明提供一种设定记录介质的最优记录光功率的方法，其包括设定用于测量记录介质的最优记录光功率的测试数据记录区；在利用擦除功率擦除设定记录区之后记录测试数据；以及检测被记录数据然后设定最优记录光功率。
优选地，测试数据记录区利用测试数据将要被记录的目标地址和长度而被设定，且长度设定为5个轨道。
测试数据可记录在设定记录区的中间地带的前面以便减少串扰。
记录介质可以是光盘、Blu-射线盘或相似类型的盘。
此外，测试数据记录区的设定步骤优选地包括读取最后被记录的地址和长度；通过把长度加到读取地址来产生新的地址；以及通过分配预定轨道至新的地址来产生新的长度。
最后被记录的地址和长度可以存储在非易失性存储器或记录介质的用户数据区中，然后从非易失性存储器或记录介质的用户数据区读出来。
此外，根据本发明的设定最优记录光功率的方法还可以包括利用设定的最优记录光功率将数据记录在记录介质中、从而可以利用最优记录光功率记录数据。
在本发明的另一方面中，还提供一种用于设定记录介质的最优记录光功率的装置，所述装置包括光学驱动器，用于根据输入信号输出强度驱动信号；光学拾波器，用于根据光学驱动器的强度驱动信号将信号记录在记录介质上并从记录表面检测记录信号；以及控制器，用于设定区域以在该区域上记录用于测量记录介质的最优记录光功率的测试数据，在利用擦除功率擦除设定记录区之后控制光学驱动器以在设定记录区中记录测试数据，并检测被记录数据以设定最优记录光功率。
优选地，测试数据记录区利用目标地址和长度来设定，其中测试数据将要记录至该目标地址和长度，且所述长度设为5个轨道，测试数据记录在设定记录区的中间地带的前面。
此外，记录介质可以是光盘。
控制器通过读取最后被记录的地址和长度、然后将长度加到读取地址来产生新的地址，与此同时通过将预定轨道分配给新的地址而产生新的长度来设定测试数据记录区。
此外，最后被记录的地址和长度优选地存储在非易失性存储器或记录介质的用户数据区中。
本发明的附加和/或其他方面和优点将部分地叙述于随后的说明内容中，并且通过说明内容将部分地变得明显或者通过本发明的实施而被了解。
通过以下结合附图来描述实施方式，本发明的这些和/或其他方面将变得清晰并更容易理解，其中图1是表示传统的记录光功率补偿方法的流程图；图2是表示传统的Blu-射线装置的OPC测试分区搜索过程的流程图；图3表示一种光盘设备，该设备应用了根据本发明实施方式的用于减少偏差和记录时间的改进方法；以及图4是根据本发明实施方式的Blu-射线装置的OPC测试分区的流程图。
具体实施例方式
现在将详细介绍本发明的实施方式，本发明的实例表示在附图中，其中相同的附图标记始终表示相同的元件。以下说明具体实施方式
以便通过参考附图来阐述本发明。
图3表示应用了根据本发明实施方式的改进方法来减少OPC操作的偏差和记录时间的光盘设备。如图3所示，光盘设备100包括数字记录信号处理器(DSP RECORD)150a，用来将误差校正码(ECC)加入输入数字数据，以便把输入数字数据转换为记录格式；信道位编码器(channelbit encoder)160，用来将已转换为记录格式的数据再转换为位流；光学驱动器170，用来根据输入信号输出强度驱动信号；光学拾波器190，用来根据强度驱动信号将信号记录在光盘110上，并从记录表面检测记录信号；R/F单元180，用来过滤和成形由光学拾波器190检测到的信号，以使信号输出为二进制码；驱动单元120，用来驱动主轴马达M，该马达使得光学拾波器190和光盘110旋转；伺服单元130，用来接收光学拾波器190的跟踪误差信号(TE)和聚焦误差信号(FE)以及光盘110的转速，并控制驱动单元120的操作；以及数字更新信号处理器(DSP REGENERATE)150b，用来利用二进制信号本身同步于从R/F单元180输出的二进制信号的时钟将该二进制信号复原为原始数据。
控制器140通过从被记录数据的更新RF信号所检测到的β值和功率增长级而最优地控制记录光功率，该功率增长级是在考虑了被插入光盘110或光学拾波器190在记录操作过程中的特性改变的基础上而为每一个记录速度设定。控制器140通过利用公知方法在记录区中测量RF级的上/下级来计算β值。
此外，控制器140包括存储器142，所述存储器142存储物理ADIP地址(PAA)区和最后记录在PAA区中的数据长度。因此，如果插入了光盘并请求进行记录操作，那么控制器140读取存储在存储器142中的长度以及PAA，选择目标PAA和长度，然后控制光学驱动器170，以便利用擦除功率无条件地擦除选定的PAA和长度。
尽管控制器140已被描述成包括内存储器142，但使用非易失性存储器(比如NVRAM)也是可能的。
以下，参考图4说明根据本发明实施例的在Blu-射线盘中搜索OPC测试分区的过程。如图4所示，如果插入了光盘并请求进行记录操作(210)，则控制器140读取存储在存储器142中的最后记录区，以便准备执行新的OPC操作(220)。也就是说，在操作220中，控制器140读取PAA区和存储在存储器142中的完成了最后的OPC操作的区的长度。
然后，与操作220中的PAA区和长度读取形成对比，控制器140指定新的PAA区和长度，在该区中执行新的OPC操作(230)。一般地，长度设定为5个轨道，并且根据本发明的实施方式，实际执行OPC操作的测试数据记录被记录在设定长度的中间地带的前面，以减少可能出现的串扰。
此后，控制器140通过利用擦除功率关于设定的PAA区和长度而无条件地擦除执行OPC操作所需的区域(240)。也就是说，控制器140使光学驱动器170运转而不管在记录操作中是否已经使用相应的区。因此，光学拾波器190一次性强制擦除相应的区。根据测试结果，相同的装置或相同的盘的OPC记录偏差小于0.1％，且测得的记录功率在±0.5％的范围内。因此，以上讨论的OPC操作适用于Blu-射线装置。
此外，强制擦除相应区域需花费大约0.5秒。从而，OPC区设定为0.5秒，但传统方法需要5到35秒，因为搜索空白APP区需要大约5秒，而当不存在空白PAA区时强制擦除所有PAA区需要大约30秒。因此，本发明能够缩短至少4.5秒到34.5秒的操作时间。
测试数据通过功率摆动记录在被擦除的PAA区，然后利用测量和Kappa曲线的应用来检测最优记录光功率(250)。然后，记录信号利用与被检测的最优记录光功率相对应的光学驱动功率而被记录(260)。执行操作250和260来记录测试数据并且搜索最优记录光功率，如传统方式一样。所以这里不再详细说明这些操作。
此外，尽管最后被记录的PAA区被描述成存储在存储器中，但也可以把最后被记录的PAA记录在盘的用户数据区，且在执行OPC操作之前在用户数据区中读取相关数据。这样，在数据存储于非易失性存储器的情况下，不能在另一张盘中使用数据。不过，如果数据如上所述地被记录在用户数据区中，那么即使改变了盘设备也可以有效地使用数据。控制器140预先设定目标PAA区和长度，并利用擦除功率一次性擦除数据，然后记录测试数据以便测量最优光功率。由于记录目标PAA区和长度的过程在本领域中是公知的，因此这里不详细说明。
如上所述，控制器140先设定PAA区以执行OPC操作，然后在搜索最优记录光功率的过程中利用擦除功率擦除该区，这会缩短时间并减少功率偏差，因为应用了同一处理器。
根据本发明的改善最优记录光功率偏差的方法和装置，可改善OPC记录功率偏差，并可以应用到Blu-射线装置，且导入时间将缩短至少4.5秒到34.5秒，这使得能够更快地执行记录操作。
尽管已经示出并说明了本发明的几种实施方式，但本领域熟练技术人员能认识到，在不脱离本发明的原理和主旨的情况下可以进行变更，其中本发明的范围由权利要求及其等效方案来确定。
权利要求
1.一种设定记录介质的最优记录光功率的方法，包括设定测试数据记录区，在该区中测量记录介质的最优记录光功率；在用擦除功率擦除设定记录区之后记录测试数据；以及检测被记录数据，然后基于最优记录光功率的测量设定最优记录光功率。
2.根据权利要求1的方法，其中，测试数据记录区利用目标地址和长度来设定，其中测试数据被记录至该目标地址和长度。
3.根据权利要求2的方法，其中，所述长度被设定为5个轨道。
4.根据权利要求3的方法，其中，测试数据记录在设定记录区的中间地带的前面。
5.根据权利要求1的方法，其中，记录介质是光盘。
6.根据权利要求1的方法，其中，记录介质是Blu-射线盘。
7.根据权利要求2的方法，其中，测试数据记录区的设定包括读取先前的最后被记录的地址和长度；通过将读取的长度加到读取的地址来产生新的地址；以及通过将预定轨道分配给新的地址来产生新的长度。
8.根据权利要求7的方法，其中，先前的最后被记录的地址和长度存储在非易失性存储器中。
9.根据权利要求7的方法，其中，最后被记录的地址和长度存储在记录介质的用户数据区中。
10.根据权利要求1的方法，还包括利用设定的记录光功率将数据记录在记录介质中。
11.一种设定记录介质的最优记录光功率的装置，包括光学驱动器，用于根据输入信号输出强度驱动信号；光学拾波器，用于根据光学驱动器的强度驱动信号将信号记录在记录介质中，并从记录表面检测记录信号；以及控制器，用来设定一区域以将用来测量记录介质的最优记录光功率的测试数据记录在该区中，用来控制光学驱动器以在利用擦除功率擦除设定记录区之后将测试数据记录在设定记录区中，并用来检测被记录数据以设定最优记录光功率。
12.根据权利要求11的装置，其中，测试数据记录区利用目标地址和长度而被设定，其中测试数据被记录至该目标地址和长度。
13.根据权利要求11的装置，其中，长度设定为5个轨道。
14.根据权利要求12的装置，其中，测试数据记录在设定记录区的中间地带的前面。
15.根据权利要求11的装置，其中，记录介质是光盘。
16.根据权利要求11的装置，其中，记录介质是B1u-射线盘。
17.根据权利要求11的装置，其中，控制器通过读取先前的最后被记录的地址和长度、然后把读取的长度加到读取的地址来产生新的地址，并且同时通过把预定轨道分配给新的地址来产生新的长度、从而设定测试数据记录区。
18.根据权利要求17的装置，还包括非易失性存储器以存储先前的最后被记录的地址和长度。
19.根据权利要求17的装置，其中，最后被记录的地址和长度存储在记录介质的用户数据区中。
20.一种设定记录/再现装置的最优记录光功率的方法，当请求执行记录操作时该方法与已经插入装置中的记录介质一起使用，该方法包括确定介质的区位置，最后的记录操作发生在该区上；基于最后的记录操作所发生的被确定的介质区位置来选择新区，其中在该新区上执行最优功率控制操作；擦除介质的新区上的任何数据；在介质的新区上执行最优功率控制操作，以确定装置的最优记录功率；将装置的记录功率设定在被确定的最优记录功率；以及执行所请求的记录操作。
21.根据权利要求20的方法，其中，发生了最后记录操作的介质区位置的确定包括读取介质的所述区的物理地址和长度。
22.根据权利要求20的方法，其中，擦除步骤包括不管介质的新区上是否存在数据都使装置的光学驱动器运转。
23.一种记录/再现装置的控制器，用于在插入装置中的记录介质上执行请求的记录操作，该控制器设计成设定介质的区，在该区上将要记录用来测量介质的最优记录光功率的测试数据，擦除设定区以执行最优记录光功率操作、从而通过将测试数据记录在设定区来确定最优记录光功率区，以及执行请求的记录操作。
24.根据权利要求23的控制器，其中，设定区位于控制器所读取的位置处、在先前的最后被记录操作发生的位置之后。
25.一种记录/再现设备，该设备应用了用来减少最优功率控制(OPC)操作的偏差和记录操作的记录时间的方法，该设备设计成基于所要记录的数据输出驱动信号至光学拾波器，该光学拾波器根据驱动信号将数据记录在介质上并检测从介质反射来的记录信号，该记录信号被二进制化，然后被更新，该设备包括控制器，用于读取介质上的最后被记录区的位置，基于最后被记录区的位置选择新区，在该新区中执行OPC操作，擦除新区，执行OPC操作以确定被擦除的新区处的光记录功率，以及在采用所确定的光记录功率的同时继续进行记录操作。
全文摘要
改进最优记录光功率的偏差问题的方法，所述方法能够通过在先设定可执行OPC操作的区域并以擦除功率擦除该区来减少OPC(光功率校准)功率的偏差并缩短导入时间。
文档编号G11B7/125GK1835099SQ20061006783
公开日2006年9月20日 申请日期2006年3月14日 优先权日2005年3月14日
发明者刘真雨, 李泰勋 申请人:三星电子株式会社