专利名称：：检查相位变化类型光记录介质的方法
技术领域：
：本发明涉及检查相位变化类型光记录介质的方法，具体来说，涉及评估由于高温环境中的改写的重复而造成的从相位变化类型光记录介质再生的再生信号的质量的下降的检查方法。
背景技术：
：迄今为止，在相位变化类型光记录介质(以下简称为“光盘”)中，在透明衬底上形成了由其中由于施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料所制成的记录层。在记录操作过程中，向记录层施加激光束以部分地熔化记录层，并且部分地熔化的记录层被快速地冷却和固化，从而在记录层中形成无定形记录标记。另一方面，在擦除操作过程中，向无定形记录标记施加激光束，以便以等于或低于记录层的熔点，但等于或高于记录层的结晶温度的温度加热无定形记录标记。结果，使无定形记录标记结晶，以将无定形记录标记的相态返回到原始未记录的相态。通过反复地执行这些处理类型，对于相位变化类型光盘，可以执行重复的重写，即，所谓的重复的改写。然而，当对于光盘反复地执行改写时，由于记录层中的质量传递而改变记录层的厚度，且接触记录层的介电层中的材料扩散到记录层中。结果，遇到了这样的问题，抖动特征变坏，信号振幅减小，如此，信号误差率增大。为了解决此问题，公开了一种技术，其中在记录层的紧上方或紧下方提供金属层，以便使在记录层内生成的热扩散到金属层中，从而在改写操作过程中在记录层上产生的热损伤降低，以提高记录层针对改写的重复的耐久性(请参阅日本专利公开No.Hei6-36352)。
发明内容现在已经发现，由于重复的改写导致的再生信号的质量下降在温度环境中比室温环境中变得更加显著。因此，对于相位变化类型光盘，在高温环境中需要保证重复的改写特征，假设在高温环境中使用记录/再现驱动器。然而，遇到了这样的问题，光盘的检查设备是精度机械设备，如此，高温环境中的检查设备的测量精度不能得到保证。为此，在目前的情况下，在高温环境中，没有执行对由于重复的改写导致的质量下降的高度准确的检查。本发明是在考虑到前述的内容的情况下作出的，希望提供检查相位变化类型光记录介质的方法，对于反复地可重写的相位变化类型光记录介质，该方法允许基于室温环境下的检查，准确地评估由于高温环境中的重复的改写而造成的重复信号的质量下降。根据本发明的一个实施例，提供了检查相位变化类型光记录介质的方法，包括下列步骤用为比一个激光功率高的给定值的激光功率对同一个道反复地执行改写，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料所制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下再生信号的抖动变得最小；在执行改写给定次数之后，测量再生信号的抖动值；并判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值。例如，优选情况下，用具有使抖动变得最小的激光功率的大约10％到大约15％的值的激光功率执行改写。根据本发明的一个实施例，在室温下用稍微大于最佳功率的激光功率反复地执行改写，当执行改写时测量抖动值。结果，可以准确地并简单地测量在高温下由于重复的改写而导致的相位变化类型光记录介质的特征的下降。根据本发明，每当在室温下反复地执行改写时，都测量再生信号的抖动值。结果，可以估计当在高温环境下反复地执行改写时再生信号的质量下降。因此，提供了这样的效果可以准确地测量相位变化类型光记录介质的耐久性，而不会给光盘检查设备带来负担，并可以准确地并简单地判断是否符合技术规范。图1是显示了根据本发明的一个实施例的检查光记录介质的方法中使用的光盘检查设备的配置的方框图；图2是显示了根据本发明的该实施例的检查光记录介质的方法中的已调制激光功率的波形的示例的图表；图3A和3B分别是显示了当在高温下对两个光记录介质反复地执行改写时抖动值的测量结果的示例的图形表示，和显示了当在室温下对两个光记录介质反复地执行改写时抖动值的测量结果的示例的图形表示；图4是显示了在通过利用根据本发明的该实施例的检查光记录介质的方法用不同的激光功率反复地执行改写之后抖动值的测量结果的示例的图形表示；以及图5是显示了在高温下反复地执行改写之后抖动的测量值和在室温下用比最佳功率大10％的激光功率反复地执行改写之后抖动值之间的关系，测量值和抖动值是通过利用根据本发明的该实施例的检查光记录介质的方法获得的。具体实施例方式下面，将参考图1到5详细描述根据本发明的检查相位变化类型光记录介质的方法的一个优选实施例。首先，图1显示了根据本发明的一个实施例的检查相位变化类型光记录介质(以下简称为“光盘”)的方法中使用的光盘检查设备。应该注意，图1所示的光盘检查设备1的配置只是示例，如此，本发明不仅限于此配置。光盘检查设备1包括驱动器3和光学拾取设备4。驱动器3用于旋转驱动可重写相位变化类型光盘2，光学拾取设备4用于将激光束施加到光盘2，并基于激光束的施加接收从光盘2反射的光。驱动器3包括主轴电动机5和馈送电动机6。主轴电动机5用于旋转驱动光盘2，馈送电动机6用于径向地移动光盘2。转台7被固定到主轴电动机5的旋转轴，光盘2适用于可拆卸地安装在转台7上。此外，编码器8被包含在主轴电动机5内。编码器8用于检测主轴电动机5的旋转，即，转台7(光盘2)的旋转，以输出表示旋转的状态的旋转检测信号。此外，通过主轴电动机控制电路11控制主轴电动机5的旋转。主轴电动机控制电路11控制主轴电动机5的转速，以便光盘2上的光点通过使用从摆动信号获取电路12提供的摆动信号、稍后将描述的从二值化电路27提供的数字信号(来自光盘2的再生信号)，相对于光盘2以固定线速度移动。还将速度控制信号从控制器13输入到主轴电动机控制电路11，并且通过使用速度控制信号将光盘2上的光点的线速度转换到另一个线速度(例如，相对于参考速度的双倍速度、四倍速度等等)。在此情况下，时钟信号的频率必须增加，增加后的时钟信号和摆动信号必须彼此同步。馈送电动机6连接到支承构件9，该支承构件通过螺杆10固定地支撑主轴电动机5，对于该支承构件，只允许光盘2的径向移动。螺杆10的一端连接到馈送电动机6的旋转轴，以便与馈送电动机6整体地旋转，螺杆10的另一端被拧进固定到支承构件9上的螺母(未显示)。如此，当馈送电动机6旋转时，主轴电动机5、转台7和支承构件9通过包括螺杆10和螺母的螺旋机构在光盘2的径向移动。此外，用于检测馈送电动机6的旋转以输出与如上文所提及的编码器8中的旋转检测信号相同的旋转检测信号的编码器(未显示)也被包含到馈送电动机6中。来自此编码器的旋转检测信号被提供到螺杆伺服电路(threadservocircuit)14。螺杆伺服电路14通过使用跟踪伺服信号(除了此旋转检测信号之外)控制馈送电动机6的旋转，以控制主轴电动机5、转告7和支承构件9在光盘2的径向的位移。具体来说，螺杆伺服电路14作为其输入从控制器13接收通过输入电路15指定的表示光点在光盘2上的径向位置的信号。然后，螺杆伺服电路14通过使用来自编码器8的旋转检测信号将光点移动到指定的径向位置。此外，螺杆伺服电路14执行控制，以便光点通过使用跟踪伺服信号跟随光盘2上的道。另一方面，光学拾取设备4包括激光源16、准直透镜17、偏振射束分裂器18、1/4波长盘19、物镜20、柱面透镜21和光检测器22。在光学拾取设备4中，从激光源16发出的激光束通过准直透镜17、偏振射束分裂器18、1/4波长盘19以及物镜20聚集在光盘2上，以在光盘2上形成光点。此外，从光盘2上形成的光点反射的光，被引入到光检测器22中，以通过物镜20、1/4波长盘19、偏振射束分裂器18，以及柱面透镜21在那里被接收。光检测器22由包括四个光接收元件的四个分区光接收元件构成，这些元件具有相同的方块形状，并使用分区线(partitionline)通过分区获得。四个光接收元件分别以接收到的光信号的形式输出与接收到的光的量成比例的检测信号A、B、C和D。此外，光学拾取设备4还包括聚焦致动器23和跟踪致动器24。聚焦致动器23在激光束的光轴的方向(在垂直于光盘2的盘表面的方向)驱动物镜20。跟踪致动器24在光盘2的径向驱动物镜20。光盘检查设备1包括连接到光检测器22的放大电路(未显示)，用于分别放大来自光检测器22的检测信号A、B、C和D。再生信号生成电路25、聚焦误差信号生成电路32和跟踪误差信号生成电路34连接到放大电路。再生信号生成电路25基于来自放大电路的信号生成再生信号(作为来自光检测器22的检测信号A到D的和信号(A+B+C+D)的SUM信号)。此再生信号依据频率通过由均衡电路构成的波形均衡电路26与其振幅连接，并输出到二值化电路27。如此输出的再生信号被二值化电路27转换为二进制信号，即，数字信号，并提供到抖动测量设备28。通过抖动测量设备28，再生信号的抖动被测量，并被用作再生信号的质量下降的评估因素。此外，来自波形均衡电路26的输出信号也被提供到由数字示波器构成的波形评估设备29。然后，波形评估设备29对再生信号的波形就再生信号的对称属性、对于每一个记录标记长度的振幅比等等执行评估。在由计算机构成并用作为控制装置的控制器13的控制下，抖动测量设备28和波形评估设备29把有关再生信号的评估结果提供到控制器13。因此，控制器13通过使用这些评估结果来检查光盘2。此外，来自二值化电路27的数字信号也被输出到主轴电动机控制电路11，以便以如上所述的方式控制主轴电动机5。聚焦误差信号生成电路32通过放大电路，使用来自光检测器的检测信号A到D基于算术运算来生成聚焦误差信号(具体来说，通过利用散光方法作出的算术运算((A+C)-(B+D)))。然后，聚焦误差信号生成电路32将聚焦误差信号输出到聚焦伺服电路33。聚焦伺服电路33基于输出给它的聚焦误差信号生成聚焦伺服信号，并将聚焦伺服信号提供到驱动电路30。驱动电路30根据聚焦伺服信号控制聚焦致动器23的驱动，以便在光轴的方向移动物镜20。驱动电路30以这样的方式执行聚焦伺服控制。此外，跟踪误差信号生成电路34通过放大电路，使用从光检测器22发送的检测信号A到D基于算术运算生成跟踪误差信号(具体来说，算术运算((A+B)-(C+D)))。然后，跟踪误差信号生成电路34将如此生成的跟踪误差信号输出到跟踪伺服电路35。跟踪伺服电路35基于跟踪误差信号生成跟踪伺服信号，并将如此生成的跟踪伺服信号提供到驱动电路31。驱动电路31根据跟踪伺服信号控制跟踪致动器24的驱动，以便在光盘2的径向移动物镜20。驱动电路31以这样的方式执行跟踪伺服控制。然后，跟踪误差信号生成电路34中生成的跟踪误差信号还被提供到由带通滤波器构成的摆动信号获取电路12。摆动信号获取电路12从跟踪误差信号中获取摆动信号，并将如此获取的摆动信号提供到主轴电动机控制电路11。如此提供的摆动信号用于在主轴电动机控制电路11中以给定线速度旋转光盘2。此外，在跟踪伺服电路35中生成的跟踪伺服信号还被提供到螺杆伺服电路14。螺杆伺服电路14从提供给它的跟踪伺服信号中提取D.C.分量，如此提取的D.C.分量用于控制馈送电动机6。跟踪伺服信号用于使光点跟随螺杆伺服电路14中的道。诸如键盘之类的输入电路15还连接到控制器13。由用户通过键盘输入有关光盘检查设备1的操作的指令。例如，通过键盘，发出指定光盘2上的光点的线速度的大小的指令(切换线速度)。此外，控制器13根据通过输入单元15发出的指令，将表示光盘2上的光点的线速度的大小的速度控制信号输出到主轴电动机控制电路11，并控制线速度(主轴电动机5的转速)的转换。此外，控制器13还控制激光源16的光发射。例如，控制器13根据通过输入单元15发出的指令，将施加到光盘2的激光束的功率转换到另一个功率。在作为测量的目标的相位变化类型光盘2中的透明衬底上提供记录层，该记录层由其中由于施加于此的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成。在较短时间内从激光源16向记录层施加具有强功率的激光束，以便以等于或高于熔点的温度快速使记录层加热以部分地熔化记录层之后，部分地熔化的记录层被快速地冷却以非晶化(amorphized)，从而在记录层中形成记录标记。此外，在向记录标记施加具有相对比较弱的功率的激光束以使记录标记的温度上升到可结晶的温度(每一个温度都比熔点低)的范围之后，记录标记慢慢地被冷却，以便结晶，从而执行擦除。即，在记录操作过程中，根据信息信号，例如向记录层施加被调制以便具有如图2所示的激光功率波形的光点状的激光束。在图2中，横轴表示时间，纵轴表示激光功率。被用具有记录功率(P1)(即，具有非晶化级别(amorphizationlevel))的激光束照射的光盘2的一部分变为非晶态，不管激光束照射之前的相态如何。另一方面，被用具有擦除功率(P2)(即，结晶级别(crystallizationlevel))的激光束照射的光盘2的一部分变为晶态，不管激光束照射之前的相态如何。通过这样的改写操作，在记录层中形成或从记录层中擦除记录标记。此外，用具有弱级别(P3)的激光束照射光盘2的记录层，并检测晶态和非晶态之间光的质量变化，从而执行信息的再现。记录功率(P1)和擦除功率(P2)被分别设置为激光功率(最佳功率，在此，再生的抖动变得最小)。在这样的光盘2中，当对记录层的同一个道再三反复地执行改写时，由于热损伤的累积，用来形成记录层的薄膜的厚度变化，由于不能保持记录层的初始特征，因此会发生误差。结果，不能获得忠于记录信号的再生信号。在高温环境下而不是在室温环境下，显著地出现由于重复的改写而导致的光盘的特征下降。此外，依据光盘的不同，特征的下降的程度也不同。下面将参考图3A和3B描述通过使用光盘检查设备1，测量作为可改写的相位变化类型光盘2的示例的DVD-ReWritable(DVD-RW)介质(在DVDForum中标准化)的特征的下降的结果。图3A显示了当在高温下对两个DVD-RW光盘A和B反复地执行改写时测量抖动值的结果的示例。图3B显示了当在室温下对两个DVD-RW光盘A和B反复地执行改写时测量抖动值的示例。在这些示例的测量中，高温被设置为大约60℃，室温被设置为大约20℃，并以最佳功率执行改写1,000次。此外，当标准DVD的转速(线速度)为3.5m/s时，以7.0m/s(这是3.5m/s的两倍)的转速执行测量。在这些示例中，以额定转速的两倍的转速执行测量，甚至在以额定转速执行测量的情况下，也可以获得几乎相同的结果。从图3A和3B可以看出，在室温下，在两个光盘A和B中将抖动恶化抑制到比较小的程度。然而，在高温下，两个光盘A和B之间的抖动值之差随着改写次数增大而变得显著，如此，光盘A中的抖动大大地恶化。即，当在高温环境下执行测量时，可以轻松地区别两个光盘之间的质量差。然而，难以估计在室温环境下的正常检查中的特征下降。而且，甚至在以DVD+RW联盟标准化的DVD+RW介质的情况下，也可以获得相同的测量结果。然后，在本申请中，为了基于室温下的检查评估由于高温下的重复改写造成的光盘的特征的下降，在室温环境下，用具有比允许最小抖动的记录功率(最佳功率)要大的给定值的记录功率反复地执行改写。接着，测量在执行改写给定次数(例如，1,000次)之后的再生信号的抖动值。即，如图2所示，用激光功率P1′和P2′(具有分别大于最佳无定形化级别(P1)和最佳结晶级别(P2)的给定值)反复地执行改写。此时，激光功率的擦除功率级别(P2′)与记录功率级别(P1′)的比率和擦除功率级别(P2)与记录功率级别(P1)的比率相同，并如此保持不变。从上文所提及的测量中，获得下列结果。图4显示了在室温环境下用不同的激光功率对光盘A和B反复地执行1,000次改写之后测量再生信号的抖动值的结果。在图4中，横轴表示激光功率相对于最佳功率的变化值，纵轴表示用抖动测量设备28测量的抖动值。在横轴中，当激光功率为0％时的激光功率被设置为最佳功率。从图4可以看出，当在光盘A和B中抖动随着激光功率增大而恶化，对于比最佳功率大10％的激光功率，光盘B中的抖动大约为12％，而光盘A中的抖动大约为15％，作为可接受的质量的一个参考。此外，对于比最佳功率大15％的激光功率，光盘A的抖动进一步大大地恶化到这样的程度，以至于不能用光盘检查设备1对它进行测量。应该注意，在此示例中，改写的重复次数被设置为1,000次，改写的重复的次数不仅限于此值，只要基于此可以识别光盘之间的抖动中的差即可。接下来，图5显示了在高温环境(60℃)下用最佳功率对几种相位变化类型光盘反复地执行改写1,000次之后抖动值的测量值，以及在室温环境下用比最佳功率大10％的激光功率对于该几种相位变化类型光盘反复地执行改写1,000次之后再生信号的抖动值之间的关系。从图5中可以看出，在测量值和抖动值之间可以发现几乎直线的关系。在用激光功率(比最佳功率高大约10％到大约15％的值)执行测量的情况下，可以获得几乎相同的结果。从这一点可以确认，在室温下用比最佳功率稍微大的激光功率反复地执行改写，由此可以估计由于高温下的重复的改写而导致的光盘的特征的下降。其中在室温环境下于检查过程中施加的激光束的激光功率处于至少比最佳功率高大约10％，至多比最佳功率高大约15％的范围，被判断为是适合作为根据上文所提及的实施例的检查过程中的测量条件。此外，如图5所示，当在高温环境下的重复的改写之后再生信号的抖动值大约为15％时，在室温下用比最佳功率大10％的激光功率执行重复的改写之后的抖动值也大约为15％。由此，至于一个参考，在室温下反复地执行改写例如1,000次之后再生信号的抖动值等于或小于15％的事实优选地被确定为光盘的质量的标准。例如，测量再生信号的抖动值，控制器13判断测量值是否等于或小于存储在非易失性存储器中(未显示)的、用于光盘中的抖动的参考值，基于判断结果，判断是否符合技术规范。顺便提及，在图5所示的关系揭示如果在高温下重复的改写之后再生信号的抖动值大约为15％，在室温下用比最佳功率大10％的激光功率反复地执行改写之后的抖动值大约为13％，则可以判断，在室温下等于或小于13％的抖动值满足高温下的15％的参考值。此外，在此实施例中，高温下抖动值的参考值被设置为15％，优选情况下，依据介质的技术规格适当地设置参考值。根据上文所描述的结构，对于可重写相位变化类型光盘，可以从室温下的测量中估计在高温环境下反复地执行改写时再生信号的质量的下降。因此，可以准确地测量在高温下相位变化类型光记录介质的耐久性，而不会给光盘检查设备带来负担，并可以准确地并简单地判断是否符合技术规范。然而，应该理解，本发明不仅限于上文所提及的实施例，在不偏离本发明的精神的情况下，可以采用各种其他结构。权利要求1.一种检查相位变化类型光记录介质的方法，包括下列步骤用为比一个激光功率高的给定值的激光功率对同一个道反复地执行改写，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下再生信号的抖动变得最小；在执行改写给定次数之后，测量再生信号的抖动值；以及判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值。2.根据权利要求1所述的检查相位变化类型光记录介质的方法，其中，用具有使抖动变得最小的激光功率的大约10％到大约15％的值的激光功率执行改写。3.根据权利要求1所述的检查相位变化类型光记录介质的方法，其中，在反复地执行改写给定次数之后抖动值的参考值为15％。4.根据权利要求1所述的检查相位变化类型光记录介质的方法，其中，在改写过程中激光功率的擦除功率级别与记录功率级别的比率是恒定的。5.根据权利要求1所述的检查相位变化类型光记录介质的方法，其中，改写的次数为1,000次。6.根据权利要求1所述的检查相位变化类型光记录介质的方法，其中，所述相位变化类型光记录介质是DVD-RW介质或DVD+RW介质。全文摘要本发明的目的在于，对于反复地可重写的相位变化类型光记录介质，允许基于室温环境下的检查评估由于高温环境中的重复的改写而造成的再生信号的质量下降。用某一个激光功率对同一个道反复地执行改写，该激光功率是高于一个激光功率的给定值，利用该一个激光功率，对于其中提供了由因为施加的激光功率的差而导致晶态和非晶态之间的相位变化的材料制成的记录层的相位变化类型光记录介质，在室温下，再生信号的抖动变得最小。测量反复地执行改写给定次数之后的再生信号的抖动值，并判断所测量的抖动值是否等于或小于参考值，从而评估再生信号的质量的下降。文档编号G11B7/24GK1822149SQ20061000593公开日2006年8月23日申请日期2006年1月19日优先权日2005年1月19日发明者恒木启三申请人:索尼株式会社