专利名称：一次性写入光学记录介质及其缺陷管理信息的管理方法
技术领域：
本发明涉及一次性写入光学记录介质，及用于管理所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理信息的方法及装置，并且具体的说涉及一种用于分配临时缺陷管理区域的方法和装置、用于分配用于缺陷管理的备用区域的方法以及一次性写入光学记录介质，在所述一次性写入光学记录介质上，临时缺陷管理区域及备用区被分配在一种光学记录介质如一次性写入蓝光光盘上。
背景技术：
光盘，作为一种光学记录介质，可以记录大量的数据，并且现得以广泛使用。当前，正在开发一种新颖的高密度数字多用途光盘(HD-DVD)如蓝光光盘(Blu-ray Disc)。这种介质可以长时间记录和存储高品质视频数据及高保真度的音频数据。
蓝光光盘是下一代光学记录解决方案，可以比现有DVD存储更大量的数据。
蓝光光盘一般采用具有405nm波长的蓝-紫激光。该波长比在现有DVD上使用的红色激光波长短。该红色激光的波长为650nm。蓝光光盘具有1.2mm的厚度及12cm的直径，并包含具有大约0.1mm厚度的光传输层。因此，蓝光光盘可以比现有DVD存储更大量的数据。
一种用于在所述蓝光光盘上写入及读取数据的光盘装置如图1所示。其包括光学拾取器11，其用于在光盘10上写入信号及从光盘10读取信号；视频光盘记录器(VDR)系统12，其用于将从光学拾取器11读出的信号处理成重播信号，或用于调制并处理外部输入的数据流使其成为适合记录的记录信号；以及编码器13，其用于将外部输入的模拟信号编码并输出编码的模拟信号至VDR系统12。
蓝光光盘可以为可重写类型，此处称为蓝光可重写光盘(BD-RE)。BD-RE具有可重写能力，使得在其上可以反复写入、擦除及重写视频及音频数据。BD-RE(如图2所示)分为导入区(LIA)、数据区及导出区(LOA)，而所述数据区的前部及后部分配有内部备用区(ISA)及外部备用区(OSA)。
对如上述方式设置的BD-RE，如图1中所示的光盘装置的VDR系统12编码并调制外部输入的信号成为适于记录的信号，并以对应错误校正块单元的簇为单位来记录。如果当在BD-RE上记录数据时，在数据区中出现缺陷区，那么根据线性替换操作，在所述缺陷区上记录的一簇单元的数据也记录在所述备用区(例如，在BD-RE上的所述内部备用区)上。可以执行一系列的线性替换操作。
因此，所述光盘装置的VDR系统12将记录在缺陷区的簇单元的数据记录在备用区上，即使缺陷区出现在可重写蓝光光盘的数据区中。当对可重写蓝光光盘执行回放操作时，读出记录在备用区的数据并重放，所以可以防止数据记录错误。
与蓝光光盘相关的各种标准在开发之中。
在这方面，其上数据不是重复重写的(非可重写)而只是一次性写入的第二种蓝光光盘，在这里称为一次性写入蓝光光盘(BD-WO)。
当不需要重复重写数据时，所述一次性写入蓝光光盘是有用的。在BD-WO中，需要管理缺陷区。
因为在BD-RE上可以反复记录数据(BD-RE的特性使然)，所以用于可重写蓝光光盘的缺陷管理区(DMA)的大小相对小(见图2中DMA1-DMA4)。反之，因为在一次性写入蓝光光盘上数据只记录一次，所以对于BD-WO管理缺陷区所需的区域应当大于对于BD-RE所需的区域。因此，对于BD-WO应当分配充分大的缺陷管理区。
用于BD-WO的有效的缺陷管理方法要求对于可应用到BD-RE的标准的一致性和兼容性，包括涉及为在信息和数据的记录和重放中获得更有效、更稳定及更高性能而记录和重放管理信息的一致性和兼容性。因此，需要一种用于记录和管理BD-WO缺陷区及相关信息的创新的方法、装置及结构。
发明内容
因此，本发明涉及一种一次性写入光学记录介质(BD-WO)及其缺陷管理信息的管理方法，以及一种用于实现所述方法的装置，本发明基本上避免一个或多个因所述现有技术的限制及缺点而引起的问题。
本发明另外的优点、目标及特征将在下面的说明中部分地阐明，本领域普通技术人员将根据对下述内容的验证或实践本发明，来部分地明了或领会到本发明另外的优点、目标及特征。通过在书面说明和权利要求以及附图中特别指出的结构，可以实现和得到本发明的目标及其他优点。
为实现这些目标和其他优点并根据本发明的目的，如在此处具体和广泛地说明的，管理具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上缺陷的方法包括如下步骤分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，并在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上记录缺陷管理信息。
在本发明另一方面，用于管理一次性写入光学记录介质上缺陷的装置包括用于给所述光学记录介质分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区的装置，及用于在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上记录缺陷管理信息的装置。
在本发明另一方面，具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质包括至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，其中缺陷管理信息被记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。
需理解，本发明的前述的一般说明及后面的详细说明都是示例性和解释性的，并用来提供对如权利要求的本发明的进一步解释。
从下面同附图一起给出的详细说明可以更全面理解本发明进一步的目标及优势。附图中图1说明所述现有技术的光盘装置的示意结构；图2说明BD-RE的记录区的结构；图3说明用于本发明的BD-WO的光盘装置的示意结构；图4说明根据本发明实施例的光学记录介质的记录区的结构；图5说明根据本发明另一实施例的光学记录介质的记录区的结构；图6说明本发明的临时或暂时缺陷管理区使用方法的实例；图7说明本发明的临时或暂时缺陷管理区使用方法的另一实例；图8说明本发明的临时或暂时缺陷管理信息构成方法的实例；
图9说明本发明的临时或暂时缺陷管理信息构成方法的另一实例；图1O说明根据本发明实施例的信息内容和TDDS的结构；图11为本发明的DMA、TDMA及IDMA的对比表。
具体实施例方式
现将详细描述本发明优选实施例，其实例在附图中说明。在任何可能情况，在全部附图中将使用同样的附图标记来表示同样或近似的部分。
参考图3，根据本发明的用于蓝光一次性写入光学记录介质的光盘记录/再现装置20包括光学拾取器22，其用于将数据写入到光学记录介质21(如BD-WO)及从所述光学记录介质21中读取数据；拾取器伺服单元23，其用于控制所述光学拾取器22来保持光学拾取器22的物镜同所述光学记录介质21间的距离，并用于跟踪有关轨道；数据处理器24，其用于处理并提供输入数据至所述光学拾取器22；接口25，其用于同外部主机30交换数据；存储器27，其用于存储关于缺陷管理的信息；及微型计算机26，其用于控制上述单元。所述装置20的所有部分工作地连接。所述主机30被连接至用于将数据写入到光学记录介质21及从光学记录介质21中读取数据的装置20的接口25，来交换数据及指令。
当载入光学记录介质如BD-WO时，所述装置20将关于缺陷管理的信息，如DMA(缺陷管理区)信息、TDMA(临时缺陷管理区)信息等，载入所述存储器27或其他适合的存储器。在工作期间，存储器27根据缺陷管理操作而更新。本方法也可以使用在图1中所示的装置或其他合适的装置或系统来实现。
图4说明根据本发明的BD-WO的记录区的结构。图4中所示的BD-WO具有单层光盘的结构。而且图4中所示的BD-WO包括导入区、数据区及导出区。用户数据区位于数据区内。所述导入及导出区包括最终或永久缺陷管理区(DMA1-DMA4)。每一各自区域中的箭头用作数据记录方向的实例。
根据本发明，将临时缺陷管理区(TDMA)提供在BD-WO的导入区内。此处，所述TDMA可以同缺陷管理区(DMA1、DMA2、DMA3及DMA4)区别开。特别地，BD-WO的临时缺陷管理区(TDMA)是在所述BD-WO最终完成之前用来临时记录和管理缺陷管理信息的BD-WO的区域。此后，所述缺陷管理信息被记录至多个缺陷管理区，如在图4中所示的记录层上DMA1-DMA4中至少一个上。例如，在将数据记录到BD-WO的用户数据区已经完成时，认为BD-WO最终完成。在导入区中提供的TDMA具有固定大小，如2048个簇。
图4中所示的BD-WO的数据区包括用户数据区，内部备用区ISA0及外部备用区OSA0。使用全部内部备用区ISA0作为用于线性替换的区域，即替换区，用于存储分配到用户数据区的缺陷区域的数据。没有TDMA分配至内部备用区ISA0。如本发明一实施例所提供的，所述外部备用区OSA0包括暂时缺陷管理区(IDMA)。这里，所述IDMA区别于前述在导入区内具有固定大小的TDMA。在这一点上，IDMA被看作是具有可变大小的临时缺陷管理区。然而，尽管TDMA和IDMA间有差别，但二者可以具有同样内容，和/或根据考虑到实际记录过程中的各种方式、时间和/或事件，使用TDMA及IDMA的方式可以彼此不同。这将在讨论使用TDMA及IDMA的方法时更详细地讨论。
在图4所示的单层BD-WO中，部分外部备用区OSA0用作IDMA，而外部备用区OSA0的剩余部分作为用于线性替换的区域(替换区)。例如，IDMA被分配至邻接OSA0替换区的部分。根据备用区的大小可变地分配IDMA的大小。因为外部备用区(OSA0)具有可变大小，所述IDMA也具有可变大小。
这里，根据是否确定分配备用区来将具有可变大小的IDMA分配到数据区。如果分配外部备用区，那么IDMA可以以上述方式来分配。如果不分配外部备用区，那么只分配具有固定大小的TDMA(而不分配IDMA)。在这种情况下，TDMA用来管理缺陷管理信息。在另一实例中，即使存在备用区OSA0，根据设计的选择仍可以不分配IDMA。就是说，设计者对IDMA的分配有广泛的设计选择。然而，如果分配了备用区(例如，OSA0)，那么在一个实施例中两者一般总是一起分配，就是说，如果分配了OSA0，那么也在OSA0中分配IDMA。
位于光盘外部轨道的IDMA的大小取决于备用区OSA0的大小(OSA0的大小是可变的)。举例来说，如果备用区OSA0的大小为N×256(0≤N≤64)个簇，那么IDMA的大小可以变为P×256个簇，其中P＝N/4。P和N可以是整数。换而言之，在上述实例中，可以使用这样的方法(作为实例)其中将IDMA(具有可变大小)的大小分配为外部备用区大小的四分之一。
举例来说，如果N＝64，那么因为外部备用区OSA0的大小为16384个簇而P＝N/4＝16，所以暂时缺陷管理区IDMA的大小为4096个簇。
类似地，位于光盘外部轨道区的IDMA的大小可以不同于上面给出实例中的大小，在上面的实例中，根据备用区OSA0的大小来使得IDMA的大小可变。在考虑到当外部备用区OSA0中保留用于线性替换的区域的情况，用于线性替换的区域的大小、缺陷管理区的大小及备用区OSA0的大小可能彼此相关。与之对比，内部轨道区的大小，特别是位于导入区的TDMA的大小，为固定值。
在图4中所示的实施例中，容易理解TDMA不是位于数据区内，而是位于导入区内。暂时缺陷管理区IDMA位于外部备用区OSA0中，并可以设置成大小为“0”。在这种情况，全部OSA0将用作替换区。在另一种情况，如果不执行缺陷管理，那么ISA0和OSA0可以被分配成大小为“0”。然而，因为导入区的TDMA是可用的，即使不管理临时缺陷列表(TDFL)，也可以使用临时光盘定义结构(TDDS)来记录和管理特定信息。在后文中将提供对记录(并在此使用)TDFL及TDDS的方法的进一步解释。
根据本实施例，如果在BD-WO中记录数据时产生或发现缺陷区(如，用户数据区)，那么将已记录(或将记录)在缺陷区上的数据记录在用于线性替换的预定区域。缺陷区可以因记录过程自身而产生，或者在记录时可以“发现”缺陷区。在后一种情况，发现的缺陷区不是当前记录过程导致的。在产生缺陷的情况，相应的缺陷管理信息记录在临时和暂时缺陷管理区TDMA和IDMA二者上。
图5所示为本发明的一个实施例，说明BD-WO记录区的另一结构。图5中所示的BD-WO具有双层光盘的结构。如图5中所示的BD-WO包括在第一记录层(层0)上的导入区、数据区50a及外部区(Outer area 0)，以及在第二记录层上的导出区、数据区50b及外部区(Outer area 1)。
在每一区域中的箭头为说明数据记录方向的实例。
然而，在所示的双层BD-WO中，在所述导入区和导出区都提供有本发明的临时缺陷管理区(TDMA)。如图所示，所述数据区50a、50b包括内部备用区ISA0和ISA1及外部备用区OSA0和OSA1。在每一记录层上，每一内部区ISA1和外部区OSA0及OSA1都包括IDMA。换而言之，IDMA被分配给备用区OSA0、OSA1及ISA1的每一个，全部IDMA具有的可变大小，该可变大小依赖于除ISA0(可能具有固定大小)外的备用区的可变大小。
在该例中，如图5中所示，提供在双层BD-WO的导入区(第一记录层)和导出区(第二记录层)中的TDMA具有固定大小，如，2048个簇。
所述内部备用区ISA0的全部用作用于线性替换的区域。换而言之，用于临时缺陷管理的IDMA没有被分配给内部备用区ISA0。
部分内部备用区ISA1、外部备用区OSA0和OSA1用作IDMA，而内部备用区ISA1及外部备用区OSA0和OSA1的剩余部分(或其他部分)用作用于线性替换缺陷区的区域。在一个实例中，将IDMA分配给备用区中的一部分，该部分邻接用于线性替换的区域。根据备用区ISA1、OSA0和OSA1(这些备用区具有可变大小)的大小来分配IDMA的大小。
这里，依据是否作出分配相应备用区(对应特定IDMA的备用区)的决定来分配具有可变大小的IDMA给数据区。如果分配备用区，那么IDMA可以如上述分配。如果没有分配备用区，那么只有TDMA可以分配。一些或全部导入区和/或导出区可以用来存储缺陷管理信息。举例来说，如果外部备用区OSA0、OSA1的大小为N×256(0≤N≤32)个簇，而内部备用区ISA1的大小为L×256(0≤L≤64)个簇，那么在OSA0和OSA1中的暂时缺陷管理区的大小可以变为P×256个簇，而在ISA1中的暂时缺陷管理区的大小可以变为Q×256个簇，其中P和Q确定为P＝N/4而Q＝L/4。N和L可以为整数。该方法可以作为这样的方法将具有可变大小的IDMA的大小分配为相应外部或内部备用区OSA0、OSA1或ISA1的大小的四分之一。
举例来说，如果N＝32，因为外部备用区(OSA0+OSA1)的大小为16384个簇，而P＝N/4＝8，所以在OSA0中的IDMA及OSA1中的IDMA的总的大小为4096个簇。如果L＝64，因为内部备用区ISA1的大小为16384，而Q＝L/4＝16，所以在ISA1中的IDMA的大小为4096个簇。那么在第一和第二记录层上的全部暂时缺陷管理区的总大小为8192个簇。
类似地，考虑到当用于线性替换的区域设计为在备用区中时，用于线性替换的区域的大小、缺陷管理区的大小及备用区的大小彼此相关，于是使IDMA的大小根据备用区ISA1、OSA0和OSA1的大小可变。与之对比，内部轨道区(特别是位于导入区和导出区的TDMA)的大小具有固定值。
在本发明的具有双层BD-WO结构的实施例中，容易理解TDMA位于导入区并且也位于导出区。如果全部用户区都用于记录用户数据，那么位于备用区上的暂时缺陷管理区IDMA的大小可以为“0”。如果不执行缺陷管理，那么备用区可以被分配成大小为“0”。然而，因为导入区和导出区的TDMA保持可用，所以尽管可以不管理临时缺陷列表(TDFL)，但仍可以利用临时光盘定义结构(TDDS)来记录和管理特定信息。这些将在后文中更详细地解释，但同时，大小为“0”的IDMA意味着没有管理TDFL。
仍根据图5中所示的实施例，如果在BD-WO的数据的实际记录期间产生缺陷区，那么将要记录在缺陷区上的数据被记录到用于线性替换的预定区域上。在这种情况，相关的缺陷管理信息可以被记录在OSA0、OSA1或ISA1内的临时和暂时缺陷管理区TDMA和IDMA上。
总之，IDMA的分配取决于是否作出了分配备用区的决定。一旦作出了分配备用区的决定，那么如此处所述的分配IDMA的方法(使用分配备用区的方法及管理缺陷的方法)将是可以应用的。
除上述讨论外，有一种情况也需考虑其中在双层BD-WO中没有分配备用区。特别地，存在其中只使用了TDMA的情况，以及其中如果只分配了内部备用区ISA0那么只使用TDMA的情况。如果分配内部备用区ISA0及外部备用区OSA0和OSA1，那么分配OSA0和OSA1中的IDMA。如果只分配了内部备用区ISA0和ISA1但没有分配外部备用区OSA0和OSA1，那么可以分配ISA1中的暂时缺陷管理区IDMA。如果分配了全部备用区，那么可以如上所述分配ISA1、OSA0和OSA1中的IDMA。
图6说明根据本发明实施例的使用单层或双层BD-WO中临时或暂时缺陷管理区TDMA或IDMA的方法的实例。在该方法中，所述TDMA示出了TDDS和TDFL。然而，尽管在图中没有示出，但是所述IDMA也可以包括TDDS和TDFL。如图6中所示的实施例说明，特定的缺陷管理信息(TDDS和TDFL)在其被记录在IDMA之前，先被记录在TDMA中。
现将提供TDDS和TDFL的讨论。在本发明中，TDDS指临时光盘定义结构并区别于DDS(光盘定义结构)，其中TDDS是临时性的。类似地，TDFL指临时缺陷列表，并区别于DFL(缺陷列表)。此处，TDFL及TDDS都包括在TDMA中，而TDFL及TDDS也都包括在IDMA中。
所述临时缺陷列表(TDFL)包含(部分地)在使用介质期间确定为有缺陷的簇的列表。与此相关，TDDS指明与缺陷管理相关的光盘的格式和状态，并且通常提供总的管理信息。光盘的格式可以包括与光盘上用于管理缺陷区的区域的特定布局相关的信息，而光盘的状态可以包括各种标志(下面将解释)。TDFL包括BD-WO上的缺陷区及替换区的地址。记录在临时缺陷管理区(如，TDMA和IDMA)中的TDDS和TDFL，变为写在永久缺陷管理区(如DMA1-DMA4)中的永久信息(DDS和DFL)。例如，当最终完成光盘时，TDDS及TDFL转移并被记录在至少一个DMA中。在BD-WO的用户数据记录操作期间，TDDS及TDFL周期性地或同时更新，并且将所述更新记录在一个或多个TDMA和/或一个或多个IDMA中。随着对其过程的讨论，对于这些的特定操作将变得更加明了。
在图6中所示的实施例中，首先使用TDMA(在使用IDMA之前)来记录缺陷管理信息，如TDDS和TDFL。在TDMA已满时，使用IDMA来记录缺陷管理信息。然而，在本发明的其他变化中，首先使用IDMA(在TDMA之前)。在这种情况下，在IDMA已满时，使用TDMA来记录缺陷管理信息。在这样的实例中，由TDMA的“已满标志”来指示信息，所指示的信息提供TDMA中哪一区域已满的通知。因为此处公开的优选实施例需要这样指示多个TDMA和/或IDMA中哪个区域已满的信息，所以所述“已满标志”指示是必须的。在一个实例中，该TDMA已满标志可以被包括在TDDS中。
因此，在图6的实施例中，顺序使用所述TDMA和IDMA，或IDMA和TDMA来存储缺陷管理信息。在更多的实施例中，TDMA和IDMA既位于导入区内又位于导出区内。使用特定的TDMA和IDMA取决于多种因素，这些因素的实例将在对使用TDMA和IDMA的方法的讨论中提供。
应当注意，图6所示的方法以及这里所讨论的任何其他方法(图7-11)是可以应用到图4和5的光盘结构及其上面讨论的其他变型的。还应当注意，本发明包括这样的实施例所述实施例在BD-WO每一记录层上包括多个TDMA和IDMA。
图10说明根据本发明实施例的指示TDMA和/或IDMA已满(如TDDS中所记录的)的已满标志的实例。如前所述，TDDS包括总的管理信息。在本发明中为管理缺陷区，在记录于一个或多个TDMA和/或一个或多个IDMA的TDDS中，使用并包括各种已满标志如“备用区已满标志”和“TDMA/IDMA已满标志”，以及指示标记如“最新TDFL的第一PSN”。特别地，已满标志提供关于特定区域是否已满的信息，并可以是对应所述特定区域的1比特指示。在所示的实施例中，如果该特定区域为所述结构中的特定TDMA或IDMA，且所述“TDMA/IDMA已满标志”的相应比特的值为“1”，那么认为相应区域(TDMA或IDMA)已满或在“已满”状态。因此，该TDMA/IDMA因其已满而不可以再使用。
图10还说明，所述“备用区已满标志”字段包括如从其伸出的箭头所指的8比特结构。同样地，所述“TDMA/IDMA已满”标志字段(也在TDDS中)包括从其伸出的箭头所指的8比特结构。在图10所示TDDS中字段的实例中，示出了许多字节(大小)及相应扇区。
作为一个实例，所述备用区已满标志的比特b3、b2、b1和b0用来分别指示所述外部备用区OSA1、内部备用区ISA1、外部备用区OSA0及内部备用区ISA0是否已满。例如，如果“备用区已满标志”的值为00000011，这可以表示内部和外部备用区ISA0及OSA0已满。如果所述BD-WO是单层光盘，那么可以只使用比特b1和b0。
作为另一实例，所述“TDMA/IDMA已满标志”的比特b4-b0用来分别指示OSA1中的IDMA、ISA1中的IDMA、OSA0中的IDMA、导出区中的TDMA及导入区中的TDMA是否已满。例如，如果“TDMA/IDMA已满标志”的值为00000010，那么这可以表示只有导出区中的TDMA已满。显然，对这些已满标志，比特值及位置的其他实例和分配也是可能。
在一个实施例中，在记录图6中所述TDDS及TDFL中，TDDS的大小是固定的，如1个簇，而TDFL的大小是可变的。如图5所示的双层BD-WO的TDFL的大小可以从1个簇至8个簇改变。这一大小可以根据全部光盘的容量及备用区的大小来确定。
根据所述使用TDMA/IDMA的方法，如果在BD-WO上记录数据时产生或发现缺陷区，那么将已记录或要记录到BD-WO的缺陷区的数据记录在BD-WO中用于线性替换的预定区域(如，备用区)。
图7说明本发明的临时或暂时缺陷管理区使用方法的另一实例。在如图7中所示的使用临时或暂时缺陷管理区的方法中，随机地使用TDMA和IDMA而没有确定任何使用顺序。关于图10讨论的“TDMA和IDMA已满”标志也同样地在此应用。
如果所述“TDMA/IDMA已满标志”指示某个TDMA/IDMA已满，那么使用BD-WO中随后的TDMA/IDMA。在如图7所示的随机情况，没有指明使用顺序。如果全部TDMA和IDMA都已满，那么无法再管理BD-WO上的缺陷。当无法再管理缺陷时，TDDS和TDFL的最终信息(即，TDMA/IDMA中最后更新的TDDS和TDFL)被转移并记录在至少一个DMA(DMA1-DMA4)上，来反映当前光盘状态。此处，同样的缺陷管理信息可以被记录在每一个DMA中，使得即使一个DMA变得有缺陷，也不会丢失重要的缺陷管理信息。后文将提供更多的关于在DMA上记录最终信息的讨论。
根据图7所示的实施例，缺陷区的数据被记录在用于线性替换的预定区域。关于该缺陷区及所述替换区的缺陷管理信息被随机地记录在希望的TDMA或IDMA上。例如，在BD-WO上最接近缺陷区所在区域的TDMA或IDMA可用于记录这样的缺陷管理信息。因此，如图7中所示，可以可变地使用或者按需要使用TDMA或IDMA。
在如图7的实施例中的使用临时缺陷管理区的另一方法中，根据多种条件可变地使用多个缺陷管理区。在一个实例中，当使用BD-WO时，可以只将缺陷管理信息记录在IDMA上。而最新的缺陷管理信息是后来在弹出BD-WO时记录在TDMA上的。换而言之，从用来在使用光盘时记录缺陷管理信息的区域和用来在弹出光盘时记录缺陷管理信息的区域此二者之间，确定选择区域来在其中记录缺陷管理信息。
在另一实例中，当在BD-WO上记录数据时，如果在记录数据过程中产生或发现缺陷区，那么将已记录(或将记录)在缺陷区的数据记录在用于线性替换的预定区域上。在使用光盘时，将缺陷管理信息记录在IDMA上。在弹出光盘时，将同样的缺陷管理信息再次记录在TDMA上。因为TDMA位于光盘内部轨道的管理区(导入或导出)，所以当最初加载光盘时，系统首先从管理区获取信息。即使在先前光盘已经弹出的情况下，TDMA仍包括最新的管理信息。
作为使用光盘的另一方法，多种目标被用来选择多个缺陷管理区中的一个。一种使用光盘的方法是根据重要性。举例来说，当更新缺陷管理信息的重要性低时，可以使用IDMA来在其中记录缺陷管理信息。而当更新缺陷管理信息的重要性高时，可以使用TDMA来在其中记录缺陷管理信息。此处，可以可变地设置用来确定重要性的标准。可以将刷新(更新)缺陷管理信息的频率设置为条件，或基于设计者的选择。也可以将弹出光盘的时间指定作为记录缺陷管理信息的重要时间。在这种情况，使用光盘的时间被认为是较不重要的，所以在此期间，缺陷管理信息可以记录在IDMA上。弹出光盘的时间可以被认为是更重要的，所以在此期间，可以将缺陷管理信息记录在TDMA上。可以任意地使用设计者决定使用的方法。
更新间隔(如，用来更新缺陷管理信息)是用来确定重要性的标准之一。换而言之，如果前次更新时间与当前更新时间之间的持续时间长，则当前更新信息被认为是相对重要的。在这种情况，即使在使用光盘，也可以将缺陷管理信息记录在TDMA(而不是IDMA)上。产生或发现的缺陷区的数目是确定重要性的另一标准。如果有相对多的缺陷区，那么因为认为要求更高的可靠性，所以即使在使用光盘也可以将缺陷管理信息记录在TDMA(而不是IDMA)上。
根据使用的目标，如果根据重要性将缺陷管理信息记录在TDMA上，那么因为TDMA是位于内部轨道上，所以从加载光盘的最初时间开始，可以快速并准确地得到重要信息。
图8和9说明根据本发明实施例的临时或暂时缺陷管理信息构成方法的实例。在一个实施例中，本发明提供一种在TDMA或IDMA上构成并记录缺陷管理信息(TTDS和TDFL)的方法，其中所述TDDS和TDFL彼此分开。本发明另一实施例提供一种在TDMA或IDMA上构成并记录缺陷管理信息的方法，其中TDDS和TDFL彼此结合在一起。图8所示为前种情况(分开的)而图9所示为后种情况(结合的)。
具体地，图8说明一种在TDMA或IDMA上构成并记录缺陷管理信息的方法，其中TDDS和TDFL彼此分开。每一TDDS都具有固定大小，如1个簇，而每一TDFL的大小是从如1个簇到8个簇可变的。
图9说明一种在TDMA或IDMA上构成并记录缺陷管理信息的方法，其中TDMA或IDMA的TDDS和TDFL是彼此结合在一起的。如图9中所示，以TDFL+TDDS的形式来记录缺陷管理信息。即，每当缺陷管理信息更新，最新的TDFL和TDDS都被记录在TDMA或IDMA中。因为如前所述，TDFL的大小可以从1个簇到8个簇变化，所以(TDFL+TDDS)的大小可以从1个簇到8个簇变化。图8和9的方法可以应用到在本公开中讨论的每一所述光盘结构和TDMA/IDMA使用方法。
图11为一个图表，说明根据使用的目标何时使用DMA、TDMA和IDMA以及每一DMA、TDMA和IDMA具有什么信息。举例来说，当使用BD-WO时，将缺陷管理信息记录在IDMA上。而在弹出BD-WO时，将缺陷管理信息记录在TDMA上。当可能发生DMA临时填写过程时，将缺陷管理信息记录在DMA上，所述DMA临时填写过程发生在如将最终完成BD-WO且不再记录数据时，备用区已满时，或者TDMA或IDMA已满而无法再管理缺陷时。如图10中所示，将已满的信息(如，已满的标志)记录在TDDS中。如果根据使用的目标TDMA和IDMA不分开，那么显然，在TDMA和IDMA上记录缺陷管理信息的时间不必彼此区别开。图11中的表说明根据使用的目标何时使用DMA、TDMA和IDMA以及DMA、TDMA和IDMA各自含有什么信息，该表适用于上文中讨论过的结构，包括附图4-10中所示的结构和方法以及图3中所示的装置。
工业应用性在本发明中，在BD-WO中将要记录在缺陷区上的信息被记录在用于线性替换的区域上。将所述缺陷管理信息记录在光盘预定区域上分开地提供的多个临时管理区上。所述临时管理区根据备用区被分为具有固定大小的临时管理区及具有可变大小的临时管理区，使得可以更有效地管理缺陷管理信息。
本领域技术人员将明了，在本发明中可以实现各种修改及变化。因而可以预期，本发明覆盖在所附权利要求及其等效范围内的任何本发明的修改、变化。
权利要求
1.一种管理具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的方法，所述方法包括下列步骤分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质；及将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。
2.如权利要求1所述的管理方法，其中，在分配步骤中，所述光学记录介质具有至少两个记录层，第一记录层包括具有固定大小的临时缺陷管理区和具有可变大小的临时缺陷管理区，且第二记录层包括具有固定大小的临时缺陷管理区和至少两个具有可变大小的临时缺陷管理区。
3.如权利要求1所述的管理方法，其中，在分配步骤中，所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区被分配至光学记录介质的导入区和导出区的至少其中之一。
4.如权利要求3所述的管理方法，其中，在分配步骤中，所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区被分配至所述光学记录介质的至少一个备用区。
5.如权利要求4所述的管理方法，其中，所述至少一个备用区包括在光学记录介质上的内部备用区和外部备用区。
6.如权利要求1所述的管理方法，其中，该分配步骤进一步包括分配至少一个内部备用区，部分所述内部备用区用来替换缺陷区；分配至少一个外部备用区，部分所述外部备用区用来替换缺陷区；及分配至少一个外部或内部备用区的一部分作为临时缺陷管理区，以管理缺陷管理信息。
7.如权利要求1所述的管理方法，其中，在分配步骤中，所述至少一个临时缺陷管理区被分配至光学记录介质上的第一外部备用区，且具有根据全部第一外部备用区的大小可变的大小。
8.如权利要求1所述的管理方法，其中，在分配步骤中，所述光学记录介质具有至少两个记录层，第一记录层包括其全部区域用来替换缺陷区的第一内部备用区，以及具有可变地分配的大小的第一外部备用区，第二记录层包括第二内部备用区和第二外部备用区。
9.如权利要求4所述的管理方法，其中，在分配步骤中，如果没有分配至少一个备用区，那么不分配至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，而只分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区。
10.如权利要求4所述的管理方法，其中，在分配步骤中，如果分配了至少一个备用区，不分配至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，而只分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区。
11.如权利要求1所述的管理方法，其中，所述光学记录介质为一次性写入蓝光光盘(BD-WO)。
12.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤，所述缺陷管理信息包括至少一个临时缺陷列表(TDFL)以及至少一个临时光盘定义结构(TDDS)。
13.如权利要求12所述的管理方法，其中，所述至少一个临时光盘定义结构的大小是固定的，而所述至少一个临时缺陷列表的大小是可变的。
14.如权利要求12所述的管理方法，其中，所述至少一个临时缺陷列表及至少一个临时光盘定义结构是分开的。
15.如权利要求12所述的管理方法，其中，所述至少一个临时缺陷列表及至少一个临时光盘定义结构是结合在一起的。
16.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，顺序使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，来在其中记录缺陷管理信息。
17.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，随机地使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区而无预定顺序，以在其中记录缺陷管理信息。
18.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，以根据给予缺陷管理信息的重要性而定的顺序，来使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
19.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，以根据出现在所述光学记录介质上的缺陷区的数目而定的顺序，来使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
20.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，根据在先前的缺陷管理信息更新时间和当前的缺陷管理信息更新时间之间的持续时间，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。
21.如权利要求20所述的管理方法，其中，如果在先前的更新时间和当前的更新时间之间的持续时间超过基准持续时间，那么将所述缺陷管理信息记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区上。
22.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，在使用光学记录介质时，将所述缺陷管理信息记录在至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上，而在弹出光学记录介质时，将所述缺陷管理信息记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区上。
23.如权利要求1所述的管理方法，其中，如果在记录数据时产生缺陷区，那么将要记录的数据记录在用于线性替换的预定区域上，且在记录步骤中，根据哪个临时缺陷管理区最接近产生的缺陷区，来将关于所述缺陷区的缺陷管理信息随机记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区或至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。
24.如权利要求1所述的管理方法，其中，在载入光学记录介质的初始时间首先访问所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
25.如权利要求1所述的管理方法，其中，在记录步骤中，所述缺陷管理信息包括已满指示信息，所述已满指示信息提供在临时缺陷管理区中哪个区域已满的通知。
26.如权利要求1所述的管理方法，其进一步包括当最终完成光学记录介质时，将缺陷管理信息记录在光学记录介质的永久缺陷管理区上。
27.如权利要求1所述的管理方法，其进一步包括当光学记录介质的备用区已满时，将缺陷管理信息记录在光学记录介质的永久管理区中。
28.如权利要求1所述的管理方法，其进一步包括当所述临时缺陷管理区已满而不能再管理缺陷时，将缺陷管理信息记录在光学记录介质的永久管理区上。
29.一种用于管理一次性写入光学记录介质上的缺陷的装置，所述装置包括用于分别将至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区分配至光学记录介质的装置；及用于将缺陷管理信息记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上的装置。
30.一种具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质，其包括至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，其中缺陷管理信息被记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。
31.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述光学记录介质包括至少两个记录层，所述两个记录层包括第一记录层，其包括具有固定大小的临时缺陷管理区及具有可变大小的临时缺陷管理区；和第二记录层，其包括具有固定大小的临时缺陷管理区及至少两个具有可变大小的临时缺陷管理区。
32.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区位于光学记录介质的导入区和导出区的至少其中之一中。
33.如权利要求32所述的光学记录介质，其中，所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区位于光学记录介质的至少一个备用区中。
34.如权利要求33所述的光学记录介质，其中，所述至少一个备用区包括在光学记录介质上的内部备用区及外部备用区。
35.如权利要求30所述的光学记录介质，其进一步包括至少一个内部备用区，部分内部备用区用来替换缺陷区；及至少一个外部备用区，部分外部备用区用来替换缺陷区，其中至少一个外部或内部备用区的一部分用作临时缺陷管理区来管理缺陷管理信息。
36.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区位于光学记录介质上的第一外部备用区中，并且具有根据整个第一外部备用区的大小可变的大小。
37.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述光学记录介质具有至少两个记录层，所述至少两个记录层包括第一记录层，其包括其全部区域都用来替换缺陷区的第一内部备用区，以及具有可变地分配的大小的第一外部备用区；以及第二记录层，其包括第二内部备用区和第二外部备用区。
38.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述光学记录介质为一次性写入蓝光光盘(BD-WO)。
39.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述缺陷管理信息包括至少一个临时缺陷列表(TDFL)和至少一个临时光盘定义结构(TDDS)。
40.如权利要求39所述的光学记录介质，其中，所述至少一个临时光盘定义结构的大小是固定的，而所述至少一个临时缺陷列表的大小是可变的。
41.如权利要求39所述的光学记录介质，其中，所述至少一个临时缺陷列表和至少一个临时光盘定义结构是分开的。
42.如权利要求39所述的光学记录介质，其中，所述至少一个临时缺陷列表和至少一个临时光盘定义结构是结合在一起的。
43.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，顺序使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，以在其中记录缺陷管理信息。
44.随机使用具有固定大小的光学记录介质区域和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区而无预订顺序，以在其中记录缺陷管理信息。
45.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，以根据给予所述缺陷管理信息的重要性而定的顺序，来使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
46.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，以根据出现在光学记录介质上的缺陷区的数目而定的顺序，来使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
47.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，根据先前的缺陷管理信息更新时间和当前的缺陷管理信息更新时间之间的持续时间，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。
48.如权利要求47所述的光学记录介质，其中，如果先前的更新时间和当前的更新时间之间的持续时间超过基准持续时间，那么将所述缺陷管理信息记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区上。
49.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，在使用光学记录介质时，将所述缺陷管理信息记录在所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上，而在弹出光学记录介质时，将所述缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区上。
50.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，如果在记录数据时产生缺陷区，那么将要记录的数据记录在用于线性替换的预定区域上，并且在记录步骤中，根据哪个临时缺陷管理区最接近产生的缺陷区，来将关于缺陷区的缺陷管理信息随机记录在至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区或至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区中。
51.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，在载入光学记录介质的初始时间，首先访问所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
52.如权利要求30所述的光学记录介质，其中，所述缺陷管理信息包括已满指示信息，所述已满指示信息提供在临时缺陷管理区中哪个区域已满的通知。
53.如权利要求30所述的光学记录介质，其进一步包括永久管理区，其用来在要最终完成光学记录介质时，在其中记录缺陷管理信息。
54.如权利要求30所述的光学记录介质，其进一步包括永久管理区，其用来在光学记录介质的备用区已满时，在其中记录缺陷管理信息。
55.如权利要求30所述的光学记录介质，其进一步包括永久管理区，其用来在临时缺陷管理区已满且不能再管理缺陷时，在其中记录缺陷管理信息。
全文摘要
本发明提供了一次性写入光学记录介质，用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法，以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上；以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
文档编号G11B11/00GK1754206SQ200380109904
公开日2006年3月29日 申请日期2003年10月1日 优先权日2003年2月21日
发明者朴容彻, 金成大 申请人:Lg电子株式会社