有预凹坑的光学记录媒体的孔径比测量装置的利记博彩app

专利名称：有预凹坑的光学记录媒体的孔径比测量装置的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种用于光学记录媒体的孔径比测量装置，该记录媒体具有一个记录表面，在其上在信息记录轨道之间重复地形成了携带着表示信息记录轨道信息的预凹坑。
附

图1是表示这样的记录盘的DVD-RW的区或配置的示意图。
如图1所示，DVD-RW从内部边缘到外部边缘具有如下区域的数据配置PCA(功率校准区域)，RMA(记录管理区域)，导入区域，数据区以及导出区域。PCA是其上记载着用于判断激光束的记录功率的测试数据区域。RMA是其上记载着表示记录的管理信息的区域。导入区域的一部分包括一个凸出区域。凸出区域包括先前形成在盘上的相位凹坑。表示拷贝限制的信息记录在凸出区域当中。
附图2示出了其上记录着数据的光盘的记录表面的一部分。
如图2所示，在基底101上，以螺旋形或者同心圆形交替形成了凸槽轨道103和凹脊轨道102，在103上形成了携带信息数据的信息凹坑Pt。而且，在邻近的槽轨道103之间形成了大量的LPP104(脊预凹坑)。LPP104预先形成在脊轨道102上，用于为记录这样的信息数据的光盘记录器表明记录时间和信息数据的地址。槽轨道103从基底101的一侧形成槽，以及LPP104从基底101的一侧形成凹坑。
在用于播放具有这样的LPP的光盘的盘播放器中，装有LPP检测电路。LPP检测电路包括二值化电路。LPP检测电路通过在拾取轨道切线方向上被分成两部分的光盘检测器从光盘接收反射光，并且获得光盘检测器的输出信号的差信号，即径向推挽信号PP。推挽信号PP具有如图3所示的波形。从推挽信号PP当中突出一个LPP成分。通过将推挽信号的电平与门限值相比较产生了一个表示LPP检测的预凹坑检测信号PPD。
如图4所示，在每一个与LPP相应的拾取读位置，预凹坑检测信号PPD都显示出一个脉冲形的电平变化。如图4所示，预凹坑检测信号PPD在每一周期T的开始包括一个同步脉冲PSYNC。在同步脉冲PSYNC之后以预定的时间间隔跟随着两个前置数据脉冲，用于表示诸如地址等数据。这些前置数据脉冲并不是在每个周期内都存在的。如图4所示，从同步脉冲PSYNC起的第三个脉冲是一个携带着扇区地址的前置数据脉冲PD。当信息被记录在光盘上的时候，这样的信息通过根据该预凹坑检测信号PPD在光盘上检测地址而被记录。
在包括LPP的光盘的制造中，所生产的光盘的LPP必须符合一个规定的LPP标准。光盘的AR(孔径比)被测量，从而判断一个光盘是否符合所述的LPP标准。为了测量AR，推挽信号PP的LPP成分(从同步LPP起的第三个LPP位置)在一个预定的时间周期内被重复取样。通过取样，在第三LPP位置的推挽信号PP的重叠波形，即AR波形，被显示在诸如图5所示示波器的显示单元上。有必要检测从所示的推挽信号PP的槽轨道成分的最大值WOmax起的峰值的最大值APmax以及最小值APmin，并且通过等式AR＝APmin/APmax计算AR的值，从而确定这样的AR值是否大于一个规定的值。一个较大的AR值意味着二值化范围变得更宽并且预凹坑检测的精度更高。
如果有一个诸如灰尘之类的外界物质附着在光盘上，外界物质将在LPP成分的推挽信号PP的AR检测过程中引入噪声。而且，如果这样的噪声产生的电平使推挽信号PP的峰值最小值APmin降低，即使光盘符合标准，计算出的AR值也不会达到规定的值。因此，为了正确地计算AR值，有必要尽可能地降低外部物质的影响。
根据本发明，提供一种用于光盘记录媒体的孔径比检测装置，该记录媒体具有记录表面，其上具有在轨道之间反复形成的凹坑，并携带与所述轨道相关的信息，该装置包括光学检测装置，该装置具有一个沿着所述轨道的切线方向被分成第一和第二光接收面的光接收表面，用于在所述第一和第二光接收面上接收照射在所述记录表面的光束的反射光，以输出与所述的第一和第二光接收面上各自接收的光数量相应的第一和第二光检测信号；减法装置，用于计算从所述的光检测装置输出的第一和第二光检测信号的差，从而产生一个推挽信号；收集装置，用于收集通过在预定时间长度内取样所述的推挽信号所获得的取样数据，以及用于在预定时间长度内多次重复取样操作；频率确定装置，用于确定是否每个与被所述收集装置多次收集的取样数据的预凹坑位置相应的数据值被获取了预定次数或者更多次；以及孔径比计算装置，用于在所述的频率确定装置确定数据值已被获取了预定的次数或者更多次的时候，计算与被获取了预定次数或者更多次的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值之间的比作为孔径比。
根据本发明，提供一种用于光学记录媒体的孔径比测量方法，该记录媒体具有记录表面，其上具有在轨道之间反复形成的凹坑，并携带与所述轨道相关的信息，该方法包括光检测步骤，接收照射在记录表面上的光束的反射光，在光接收表面上具有沿着轨道的切线方向被分开的第一和第二光接收面，输出分别与第一和第二光接收面上接收的光数量相应的第一和第二光检测信号；减法步骤，计算第一和第二光检测信号的差，从而产生一个推挽信号；收集步骤，收集通过在预定时间长度内对推挽信号进行取样所获得的取样数据，以及在预定时间长度内多次重复该取样操作；频率确定步骤，确定是否每个与在收集步骤中多次收集的取样数据的预凹坑位置相应的数据值被获得了预定次数或者更多；以及孔径比计算步骤，当在频率确定步骤确定数据值被获取了预定次数或者更多次的时候，计算与以预定次数或者更多次获取的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值的比，作为孔径比。
根据本发明，提供了一种表示一系列指令的计算机数据信号，它能够使计算机执行实现孔径比测量装置中光学记录媒体的测量过程的步骤，该光学记录媒体包括记录表面，其上具有在轨道之间反复形成的凹坑，并携带与所述轨道相关的信息，其步骤包括光检测步骤，接收照射在记录表面上的光束的反射光，在光接收表面上具有沿着轨道的切线方向被分开的第一和第二光接收面，输出分别与第一和第二光接收面上接收的光数量相应的第一和第二光检测信号；减法步骤，计算第一和第二光检测信号的差从而产生一个推挽信号；收集步骤，收集通过在预定时间长度内对推挽信号进行取样所获得的取样数据，以及在预定时间长度内多次重复该取样操作；频率确定步骤，确定是否每个与在收集步骤中多次收集的取样数据的预凹坑位置相应的数据值被获得了预定次数或者更多；以及孔径比计算步骤，当在频率确定步骤确定数据值被获取了预定次数或者更多次的时候，计算与以预定次数或者更多次获取的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值的比，作为孔径比。
附图6示出了根据本发明的AR测量装置。AR测量装置包括一个写/读头2，它能够读写待检光盘1上的信息。在写/读头2上配置了一个记录光束产生器(图中未示出)，用于将信息数据记录在具有如图2所示的记录表面的可写或者可改写的光盘1上，一个读光束产生器(未示出)，用于从光盘1上读取记录的信息(包括信息数据)，以及一个光学检测器，被分成了四个部分(附图7的20)。
并不需要分开提供记录光束产生器以及读光束产生器。可以使用一个光束产生器，在执行记录的时候产生记录光束，当执行读取的时候产生读光束。
读光束产生器将读光束照射在光盘1上，光盘在主轴马达9的旋转驱动下旋转起来，从而在记录表面形成了一个信息读取点。如图7所示，四部分光学检测器20具有一个光电传送单元，该单元具有沿着光盘1的信息记录轨道(槽轨道103)的切线方向以及与记录轨道的切线方向相垂直的方向分成四个部分的光接收面20a-20d。光电传送单元通过每一个四光接收表面20a-20d接收信息读取点从光盘1反射的反射光，并将每一个四接收反射光转换成分离的电信号，然后将其作为光接收信号Ra-Rd输出。
伺服控制器4根据这些光接收信号Ra-Rd产生一个聚焦误差信号、一个轨道误差信号以及一个滑动驱动信号。聚焦误差信号被提供给一个安装在写/读头2上的聚焦激励器(未示出)。聚焦激励器根据聚焦误差信号调整信息读取点的聚焦。轨道误差信号被提供给安装在写/读头2上的轨道激励器(未示出)。轨道激励器根据轨道误差信号在光盘的径向方向上调整信息读取点的形成位置。滑动驱动信号被提供给滑动器10。滑动器10以一个与滑动驱动信号相应的速度沿着光盘的径向方向移动写/读头2。
光接收信号Ra-Rd被提供给具有加法器21-23以及减法器24的光头放大器25。加法器21将光接收信号Ra和Rd相加，加法器22将光接收信号Rb和Rc相加。就是，加法器21将分别从四部分光检测器20的光接收表面20a和20d获得的光接收信号Ra和Rd相加，并且输出相加后的光接收信号Ra+d。加法器22将分别从四部分光检测器20的光接收表面20b和20c获得的光接收信号Rb和Rc相加，并且输出相加后的光接收信号Rb+c。
加法器23将分别从加法器21和加法器22输出的信号Ra+d和Rb+c相加。从加法器23输出的信号是一个读信号，即RF信号，并且被提供给信息数据再生电路30。信息数据再生电路30将读信号二值化，然后顺序执行解调处理，误差纠正处理，以及各种信息解码处理，从而再现记录在光盘1上的信息数据(视频数据，音频数据，计算机数据)，并且输出这些数据。
减法器24将加法器21的输出信号Ra+d减去加法器22输出的信号Rb+c。减法器24的输出信号成为表明槽轨道103的频率抖动的信号，该信号被提供给主轴马达9的主轴伺服单元26。主轴伺服单元26旋转驱动主轴马达9，从而使得从减法器24的输出信号获得的频率与一个预定的转速相应。由于主轴伺服单元26的结构已在日本专利特许公开No.Hei 10-283638中公开，这里将省略对其的描述。
预凹坑检测电路5根据每一个加法器21、22的输出信号，检测如图2所示形成在光盘1的脊轨道(预凹坑轨道)上的脊预凹坑(LPP)104，然后将预凹坑检测信号PPD提供给记录处理电路7。
记录处理电路7根据预凹坑检测信号PPD识别写/读头2正在记录的当前位置，即在槽轨道103上的位置，然后给伺服控制器4提供一个控制信号，用于使写/读头2从该记录位置跳轨到期望的记录位置。记录处理电路7也通过在即将记录的信息数据(将被检测的信息数据)上执行一个期望的记录调制处理产生一个记录调制数据信号，并将该信号提供给写/读头2。位于写/读头2上的记录光束产生器产生一个与记录调制数据信号相应的记录光束，并将该光束照射在光盘1的槽轨道103上。此时，热量被传送到槽轨道103的记录光束照射的区域，从而在此形成了一个信息凹坑。
记录处理电路7的结构在日本专利特许公开No.Hei 10-283638中也已经公开，因此此处省略了对其的详细描述。
预凹坑检测电路5包括一个放大器31，用于放大加法器21的输出信号Ra+d，放大器32，用于放大加法器22输出的信号Rb+c；减法器33，用于从放大器31的输出信号中减去放大器32的输出信号，并且输出结果作为径向推挽信号(组抖动信号)PP；以及一个二值化电路34，用于通过门限值TH来二值化减法器33输出的推挽信号PP，从而产生一个预凹坑检测信号PPD，如图7所示。放大器31的增益G1与放大器32的增益G2被设置成G1＝G2。
从减法器33输出的推挽信号PP被提供给示波器61。示波器61对推挽信号进行取样，并且指示，例如，在推挽信号PP中与LPP相应的部分。
示波器61被连接到个人计算机62上。个人计算机62利用存储在示波器61的内部存储器(例如即将描述的取样存储器93)中的推挽信号PP的电平数据计算门限值TH。这里示出的个人计算机没有特别的结构，但是具有一个CPU65和一个内部存储器66。一个D/A转换器63被连接到个人计算机62的输出部分。D/A转换器63将个人计算机62计算的限幅电平转换成模拟信号。D/A转换器63的输出信号被提供给二值化电路34作为用于二值化的门限值信号。
个人计算机62与示波器61以及D/A转换器63的连接是基于诸如GPIB，10BASE-T，或者RS-232C的接口标准。
从二值化电路34输出的信号(预凹坑检测信号PPD)被提供给一个误差率检测电路(未示出)。在这里与提供的信号相应的误差率被检测。
示波器61可以被配置成如图8所示的结构。即，示波器61包括一个A/D转换器91，一个控制电路92，一个取样存储器93，一个显示存储器94，X和Y驱动器95、96，一个显示板97，一个操作单元98以及一个接口99。A/D转换器91将输入的模拟信号转换成数字信号。控制电路92顺序地将从A/D转换器91获得的数字信号的取样数据写入取样存储器93，并且通过从取样存储器93中读数据以及向显示存储器94中写数据将数据取出并用于显示。X和Y驱动器95、96根据显示存储器94中写入的数据驱动显示板97，从而在显示板97上显示输入模拟信号的波形。接口99是一个基于诸如GPIB，10BASE-T或者RS-232C接口标准的电路，用于连接个人计算机62。接口99通过控制电路92将写在取样存储器93中的数据传送到个人计算机62。接口99向控制电路92中继并提供个人计算机62的命令。
利用这样的AR测量装置检测生产出来的光盘按照图9示出的顺序执行。即，从一批光盘中随意地选取一个将进行检测的光盘(步骤S1)。用于检测的信息数据存在即将进行检测的盘上(步骤S2)。通过读/写头2从即将进行检测的盘上读信号，利用前面描述的方法产生一个推挽信号PP，然后AR值将被测量出来(步骤S3)。判断测量出来的AR值是否大于一个特定的值(步骤S4)。如果AR值大于该特定值，这批光盘中的所有光盘都通过LPP的检测(步骤S5)。如果AR值低于该特定值，这批光盘中的所有光盘都没有通过检测(步骤S6)。
在步骤S3的AR检测的过程中，减法器33输出的推挽信号PP被提供给示波器61。在示波器61中，推挽信号PP根据高频时钟被A/D转换器91取样。控制电路92将取样数据顺序存储在存储器93当中。控制电路92检测不低于A/D转换器91提供的取样数据预定值的负峰值。一旦检测到该峰值，取样数据就被存储在存储器93当中，并在预定时间长度内作为触发信号。该峰值就相当于图4中的同步脉冲PSYNC。在预定时间长度内将数据写入存储器93将重复n次。控制电路92读取存在存储器93中的数据，将其提供给显示存储器94，并在显示板97上显示出波形。读取定时是根据例如操作单元98的命令而设定的。包含将被检测目标的第三LPP成分的推挽信号PP的重叠波形，也就是一个AR波形将被显示出来。在该显示中，时间轴将被调整，从而使得推挽信号PP的峰值的位置成为显示的中心线(时间轴中心线)。根据A/D转换器91的分辨率，可以得到的取样数据的可能值为0到M。
个人计算机62通过接口99命令示波器61的控制电路92，从而可以读取存在取样存储器93中的取样数据。
个人计算机62的CPU65根据图10-12所示的AR计算操作来计算AR值。
在AR计算的过程中，CPU65设定检测AR波形的次数N以及取出数据的次数n(步骤S11)。N和n的数目可以通过用户键盘(未示出)的输入操作设定，或者预先设定。
个人计算机62初始化形成在内部存储器66的M+1(M是一个正整数)个数据信号Y
-Y[M]为0(步骤S12)，并且将变量j置0(步骤S13)。个人计算机62也初始化形成在内部存储器66的M+1个数据信号X
-X[M]为0(步骤S14)，并且将变量i置0(步骤S15)。变量j为用于检测AR波形的当前次数，而变量i为取出数据的当前次数。
CPU65从取样存储器93读取位于示波器61的显示中心线上的取样数据作为数据D(步骤S16)，并存储数据X[D]为1(步骤S17)。数据X[D]的数据信号数目是数据D的值。然后CPU65将变量i加1(步骤S18)，并且判断变量i是否达到n，即取出数据的次数(步骤S19)。如果i＜n，，控制返回到步骤S16，并且读取位于显示中心线上的取样数据作为数据D。
如果i＝n，则已经读取了n个数据，CPU65就将数据信号X
-X[M]的每一个值加到相应的数据信号Y
-Y[M]上(步骤S20)。即接下来执行这样的操作Y
＝Y
+X
，Y[1]＝Y[1]+X[1]，……Y[M-1]＝Y[M-1]+X[M-1]，Y[M]＝Y[M]+X[M]。CPU65将变量j加1(步骤S21)，并且判断变量j是否达到了N，即检测AR的次数(步骤S22)。如果j＜N，控制返回到步骤S14，并且重复在步骤S14-S21之间检测AR波形的操作。在重复操作的过程中，执行从被检测光盘的不同轨道上的读取操作。
如果j＝N，如图11所示，计算数据信号Y
-Y[M]的每一个数据值的平均值(步骤S23)。即执行接下来的操作Y
＝Y
/N，Y[1]＝Y[1]/N、……Y[M-1]＝Y[M-1]/N，Y[M]＝Y[M]/N。数据信号Y
到Y[M]的每一个平均数据值都被四舍五入到最接近的整数值(步骤S24)。由于数据信号Y
-Y[M]的每一个数据值都被平均并且该平均值都被取整，任何具有例如噪声的抑制偶发性的数据都被消除。
在步骤S24执行以后，个人计算机62的CPU65初始化形成在内部存储器66的M+1个数据信号Z
-Z[M]为0(步骤S25)，并将变量f和g置0(步骤S26)。数据信号Z
到Z[M]与数据信号Y
到Y[M]相应。CPU65从内部存储器66中读取数据信号Y[f](步骤S27)，并且判断变量g是否为偶数(步骤S28)。如果变量g是偶数，判断数据Y[f]是否为1(步骤S29)。如果变量g为奇数，判断数据信号Y[f]是否为0(步骤S30)。如果在步骤S29中判断出Y[f]为1或者在步骤S30中判断出Y[f]为0，则数据信号Z[g]就等于f(步骤S31)。接下来，变量g加1(步骤S32)以及变量f加1(步骤S33)。然后判断变量f是否达到了固定值M(步骤S34)。如果f＜M，CPU65控制回到步骤S27，并从内部存储器66中读取下一个数据信号Y[t]。
如果在步骤S29中判断出Y[f]＝0或者在步骤S30中判断出Y[f]＝1，CPU65的控制跳到步骤S33。通过步骤S25到S34的操作，当数据信号Y[f]从0变到1或者从1变到0时，f的值被顺序写入到数据信号Z[g]。
在步骤S34中如果f＝M，如图12所示，减去1以后的变量g的值被设置为K(步骤S35)。当在步骤S31中数据信号Z[g]被最后设定的时候，K的值就是g的值。
然后CPU65将变量L设为0，将变量g设为1(步骤S36)。接下来，判断Z[g+1]-Z[g]是否大于变量L(步骤S37)。Z[g+1]-Z[g]意味着Z[偶数]-Z[奇数]，表示连0区域持续的长度。如果Z[g+1]-Z[g]＞L，变量L被设置为Z[g+1]-Z[g]，并且抖动组成分的最大值WOmax被设为Z[g]，LPP成分的最小值LPmin被设为Z[g+1](步骤S38)。在变量g加2以后(步骤S39)，判断变量g是否达到了K(步骤S40)。如果g＜K，CPU65控制回到步骤S37并且使用在步骤S39中获得的新的Z(偶数)和Z(奇数)判断Z[g+1]-Z[g]＞L是否成立。
如果在步骤S37中Z[g+1]-Z[g]≤L，控制跳到步骤S39。
如果在步骤S40中g＝K，LPP成分的最大值LPmax被设置为Z[g](步骤S41)。APmin是利用LPmin-WOmax计算出来的，APmax是利用LPmax-WOmax计算出来的(步骤S42)。然后通过APmin/APmax计算出AR值(步骤S43)。CPU65将在步骤S43中计算出来的AR值显示在显示器上(未示出)。而且，AR值是否大于一个特定的值将作为步骤S4的结果显示出来。
附图13A示出了显示在示波器61的显示板97上的AR波形。在附图13A中，在显示板97上以参考符号A表示的线为显示中心线。位于显示中心线A的每一数据的频率，如图13B所示，在显示的时候都成为一个频率分布图。在频率分布显示中，参考符号WG相应于抖动组成分，参考符号LP相应于LPP成分。其它的频率可能是由抖动组部分或者LPP偶然造成的孤立成分，或者为噪声。在频率分布图中，显示部分都以X[D]＝1存在内部存储器66中，如图13C所示，没有考虑频率成分的高度。其他的部分被存为0，即它们的初始值。
由于AR波形检测重复进行了N次，在N＝3的情况下，附图14A给出了第一次检测的结果信号X
-X[M]，第二次检测的结果信号X
-X[M]，以及第三次检测的结果信号X
-X[M]。这些结果的平均值在步骤S23中获得，并在步骤S24中四舍五入为最接近的整数值。结果是，在第一到第三次检测中，共同的结果作为数据信号Y
-Y[M]被留下，如图14B所示。取整操作消除了诸如噪声的偶然孤立信号。在附图14B的情况下，包括一个孤立信号，该信号具有一个与推挽信号PP的抖动组成分的波动范围以及推挽信号的LPP成分的波动范围相分离的值。由于连0区域的长度在抖动组成分WOmax的最大值与孤立值之间形成的区域成为最大，孤立数据值就成为LPP成分的波动范围的最小值LPmin。因此，APmin可以利用LPmin-WOmax计算，并且APmax通过LPmax-WOmax计算。AR值利用APmin/APmax计算。
上述实施例使用了示波器。但是本发明并不限于示波器的使用。任何配置了能够存储利用高频取样推挽信号PP获得的取样数据的存储器的显示单元都可以使用。用于显示AR波形的显示单元也不是必要的。
在上面描述的实施例的情况下，在步骤S24中进行了四舍五入的操作。但是，任何能够检测被多次取样的取样数据的预凹坑位置的时间点上的每一个数据值出现的频率大于预定的频率(最好是，频率大于上述描述的多次的一半)的方法均可以使用。
如上所述，根据本发明，精确地计算待检测光盘的AR值、尽可能地消除光盘上的灰尘造成的不规律的影响是可能的。因此，可以改善光盘检测的准确性，也可以避免以缺陷为理由拒收无缺陷光盘的可能情况发生。
权利要求
1.一种用于光盘记录媒体的孔径比检测装置，该记录媒体具有记录表面，其上具有在轨道之间反复形成的凹坑，并携带与所述轨道相关的信息，该装置包括光学检测装置，该装置具有一个沿着所述轨道的切线方向被分成第一和第二光接收面的光接收表面，用于在所述第一和第二光接收面上接收照射在所述记录表面的光束的反射光，输出与所述第一和第二光接收面上各自接收的光数量相应的第一和第二光检测信号；减法装置，用于计算从所述光检测装置输出的第一和第二光检测信号的差，从而产生一个推挽信号；收集装置，用于收集通过在预定时间长度内取样所述推挽信号所获得的取样数据，以及用于在预定时间长度内多次重复取样操作；频率确定装置，用于确定是否每个与被所述收集装置多次收集的取样数据的预凹坑的位置相应的数据值被获取了预定次数或者更多次；和孔径比计算装置，用于在所述频率确定装置确定数据值已被获取了预定次数或者更多次的时候，计算与被获取了预定次数或者更多次的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值之间的比，作为孔径比。
2.如权利要求1所述的孔径比测量装置，其中所述的预定次数的数目等于或者大于所述的多次的数目的一半。
3.如权利要求1所述的孔径比测量装置，其中所述的频率确定装置通过为每个数据值进行所述多次的频率计算，将每个频率除以所述的多次，并将除法的结果四舍五入为最接近的整数值，来对数据值进行预定次数或者更多次的确定。
4.如权利要求3所述的孔径比测量装置，其中所述的频率确定装置包括存储装置，用于将第一数据信号和第二数据信号存储为初始值零，其中每个表示在所述取样数据的可变范围内的数据值；以及数据取出装置，用于通过取出从所述的收集装置获得的预凹坑位置的数据值，和通过在所述存储装置中将与取出的数据值相应的所述第一数据信号的一个信号设定为一，来执行取出处理，用于通过在每次多次取出步骤中的一次完成时，将所述的第一数据信号的每一数据值加在与第一数据信号相应的所述的第二数据信号的每一数据值上，来执行增加处理，之后，用于在将所述的第一数据信号的每一个数据值设为0以后执行多次取出处理中的另一次，当多次所述的增加处理完成时，所述的第二数据信号的每一个数据值被用作频率。
5.如权利要求1所述的孔径比测量装置，其中所述的孔径比计算装置设定与所述预凹坑成分相应的最小值，两个数据中的较大的值定义了与每个以预定次数或者更多次获得的预凹坑位置相应的数据值分布中连续不包含数据值的最大范围。
6.一种用于光学记录媒体的孔径比测量方法，该记录媒体具有记录表面，其上具有在轨道之间反复形成的凹坑，并携带与所述轨道相关的信息，该方法包括光检测步骤，接收照射在记录表面上的光束的反射光，在光接收表面上具有沿着轨道的切线方向被分开的第一和第二光接收面，输出分别与第一和第二光接收面上接收的光数量相应的第一和第二光检测信号；减法步骤，计算第一和第二光检测信号的差，从而产生一个推挽信号；收集步骤，收集通过在预定时间长度内对所述推挽信号进行取样所获得的取样数据，以及在预定时间长度内多次重复该取样操作；频率确定步骤，确定是否每个与在收集步骤中多次收集的取样数据的预凹坑位置相应的数据值被获得了预定次数或者更多；和孔径比计算步骤，当在频率确定步骤确定数据值被获取了预定次数或者更多次的时候，计算与以预定次数或者更多次获取的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值的比，作为孔径比。
7.一种表示一系列指令的计算机数据信号，它能够使计算机执行步骤来实现用于光学记录媒体的孔径比测量装置中的测量处理，该光学记录媒体具有记录表面，其上具有在轨道之间反复形成的预凹坑，并携带与所述轨道相关的信息，所述步骤包括光检测步骤，接收照射在记录表面上的光束的反射光，在光接收表面上具有沿着轨道的切线方向被分开的第一和第二光接收面，输出分别与第一和第二光接收面上接收的光数量相应的第一和第二光检测信号；减法步骤，计算第一和第二光检测信号的差从而产生一个推挽信号；收集步骤，收集通过在预定时间长度内对所述推挽信号进行取样所获得的取样数据，以及在预定时间长度内多次重复该取样操作；频率确定步骤，确定是否每个与在收集步骤中多次收集的取样数据的预凹坑位置相应的数据值被获得了预定次数或者更多；孔径比计算步骤，当在频率确定步骤确定数据值被获取了预定次数或者更多次的时候，计算与以预定次数或者更多次获取的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值的比，作为孔径比。
全文摘要
一种AR测量装置接收照射在光学记录媒体上的光束的反射光,该光学记录媒体具有其上通过第一光接收表面与第二光接收表面在轨道之间反复形成预凹坑的记录表面,根据第一和第二光接收表面的光接收信号之间的差获得推挽信号,通过在预定时间长度内对推挽信号进行取样来收集取样信号,并在预定时间长度内重复取样多次,确定与多次取样数据的预凹坑位置相对应的每个数据值是否获得了预定次数或者更多次,计算与以预定次数或者更多次获取的数据值的预凹坑成分相应的值的最小值与最大值的比,作为孔径比。
文档编号G11B7/005GK1381837SQ02106289
公开日2002年11月27日 申请日期2002年2月23日 优先权日2001年2月23日
发明者加藤正浩, 梁川直治, 米龙大, 村松优子, 铃木真二 申请人:日本先锋公司