专利名称：光盘装置的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及向光盘记录和再现信息的光盘装置。
近年来，作为多媒体数据等大容量的信息记录媒体的光盘被作为主流而被实用化，为了进行更大容量化，相继公开了可高密度记录的光盘(下面简称为高密度盘)。
作为该高密度化的主要对策，进行记录标记的短标记长化，窄磁道间距化。但是，根据高密度化，在记录或再现时，由于散焦或盘的倾斜等而变化光束的聚光状态的情况下，对S/N比等信号品质的影响变大。为此，在记录时，期望由与聚光状态变化等价的补正激光能量的下降部分的激光能量来进行记录。
针对该问题，提出了一种方法(例如特开平3-232141号公报)，检测出在光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量(下面简称为最小记录能量或Pmin)，将对该Pmin乘以一常数后的能量作为最佳记录能量，设定为用于数据记录的激光能量。
下面参照附图来说明上述的已有光盘装置的一个实例。
图18是表示已有的光盘装置的结构的框图。在图18中，1为光盘，2为使光盘旋转的主轴电动机，3是通过向光盘1聚集的激光和来自光盘1的反射光来检测记录信息的光头。4为根据来自后述的控制部9的信息进行激光能量设定的激光能量控制部，5为进行信号记录的磁头。6为带通滤波器(BPS)，7为检测再现信号强度的检测器。8为进行Pmin检测的最小记录能量检测部。9为对主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5进行控制和设定最佳记录能量的控制部。
下面说明如上构成的光盘装置的动作。
当设定使用数据记录的激光能量时，首先，激光控制部4根据来自控制部9的信息进行能量的设定。控制部9控制光头和磁头，在光盘1上记录单一频率的信号。接着，通过光头3再现该信号，通过具有与记录的频率相同的通过频域的带通滤波器6进行频域限制后，由检测器7检测出该输出信号的信号强度，作为信号强度输入最小记录能量检测部8中。
通过边变化记录能量的设定值边重复该动作，就可得到如图19所示的再现信号强度的记录能量依赖性。在最小记录能量检测部8中，从该图19所示的记录能量依赖性通过近似计算检测出Pmin。将检测出的Pmin输入控制部9。在控制部9中，通过将对该Pmin乘以常数后的能量作为最佳记录能量而设定为用于数据记录的激光能量，即使在变化光束的聚光状态或光盘的温度的情况下也能保持记录状态的恒定。
但是，在上述结构中，因为使用再现信号的信号强度来进行Pmin检测，有必要在数据未记录区域中进行Pmin检测。因此，有必要在事先在能量设定区域等光盘上设定的规定区域中进行Pmin的检测，或在数据记录区域中进行的情况下事先除去该领域所记录的数据。存在如下问题在前者的情况下，光盘上未记录的区域增加，数据记录容量减少，另外，在后者的情况下，在除去数据所需的旋转等待所产生的Pmin检测中存在多余时间，而且存在在除去时会除去邻接磁道的数据(交叉擦除)的危险。
本发明的目的是提供一种光盘装置，即使在将最小记录能量检测区域作为数据记录区域的情况下，也不必事先除去记录于该区域中的数据，从而能以高精度且短时间地检测出Pmin。
为了实现上述目的，根据本发明的第一光盘装置，向光盘照射光束，进行数据的记录和再现，其特征在于具有在所述光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；和检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部，所述最佳记录能量设定部将由所述激光能量控制部对在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，并设定所述最佳记录能量。
在所述第一光盘装置中，所述最佳记录能量设定部检测出所述光盘上的多个区域中的所述最小记录能量后，最好设定所述多个区域中的共同的所述最佳记录能量。
另外，在所述第一光盘装置中，所述最佳记录能量设定部由检测出的所述最小记录能量值来判定不存在适当的所述最佳记录能量时，最好中止所述数据的记录。
另外，在所述第一光盘装置中，所述记录部在检测出所述最小记录能量时，最好记录“0”和“1”的发生概率基本相等的记录图案。
另外，在所述第一光盘装置中，所述记录部在每次检测出所述最小记录能量时，最好记录不同的记录图案。
为了实现所述目的，根据本发明的第二光盘装置，向光盘照射光束来进行数据的记录和再现，其特征在于具有在光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部；和指定进行所述最小记录能量检测的所述光盘上的位置的位置指定部，所述最佳记录能量设定部在所述位置指定部指定的位置，将由所述激光能量控制部对在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，并设定所述最佳记录能量。
在所述第二光盘装置中，所述位置指定部最好指定数据记录区域。
为了实现所述目的，根据本发明的第三光盘装置，向具有与数据记录区域不同的能量设定区域的光盘照射光束来进行数据的记录和再现，其特征在于具有在光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部；指定进行所述最小记录能量检测的所述光盘上的位置的位置指定部；和指定用于所述最小记录能量检测的激光能量的最大值的检测能量指定部，所述位置指定部在所述数据记录区域之前指定所述能量设定区域，所述最佳记录能量设定部在所述位置指定部指定的位置，将由所述激光能量控制部在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，在设定所述最佳记录能量的同时，向所述检测能量指定部输入所述检测出的最小记录能量，并确定激光能量的所述最大值。
为了实现所述目的，根据本发明的第四光盘装置，向光盘照射光束来进行数据的记录和再现，其特征在于具有在所述光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部；和指定检测所述最小记录能量定时的定时指定部，所述最佳记录能量设定部在所述定时指定部指定的定时，将由所述激光能量控制部在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，设定所述最佳记录能量。
根据所述第四光盘装置，所述定时指定部检测所述光盘周边的温度变化，最好将所述温度变化为规定值以上的时间指定为进行所述最小记录能量检测的定时。
另外，根据所述第四光盘装置，所述定时指定部最好将从检测出所述最小记录能量后经过规定时间的时间指定为进行所述最小记录能量检测的定时。
根据上述结构，即使在将最小记录能量检测区域作为数据记录区域的情况下，也没必要事先消去记录在该区域中的数据，而能以高精度、短时间检测Pmin。
另外，因为能够在进行记录的正前方位置(扇区)中进行Pmin检测，所以即使在光盘倾斜或弯曲、或散焦、温度等瞬时变化的情况下，通常也能设定最佳的记录能量。
另外，在能量设定区域中检测Pmin，通过以该值为基准，指定用于Pmin检测的激光能量的最大值来防止高密度盘中的交叉擦除。
并且，在温度急剧变化的情况下，因为检测出该情况后，再次检测出Pmin，再设定用于数据记录的记录能量，所以通常能够设定最佳的记录能量。
另外，在所述第一至第四的光盘装置，最好具有设定所述记录补偿常数值的常数设定部。
并且，所述常数设定部最好根据所述光盘的温度来设定所述记录补偿常数的值。
并且，所述常数设定部最好根据所述光盘的线速度来设定所述记录补偿常数的值。
并且，所述常数设定部最好根据所述光束的聚光状态来设定所述记录补偿常数的值。另外，在此情况下，能够从形成所述再现可能界限的记录标记的最小记录能量来求出所述光束的聚光状态。
并且，当所述光盘装置为间歇地照射光束来进行数据记录的光盘装置的情况下，所述常数设定部最好根据所述光束的间歇率来设定所述记录补偿常数的值。
通过上述结构，当设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，能够根据光束的聚光状态等记录时的条件，将对最小记录能量乘以的记录补偿常数设定为最佳的值。
另外，在记录时间歇地照射光束的情况下，也能根据间歇率来将对最小记录能量乘以的记录补偿常数设定为最佳的值。
本发明的其它目的、特征和优点将通过如下所示的记载变得明显。另外，本发明的权益将通过如下的参照附图的说明而变得明白。
图1是表示本发明的第一实施例的光盘装置的结构的框图；图2(a)是本发明的第一实施例、第二实施例和第四-第六实施例中的光盘的结构图；图2(b)是表示所述光盘中的盘圆周方向位置与记录开始能量的关系的关系图；图3是图1所示的光盘装置各部分的信号波形图；图4是表示本发明的第二实施例的光盘装置的结构的框图；图5是表示本发明的第三实施例的光盘装置的结构的框图；图6是本发明的第三实施例中的光盘的结构图；图7是表示本发明的第四实施例的光盘装置的结构的框图；图8(a)和图8(b)是表示聚光状态变化的情况下的再现信号强度与记录能量的关系的关系图；图9是表示磁道间距变化的情况下的交叉光量与记录能量之间关系的关系图；图10是表示聚光状态变化的情况下的交叉光量与记录能量之间关系的关系图；图11是表示本发明的第五实施例的光盘装置的结构的框图；图12(a)和图12(b)是表示本发明的第五实施例中的记录能量控制方法的流程图；图13(a)是表示最小记录能量与最佳记录能量的比与盘温度的关系的关系图；图13(b)是盘温度范围与各温度范围中最佳常数的对应表；图14(a)是表示记录能量与线速度的关系的关系图；图14(b)是线速度范围与各线速度范围内最佳常数的对应表；图15是表示记录能量与聚光状态的关系的关系图；图16是表示本发明的第六实施例的光盘装置的结构的框图；图17(a)是表示记录能量与间歇率的关系的关系图；图17(b)是说明间歇率的说明图；图18是表示已有的光盘装置的结构的框图；图19是表示再现信号强度与记录能量的关系的关系图。
下面参照图1至图17来说明本发明的实施例。
(第一实施例)图1是表示本发明的第一实施例的光盘装置的结构的框图。在图1中，1为光盘，2为旋转光盘的主轴电动机，3为通过向光盘1聚集的激光和来自光盘1的反射光来进行记录信息检测的光头(再现部)。4为根据来自后述的控制部26的信息进行激光能量设定的激光能量控制部，5为进行信号记录的磁头。25为在光盘1中进行形成再现可能界限记录标记的最小记录能量(Pmin)的检测的最小记录能量检测部。26为对主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5的控制和最佳记录能量进行设定的控制部。21为对再现信号进行规定处理的信号处理部，22为生成用于信号记录和再现的时钟的时钟生成部，23为进行地址解调的地址解调器。24为检测已知的记录图案和再现其记录图案时所得到的再现信号的相关性的检测器(相关检测部)。
另外，由所述最小记录能量检测部25和控制部26构成最适合记录能量设定部27。
另外，由所述光头3和磁头5构成记录部。另外，在相变型光盘中仅由光头3来构成记录部。
另外，图2(a)中表示本发明的第一实施例中的光盘1的结构图。另外，图2(a)中所示的光盘1也用于第二和第四-第六实施例。
在图2(a)中，11为基板，12为记录膜，13为进行数据记录的数据记录区域，14为磁道。
下面说明如上述构成的光盘装置的动作。
光头3根据来自控制部26的信息向光盘1上照射光束，检测其反射光后变换为电信号。该检测信号被提供给信号处理部21、时钟生成部22、地址解调器23和图中未示的聚光控制部、跟踪控制部。
向信号处理部21提供根据记录在光盘1上的记录信息的再现信号，在信号处理部21中进行噪声去除等处理。
在时钟生成部22中，从由光头提供的信号中抽出时钟生成信息，生成用于信号记录和再现的时钟。该时钟被提供给控制部26和检测器24。
例如，在采样伺服方式的光盘中，经过整个周期，事先记录(预先格式化)作为时钟生成信息的时钟用位，从光头3提供的信号中检测该信息，例如通过使用PLL来进行分频，能够生成用于记录和再现的时钟。当然不必以位来记录时钟生成信息，也可有/无沟，也可以是由规定的频率来摆动的沟(groove)。另外，不限于采样伺服方式的光盘装置，也可以是在记录和再现中基本相同的使用时钟的光盘装置。
在地址解调器23中，从提供给光头3的信号中抽出地址信息，根据该信息来解调地址，来检测用于了解光束是否照射到光盘1上的何位置的地址。向控制部26和检测器24提供该检测出的地址。
下面，使用图3的定时图表来说明最佳记录能量设定部27和检测器24的动作。在图3中表示了由时钟生成部22生成的时钟、与该时钟同步的记录图案、由激光能量控制部4控制的记录能量、从信号处理部21输出的再现信号和由检测器24输出的检测器输出。
首先，激光能量控制部4根据来自控制部26的信息，与实际进行数据记录的能量相比，将能量设定得足够低(例如为P0)。光头3和磁头5根据来自控制部26的信息，通过由激光能量控制部4设定的能量来将与图3所示的时钟同步的记录图案记录在光盘1上。
此时，激光能量控制部4根据来自控制部26的信息进行能量设定，即如图3所示，将P0作为初始值，经过规定的级数，阶段性地变化记录能量(各段中的记录能量作为P0、P1、P2、……)。
另外，也向检测器24提供所述记录能量。
并且，在图3中，虽然表示了单调增加记录能量，但不限于此，也可以通过单调减少，还可通过重复增加和减少来设定能量。
当通过光头3再现该记录图案后输入信号处理部21时，在信号处理部21中消除低频噪声后，向检测器24输出如图3所示的再现信号。进行Pmin检测的区域不是未记录区域的情况下，即为数据记录区域13中的记录结束的区域的情况下，在该再现信号中加入由光盘1或光头3引起的噪声成分，在该区域中包含了以前记录的数据信号成分。
在检测器24中检测如图3所示的记录图案和再现信号的相关性。这与检测自身相关性不同，由此可知道由各记录能量记录的记录图案被记录的准确程度。检测的结果被作为相关值输入最小记录能量检测部25中。
这里，因为使用了在信号记录和再现中基本相同的时钟，例如，在图3中，将记录图案为逻辑[H]的期间作为[1]，为逻辑[L]的期间作为[-1]，取得记录图案与再现信号的积，通过某一规定期间的积分，来抵消噪声成分或以前记录的数据等的与记录图案不相关的信号成分。因此，即使是非常微小的信号，也能检测记录在光盘1上的记录图案的信号成分，将其作为相关值来由检测器24检测。
由例如图3所示的检测器输出，通过根据积分期间(t0、t1、t2……)来分配由相同能量记录的各级的每一积分结果来得到相关值。这里，将各级中检测出的相关值作为C0、C1、C2……。在能量低而未进行记录的区域中，相关值基本为0(zero)。
另外，当将各记录能量中的积分期间(t0、t1、t2……)分配为相同的情况下，也可根据积分期间分配积分结果用作直接相关值。
另外，在检测器24中，也可将记录图案为逻辑[H]的期间作为[-1]，将为逻辑[L]的期间作为[1]来检测相关性。
在最小记录能量检测部25中，比较相关值和规定电平，检测将其大小关系进行转换后的值。因此，从此时的地址中检测出记录该记录图案的记录能量(例如图3中的P2)，将其作为Pmin。并且，在控制部26中，将该Pmin乘以常数(记录补偿常数)后算出最佳记录能量，将其设定为用于数据记录的激光能量。
因此，即使将对于光盘1的最小记录能量检测区域作为数据记录区域13的情况下，也不必事先消除记录在该区域中的数据，而能够高精度、短时间地检测Pmin。另外，由于能够检测出微小的信号成分，因为与进行Pmin附近的数据记录的能量相比能够用非常低的能量进行Pmin的检测，所以在Pmin的检测时不存在向邻接磁道写入数据的交叉光的危险。
另外，再现信号也可通过未图示的A/D变换器进行数字化后输入检测器24。与该情况相同，在检测器24中，将记录图案为逻辑[H]的期间作为[1]，将为逻辑[L]的期间作为[-1]，或将为逻辑[H]的期间作为[-1]，将为逻辑[L]的期间作为[1]，记录图案与数据化再现信号相乘，通过在规定期间(例如t0、t1、t2……)比较相乘的值，能够检测出相关性。
另外，在最小记录能量检测部25中进行Pmin的检测时，通过合并相关值(C0、C1、C2……)的连续性，能够防止Pmin的误检测。例如，将记录能量变为Pn-1、P、Pn+1(但Pn-1＜Pn＜Pn+1)进行记录图案的记录，此时，当将检测的相关值作为Cn-1、Cn、Cn+1的情况下，满足Cn-1＜规定电平＜Cn，即使转换与规定电平的大小关系，若Cn＞Cn+1，则考虑到Cn包含有检测误差，而不将Pn作为Pmin。
另外，通过在光盘1上的多个区域中检测Pmin后设定最先记录能量，能够针对盘的感光度不均匀来设定最先记录能量。
光盘1具有感光度不均匀，例如在磁道14中，如图2(b)的实线所示，在1磁道内Pmin不同。此时，最佳记录能量也根据Pmin而不同。图2(b)的横轴表示磁道14的圆周上位置和区域，纵轴表示各位置中的Pmin。这是由于例如记录膜12的膜厚参差不齐而产生的，在膜厚厚的区域中难以传导热量，由于多余的热量是必要的，所以Pmin变高，反之，膜厚薄的区域中Pmin变低。
此时，在区域A周边进行Pmin检测时，因为将P3作为Pmin检测，所以在区域C的周边区域中由于设定高的记录能量，则存在交叉光的危险。另外，在区域C的周边进行Pmin检测的情况下，因为将P1作为Pmin检测，所以在区域A的周边区域中设定低的记录能量，而存在不能得到很好的信号品质的危险。
因此，在光盘1上的多个区域，例如将1磁道进行分割的区域A、区域B、区域C中检测Pmin，将各区域中的检测值作为Pmin-A、Pmin-B、Pmin-C。
这里，考虑到替换1磁道中的激光能量来进行数据记录时，因为激光能量控制部4中的能量控制或图中未示的聚光控制部、跟踪控制部中的增益控制变得非常复杂，所以期望设定多个区域通用的一个激光能量。
因此，通过将多个区域中的Pmin检测值(例如Pmin-A、Pmin-B、Pmin-C)的平均值作为磁道14中的Pmin，检测出Pmin作为P2附近的能量，从而能够设定最佳记录能量。
此外，通过取得不是光盘1上的多个区域中检测出的全部Pmin(Pmin-A、Pmin-B、……Pmin-N)、而是除去最大值和/或最小值后的检测值的平均值也可求出该区域、例如磁道14的Pmin，也可由不限于平均的其它方法来求出Pmin。另外，检测Pmin的1磁道内的区域不限于三个，可以是两个，也可以是四个以上。另外，在图2(a)中，磁道14为同心圆形，但不限于此，也可以形成为螺旋形。
另外，检测Pmin的多个区域不限于分割1磁道的区域，可以是光盘1的同一径向上的区域，也可以是光盘1上的任意区域。
由此，在光盘上存在感光度不均匀的情况下，能够设定最佳记录能量。另外，通过从多个区域中检测出的Pmin中除去最大值而检测出Pmin，在由于盘上附着的润滑油积炭或指纹的影响而极端提高Pmin的情况下，也可由此来防止记录能量被设定得高。另外，通过从多个区域中检测的Pmin中除去最大值和/或最小值来检测Pmin，可防止由于Pmin的检测误差而设定错误的记录能量。
另外，光盘1的感光度不均匀并不限于由记录膜12的膜厚偏差引起的，可以是未图示的其它膜的膜厚的参差不齐引起的，或是由其它原因引起的。
另外，在通过检测的Pmin值来判断不存在适当的最佳记录能量的情况下，可通过中止数据的记录来防止光头3的破坏或交叉光。
在光束的聚光状态恶化或低温时，检测出的Pmin变高，与此对应，控制部26中设定为最佳记录能量的记录能量也变高。但是，输出规定电平以上的能量时，因为可能破坏光头3，所以在检测的Pmin为规定电平以上的情况下，控制部26判断不存在适当的记录能量，并中止数据的记录。
另外，在光盘1上的多个区域中检测Pmin的情况下，如果检测出的多个Pmin值具有规定以上的偏差时，控制部26判断没有作为记录能量的适当值，并中止数据记录。另外，光盘1的感光度不均匀存在如图2(b)的虚线所示的情况下，有可能发生下述情况，即由区域A中的最佳记录能量进行记录时在区域C中发生交叉光，由区域C中的最佳记录能量进行记录时在区域A中不能得到很好的信号品质。
由此，能够防止由激光的过大输出引起的光头3的破坏和由可能产生交叉光的某激光能量进行的记录。
另外，当检测Pmin时，通过使用“0”和“1”的发生概率基本相等的记录图案而可能消除包含于再现信号中的噪声中的DC成分。
通过光头3内的未图示的光电变化元件的偏差或信号处理部21内的未图示的电路中发生的偏移，在再现信号中可能包含有DC的噪声。
这里，在记录图案的“0”和“1”的发生概率不同的情况下，不同的部分相关值进行偏移，将其变为检测误差。为此，在各记录能量中的积分期间(例如t0、t1、t2……)内，通过使用“0”和“1”的发生概率相等的记录图案来检测相关值，消除再现信号中的DC成分，能够得到检测误差变小的相关值。另外，因为使用该相关值来进行Pmin的检测，所以不需多言，可由此提高Pmin的精度。
另外，在各记录能量中的积分期间(例如t0、t1、t2……)中的数据位数为奇数的情况下，在“0”和“1”的发生概率不相等的情况下，最好使用限于相等的记录图案。
另外，包含于再现信号中的DC噪声不限于由光头3内的光电变换元件的偏差不齐或信号处理部21内的未图示的电路中发生的偏移引起的，也可以是由其它原因引起的。
由此，能够以高精度来检测Pmin。
另外，通过每次检测Pmin时使用不同的记录图案，在相同位置(扇区)中，没必要事先除去以前的Pmin检测中记录的记录图案，并可能进行多次Pmin的检测。
这与数据记录区域13中事先除去以前记录的数据一样是不必要的。也就是，即使在再现信号中包含有在以前的Pmin检测时记录的记录图案(例如b0)的情况下，如果与记录图案和b0不相关，由于消除了检测器24中b0的信号成分，所以可能检测记录图案。
例如，在检测Pmin时，在未图示的M系列发生电路中，通过发生M系列随机图案，将其输入控制部26中以用于记录图案，能够在每次检测Pmin时记录不同的记录图案。
由此，在每次检测Pmin时记录不同的记录图案，即使在Pmin检测时除去记录的记录图案的情况下，接着在相同位置(扇区)中进行Pmin检测时，则没必要事先除去该记录图案，而能够在光盘上的可记录的任意区域中检测Pmin。另外，因为没必要除去以前事先记录的数据或记录图案，所以能够在短时间内进行Pmin的检测。
(第二实施例)图4是表示本发明的第二实施例的光盘装置的结构的框图。此外，在图4中标以与图1相同符号的构成要素表示相同的部分，从而省略其说明。
在图4中，25为进行Pmin检测的最小记录能量检测部，36为设定主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5的控制和最佳记录能量的控制部。通过最小记录能量检测部25和控制部36来构成最佳记录能量设定部37。另外，31为指定进行Pmin检测的光盘1上的位置的位置指定部。
下面对如上述构成的光盘装置说明其动作。
位置指定部31对于控制部36指定进行Pmin检测的光盘1上的位置。因此，最佳记录能量设定部37进行指定位置的Pmin检测。并且，最佳记录能量设定部37中的最佳记录能量的设定是如下进行的控制部36将最小记录能量检测部25检测的Pmin乘以常数(记录补偿常数)后算出最佳记录能量，将该最佳记录能量设定为用于数据记录的激光能量。最小记录能量检测部25的Pmin检测方法与第一实施例相同。
光盘1的倾斜或弯曲可能因光盘的位置而不同，另外，光盘面上的温度可能随时间而变化。由于光盘1的倾斜或散焦而引起光束的聚光状态变化的情况下，因为用于记录和再现的等价激光能量变化，所以Pmin和最佳记录根据其而变化。另外，Pmin和最佳记录很大程度上依赖于盘面上的温度。
因此，在记录数据之前，位置指定部31指定数据记录区域13中的从此进行记录的位置(扇区)。最小记录能量检测部25检测该位置(扇区)中的Pmin。因此，控制部36将该Pmin乘以常数倍后算出最佳记录能量，将该最佳记录能量再设定为用于数据记录的激光能量。
由此，即使在由于光盘1上的位置或时效变化而引起聚光状态变化的情况下，或盘面上的温度变化的情况下，通过最佳记录能量设定部37通常也能设定最佳记录能量。
另外，Pmin的检测不限于在记录数据之前进行，通过位置指定部31事先指定光盘1上的多个位置(例如最内周和最外周)，在各个位置上进行Pmin检测，当进行数据记录时，使用首先检测的各位置中的Pmin，也可由插补等来算出进行记录的位置中的Pmin。
另外，因为在此时使用数据记录区域进行Pmin的检测，所以没必要在光盘1上事先设置能量设定区域等规定的区域。
由此，即使在由光盘1上的位置而引起聚光状态变化的情况下，也能在各位置(扇区)中设定最佳记录能量。
(第三实施例)图5是表示本发明的第三实施例的光盘装置的结构的框图。此外，在图5中标以与图1或图4相同符号的构成要素表示相同的部分，从而省略其说明。
在图5中，40为具有与数据记录区域不同的能量设定区域的光盘。25为进行Pmin检测的最小记录能量检测部，46为设定主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5的控制以及最佳记录能量的控制部。由该最小记录能量检测部25和控制部46构成最佳记录能量设定部47。47为指定用于Pmin检测的激光能量最大值的检测能量指定部。
另外，图6中表示本发明的第三实施例中的光盘40的结构图。此外，在图6中标以与图3相同符号的构成要素表示相同的部分，从而省略其说明。
在图6中，15为在光盘40上事先设置的、检测记录和/或再现时的最佳能量用的能量设定区域。
下面说明如上述构成的光盘装置的动作。
在插入光盘40之后，并在由未图示的系统控制器重设置为与盘插入之后相同的状态时，位置指定部31指定能量设定区域15，最佳记录能量设定部47进行该区域中的Pmin检测。Pmin的检测方法与第一实施例相同。这里，将检测出的Pmin作为Ptest。
另外，将检测出的Pmin值(Ptest)输入检测能量指定部41中，检测能量指定部41将输入的Pmin值(Ptest)乘以规定倍数(将其作为Pa)。
接着，在记录数据之前，位置指定部31指定数据记录区域13中的由此进行记录的位置(扇区)。
检测能量指定部41对于控制部46将Pa指定为用于Pmin检测的激光能量的最大值。
激光能量控制部4根据来自控制部46的信息，设定与进行实际数据记录的能量相比非常低的能量(例如为P0)。光头3和磁头5根据来自控制部46的信息，通过由激光能量控制部4设定的能量，将由时钟生成部22生成的与时钟同步的记录图案记录在由位置指定部31指定的位置(扇区)中。
此时，激光能量控制部4根据来自控制部46的信息进行能量设定，以便将P0作为初始值经过规定级数阶段性地变化记录能量，或不比由检测能量指定部41指定的能量(Pa)大。
这里，在本实施例中，设定用于Pmin检测的激光能量的最大值与第一和第二实施例不同。
另外，该记录图案还被提供给检测器24。
由光头3再现该记录图案而得到的信号被输入信号处理部21中，在信号处理部21中除去低频噪声后，向检测器24输入如图3所示的再现信号。在该再现信号中加入噪声成分，进行Pmin检测的区域如果不是未记录区域，则在该区域中包含以前记录的数据信号成分。
在检测器24中检测出记录图案与再现信号的相关性。如果它与检测自身相关性不同时，就能由此知道由各记录能量记录的记录图案是以何种程度被准确记录。将检测结果作为相关值输入最小记录能量检测部25中。在最小记录能量检测部25中将相关值与规定电平进行比较，检测出其大小关系转换后的值，从此时的地址中检测出记录该记录图案的记录能量，并将其作为Pmin。在控制部46中，将该Pmin乘以常数倍(记录补偿常数)后算出最佳记录能量，将该最佳记录能量设定为用于数据记录的激光能量。
另外，最大激光能量(Pa)中相关值不在规定电平以上的情况下，检测能量指定部41对Pa乘以规定倍数(将其作为Pb)。接着，检测能量指定部41对于控制部46将用于Pmin检测的激光能量最大值指定为Pb。下面重复该操作，直到最小记录能量检测部25检测出Pmin为止，检测能量指定部41依次提高用于Pmin检测的激光能量的最大值。另外，控制部46在由检测能量指定部41指定的激光能量最大值为规定电平以上的情况下中止数据的记录。
在磁道间距窄的高密度盘中存在记录时的交叉光的问题。因此，在数据记录区域13中检测Pmin时，期望仅由Pmin附近的低能量记录记录图案。这里，用能量设定区域15来进行Pmin检测，通过将其规定倍数作为用于数据记录区域13中的Pmin检测的激光能量的最大值，能够防止Pmin检测时的由高激光能量进行的记录和交叉光。
这是因为插入光盘40并经过规定时间后，假定盘温度变化为缓慢的情况下，在数据记录区域13中检测的Pmin假定为来自能量设定区域15先行检测出的Ptest、无大变化。因此，通过将比Ptest稍大的值(Pa)设定为Pmin的最大值，可防止交叉光，并能够最有效地检测Pmin。
另外，一旦数据记录区域13中检测出Pmin后，将其作为Ptest，再次设定Pa，接着在数据记录区域13中也可用作检测Pmin时的最大值。
另外，在最大激光能量(Pa)中，当相关值不在规定电平以上的情况下，期望接着在数据记录区域13中检测Pmin之前，由位置指定部31再次指定能量设定区域15，检测Ptest，并由检测能量指定部41再设定Pa。
由此，在数据记录区域中，能够防止交叉光，并可在短时间内检测Pmin。
(第四实施例)图7是表示本发明的第四实施例的光盘装置的结构的框图。此外，在图7中标以与图1相同符号的构成要素表示相同的部分，从而省略其说明。
在图7中，25为进行Pmin检测的最小记录能量检测部，56为设定主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5的控制和最佳记录能量的控制部。通过最小记录能量检测部25和控制部56来构成最佳记录能量设定部57。另外，51为指定进行Pmin检测定时的定时指定部。
下面对如上述构成的光盘装置的动作进行说明。
定时指定部51检测出检测光盘1周边的温度变化和域Pmin后所经过的时间，必要时向最小记录能量检测部25输出定时信号。因此，最佳记录能量设定部57根据该定时信号进行Pmin检测。另外，最佳记录能量设定部57中的最佳记录能量的设定是通过控制部56将最小记录能量检测部25检测的Pmin乘以常数(记录补偿常数)后算出最佳记录能量、将该最佳记录能量设定为用于数据记录的激光能量来进行的。最小记录能量设定部的Pmin检测方法与第一实施例相同。
另外，作为检测光盘周边温度的温度检测方法例如可使用热敏电阻(未图示)。另外，作为检测出检测Pmin后所经过的时间的经过时间检测方法例如可使用钟表(未图示)。
光盘面上的温度可能会随时间变化。因为Pmin和最佳记录能量较大地依赖于光盘面上的温度，所以在光盘周边的温度急剧变化的情况下，再次进行Pmin检测，期望再设定用于数据记录的激光能量。
定时指定部51从未图示的温度检测部的输出中检测出光盘周边的温度变化，在有规定量以上的温度变化的情况下输出定时信号。因此，即使存在急剧的温度变化的情况下，通常也能够设定最佳记录能量。
另外，光盘1的倾斜或弯曲也可能由光盘的位置而不同。在由于光盘1的倾斜或散焦而引起光束聚光状态变化的情况下，因为变化了用于记录和再现的等价激光能量，所以可与之对应地来变化Pmin和最佳记录能量。因此，期望定期进行Pmin检测，再设定用于数据记录的激光能量。
定时指定部51检测从未图示的经过时间检测部的输出中检测Pmin后所经过的时间，在经过规定量以上的时间后输出定时信号。因此，能够恒定地设定最佳记录能量。
这里，如上所述的本发明的Pmin检测对于数据记录区域13而言，因为没必要事先除去记录在该区域中的数据，所以可在非常短的时间内进行Pmin检测。并且，因为不需要数据除去用的旋转等待，或不必将光头3和磁头5移动至事先设置在能量设定区域等的光盘上的规定区域，所以在以定时指定部51指定的定时频繁地进行Pmin检测的情况下，不会对系统动作产生大的影响，而能够非常有效地设定最佳记录能量。
另外，在上述从第一到第四实施例中，虽然说明了记录可能的最小记录能量的检测，但与之相同，通过分别变化磁场、线速度，可检测出在光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小磁场或最小线速度。
(第五实施例)通过第一-第四实施例的说明，将最佳记录能量确定为对检测的最小记录能量Pmin乘以常数后所得到的能量值。
图8(a)是表示在光束的聚光状态变化的状态下进行记录的情况下的再现信号强度的记录能量依赖性的一个实例。图中，特性G为在光束的聚光状态良好的状态下进行记录的情况下、特性B为在光束的聚光状态差的状态下进行记录的情况下所得到的再现信号强度的记录能量依赖性的一个实例。如图所示，为了通过光束的聚光状态得到相同的再现信号强度、例如规定电平的再现信号强度，所需的记录能量的差别很大。
因此，通过在各状态下检测最小记录能量，以各个最小记录能量(PminG和PminB)来进行规格化，可得到如图8(b)所示的规格化记录能量依赖性。并且，通过用与聚光状态无关的Pmin进行规格化的记录能量(下面简称为规格化记录能量)来进行记录，可得到基本一定的再现信号强度。
因此，通过以对最小记录能量乘以一定值(α)后的能量(α·Pmin)来进行记录，则在光束的聚光状态变化的情况下，也能将记录的信号强度保持不变。另外，作为α值也可以是规定电平以上的信号强度所得到的值。
但是在上述结构中，在窄磁道间距化的高密度盘中存在不能设定最佳记录能量的情况。
光盘高密度化而磁道间距变窄后，会增大记录时邻接磁道数据变差现象(下面将该现象称为交叉光)的危险性。这是因为交叉光是由向邻接磁道的热传导(热扩散)引起而产生的，磁道间距变窄后，容易在相对邻接的磁道中产生影响。
图9是磁道间距引起的交叉光量的变化的一个实例。另外，图中的交叉光量通过在期望磁道中进行记录，由邻接磁道的信号强度的下降量来表示。图中，特性W为磁道间距大的情况下、特性N为磁道间距窄的情况下所得到的交叉光量的记录能量依赖性的一个实例。发生交叉光的最小记录能量(下面简称为交叉光开始能量或Pcw)在磁道间距变窄后降低(PcwN＜PcwW)。
发生交叉光时，邻接磁道的数据变差，在最坏的情况下，往往也产生丢失变差的部分数据，或无法再现等问题。为此在高密度盘中，不仅可在期望的磁道中记录规定电平以上的信号，最好也考虑交叉光来设定记录能量。
这里，如上所述，因为交叉光由向邻接磁道的热传导(热扩散)引起而产生，对光束聚光状态变化时的记录能量的影响与图8(a)和图8(b)所示的再现信号强度而不同。例如，在与图8(a)一样变化聚光状态的情况下，交叉光量的记录能量依赖性变为图10(a)所示。这里，由各个状态下的最小记录能量(PminG和PminB)进行规格化时得到图10(b)所示的规格化记录能量依赖性，光束的聚光状态变差后，由低的规格化记录能量来产生交叉光。
一般而言，为了进行可靠性高的记录，期望在不发生交叉光的范围内用高的激光能量进行记录。因此，例如，通过在光束的聚光状态好的情况下，将αG·PminG设定为用于数据记录的激光能量，在聚光状态差的情况下，将αB·PminB进行同样设定，也可对高密度盘进行可靠性高的记录，并且在记录时，可大幅度地降低使邻接磁道数据变差的交叉光的危险性。
另外，也可通过光盘的温度或线速度等记录时的条件来变化Pmin。此时，通过根据各记录条件对乘以Pmin的常数使用适当值来设定用于数据记录的激光能量，可防止交叉光，并能够进行可靠性高的记录。
这里，根据第五实施例的光盘装置可这样构成，即在设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，将乘以最小记录能量的常数(记录补偿常数)设定成根据光束的聚光状态等记录时的条件的最佳值。下面说明根据第五实施例的光盘装置的结构。
图11是表示本发明的第五实施例的光盘装置的结构的框图。此外，在图11中标以与图1、图4、图5或图7相同符号的构成要素表示相同的部分，从而省略其说明。
在图11中，66为设定主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5的控制和最佳记录能量的控制部，通过该控制部66和最小记录能量检测部25来构成最佳记录能量设定部67。61为在设定最佳记录能量时设定乘以最小记录能量的常数值的常数设定部，62为检测光盘1的线速度的线速度检测部，63为检测光盘1的周边温度的温度检测部。
下面对如上构成的光盘装置说明其动作。
因为最小能量检测方法与第一实施例相同，所以这里省略其说明。
在线速度检测部62中检测出光盘1的线速度，将检测结果输入常数设定部61中。另外，在温度检测部63中检测光盘1的周边温度，同样地将检测结果输入至常数设定部61中。
另外，作为检测光盘1的线速度的检测方法例如可使用主轴电动机2的控制信息。另外，作为检测光盘1的周边温度的方法，例如可使用热敏电阻。
在常数设定部61中，根据光盘1的线速度、和/或光盘1的周边温度、和/或光束的聚光状态，在最佳记录能量设定时设定乘以Pmin乘以的常数值，将该设定值(α’)输入控制部66。另外，虽然在后面详细说明，但这里的光束聚光状态可在常数设定部61从Pmin中求出。
本实施例的光盘装置，其特征在于除第一实施例中说明的最小记录能量的检测方法以外，至此在设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，虽然乘以Pmin的常数为一定值(α)，但将其作为根据光束聚光状态等记录时条件的可变值(α’)。
接着，参照图12-图15来说明常数设定部16的动作和乘以最小记录能量的常数(α’)的设定方法。
在图12(a)和图12(b)中，表示本实施例的光盘装置中的记录能量控制方法的流程图的实例，具体而言，公开了乘以最小记录能量的常数(α’)的设定方法。
图12(a)为表示记录能量控制方法的流程图的第一实例。在该第一实例中，首先在步骤1(S1)中，常数设定部61设定根据光盘1的温度的最佳常数(αt)。
一般而言，在光盘1中记录数据的情况下，通过向光盘1的期望磁道上照射光束并将光盘1中的记录膜12的温度提高到规定温度，例如光磁记录方法情况下的居里温度以上来进行数据记录。这里，将不照射光束时的光盘1的温度作为Tr，将记录膜12的居里温度作为Tc，将使记录膜12的温度上升单位温度所必需的激光能量作为k时，因为开始记录为光盘1的温度变为Tc时，所以表示如下。
k＝Pmin/(Tc－Tr)…(1)另外，这里，光盘1的温度和光盘1中的记录膜12的温度基本相等。
另外，当将最佳记录能量作为Pwt、用该激光能量照射光束时的光盘1的温度作为Twt时，k表示如下。
k＝Pwt/(Twt－Tr)…(2)
这里，从式(1)、式(2)变成k＝Pmin/(Tc－Tr)＝Pwt/(Twt－Tr)由此，表示为Pwt/Pmin＝(Twt－Tr)/(Tc－Tr)…(3)。
在式(3)中，Twt和Tc为盘所固有的值，在一般的光盘中，Twt为240-450℃，Tc为160-300℃。由此，例如在Twt为380℃、Tc为260℃的盘中，从式(3)，根据不照射光束时的光盘1的温度(Tr)，Pwt/Pmin的值如图13(a)所示变化。
这里，Pwt/Pmin为最小记录能量与最佳记录能量的比，无非是设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时乘以最小记录能量的、根据光盘1的温度的最佳常数。即，将某一常数(图13(a)中的值1.5)作为恒定值(α)来设定用于数据记录的激光能量时，在光盘1对应于上述某一常数的规定温度(图13(a)中表示为×记的温度)以外的温度的情况下，设定的记录能量具有误差。
因此，从光盘1的周边温度检测光盘1的温度(Tr)，在常数设定部61中，用式(3)来进行各温度下最佳常数(αt)的设定。
这里，Twt和Tc的各值也可记录在光盘1的规定区域，例如读入区域中，也可记录在光盘装置内、例如控制部66或常数设定部61中。
另外，作为在光盘1的温度下进行最佳常数(αt)的设定方法，不限于从式(3)中求出的方法，例如，如图13(b)所示，也可用成对的表设定温度范围和各温度范围内最佳常数。此时，检测的光盘1的周边温度Ttest满足最低温度TminN＜Ttest＜最高温度TmaxN的情况下，将αt设定为常数。另外，在这种情况下，图13(b)的对应表可记录在光盘1的规定区域中，也可记录在光盘装置内。
由此，能够设定适应光盘1的温度的记录能量。即，与不根据温度的最小记录能量乘一定值的情况相比，可防止低温时以比最低记录能量高的记录能量进行记录，由此降低交叉光的危险性。另外，可防止在高温时由比最佳记录能量低的记录能量进行记录，由此可进行可靠性高的记录。
另外，考虑在交换盘之后等的、光盘1的周边温度与实际光盘1的温度差大的情况下，因为存在设定错误的常数作为αt危险，所以期望不进行根据温度的设定，而将事先设定的规定值(将其作为αt0)设定为αt，或根据后述的图12(b)的流程图来设定常数(α’)。
另外，作为检测光盘1的温度的方法，不限于从光盘1的周边温度中检测的方法，也可使用温度传感器来直接检测光盘1的温度。
下面，在图12(a)的步骤2(S2)中，常数设定部6根据光盘1的线速度进行αt的补正。这里，将补正后的αt作为αt’。
图14(a)为对于光盘1的线速度的Pmin和Pcw的变化的一个实例。
如上所述，通过向光盘1的期望磁道中照射光束，将光盘1中的记录膜12的温度上升到规定温度、例如居里温度以上，向光盘1进行数据记录。
这里，当提高光盘1的线速度时，因为减少了照射在规定区域上的光束的能量，所以增大了将光盘1上升至规定温度所需的激光能量。因此，在提高光盘1的线速度时Pmin变高，同样，线速度下降时Pmin变低。例如，在线速度变为m倍时，Pmin变为(m1/4)倍。
另一方面，因为交叉光由于向邻接磁道发生热传导(热扩散)，所以与Pmin相比，Pcw较大地受到光盘1的线速度的影响。例如，当光盘1的线速度下降时，在记录膜12中积累热量，容易发生向邻接磁道的热扩散。因此，在线速度变为m倍、Pmin变为(m1/4)倍的情况下，例如，变为PCW(m1/3)倍。
因此，在常数设定部61算出规定线速度(将其作为V0)和光盘1的线速度的比(将其作为m)，在线速度比规定线速度快(m＞1)的情况下，进行补正以使常数(αt) 变大，反之，在线速度比规定线速度慢(m＜1)的情况下，进行补正以使常数(αt)变小。
这里，对于线速度的Pmin和Pcw的变化的比例(将其分别作为n_Pmin和n_Pcw。但，n_Pmin和n_Pcw为m的函数)为光盘1和/或光头3中的固有值。因此，从检测的线速度中算出与规定线速度(v0)的比(m)，利用该值、通过如下所示的式(4)来进行αt的补正，作为αt’。
αt’＝αt×(n_Pcw/n_Pmin)…(4)例如，n_Pmin＝(m1/4)、n_Pcw＝(m1/3)的情况下，如果光盘1的线速度变为1.5倍，由式(4)，可得αt’＝αt×(1.51/3/1.51/4)1.03αt由此，能够设定适应光盘1的线速度的记录能量。即，不根据线速度，与最小记录能量乘以一定值的情况相比，可防止线速度快时以比最佳记录能量低的记录能量进行记录，由此可以高的可靠性进行记录。另外，可防止线速度慢时以比最佳记录能量高的记录能量进行记录，由此可降低交叉光的危险性。
这里，n_Pmin和n_Pcw的各函数或各函数的关系可记录在光盘1的规定区域、例如读入区域中，也可记录在光盘装置内、例如控制部66或常数设定部61中。另外，不仅是nPmin、n_Pcw的各个系数，也可以是n_Pmin/n_Pcw的运算后的系数。
另外，规定线速度的值(v0)也可同样地记录在光盘1的规定区域中，也可记录在光盘装置中。
接着，在图12(a)的步骤3(S3)中，常数设定部61根据光束的聚光状态进行αt’的补正。因此，当设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，将补正后的αt’作为乘以最小记录能量的常数(α’)，输入控制部66。
在图15中，作为光束的聚光状态变化的一个实例，公开了当发生光盘1对于光头3沿径向倾斜的径向倾斜的情况下的对于该径向倾斜的Pmin和Pcw的变化的实例。
通过散焦或盘倾斜等，当光束的聚光状态变差时，因为降低了等价的激光能量，所以Pmin变高。此时，Pcw也变高，由聚光状态变差而引起光束的激光斑变形，容易发生向邻接磁道的热扩散。特别是径向倾斜发生时，邻接磁道的热扩散也变大。因此，由于径向倾斜的增大(光束的聚光状态变差)，Pcw的变化与Pmin相比小。
例如，对于径向倾斜(倾斜量＝RT)，Pmin进行变化以使Pmin＝c_Pmin·RT2＋Pmin0…(5)的情况下，Pcw以例如下式(6)变化。
Pcw＝c_Pcw·RT2＋Pcw…(6)(并且，c_Pcw＜c_Pmin)另外，Pmin0和Pcw0作为在光盘以规定温度(将其作为Tr0)和规定线速度(V0)、并且光束的聚光状态好的情况下的Pmin和Pcw。另外，c_Pmin和cPcw为对于聚光状态的Pmin和Pcw的变化比例。
因此，在常数设定部61中，从检测的Pmin中检测光束的聚光状态，在聚光状态差的情况下进行补正，以使常数(αt’)变大。
例如，事先判断聚光状态变差的主要原因是径向倾斜的情况下，可使用最小记录能量检测部25检测的Pmin和聚光状态好的情况下的Pmin(将其作为Pmin0”)来进行光束聚光状态的检测。
Pmin0”可通过根据Pmin检测时的光盘1的周边温度和线速度的检测值来补正Pmin0而算出。
首先，使用式(1)，根据光盘1的周边温度(Tr)，将Pmin补正为Pmin0’。
Pmin0’＝k(Tc－Tr)＝Pmin0·(Tc-Tr0)/(Tc-Tr)根据与规定速度(V0)的比，将Pmin0’补正为Pmin0” 通过将由此算出的Pmin”代入式(5)中的Pmin0，可算出倾斜量＝RT。
此时，通过式(7)进行αt’的补正，作为α’。
α’＝αt×{c_Pew·RT2+Pcw0}/Pcw0}/{(c_Pmin·RT2+Pmin0)/Pmin0}…(7)例如，c_Pmin＝0.009、c_Pcw＝0.003、Pmin0＝6mW、Pcw＝9mW时，如果RT=10mrad时，根据式(7)，α’＝0.90·αt’。
由此，可设定适应于光束的聚光状态的记录能量。即，与不根据光束的聚光状态的最小记录能量乘以一定值的情况相比，可防止在聚光状态变差时以比最佳记录能量高的记录能量进行记录，由此可降低交叉光的危险性。
另外，作为检测光束聚光状态的方法，不限于从Pmin中检测的方法，也可通过其它设置倾斜量检测部等来检测。
另外，即使未判断出聚光状态变差的主要原因的情况下，也可对应于Pmin进行αt’的补正。例如，通过下式(8)进行补正。
α’＝αt’×(Pmin”/Pmin)…(8)因为聚光状态变差而Pmin变高，所以由式(8)α’变小。因此，可由此来防止以比最佳记录能量高的记录能量进行记录，从而降低交叉光的危险性。
这里，c_Pmin、Pmin0、c_Pcw和Pcw0的各值可记录在光盘1的规定区域、例如读入区域中，也可记录在光盘装置内、例如控制部66或常数设定部61中。
另外，规定温度(Tr0)的值也可同样记录在光盘1的规定区域中，也可记录在光盘装置内。
控制部66将最小记录能量检测部25检测的Pmin乘以常数设定部61设定的常数(α’)的能量(α’·Pmin)作为最佳记录能量而设定为用于数据记录的激光能量。
由此，在设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，根据光束聚光状态等记录时的条件可将乘以最小记录能量的常数设定为最佳值。因此，通过使用该值来设定用于数据记录的激光能量，可防止交叉光，并可进行可靠性高的记录。
另外，在图12(a)中，虽然公开了根据光束的聚光状态、光盘1的线速度和光盘1的温度来变化乘以最小记录能量的常数(α’)的实例，但没必要使用所有的检测的值来设定α’，可以是其中的一个，也可以是任意组合。即，也可通过12(a)中S1-S3的任一步骤进行设定或补正也可以通过S1～S3的任意组合来进行设定或补正。另外，在图12(a)中，在未进行根据温度的设定(S1)时，将事先设定的规定值(αt0)设定为αt。
另外，在未进行根据图12(a)中周边温度的补正(S1)的情况下，也可根据图12(b)所示的流程图来设定常数(α’)。
图12(b)是表示本发明的记录能量控制方法的流程图的第二实例。
首先，在图12(b)所示的步骤1(S1)中，常数设定部61根据光盘1的线速度设定最佳常数(αv)。
这里，作为设定光盘1的线速度中最佳常数(αv)的方法，例如，如图14(b)所示，使用成对表设定线速度范围和各线速度范围内最佳常数。例如，在检测的线速度Vtest满足最小线速度VminN＜Vtest＜最大线速度VmaxN的情况下，将αvN设定为常数。
接着，在图12(b)所示的步骤2(S2)中，常数设定部61根据光束的聚光状态进行αv的补正，在设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，将补正后的αv作为乘以最小记录能量的常数(α’)，输入控制部66。
根据光束聚光状态的常数补正与图12(a)的S3相同，故这里省略其说明。
另外，图14(b)的对应表也可记录在光盘1的规定区域、例如读入区域中，也可记录在控制部66或常数设定部61中。
另外，在图12(b)中虽然根据光束的聚光状态和光盘1的线速度，公开了对乘以最小记录能量的常数(α’)可变的实例，但没必要使用两者的检测值来设定α’，也可用一个检测值来进行设定。即，也可不以通过图12(b)中的S1或S2的任一个来进行补正。另外，在图4(b)中，在不进行根据线速度的设定(S1)时，可将事先设定的规定值(αv0)设定为αv。
如上所述，根据本实施例的光盘装置，除第一实施例的光盘装置的效果外，在设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，因为可对应于光束的聚光状态等记录时的条件来将乘以最小记录能量的常数设定为最佳值，所以通过使用该值来设定用于数据记录的激光能量，可得到防止交叉光、并进行可靠性高的记录的效果。
另外，本实施例的光盘装置虽然在第一实施例的结构中加入常数设定部61、线速度检测部62和温度检测部63来构成，但即使是作为在第二-第四实施例的结构中加入常数设定部61、线速度检测部62和温度检测部63的构成，也能得到同样的效果。
(第六实施例)图16是表示本发明的第六实施例的光盘装置的结构的框图。此外，在图16中标以与图1、图4、图5、图7或图11相同符号的构成要素表示相同的部分，从而省略其说明。
在图16中，76为设定主轴电动机2、光头3、激光能量控制部4和磁头5的控制和最佳记录能量的控制部。通过该控制部76和最小记录能量检测部25来构成最佳记录能量设定部77。71为最佳记录能量设定时设定乘以最小记录能量的常数(记录补偿常数)的值的常数设定部，72为检测至少在记录时间歇地照射的光束的间歇率的间歇率检测部。
下面对如上述构成的第六实施例的光盘装置的动作进行说明。
与第一实施例的光盘装置相同，在最小记录能量检测部25检测Pmin，将Pmin的检测结果输入常数设定部71和控制部76。
在间歇率检测部72中，检测间歇照射的光束的间歇率，将检测结果输入常数设定部71。间歇率例如可记录在光盘装置内的常数设定部71或控制部76中。
在常数设定部71中，根据光束的间歇率，在最佳记录能量设定时来设定与最小记录能量相乘的常数的值，将该设定值(α’)输入控制部76中。
为了降低光头3中的耗电或抑制形成于光盘1上的记录标记的位置变动，提出在记录时间歇地照射光束的记录方法。
在图17(a)中公开了对于光束的间歇率的Pmin和Pcw的变化的一个实例。另外，光束的间歇率，如图17(b)所示，作为对于脉冲周期(T)的不照射激光的时间(Toff)的比。另外，图17(a)的纵轴为以脉冲状照射的光束的峰值(记录能量)。
这里，当光束的间歇率变大时，因为未照射激光的时间变长，所以照射在规定区域中的光束的能量减少。因此，增大了将光盘1提高到规定温度所需的激光能量，Pmin变高。
另一方面，因为交叉光是由向邻接的热传导(热扩散)引起而发生的，所以与Pmin相比，Pcw方很大程度上受到光束间歇率的影响。例如，光束的间歇率变小时，在记录膜12中积累热量，容易发生向邻接磁道的热扩散。
因此，在常数设定部71中，比较规定间歇率(将其作为g0)和光束的间歇率，当间歇率比规定间歇率大时，补正以使常数变大，反之，当间歇率比规定间歇率小时，补正以使常数变小。例如，通过下式(9)来进行补正。
α’＝α0×(间歇率的检测结果/g0)…(9)这里，α0作为在设定规定温度、规定线速度、规定聚光状态、规定间歇率中的、用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时乘以Pmin的常数。
当光束的间歇率变小后，因为由式(9)α’也变小，所以防止了以比最佳记录能量高的记录能量进行记录，从而可降低交叉光的危险性。
另外，α0和g0的各值记录在光盘1的规定区域、例如读入区域中。
因此，在设定用于数据记录的激光能量(最佳记录能量)时，能够根据光束的间歇率，将乘以最小记录能量的常数设定为最佳的值。
另外，本实施例的光盘装置虽然是在第一实施例的结构中加入常数设定部71和间歇率设定部72的构成，但作为在第二-第四实施例的结构中加入常数设定部71和间歇率设定部72的构成也可得到同样的效果。
发明的详细说明中构成的具体实施形态或实施例可彻底地明白本发明的技术内容，但不应仅限于这种具体实例中的内容而作窄义的解释，只要在本发明的精神和下面记载的权利要求的范围内，就可作出各种变更来进行实施。
权利要求
1.一种光盘装置，向光盘照射光束，进行数据的记录和再现，具有在所述光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；和检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部，所述最佳记录能量设定部将由所述激光能量控制部在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，并设定所述最佳记录能量。
2.如权利要求1的光盘装置，其特征在于所述最佳记录能量设定部检测出所述光盘上的多个区域中的所述最小记录能量后，设定所述多个区域中的共同的所述最佳记录能量。
3.如权利要求1的光盘装置，其特征在于所述最佳记录能量设定部由检测出的所述最小记录能量值来判定不存在适当的所述最佳记录能量时，中止所述数据的记录。
4.如权利要求2的光盘装置，其特征在于所述最佳记录能量设定部由检测出的所述最小记录能量值来判定不存在适当的所述最佳记录能量时，中止所述数据的记录。
5.如权利要求1的光盘装置，其特征在于所述记录部在检测出所述最小记录能量时，记录“0”和“1”的发生概率基本相等的记录图案。
6.如权利要求1的光盘装置，其特征在于所述记录部在每次检测出所述最小记录能量时，记录不同的记录图案。
7.一种光盘装置，向光盘照射光束来进行数据的记录和再现，具有在光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部；和指定进行所述最小记录能量检测的所述光盘上的位置的位置指定部，所述最佳记录能量设定部在根据所述位置指定部指定的位置，将由所述激光能量控制部在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，并设定所述最佳记录能量。
8.如权利要求7的光盘装置，其特征在于所述位置指定部指定数据记录区域。
9.一种光盘装置，向具有与数据记录区域不同的能量设定区域的光盘照射光束来进行数据的记录和再现，具有在光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部；指定进行所述最小记录能量检测的所述光盘上的位置的位置指定部；和指定用于所述最小记录能量检测的激光能量的最大值的检测能量指定部，所述位置指定部在所述数据记录区域之前指定所述能量设定区域，所述最佳记录能量设定部在根据所述位置指定部指定的位置，将由所述激光能量控制部在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，在设定所述最佳记录能量的同时，向所述检测能量指定部输入所述检测出的最小记录能量，并确定激光能量的所述最大值。
10.一种光盘装置，向光盘照射光束来进行数据的记录和再现，具有在所述光盘上记录信息的记录部；对所述记录部进行激光能量控制的激光能量控制部；再现记录在所述光盘上的信息的再现部；检测由所述记录部应记录在所述光盘上的记录图案与由所述再现部再现所述记录图案时得到的再现信号相关性的相关检测部；检测在所述光盘中形成再现可能界限的记录标记的最小记录能量的、将对所述最小记录能量乘以记录补偿常数的能量设定为最佳记录能量的最佳记录能量设定部；和指定检测所述最小记录能量定时的定时指定部，所述最佳记录能量设定部在根据所述定时指定部指定的定时，将由所述激光能量控制部在阶段性变化激光能量的情况下得到所述相关检测部的输出与规定电平进行比较，检测出转换其大小关系时的记录能量作为所述最小记录能量，设定所述最佳记录能量。
11.如权利要求10的光盘装置，其特征在于所述定时指定部检测所述光盘周边的温度变化，将所述温度变化为规定值以上的时间指定为进行所述最小记录能量检测的定时。
12.如权利要求10的光盘装置，其特征在于所述定时指定部将检测出所述最小记录能量后经过规定时间的时间指定为进行所述最小记录能量检测的定时。
13.如权利要求1、7、9和10的任一光盘装置，其特征在于还具有设定所述记录补偿常数值的常数设定部。
14.如权利要求13的光盘装置，其特征在于所述常数设定部根据所述光盘的温度来设定所述记录补偿常数的值。
15.如权利要求13的光盘装置，其特征在于所述常数设定部根据所述光盘的线速度来设定所述记录补偿常数的值。
16.如权利要求13的光盘装置，其特征在于所述常数设定部根据所述光束的聚光状态来设定所述记录补偿常数的值。
17.如权利要求16的光盘装置，其特征在于能够从形成所述再现可能界限的记录标记的最小记录能量来求出所述光束的聚光状态。
18.如权利要求13的光盘装置，其特征在于所述光盘装置为间歇地照射光束来进行数据记录的光盘装置，所述常数设定部根据所述光束的间歇率来设定所述记录补偿常数的值。
全文摘要
本发明的光盘装置中,控制部通过激光能量控制部阶段性地变化激光能量,将检测应记录在光盘上的记录图案和记录图案的再现信号的相关性的检测器的输出与规定电平进行比较,检测其大小关系转换时的记录能量来作为最小记录能量,将检测出的最小记录能量乘以常数倍后的能量设定为最佳记录能量。
文档编号G11B7/125GK1336639SQ0112200
公开日2002年2月20日 申请日期2001年5月21日 优先权日2000年5月22日
发明者松本年男, 日野泰守, 井上贵司 申请人:松下电器产业株式会社