触摸面板用电极基板的检查方法

文档序号:9438831阅读:271来源:国知局
触摸面板用电极基板的检查方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及触摸面板用电极基板的检查方法。
【背景技术】
[0002]现在,以智能手机等便携信息设备、自动售票机等自动贩卖机为首的各种电子设备的触摸面板的搭载正在快速进展中。最近,由于多点触摸成为可能等原因,静电电容方式的触摸面板正在普及。
[0003]静电电容式的触摸面板具有多个X传感器用电极和以在俯视时与X传感器用电极正交的方式配置的多个Y传感器用电极,通过将驱动信号提供给Y传感器用电极,从X传感器用电极取得传感器信号,能检测形成在X传感器用电极和Y传感器用电极之间的静电电容,基于静电电容的变化量算出检测面中的检测对象物的位置。
[0004]当在传感器用电极(X传感器用电极和/或Y传感器用电极,以下相同)中产生断线,或者在传感器用电极间产生短路(漏电)时,不能检测传感器用电极间的静电电容,不能算出检测对象物的位置。因此,需要用于检查触摸面板是否正常工作的检查工序。
[0005]在以往的检查工序中,使用接触式探头检查配置于传感器基板的传感器用电极的导通,其结果是,在发现传感器用电极的断线或者短路的情况下,判断为该传感器基板不良。
[0006]然而,上述检查方法能基于传感器用电极的断线和短路判断传感器基板是否良好,但是不能准确地检测传感器用电极的太粗或太细。尽管传感器用电极的太粗、太细对触摸面板的检测精度有很大影响,在以往的检查方法也不能检测。另外,例如,在检查在菱形图案的传感器用电极之间设置有作为浮动电极的伪电极的结构的传感器基板的情况下,为了检查传感器用电极和伪电极的漏电,需要将接触式探头与各伪电极对准,检查需要很多的时间。
[0007]专利文献I的检查方法是如下方法:使形成有相互正交的第I传感器用电极和第2传感器用电极的被检查样品(传感器模块)与具备检查用电极的检查夹具相对,将检查用电极转换到任意的固定电位,由此模拟地形成检测对象物接触传感器模块的状态,基于传感器模块和检查夹具之间的静电电容的变化量,检测由传感器用电极的断线等引起的不良。
[0008]由此,能进行每个检查都不产生判断的偏差的检查。
[0009]现有技术文献
[0010]专利文献
[0011]专利文献1:日本公开专利公报“特开2010-86026号公报(2010年4月15日公开),,

【发明内容】

_2] 发明要解决的问题
[0013]然而,在专利文献I的检查方法中,为了模拟地形成手指接触的状态,检查用电极能转换到任意的固定电位,使用第I传感器用电极和第2传感器用电极来探测传感器模块和检查夹具之间的静电电容的变化量。
[0014]因此,专利文献I的检查方法是能对形成有第I传感器用电极和第2传感器用电极的状态的传感器模块进行的检查。即,在对包括形成有X传感器用电极的第I传感器基板和形成有Y传感器用电极的第2传感器基板的触摸面板进行检查的情况下,在专利文献I的检查方法中,在将第I传感器基板和第2传感器基板贴合之前,不能对一方传感器基板进行检查。其结果是,产生合格率降低的问题。
[0015]另外,如专利文献I那样在模拟地形成检测对象物被接触的状态的检查方法中,检查用电极的形状、检查夹具和传感器模块之间的距离等各种外在因素对检查结果有影响,因此检测影响检测分辨率、位置精度的传感器用电极间的微小的电容差是困难的,不能进行高精度的检查。
[0016]本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供能进行高精度的检查并且能提高合格率的触摸面板的检查方法。
_7] 用于解决问题的方案
[0018]为了解决上述问题,本发明的一方式的触摸面板的检查方法是具有在大致同一方向上延伸的多个传感器用电极的触摸面板的检查方法,包含:第I步骤,在上述传感器用电极和检查用电极之间形成了静电电容的状态下,向上述传感器用电极和上述检查用电极中的某一方提供驱动信号;第2步骤,从上述传感器用电极和上述检查用电极中的另一方取得基于上述驱动信号和上述静电电容生成并且与各上述传感器用电极对应的多个传感器信号;以及第3步骤,基于上述传感器信号探测上述传感器用电极的状态。
_9]发明效果
[0020]根据本发明的一方式,能提供能进行高精度的检查并且能提高合格率的触摸面板的检查方法。
【附图说明】
[0021]图1是表示触摸面板的构成的框图。
[0022]图2是表示触摸面板的传感部的构成的立体图,(a)表示第I传感器基板和第2传感器基板重叠的状态,(b)是第I传感器基板,(C)是第2传感器基板。
[0023]图3是表示触摸面板的构成例的截面图,(a)表示2G式触摸面板的截面,(b)表示GFF式的触摸面板的截面。
[0024]图4是本发明的实施方式I的检查方法中使用的检查基板的立体图。
[0025]图5是表示在本发明的实施方式I的检查方法中使第I传感器基板和检查基板相互相对的状态的立体图。
[0026]图6是表示在本发明的实施方式I的另一检查方法中使第I和第2传感器基板与检查基板相互相对的状态的立体图。
[0027]图7是本发明的实施方式2的检查方法中使用的检查基板的立体图。
[0028]图8是表示在本发明的实施方式2的检查方法中使第I传感器基板和检查基板相互相对的状态的立体图。
[0029]图9是表示在本发明的实施方式2的另一检查方法中使第I传感器基板和检查基板相互相对的状态的立体图。
[0030]图10是表示各交叉部的静电电容的大小的2维图的例子。
[0031]图11是表示各交叉部的静电电容的大小的2维图的另一例。
[0032]图12是表示使用2维图的不良部位的确定方法的图,(a)是表示各交叉部的静电电容的大小的2维图的例子,(b)表示传感器用电极和伪电极的短路部位。
[0033]图13是表示基于2个传感器基板的静电电容的比较结果的不良部位的确定方法的图,(a)表示检查对象的传感器基板的各交叉部的静电电容的大小,(b)表示比较用传感器基板的各交叉部的静电电容的大小,(C)表示传感器基板的各交叉部的静电电容和比较用传感器基板的各交叉部的静电电容的差。
[0034]图14是用于说明本发明的实施方式3的检查方法的基材膜和检查基板的截面图,
(a)表示基材膜和检查基板不紧贴的状态,(b)表示基材膜和检查基板紧贴的状态。
[0035]图15是用于说明本发明的实施方式3的另一检查方法的基材膜和检查基板的截面图,(a)表示基材膜和检查基板不紧贴的状态,(b)表示基材膜和检查基板紧贴的状态。
【具体实施方式】
[0036]〔实施方式I〕
[0037]以下,基于图1?6详细说明本发明的实施方式。
[0038]<触摸面板的构成>
[0039]首先,说明在本实施方式的检查方法中作为检查的对象的触摸面板的基本构成。
[0040]图1是表示触摸面板的构成的框图。
[0041]触摸面板I具有:传感部2,其探测用户的手指等检测对象物的接触或者接近;控制部3,其算出传感部2中的检测对象物的接触(接近)位置;以及主机终端4。
[0042]传感部2以覆盖显示装置5的显示面的方式设置,构成触摸面板I的检测面。传感部2具备触摸面板用电极基板,上述触摸面板用电极基板具有:相互在大致同一方向上延伸的多个X传感器用电极12 ;以及在俯视时与X传感器用电极12正交的多个Y传感器用电极22。X传感器用电极12和Y传感器用电极22隔开规定的间隔地配置,在X传感器用电极12和Y传感器用电极22之间形成静电电容。
[0043]控制部3具有驱动线驱动部31、放大部32、信号取得部33、A/D变换部34、解码处理部35、检测基准设定部36以及位置信息生成部37。
[0044]各Y传感器用电极22与驱动线驱动部31连接,驱动线驱动部31依次或者同时向各Y传感器用电极22提供驱动信号。由此,Y传感器用电极22作为驱动线发挥功能。此夕卜,例如通过向各Y传感器用电极22施加脉冲状的电压来进行驱动信号的提供。
[0045]X传感器用电极12与放大部32连接。放大部32从各X传感器用电极12取得驱动信号和以X传感器用电极12和Y传感器用电极22之间的静电电容为基础的传感器信号。上述静电电容根据检测对象
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