专利名称：键盘测试系统的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种键盘状态的键盘测试系统，尤其涉及一种具自动测试电子设备键盘功能及记录、储存测试结果的键盘测试系统。
键盘广泛使用于各种电子设备中，以作为电子设备的控制命令或数据输入的周边设备，例如常见的个人计算机、工业控制器、收银机……等等具信息输入功能的电子设备，因此，键盘的品质优劣及其功能是否可正常操作，将直接影响该电子设备的操作稳定性，并且，由于键盘中最为直接的操作单元件为按键，故按键的测试对于键盘而言，实为重要之一环。
然而，传统上，一般业界对于上述键盘中的微处理器、LED显示灯及按键功能之测试，则是以人工方式来测试，即以人工方式逐一测试该键盘中的微处理器、LED显示灯及每一个按键，不但费时费工，且其测试效率较低；再者，诸如以人工逐一压按按键的测试方式，由于每一按键压的力道大小不一，或因按键键帽表面压受力极易产生误判的情况，将使该键盘的测试品质更加恶坏，况且，在测试更多种不同型态键盘的状态下，诸如机械接点式键盘及电容薄膜式键盘，其两者压按压力间明显有差距，以现有技术之人工一逐一压按测试，将使测试者因指尖压按力道需随时调节变动而倍感艰辛，同时，在测试过程中，亦极易因压力的变化过大，而使误判的机率大幅增加，严重影响键盘产品的品质管制，实乃目前业界所极待解决的主要课题。
本发明的主要目的在于提供一种键盘测试系统，它能以逐一自动测试键盘的微处理器、按键压按及灯号显示功能，节省键盘测试的人力及工时，进而提升键盘的测试效率。
本发明的再一目的在于提供一种键盘测试系统，它能使该测试压按键盘的输出压按力量一致，由此可以降低因各按键压按测试的力道而引起的误判机率，以提高键盘的测试品质。
本发明的又一目的在于提供一种键盘测试系统，它能使该测试压按键盘的力量可经由元件接触或气嘴气体喷出的方式加以精确调整控制，以符合不同压按力道的键盘测试。
本发明的目的是这样实现的一种键盘测试系统，用以作电子设备的键盘功能测试，其特点是包括一测试装置，其具有预设键盘测试的微处理器、显示灯及按键压按等测试参数、比对判读测试结果、错误警示及储存测式数据之功能，并与上述键盘作电气连按，以接收该待测键盘的微处理器信号及每一按键的压按信号加以测试比对；一灯号感测器，用以测试上述待测键盘的LED显示灯号显示功能，并将测试结果送至上述测试装置判读；一按键按测试机构，以接触方式压按测试待测键盘中的按键压按功能，并将测试结果送入测试装置；一横轴移位驱动机构，其受测试装置控制，以驱动该按键测试机构作横轴位移，以使该按键压按测试机构作横轴位移，从而使上述待测键盘的每一按键均可作压按测试；一警示装置，其受测试装置的驱动，在该待测键盘的处理器、LED显示灯号测试及按键压按测试结果有异常、故障状态下，发出警示信号。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该测试装置为PC个人计算机及PLC可编程控制器的复合结构所组成。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该灯号感测器是由若干光感测元件构成。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该按键压按测试机构包括一气动元件组及末端元件组。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该气动元件组由若干气压缸所构成。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该末端元件组为若干接触元件。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该末端元件组为若干气嘴，以气体喷出方式来压按该键盘。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该测试装置中储存记录一测试控制流程信息。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该测试控制流程信息，其键盘测试步骤包括a.测试键盘微处理器功能；b.判别键盘微处理器功能是否正常；c.测试键盘LED显示灯显示功能；d.判别键盘LED显示灯功能是否正常；e.测试键盘的按键压按功能；f.横轴移动逐一测试键盘上每一按键的压按功能；g.判别键盘上每一按键的压按功能是否正常；h.储存及记录键盘测试结果。
在上述的键盘测试系统中，其中，所述的该测试控制流程信息，在测试结果舁常、故障时，它包含一警示流程，其步骤为a.发出警示信号；b.记录及储存异常、故障的测试结果。
本发明由于采用了上述的技术方案，因此，当由该测试装置在进行各测试步骤中的其中一步骤发生检测错误或故障时，能驱动一警示装置发出警示信号或灯号，并且该检测错误的信号号或测试结果，则由测试装置记录储存，以自动测试键盘各项功能及记录其测试结果。
通过以下对本发明键盘测试系统的一实施例结合其附图及其实际操作的详细描述，可以进一步理解本发明的目的、具体结构特征和优点。其中，附图为
图1是依据本发明提出的键盘测系统的系统方块图；图2是依据本发明提出的键盘测系统的测试流程图；首先请参见图1所示，这是本发明键盘测试系统100的系统方块图，其中，该键盘测试系统100包括一测试装置10，其型态不拘，在本发明中是列以PC个人计算机及PLC可编程控制器复合的型态所构成的，是具有预设键盘测试的微处理器、显示灯及按键压按等测试参数、比对判读测试结果、错误警示及储存测试数据的功能，且进一步地，并可作键盘自动测试控制流程信息的储存及执行，其详细的控制流程在以下文中会有详细说明，容后陈明。
一待测键盘20，它以电气连接方式与上述的测试装置10相连结，以使待测键盘200的微处理器信号及按键压按测试信号，得以连接送至测试装置10中判读比对，且以待测键盘200中的微处理器测试为优先。
一灯号感测器20，它由光感测元件所构成，用以测试上述待测键盘200上的LED灯号显示是否正常，并将测试结果回传至上述的测试装置10中。
一按键压按测试机构30，它包括一气动元件组31及末端元件组32所构成，该气动元件组31由若干气压缸所组成，受该测试装置10的驱动，而使其动作杆作伸缩之运动，该末端元件组32则设于气动元件组31中的各气压缸的动作杆末端，得以接触待测键盘200的按键或不接触待测键盘200的按键方式，压按该待测键盘200的按键，例如该末端元件组32为若干接触元件构成时，则可通过伸、缩运动来接触压按该待测键盘200的按键；或该末端元件组32为若干喷气气嘴构成时，则可通过由气体气压喷气方式，以不接触待测键盘200的方式，由该喷出的气体压力控制，使该待测键盘200的按键作压按操作的动作。
一横轴移位驱动机构40，是用以驱动横移上述按键压按测试机构30，使该末端元件组32得以通过由逐步横移方式来逐一地按压操作该待测键盘200中的每一按键，使该待测键盘200的每一个按键压按测试结果，得以回传至上述的测试装置10中作比对判读，该横轴移位驱动机构40亦受该测试装置10的驱动控制，以配合待测键盘200的按键布设位置及键距来作同步位移驱动该按键压按测试机构30。
一警示装置50，由声音及灯号警示元件构成，诸如以蜂鸣器及LED显示灯构成，其中，受上述测试装置10的驱动，以在上述待测键盘200进行微处理器、LED显示灯及按键压测试等任一项测试结果有异状或故障时，则由该警示装置50发出声音及显示灯号的警讯，并停止所有测试动作，以使现场监控人员得以将该测试故障或不良之待测键盘200作适当的处理，并且将该测试错误的结果，同时送入该测试装置10中来加以储存、记录。
请配合参见图2所示，这是本发明中待测键盘200的测试流程，即是用来驱动控制上述本发明的键盘测试系统100的步骤，其相对的控制软件信息则可写入及储存于上述测试装置10中来执行，其中，步骤300，是测试键盘微处理器功能的步骤，即是测试装置10以电气连接方式来检测该待测键盘200中的微处理器功能，再以步骤310判读微处理测试功能是否正常，此步骤则以测试装置10中所预先储存的待测键盘200的微处理器标准信息与实际待测键盘200所测得的微处理器信息加以比对，若为正常，继续步骤320，即测试键盘LED显示灯的功能，其由上述的灯号感测器20来加以测试该待测键盘200中的各LED灯号的显示功能，并以步骤330来加以判断该键盘LED显示功能是否正常，若为正常，则再以步骤340进行测试装置压按功能，其是以上述按键压按测试机构30来进行该待测键盘200的各按键压按测试，并再以步骤350进行逐一横移压按待测键盘200上的每一按键，以作所有的按键测试，并以步骤360来判读该待测键盘200的按键压按功能是否正常。
上述步骤360的待测键盘200的各按键压按测试功能判读，若其结果皆为正常，则以步骤370加以储存、记录其结果，即将该测试功能正常的结果，储存、记录在上述之测试装置10中，并由该测试装置10本身的显示装置(图未显示)来显示告知现场监控人员，以对该功能正常的待测键盘200作适当之处理，并继续下一个待测键盘200的功能测试。
在上述步骤310、步骤330及步骤360中对该待测键盘200的微处理器、LED显示灯及每一按键压按测试功能判读的步骤中，若其中有任一判别步骤为不正常的状态，即该键盘微处理器、LED显示灯或每一个按键功能的任一者有测试异常或故障之状态，则进行一警示流程，即以步骤380发出警示信号，其由该测试装置10驱动该警示装置50发出声响或灯号显示，以警示现场监控人员对该测试功能异常或故障的待测键盘作适当的处理，并以步骤390加以记录、储存该错误的测试结果及信息，并停止一切的测试动作，直至该测试功能异常或故障的待测键盘200作脱离上述本发明的键盘测试系统100的动作为止。
综上所述，上述本发明所示的键盘测试系统100，由其整体技术所显现的发明精神，乃是在于提供一种可自动测试各种电子设备键盘中的微处理、LED显示灯及每一按键功能，并自动将其测试结果作储存、记录，并于测试功能异常时，发出警讯及记录其异常及故障之信息，可达到节省人力、工时之键盘测试效果。
权利要求
1.一种键盘测试系统，用以作电子设备的键盘功能测试，其特征在于包括一测试装置，其具有预设键盘测试的微处理器、显示灯及按键压按等测试参数、比对判读测试结果、错误警示及储存测试数据之功能，并与上述键盘作电气连接，以接收该待测键盘的微处理器信号及每一按键的压按信号加以测试比对；一灯号感测器，用以测试上述待测键盘的LED显示灯号显示功能，并将测试结果送至上述测试装置判读；一按键按测试机构，以接触方式压按测试待测键盘中的按键压按功能，并将测试结果送入测试装置；一横轴移位驱动机构，其受测试装置控制，以驱动该按键测试机构作横轴位移，以使该按键压按测试机构作横轴位移，从而使上述待测键盘的每一按键均可作压按测试，以及；一警示装置，其受测试装置的驱动，在该待测键盘的处理器、LED显示灯号测试及按键压按测试结果有异常、故障状态下，发出警示信号。
2.如权利要求1所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该测试装置为PC个人计算机及PLC可编程控制器的复合结构所组成。
3.如权利要求1所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该灯号感测器是由若干光感测元件构成。
4.如权利要求1所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该按键压按测试机构包括一气动元件组及末端元件组。
5.如权利要求4所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该气动元件组由若干气压缸所构成。
6.如权利要求4所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该末端元件组为若干接触元件。
7.如权利要求4所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该末端元件组为若干气嘴，以气体喷出方式来压按该键盘。
8.如权利要求1所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该测试装置中储存记录一测试控制流程信息。
9.如权利要求8所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该测试控制流程信息，其键盘测试步骤包括a.测试键盘微处理器功能；b.判别键盘微处理器功能是否正常；c.测试键盘LED显示灯显示功能；d.判别键盘LED显示灯功能是否正常；e.测试键盘的按键压按功能；f.横轴移动逐一测试键盘上每一按键的压按功能；g.判别键盘上每一按键的压按功能是否正常，以及；h.储存及记录键盘测试结果。
10.如权利要求8、9所述的键盘测试系统，其特征在于所述的该测试控制流程信息，在测试结果舁常、故障时，它包含一警示流程，其步骤为a.发出警示信号，以及；b.记录及储存异常、故障的测试结果。
全文摘要
本发明数据一种键盘测试系统,用作电子设备的键盘功能测试,其特点是包括:一测试装置,其预设键盘测试的微处理器、显示灯及按键压按等测试参数、比对判读测试结果、错误警示及储存测试数据的功能;一灯号感测器,以测试LED显示功能;一按键按测试机构;一横轴移位驱动机构,以驱动按键测试机构作横轴位移;一警示装置,其在测试结果有异常或故障状态下,发出警示信号,并由测试装置记录储存其测试结果。
文档编号G06F3/023GK1257241SQ9812643
公开日2000年6月21日 申请日期1998年12月17日 优先权日1998年12月17日
发明者郭历优 申请人:英群企业股份有限公司