专利名称：一种单层ito的自动校准方法
技术领域：
本发明涉及ITO的自动校准方法，尤其是指单层ITO的自动校准方法。
背景技术：
所谓ITO (铟锡氧化物)是一种用于生产液晶显示器的关键材料，目前，其在仪器仪表、计算机、电子表、游戏机和家用电器等领域都有了极为广泛的应用。近年来市场上大热的电容式触摸屏也是利用ITO来完成侦测触摸的动作，为了节约成本，现阶段电容式触摸屏的ITO均采用单层布图，其电极块一般为三角形或者矩形。上述单层ITO虽然可以实现和双层ITO —样的功能和作用，但是在使用时根据设备的要求还是需要进行自动校准，所谓自动校准就是通过使用系统的功能组件自动实现要达到的目标，这样根据性能要求来保证这些组件测量和测试设备的精确度和可靠性。同样在触控应用的过程中会面临着各种各样外界的干扰，怎样保持设备永久良好的运行就需要有很好的自动校准功能，如此就节省了更多的人力和物力，同时保证产品在应用端得到更好的发挥。由于由单层ITO构成的电容屏在外界中难免会受到一些干扰，比如说水和其它一些带有电容性的杂质，如果不进行及时的校准，就会严重影响划线的效果，更严重者引起误判或者死机，从而在应用端则直接被判定为报废。为了能减少这种不必要的损失，我们需要及时的在我们的触控演算中引入自动校准功能。
发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种方便又简单的单层ITO的自动校准方法。为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种单层ITO的自动校准方法，包括实时采集数据、基准值、低通滤波值和校准值，其步骤如下所述单层ITO上电时，首先启动实时采集数据，侦测所述数据的感应值；其次设置一个基准值，且所述基准值用于跟踪所述感应值；然后，根据所述感应值与所述基准值的差，得出所述校准值，完成单层ITO上电校准；所述单层ITO上电后，先检测所述单层ITO上是否有触控对象的存在，若不存在，则放弃校准；若存在，且若所述感应值不大于所述基准值，则继续判断在一定时间内，每个校准值是否有变化，若没有变化，则认为是干扰值，那么继续跟踪所述感应值并重新计算校准值； 若有变化，则所述基准值不变，根据所述校准值进行有效计算。本发明所述的单层ITO的自动校准方法，针对所述单层ITO上电时和上电后的状态分别校准，所以不但简单，而且适用于各种环境，可以快速准确的对实时采集数据进行校准，不会因为外界的干扰而产生无辜死机或者其它异常现象。
图1是根据本发明所述的单层ITO自动校准的流程图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。本发明所述的单层ITO的自动校准方法，需要引入四个变量，其包括实时采集数据、低通滤波值、基准值和校准值。所述实时采集数据用来储存采集来的实时电容值；所述低通滤波值就是经对实时采集的数据经行低通滤波得到的一个滤波值，以防止外界干扰对实时采集的数据产生干扰。所以所述低通滤波值会进行不间断的访问比较，在触控对象存在的前提下，当每次比较发现数值都是相同的情况下，就需要进行自动校准；所述基准值随时检测是否有干扰源的存在；所述校准值是经过校准后的需要实际应用的值。请参考图1所示，本发明所述单层ITO自动校准分为两个阶段，上电时和上电后。 所述单层ITO上电时，首先启动实时采集数据，侦测所述数据的感应值；其次，设置一个基准值，且所述基准值用于跟踪所述感应值；然后，根据所述感应值与所述基准值的差，得出所述校准值，完成单层ITO的上电校准；所述单层ITO上电后，先检测所述单层ITO上是否有触控对象如手指的存在，若不存在，则放弃校准；若存在，且若所述感应值不大于所述基准值，则继续判断在一定时间内，每个校准值是否有变化，所述一定时间用户可根据需要提前设定。由于作为一个干扰源一般情况下会在某一个区域进行相同持续的干扰，因此若没有变化，则认为是干扰值，那么继续跟踪所述感应值并重新计算校准值；若有变化，则所述基准值不变，根据所述校准值进行有效计算。上述若所述感应值大于所述基准值，则根据所述低通滤波值可以直接滤掉干扰数据，实现自动校准。具体的说，当单层ITO上电时，无论是否有触控对象存在，都需要首先启动实时采集数据，侦测所述数据的感应值；其次设置一个基准值，且所述基准值用于跟踪所述感应值；然后根据所述感应值与所述基准值的差，得出所述校准值，完成单层ITO的上电校准。 当所述单层ITO上电后，首先检测所述单层ITO上是否有触控对象存在，若不存在，则放弃校准，利用所述单层ITO上电时得出的校准值进行有效计算；若有触控对象触碰所述单层 ITO时，继续判断所述感应值与所述基准值的大小，若所述感应值不大于所述基准值，且在预定的时间内，每个校准值都没有变化，则表明所述单层ITO在上电后外界有干扰，如可能是手指的干扰或者水滴的干扰、甚至外界其它物体的干扰等，此时侦测到的数据就认为是干扰值，不需要记录其数值，而是继续跟踪所述感应值并重新计算校准值；若所述感应值在不大于所述基准值的情况下，在预定的时间内，所述校准值有变化，则所述基准值不变，根据所述校准值进行有效计算。上述若所述感应值大于所述基准值，则根据所述低通滤波值可以直接滤掉干扰数据，实现自动校准。本发明所述的感应值呈反向抛物线状，且本发明所述的自动校准方法针对所述单层ITO上电时和上电后的状态分别校准，所以不但简单，而且适用于各种环境，可以快速准确的对实时采集数据进行校准，以使单层ITO上的触控芯片能够很好地运作，不会因为外界的干扰而产生无辜死机或者其它异常现象。
权利要求
1.一种单层ITO的自动校准方法，包括实时采集数据、基准值、低通滤波值和校准值， 其步骤如下所述单层ITO上电时，首先启动实时采集数据，侦测所述数据的感应值；其次设置一个基准值，且所述基准值用于跟踪所述感应值；然后，根据所述感应值与所述基准值的差，得出所述校准值，完成单层ITO上电校准；所述单层ITO上电后，先检测所述单层ITO上是否有触控对象的存在，若不存在，则放弃校准；若存在，且若所述感应值不大于所述基准值，则继续判断在一定时间内，每个校准值是否有变化，若没有变化，则认为是干扰值，那么继续跟踪所述感应值并重新计算校准值；若有变化，则所述基准值不变，根据所述校准值进行有效计算。
2.如权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于若所述感应值大于所述基准值，则根据所述低通滤波值可以直接滤掉干扰数据，实现自动校准。
3.如权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于所述实时采集数据用来储存采集来的实时电容值。
4.如权利要求1或3所述的自动校准方法，其特征在于所述低通滤波值就是经对实时采集的数据经行低通滤波得到的一个滤波值。
5.如权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于所述基准值随时检测是否有干扰源的存在。
6.如权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于所述校准值是经过校准后的需要实际应用的值。
7.如权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于所述一定时间用户可提前设定。
8.如权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于所述的感应值呈反向抛物线状。
全文摘要
本发明涉及一种单层ITO的自动校准方法，包括实时采集数据、基准值、低通滤波值和校准值，其方法主要通过所述单层ITO上电时和上电后两个状态分别校准以完成整个单层ITO的自动校准。本发明所述的方法，不但简单，而且适用于各种环境，可以快速准确的对实时采集数据进行校准，不会因为外界的干扰而产生无辜死机或者其它异常现象。
文档编号G06F3/044GK102520819SQ201110380859
公开日2012年6月27日 申请日期2011年11月25日 优先权日2011年11月25日
发明者朱建锋 申请人:苏州瀚瑞微电子有限公司