专利名称：具有矩阵型电极串的触控面板及触碰侦测方法
技术领域：
本发明涉及一种触控面板，特别是关于一种具有矩阵型电极串的触控面板及触碰 侦测方法。
背景技术：
目前，市面上的主流触控面板，有电阻式与电容式两种。其中，电阻式又有四 线电阻式、五线电阻式、六线、七线或九线电阻式，电容式又区分为表面电容式(Surface Capacitance Touch Screen, SCT)与 身寸 % ^ ζ (Projective Capacitance Touch Screen, PCT)。其中，投射电容式触控面板，又可称为数字式触控技术，而电阻式及表面电容 式触控面板可概称为模拟式触控技术。目前，主流的模拟式触控技术，大致上均采取四点电压供应的输入控制，其在电源 的输入控制上，均采取从四个角落输入控制电压，以进行触碰的感测。例如，表面电容式的运作架构，系统会在ITO层产生一均勻电场，当手指接触面板 会出现电容充电效应，面板上的透明电极与手指间形成电容耦合，进而产生电流变化，控制 器只要量测四个角落电流强度，就可依电流大小计算接触位置。以上的模拟式触控面板技术，在精度上，已可达到的误差范围，不过，其仍停留 在仅能做单点触碰侦测的应用上。对于多点触碰侦测，以目前的模拟式触碰面板技术来说 是无法做到的。而在众多的应用上，多点触碰侦测几乎是目前触碰技术的主流，并且，都以 投射电容式触控面板来做多点触碰侦测的面板。以模拟式触控面板技术来讲，其相对成熟，并且，具有量产的价格优势。若能采用 模拟式触控面板来达到多点侦测，并可达到高精度的硬用，则可大幅降低应用在多点侦测 触控面板的生产成本，可让触控面板的应用快速扩张，应用领域更广。
发明内容
有鉴于以上公知技术的问题，本发明提出一种矩阵式平行电极串的触控面板，其 可达到运用模拟式触控面板来进行多点触碰的测量的功效。本发明提出一种具有矩阵型电极串的触控面板，包含基板；导电层，形成于基板 上，导电层包含一内部接触区；多个电极，连接于电压控制部；多对X轴电极串，形成于导电 层X轴向两侧边缘，每个X轴电极串具有两端，X轴电极串的两端由电极连接而彼此串联； 及多对Y轴电极串，形成于导电层Y轴向两侧边缘，每个Y轴电极串具有两端，Y轴电极串的 两端由电极连接而彼此串联，与X轴电极串相邻的Y轴电极串由电极其中的一连接，Y轴电 极串与X轴电极串包围内部接触区；其中，通过电压控制部提供电压而分别经由电极供应X 轴电极串、Y轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。本发明更提出一种具有矩阵型电极串的触控面板，包含一基板；一导电层，形成 于该基板上，该导电层包含一内部接触区，其由至少一条X轴不连续隔离线与至少一条Y轴 不连续隔离线区隔为多个触碰区块；多个电极，连接于一电压控制部；多对X轴电极串，形成于该导电层X轴向两侧边缘，每个该X轴电极串具有两端，该些X轴电极串的该两端由该 些电极连接而彼此串联，该X轴不连续隔离线是设置于该些X轴电极串的该两端交界线；及 多对Y轴电极串，形成于该导电层Y轴向两侧边缘，每个该Y轴电极串具有两端，该些Y轴 电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联，与该X轴电极串相邻的该Y轴电极串由该些 电极其中之一连接，该些Y轴电极串与该些X轴电极串包围该内部接触区，该Y轴不连续隔 离线是设置于该些Y轴电极串的该两端交界线；其中，通过该电压控制部提供一电压而分 别经由该些电极供应该些X轴电极串、该些Y轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。本发明更提出一种矩阵型电极串的触控面板的触碰侦测方法，该矩阵型电极串的 触控面板包含有多对X轴电极串、多对Y轴电极串与多个电极，该些X轴电极串、该些Y轴 电极串由该些电极连接而串联并形成于该矩阵型电极串的触控面板周围并定义多个扫描 区块，包含下列步骤选取该些扫描区块其中之一；提供定义所选取的该扫描区块的该X轴 电极串与该Y轴电极串所连接的该些电极一 X轴扫描电压，以取得所选取的该扫描区块的 一 X轴触碰坐标；及提供定义所选取的该扫描区块的该X轴电极串与该Y轴电极串所连接 的该些电极一 Y轴扫描电压，以取得所选取的该扫描区块的一 Y轴触碰坐标。以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习 相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、保护范围 及附图，任何熟悉相关技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。
图1为本发明的矩阵型面板示意图； 图2为图1于第一时间时提供区块扫描的示意图； 图3为图1于第二时间时提供区块扫描的示意图； 图4A为图1于第三时间时提供区块扫描的示意图； 图4B为图1于第四时间时提供区块扫描的示意图； 图5A为本发明的矩阵型面板的一具体实施例； 图5B为本发明的矩阵型面板的另一具体实施例； 图6为图5A、5B中部份区域的放大图的一例； 图7为图5A、5B中部份区域的放大图的又一例； 图8为图5A、5B中部份区域的放大图的再一例； 图9A为图5A实施例的导电层蚀刻图； 图9B为图5B实施例的导电层蚀刻图； 图10为图5A、5B实施例的导电框层图案的一例； 图IlA为本发明的矩阵型面板的扫描方法流程图的一例；及 图IlB为本发明的矩阵型面板的扫描方法流程图的又一例。 符号说明
100触控面板110导电层
120串联电极链122串连电极
124不连续绝缘段1 第一均化电极
128X轴不连续隔离线130Y轴不连续隔离线
132第二均化电极附 N12 电极T1、T2、T3 触碰点
200、200A、200B、200C 选取区
ENl Em2 电极板 dx, dy 间距
具体实施例方式与传统的四角落电极的不同处，本发明是设计了多组对称的X轴与Y轴电极串来 定义出扫描区块。每个电极串的两端皆由电极连接并连接至外部的电压控制部，通过电压 控制部控制电极串两端的电压而定义出扫描区块。接着，在扫描区块中提供不同的电压梯 度而获得X轴与Y轴的触碰坐标，即可取得扫描区块中的触碰坐标。如此，在不同时序时， 可侦测不同的区块，来计算该区块的触碰坐标，亦即，区块中的单点定位，进而达到可侦测 多点触碰的目的。例如，采用两对X轴电极串与两对Y轴电极串，即可侦测四个区块的四点触碰；采 用三对X轴电极串与三对Y轴电极串，即可侦测九个区块的九点触碰；采用两对X轴电极串 与三对Y轴电极串，则可侦测六个区块的六点触碰。以此类推，若有M对X轴电极串，N对Y 轴电极串，即可侦测MxN个区块，进行MxN点的触碰侦测，M，N为至少为1的整数。采用模拟式触控面板的好处是，其工艺纯熟、生产良率高，且价格低廉。在目前的 精度日渐增加的状况下，再搭配本发明的矩阵式平行电极串，即可实现高精度的多点触碰 侦测。其与现今主要采取PCT作为多点触碰侦测用的触控面板比较，有极大的性价比优势。此外，本发明的矩阵型电极串结构，仅需运用一层导电层即可实现电容式的触碰 侦测，而不需要两层导电层，可大幅降低生产成本。请参考图1，其为本发明的矩阵型电极串的触控面板示意图，3x3的矩阵型电极串 的触控面板100，可扫描并准确地获得如图中所示的9个区块的触碰结果。首先说明的是， 本发明是可运用相同的电极结构，制作出MxN的平行电极矩阵，图1的实施例仅为其中一 种，依照以下本发明的揭露，当可直接制作出MxN矩阵的各种不同区块的实施例。以下，将 详细说明。触控面板100由导电层110形成于基板(未划出)。在导电层110上则形成有3 对对称的X轴电极串120X与3对对称的Y轴电极串120Y，其形成于导电层110的四周边 缘上，并且，由电极m N12将的连接而串联，其中，相邻的X轴电极串120X与Y轴电极串 120Y由角落电极连接。并且，每个X轴电极串与Y轴电极串的结构均相同或相似，均可提供 扫描区一均勻的电场。本发明的矩阵型电极串，是可运用于电阻式触控面板(Resistive)， 或者表面电容式触控面板(SCT)等具有等电位场形成的需求者。其中，连接3对X轴电极串120X与Y轴电极串120Y的电极附 N12均透过导线 连接至电极板Em EN12，透过外部的电压控制部，经由电极板Em EN12再透过导线再 传送控制电压至电极m N ！ 2，即可进行电压输出的控制，让导电层110的内部接触区 形成如图中的9个区块，以分别进行触控的扫瞄侦测。其中，电极、电极板、X轴电极串、Y轴电极串以及导线可采用银导线或其它金属， 如钼/铝/钼金属层、铬或其它等导电性较佳的金属，或者，可采用500°C以上的高温银浆 制作的银导线，其可有效地使导线窄化以降低边框的宽度，并达到低阻值(耗能量少)的效 果，且可使得触动区域边缘线性支撑力佳。
以下将说明本发明的矩阵式平行电极串如何进行多点触碰的侦测，图2 5是以 图1的两触碰点Tl、T2为例来进行说明。本发明是在每个扫描周期透过对X轴、Y轴电极 串120X，120Y的进行区块式扫描，即可依序获得每个扫描区块的X轴触碰坐标与Y轴触碰 坐标，进而得出准确的触碰点T1、T2的位置。请参考图2，其为图1于第一时间时提供区块扫描的示意图，其于(1，Υ)区块进行 Y轴的扫描。此时所提供的扫描电压为ENl (+3V)，ΕΝ2 (+3V)，ΕΝ9 (OV)，ENlO (OV)，其余则为 浮接(Floating)。本实施例是以最大供应电压+3V为例，并依据电极m N12所位于触控 面板的电压梯度等分位来进行电压的配置。于是，图2的电压供应可产生(1，Y)区块被指 定的效果，而能成为区块式的侦测。于是，位于第(1，Y)区的触碰点Tl，可于Y轴方向的扫 描被侦测到，并依据侦测到的电流而可计算触碰点Tl其Y轴坐标。而同时触碰于第(2，Y) 区块的触碰点Τ2，则由于无电压供应，因此，并无感应量的发生，其并不会影响触碰点Tl的 触碰。请参考图3，其为图1于第二时间时提供区块扫描的示意图，其于(2，Υ)区块进行 Y轴的扫描。此时所提供的扫描电压为ΕΝ2 (+3V)，ΕΝ3 (+3V)，ΕΝ8 (OV)，ΕΝ9 (OV)，其余则为 浮接(Floating)。本实施例是以最大供应电压+3V为例，并依据电极m N12所位于触控 面板的电压梯度等分位来进行电压的配置。于是，图3的电压供应可产生(2，Y)区块被指 定的效果，而能成为区块式的侦测。于是，位于第(2，Y)区的触碰点Τ2，可于Y轴方向的扫 描被侦测到，并依据侦测到的电流而可计算触碰点Τ2其Y轴坐标。而同时触碰于第(1，Υ) 区块的触碰点Tl，则由于无电压供应，因此，并无感应量的发生，其并不会影响触碰点Τ2的 触碰。X轴的触碰坐标侦测，同Y轴触碰坐标侦测，不过，其扫描电压的供应则不相同。请参考图4Α，其为图1于第三时间时提供区块扫描的示意图，其于(1，Y)区块进 行X轴的扫描。此时所提供的扫描电压为ENl (+3V)，ENlO (+3V)，ENll (+3V)，ENl2 (+3V)， ΕΝ2 (OV)，EN9 (OV)，其余则为浮接(Floating)。本实施例是以最大供应电压+3V为例，并依 据电极m N12所位于触控面板的电压梯度等分位来进行电压的配置。于是，图4A的电 压供应可产生(1，Y)区块被指定的效果，而能成为区块式的侦测。于是，位于第(1，Υ)区的 触碰点Tl，可于X轴方向的扫描被侦测到，并依据侦测到的电流而得知其X轴坐标。请参考图4Β，其为图1于第四时间时提供区块扫描的示意图，其于(2，Y)区块进 行X轴的扫描。此时所提供的扫描电压为ΕΝ2 (+3V)，ΕΝ9 (+3V)，ΕΝ3 (OV)，ΕΝ8 (OV)，其余则 为浮接(Floating)。本实施例是以最大供应电压+3V为例，并依据电极m N12所位于触 控面板的电压梯度等分位来进行电压的配置。于是，图4B的电压供应可产生(2，Y)区块被 指定的效果，而能成为区块式的侦测。于是，位于第(2，Υ)区的触碰点Τ2，可于X轴方向的 扫描被侦测到，并依据侦测到的电流而得知其X轴坐标。于是，经由图2、图3、图4Α与图4Β的扫描后，可获得触碰点Tl与触碰点Τ2的X 轴与γ轴坐标。矩阵型电极串的触控面板100可提供扫描控制电路区块扫描的功能，其具体的详 细线路请参考图5 10的说明。请参考图5Α，其为本发明的矩阵型面板的一具体实施例，比较图1与图5Α可发现， 图5Α将图1的X轴电极串120Χ与Y轴电极串120Υ以实际的线路绘制出来。在线路规划时，可以将X轴电极串与Y轴电极串设计为相同的线路，以获得预期的均勻电场，如图5A所 绘制者。亦即，X轴电极串与Y轴电极串的线路结构可设计为相同，如图5A的实施例，X轴 电极串与Y轴电极串均由串联电极122、不连续电阻链(由不连续绝缘段IM所构成)与 第一均化电极1 构成。其中，串联电极122以Z型电极制作，并具有一内部部分，相邻的 串联电极122间具有一间隙。不连续电阻链是由多个不连续绝缘段124间隔形成于导电层 110上并相邻于导电层所构成的内部接触区，不连续电阻链与串联电极122是平行排列而 连接，不连续电阻链是用以补偿由串联电极122所传递的电压。此外，在导电层110上制作有X轴不连续隔离线128与Y轴不连续隔离线130，其 形成于X轴电极串交界处与Y轴电极串的交界处，用以隔开所不希望产生电场边缘效应。X轴不连续隔离线128与Y轴不连续隔离线130为选择性制作者，请参考图5B，其 为本发明的矩阵型面板的另一具体实施例，比较图5A与图5B可发现，图5B缺少了 X轴不 连续隔离线1 与Y轴不连续隔离线130，其余者相同不再赘述。其中，部份区域200为左上角的部分，以下将于图7 9A、9B说明不同结构的X轴 电极串与Y轴电极串。请参考图6，其为图5A、5B中部份区域的放大图的一例，部分区域200A中，X轴电 极串由串联电极122、不连续电阻IM所构成，其为最基本的结构。相邻的X轴电极串与Y 轴电极串由L型的电极m连接，而两个X轴电极串则由电极N2连接。通过此种串接的方 式而将X轴电极串与Y轴电极串串接而定义出导电层110的内部接触区。Z型串联电极122所传递的电压，经过串联电极所形成的串联电极链后，会有压降 的产生，因此，必须有不连续电阻链的电压补偿，以让串联电极链的输出电压能够均勻化。 其中，不连续电阻链是由不连续绝缘段IM将导电层110形成间隔所形成。于是，最终产生 在导电层110的内部接触区的电场将会较为均勻。其中，不连续电阻的长度，是由不连续绝缘段124的制作来实现。其长度的计算可 采用多种方式。以下，本发明列举一例来做说明，其余者不再赘述。不连续电阻的长度可依 据γ = aX2+b的公式计算得其长度。计算方法说明如下1.X为由电极串的两端起算的Z型电极数，例如，从左端开始起算，共有Xl = 1，X2 =2，X3 = 3，X4 = 4，X5 = 5，5 个 Z 型电极。2. b为默认值，其由实验与统计获得，最佳者为0. 3 2. Omm之间。3. a由Ymax计算而得，Ymax的大小，可由图7上方的中央电极长度获得。至于中 央电极的长度，则以面板的大小以及串联电极链的数目来评估获得。Ymax较佳者为该电极 长度再左右各减去0. Imm为最佳。4.由Ymax，b值与X值，即可获得a值得参数。于是，Ylri的长度，以Ylri = a(n-l)2+b计算得到，Yn的长度，以Yn = a(n)2+b计算 得到。而的中间Yn-CK5W长度，可以用两种方式来计算得至IJ :I.X= (Xm+XJ/2，再 代入公式；II.以Y= (Yn-JYn)/2。实际的效果，以第一式较佳。其中，不连续电阻的最佳位置，是以Z型电极的垂直段中心以及其内部部分的中 心(两垂直段中心的中心)，而第一均化电极的中心则对应至不连续电阻的中心即可。当 然，在生产制造上所产生的些许偏差，或者，设计时进行非中心的配置，亦为本发明可提供 者，其均可达到本发明所欲达成的效果。
此外，在实务上，亦可采用Z型电极的内部部分分配多个不连续电阻的设计方式。 换句话说，本发明是于串联电极链的每个电极与电极间，配置一个不连续电阻，而每个电极 的内部部分，亦可配置一个以上的不连续电阻。若采用每个串联电极的电极内部部分以多个不连续电阻的方式设计，也就是在两 个Z型电极的垂直段中心(若采用其它的电极架构，则为电极与电极之间的电极内部部 分)配置有多个不连续电阻，则配置于其间的不连续电阻的长度计算，同样可采用上述的 两种计算方式获得。例如，采用两个不连续电阻配置于Z型电极的内部部分时，其较佳者 为与两旁的不连续电阻作等距离配置，如介于￥ -1与￥ 之间时，分别为￥ -0.67，Ynu。而 Yn-0.67 = a(n-0. 67)2+b，以 Υη_α33 = a(n-0. 33)2+b ；或者，Υη_α67 = (1^^2+1^1)/3 以 Yn_0.33 =(Ytdl+YjZ)/^。其中，亦以前者的效果较佳。接下来，请参考图7，其为图5A、5B中部份区域的放大图的又一例，其是在不连续 绝缘段IM靠近导电层110的内部接触区再制作一第一均化电极链，其由多个第一均化电 极124间隔形成，如图7所示者。同样地，在每个电极串当中，个别制作一组第一均化电极 链，其各包含多个第一均化电极124。第一均化电极链是可将不连续电阻链所产生的电场做 一均化输出，使X轴电极串或Y轴电极串所产生的电场能在第一均化电极链的边界，形成良 好的均化电场分布，其涟波效应大幅降低。接下来，请参考图8，其为图5A、5B中部份区域的放大图的再一例，其是在第一均 化电极链靠近导电层110的内部接触区再制作一第二均化电极链，其由多个第二均化电极 126间隔形成，如图8所示者。同样地，在每个平行电极串当中，各制作一组第二均化电极 链，其各包含多个第二均化电极126。第二均化电极链是可将第一均化电极链所产生的电场 再做一次均化输出，使平行电极串所产生的电场能在第二均化电极链的边界，形成良好的 均化电场分布，其涟波效应大幅降低。其中，图6 8的不连续电阻炼与Z型电极之间，是相邻排列，其可形成紧贴或者 两者邻近；同样地，不连续电阻炼与第一均化电极链之间，亦可形成紧贴或者两者邻近。此外，每个不连续电阻则可配置一个以上的第一均化电极，而第一均化电极之间， 则可配置一个以上的第二均化电极。亦即，不连续电阻，第一均化电极或第二均化电极的数 量配置，以能达到本发明所欲解决的电场均化的问题为目的，其可视生产设备可达到的精 度以及成本为主要的考虑。此外，用不同的计算方法所获得的不连续电阻，亦可用于本发明。只要透过本发明 的第一均化电极，或者，透过本发明的第一均化电极与第二均化电极的搭配，即可形成良好 的均勻电压分配。而Z型电极，仅为本发明所采用的一个实施例而已，其它的不同串联电极 链的形状，亦可用作为本发明的实施例。由于其原理皆相同，以下不再赘述。此外，图7的第一均化电极124为线型，而图8的第一均化电极124则为T型(一 横杆部与一直杆部)，并且，图8另包含有由多个第二均化电极1 所组成的第二均化电极 链，其制作于不连续电阻链的边缘，并紧贴导电层110的内部接触区。由于第一均化电极链 平均分布于不连续电阻链的边缘，因此，由不连续电阻链所传出来的经补偿的电压，即可于 第一均化电极链上平均地传导至导电层110上，形成一更加均勻化的电场。亦即，增加第一 均化电极链后，可增加导电层110边缘的边缘电场的线性，让涟波效应更低。再透过第二均 化电极链的配置，可让电场的均勻性更加。
其中，由图8中可观察到，第二均化电极1 为线型，而本发明是采用第一均化电 极1 的直杆部底端与第二均化电极1 平行排列，如此，可让第一均化电极124的输出与 第二均化电极126的输出基准点相同，可让其电压均勻地分布于导电层110的内部接触区。 其中一实施例为，第一均化电极124的T型底部(直杆部)长度等于第二均化电极126的 长度，而第一均化电极124的T型底部(直杆部)边缘与第二均化电极126的边缘所形成 的间隙距离与第二均化电极的长度比为2 3 ；其余的比例如1/5，1/4，1/3，1/2，2/5，2/7， 3/5，3/7，4/5，...亦可。其中，第一均化电极链、第二均化电极链、电极m m2、串联电极链、电极板 Em EN12与导线电极板等等，可采取相同的材料与制法同时形成。例如，采用一种环保无 铅的高温银浆，经过网版印刷程序印列透明导电层上。经过500°C以上的高温银浆金属熔接 于透明导电层(导电层)上，使其间的导通接口电阻值极微小(可视为近零阻值)。其具 有高抵抗环境温度变化的特性。此外，银导线与导电层经高温结晶化后，可明显提升耐化学 性、产品信赖及耐久性。或者，采用其它金属，如钼/铝/钼金属层、铬或其它等导电性较佳 的金属。不连续绝缘段IM与X轴不连续隔离线128、Y轴不连续隔离线130可以在导电层 110上以蚀刻或者雷射的方式制作空隙，再填以绝缘材料而形成。其具体的图案，如图9Α所 示者。由于每个X轴与Y轴电极串在结构上相同或相似，于是，不连续绝缘段1 与X轴不 连续隔离线128、Y轴不连续隔离线130依据图5Α的9个区块进行对称配置。在制程上，绝缘段是制作于导电层110上，之后再将导电框层制作于导电层110。 导电框层包括各个不同的电极，如图10所示者，依据图5的X轴电极串与Y轴电极串当中 的相同的串联电极122、第一均化电极1 结构，制作出每个区块的相同X轴或Y轴电极串。 由图9A所制作的电极框层，再形成于制作完图9A的绝缘段的导电层110上，即可形成图5A 的图案。接着，请参考图9B，为图5B实施例的导电层蚀刻图，图9B与图9A的差别在于，图 9B无X轴不连续隔离线1 与Y轴不连续隔离线130的设计，其搭配图10的导电框层的制 作结果，可得图5B的结果。此外，X轴不连续隔离线128与Y轴不连续隔离线130的设计，是与串联电极、不 连续绝缘段、第一均化电极或第二均化电极对称设计，亦即，X轴不连续隔离线1 与Y轴 不连续隔离线130所隔出的导通处，正对于串联电极、不连续绝缘段、第一均化电极或第二 均化电极的导通处，以形成良好的直线形电场。亦及，X轴不连续隔离线1 与Y轴不连续 隔离线130旁边的间距dx，dy的长度平行正对于串联电极、不连续绝缘段、第一均化电极或 第二均化电极的导通处，其长度以等同于其导通处。本发明的矩阵式平行电极串的触控面板可达到多点的触碰侦测，其侦测方法是有 别于目前可达到多点侦测的投射式触控面板者。兹说明如下请参考图11A，其为本发明的矩阵型面板的扫描方法流程图的一例，包含有以下的 步骤步骤302 选取扫描区块；选取的方式，可依据循序或者非循序的方式。例如，若矩 阵型电极串的触控面板具有8x8(0，0) (7，7)区块，可从由(0，0)，(0,1), (0,2), (0,3), (0,4),...依序选取。或者，选取特定区块以进行特定的手势动作判断。
步骤304 提供定义扫描区块的X轴电极串与Y轴电极串一 X轴扫描电压，以取得 所选取的扫描区块的X轴触碰坐标。若区块发生触控，将发生电流的变化，透过电流的变化 值即可计算得触碰点位于扫描区块的χ轴坐标。步骤306 提供定义扫描区块的X轴电极串与Y轴电极串一 Y轴扫描电压，以取得 所选取的扫描区块的Y轴触碰坐标。若区块发生触控，将发生电流的变化，透过电流的变化 值即可计算得触碰点位于扫描区块的Y轴坐标。依序获得多个扫描区块的触碰点坐标，即可综合计算出有多少个触碰点，以及其 个别的触碰座標。如果要达到省电的目地，可在平时不须采取区块扫描，而以隔一段时间进行全部 扫描。亦即，以四个角落的电极直接进行扫描，若有电流变化再进行区块的扫描。请参考图11B，其为本发明的矩阵型面板的扫描方法流程图的又一例，包含有以下 的步骤步骤312 提供位于四个角落的电极一扫描电压。步骤314 依据电流变化确认发生触碰。步骤316 选取扫描区块以进行触碰坐标侦测。亦即，执行图12的流程。虽然本发明的技术内容已经以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明， 任何熟悉此技术人员，在不脱离本发明的精神所作些许的更动与润饰，皆应涵盖于本发明 的范畴内，因此本发明的保护范围当根据权利要求所界定的内容为准。
权利要求
1.一种具有矩阵型电极串的触控面板，其特征在于，包含 一基板；一导电层，形成于该基板上，该导电层包含一内部接触区； 多个电极，连接于一电压控制部；多对X轴电极串，形成于该导电层X轴向两侧边缘，每个该X轴电极串具有两端，该些 X轴电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联；及多对Y轴电极串，形成于该导电层Y轴向两侧边缘，每个该Y轴电极串具有两端，该些 Y轴电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联，与该X轴电极串相邻的该Y轴电极串由该 些电极其中之一连接，该些Y轴电极串与该些X轴电极串包围该内部接触区；其中，通过该电压控制部提供一电压而分别经由该些电极供应该些X轴电极串、该些Y 轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。
2.根据权利要求1的触控面板，其特征在于，每个该X轴电极串、该Y轴电极串分别包含多个串联电极，每个所述串联电极具有一内部部分，相邻的该些电极间具有一间隙。
3.根据权利要求2的触控面板，其特征在于，还包含多个不连续电阻链，每个该些不连 续电阻链是由多个不连续电阻间隔形成于该导电层上并相邻于该内部接触区，每个该些不 连续电阻链与每个该些串联电极是平行排列而连接，该些不连续电阻链是用以补偿由每个 该些串联电极所传递的该电压。
4.根据权利要求3的触控面板，其特征在于，还包含多个第一均化电极链，每个该些第 一均化电极链是由多个第一均化电极间隔形成于该导电层上并相邻于该内部接触区，每个 该些第一均化电极链与每个该些不连续电阻链是平行排列而连接，用以均勻化该些不连续 电阻所输出的经补偿的该电压。
5.根据权利要求4的触控面板，其特征在于，还包含多个第二均化电极链，每个该些第 二均化电极链是由多个第二均化电极间隔形成于该导电层上并相邻于该内部接触区，位于 每两个该第一均化电极间隔处，以均勻化该第一均化电极链的输出电压。
6.根据权利要求3的触控面板，其特征在于，每个该电极的该内部部分是与至少一个 该不连续电阻相邻，且该间隙与一个该不连续电阻形成电连接，该不连续电阻的长度Y是 等于aX2+b，其中，该a、b值为常数，该X值是等于由与该串联电极链连接的该角落电极起算 该电极数的值。
7.一种矩阵型电极串的触控面板，其特征在于，包含 一基板；一导电层，形成于该基板上，该导电层包含一内部接触区，其由至少一条X轴不连续隔 离线与至少一条Y轴不连续隔离线区隔为多个触碰区块； 多个电极，连接于一电压控制部；多对X轴电极串，形成于该导电层X轴向两侧边缘，每个该X轴电极串具有两端，该些 X轴电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联，该X轴不连续隔离线是设置于该些X轴电 极串的该两端交界线；及多对Y轴电极串，形成于该导电层Y轴向两侧边缘，每个该Y轴电极串具有两端，该些 Y轴电极串的该两端由该些电极连接而彼此串联，与该X轴电极串相邻的该Y轴电极串由该些电极其中的一连接，该些Y轴电极串与该些X轴电极串包围该内部接触区，该Y轴不连续 隔离线是设置于该些Y轴电极串的该两端交界线；其中，通过该电压控制部提供一电压而分别经由该些电极供应该些X轴电极串、该些Y 轴电极串而侦测至少一个触碰点的坐标。
8.根据权利要求7的触控面板，其特征在于，每个该X轴电极串、该Y轴电极串分别包含多个串联电极，每个该些串联电极具有一内部部分，相邻的该些电极间具有一间隙。
9.根据权利要求8的触控面板，其特征在于，还包含多个不连续电阻链，每个该些不连 续电阻链是由多个不连续电阻间隔形成于该导电层上并相邻于该内部接触区，每个该些不 连续电阻链与每个该些串联电极是平行排列而连接，该些不连续电阻链是用以补偿由每个 该些串联电极所传递的该电压。
10.根据权利要求9的触控面板，其特征在于，还包含多个第一均化电极链，每个该些 第一均化电极链是由多个第一均化电极间隔形成于该导电层上并相邻于该内部接触区，每 个该些第一均化电极链与每个该些不连续电阻链是平行排列而连接，用以均勻化该些不连 续电阻所输出的经补偿的该电压。
11.根据权利要求10的触控面板，其特征在于，还包含多个第二均化电极链，每个该些 第二均化电极链是由多个第二均化电极间隔形成于该导电层上并相邻于该内部接触区，位 于每两个该第一均化电极的间隔处，以均勻化该第一均化电极链的输出电压。
12.根据权利要求9的触控面板，其特征在于，每个该电极的该内部部分是与至少一个 该不连续电阻相邻，且该间隙与一个该不连续电阻形成电连接，该不连续电阻的长度Y等 于aX2+b，其中，该a、b值为常数，该X值等于由与该串联电极链连接的该角落电极起算该电 极数的值。
13.一种矩阵型电极串的触控面板的触碰侦测方法，该矩阵型电极串的触控面板包含 有多对X轴电极串、多对Y轴电极串与多个电极，该些X轴电极串、该些Y轴电极串由该些 电极连接而串联并形成于该矩阵型电极串的触控面板周围并定义多个扫描区块，包含下列 步骤选取该些扫描区块其中之一；提供定义所选取的该扫描区块的该X轴电极串与该Y轴电极串所连接的该些电极一 X 轴扫描电压，以取得所选取的该扫描区块的一 X轴触碰坐标；及提供定义所选取的该扫描区块的该X轴电极串与该Y轴电极串所连接的该些电极一 Y 轴扫描电压，以取得所选取的该扫描区块的一 Y轴触碰坐标。
14.一种矩阵型电极串的触控面板的触碰侦测方法，该矩阵型电极串的触控面板包含 有多对X轴电极串、多对Y轴电极串与多个电极，该些X轴电极串、该些Y轴电极串由该些 电极连接而串联并形成于该矩阵型电极串的触控面板周围并定义多个扫描区块，包含下列 步骤提供位于该矩阵型电极串的触控面板四个角落的该些电极一扫描电压；依据一电流变化确认发生触碰；及选取一扫描区块以进行一触碰坐标侦测。
全文摘要
本发明为一种具有矩阵型电极串的触控面板及触碰侦测方法，采用对称型的电极串。每个电极串采取串联电极链，并由串联电极链的两端供应电压以进行扫描，通过串联电极链与所划分的区块，即可将导电层的内部接触区划分成MxN个区块。透过扫描区块的扫描方式供应电压给电极串的两端，即可对导电层的不同区块分别进行触碰侦测，进而达到多点触碰侦测的目的。
文档编号G06F3/041GK102103425SQ20091026067
公开日2011年6月22日 申请日期2009年12月18日 优先权日2009年12月18日
发明者叶恒铭, 陈亦达 申请人:万达光电科技股份有限公司