专利名称：Pcie 测试卡的利记博彩app
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种PCI-Express (简称PCIE)测试卡。
技术背景随着计算机及通讯设备对性能要求的日益提高，传统的低速并行总线如PCI等的数据吞 吐量已经无法满足要求，PCI Sig (PCI特殊兴趣组织)联合控制模块厂商和测量仪器厂商 制定了PCIE规范，将串行数据率提高到2. 5Gbps，数据带宽提高到80Gbps。 PCIE的接口根据 总线位宽不同而有所差异，包括PCIExl、 PCIEx4、 PCIEx8以及PCIEx16。现有主板包括PCIExl、 PCIEx4、 PCIEx8以及PCIExl6插槽，不同的PCIE插槽需要对应规 格的PCIE卡才能插接。目前在测试主板的不同规格的PCIE插槽时，需要准备不同规格的 PCIE测试卡，造成测试费时费力，且增加测试成本。发明内容鉴于上述内容，有必要提供一种可测试不同规格的PCIE插槽的PCIE测试卡。一种PCIE测试卡，包括一控制模块、 一总线仲裁器、 一指示装置、至少两个不同规格 的PCIE接脚及对应所述PCIE接脚的至少两个不同规格的PCIE总线，所述PCIE接脚用于与待测 主板对应规格的PCIE插槽插接，所述控制模块通过所述PCIE总线与对应的PCIE接脚传输数据 ，所述总线仲裁器控制所述控制模块根据所述PCIE接脚插接的PCIE插槽的规格切换为相应的 PCIE模式，所述指示装置与所述控制模块电性连接，用于显示测试是否通过。相较现有技术，所述PCIE测试卡将多种规格的PCIE接脚集合，可插接不同规格的PCIE 插槽进行测试，从而替代多个不同规格的PCIE测试卡，降低了测试成本。
下面参照附图结合具体实施方式
对本发明作进一步的描述。 图1为本发明PCIE测试卡的较佳实施方式的模块电路图。 图2为本发明PCIE测试卡的较佳实施方式的使用状态图。
具体实施方式
请参照图1及图2，本发明PCIE测试卡的较佳实施方式包括一控制模块IO、 一总线仲裁器 20、 一指示装置30、若干PCIE接脚40 (即俗称的"金手指")及对应所述PCIE接脚40的若干 PCIE总线50。本实施方式所述PCIE测试卡的PCIE接脚40有四个，分别为PCIExl接脚、PCIEx4接脚、 PCIEx8接脚及PCIExl6接脚，设于所述PCIE测试卡的各边并置中，分别用于插接待测主板上 的对应规格的PCIE插槽。本实施方式以PCIEx8插脚测试一待测主板60上的PCIEx8插槽70为例 进行说明。所述PCIE总线50有四条，分别为PCIExl总线、PCIEx4总线、PCIEx8总线及 PCIExl6总线。所述控制模块10可支持PCIExl、 PCIEx4、 PCIEx8以及PCIExl6规格的接脚，所述控制模 块10通过所述PCIE总线50与对应的PCIE接脚40连接。所述控制模块10具有基本的即插即用 (Plug-and-Play， PNP)、切换其他模式等功能，可让BIOS分配系统资源给所述PCIE测试卡， 如中断请求(Interrupt Request, IRQ)、内存资源等。所述总线仲裁器20与所述控制模块10电性连接，用于控制所述控制模块10切换不同的 PCIE模式。当所述PCIE测试卡的PCIEx8接脚与所述主板60的PCIE x8插槽70插接后，所述总 线仲裁器20将所述PCIE测试卡切换为PCIEx8模式，此时所述控制模块10通过所述PCIEx8总线 与所述PCIEx8接脚传输数据。所述指示装置30与所述控制模块10电性连接，用于显示测试是否通过。本实施方式所述 指示装置30为设于所述PCIE测试卡的16个发光二极管(light emitting diode ， LED)，相 应个数的LED对应相应规格的PCIE接脚，即PCIExl接脚对应l个LED， PCIEx4接脚对应4个LED ，PCIEx8接脚对应8个LED， PCIExl6接脚对应16个LED。测试时，相应个数的LED发光则表示 相应规格的PCIE接脚与待测PCIE插槽连接正常。测试时，所述PCIE测试卡的PCIEx8接脚与所述待测主板60上的PCIE x8插槽70插接，所 述总线仲裁器20控制所述控制模块10将所述PCIE测试卡切换为PCIEx8模式，此时所述控制模 块10通过所述PCIEx8总线与所述PCIEx8接脚传输数据，所述指示装置30要有8个LED发光才表 示测试通过。需要测试所述待测主板60上另外不同规格的PCIE插槽时，将所述PCIE测试卡与 待测PCIE插槽规格对应的所述PCIE接脚40与之插接即可。本发明的PCIE测试卡将多种规格的PCIE接脚集合，可用于测试不同规格的PCIE插槽，从 而替代多个不同规格的PCIE测试卡，降低了测试成本。
权利要求
1. 一种PCIE测试卡，包括一控制模块、一总线仲裁器、一指示装置、至少两个不同规格的PCIE接脚及对应所述PCIE接脚的至少两个不同规格的PCIE总线，所述PCIE接脚用于与待测主板对应规格的PCIE插槽插接，所述控制模块通过所述PCIE总线与对应的PCIE接脚传输数据，所述总线仲裁器控制所述控制模块根据所述PCIE接脚插接的PCIE插槽的规格切换为相应的PCIE模式，所述指示装置与所述控制模块电性连接，用于显示测试是否通过。
2.如权利要求1所述的PCIE测试卡，其特征在于所述不同规格的 PCIE接脚包括一PCIExl接脚、一PCIEx4接脚、一PCIEx8接脚及一PCIExl6接脚，所述PCIE总 线对应所述不同规格的PCIE接脚包括一PCIExl总线、一PCIEx4总线、一PCIEx8总线及一 PCIExl6总线。
3.如权利要求2所述的PCIE测试卡，其特征在于所述PCIExl接脚 、PCIEx4接脚、PCIEx8接脚及PCIExl6接脚分别设于所述PCIE测试卡的四边。
4.如权利要求2所述的PCIE测试卡，其特征在于所述指示装置为 设于所述PCIE测试卡的若干发光二极管，相应个数的发光二极管对应相应规格的PCIE接脚， 测试时相应个数的发光二极管发光则表示相应规格的PCIE接脚与待测PCIE插槽连接正常。
全文摘要
一种PCIE测试卡，包括一控制模块、一总线仲裁器、一指示装置、至少两个不同规格的PCIE接脚及对应所述PCIE接脚的至少两个不同规格的PCIE总线，所述PCIE接脚用于与待测主板对应规格的PCIE插槽插接，所述控制模块通过所述PCIE总线与对应的PCIE接脚传输数据，所述总线仲裁器控制所述控制模块根据所述PCIE接脚插接的PCIE插槽的规格切换为相应的PCIE模式，所述指示装置与所述控制模块电性连接，用于显示测试是否通过。所述PCIE测试卡将多种规格的PCIE接脚集合，可插接不同规格的PCIE插槽进行测试，从而替代多个不同规格的PCIE测试卡，降低了测试成本。
文档编号G06F11/267GK101276304SQ20071020036
公开日2008年10月1日 申请日期2007年3月30日 优先权日2007年3月30日
发明者叶宗德, 张俐莹 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司