一种电子元件平整度测试治具的利记博彩app
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子元件平整度检测技术领域，特别涉及一种电子元件平整度测试治具。
【背景技术】
[0002]电子元件一般都要进行平整度检测，特别是对于SMD、连接器而言平整度检测优为重要。现有技术的检测都是采用人工把电子元件放到治具上，依靠人工推动治具块进行测试端子的平整度。现有技术的缺点是:检测精度低，误判率高，劳动强度大。
[0003]有鉴于此，特提出本实用新型，以改正上述现有技术的不足之处。
【实用新型内容】
[0004]针对上述现有技术，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种检测精度高，误判率低，劳动强度小的电子元件平整度测试治具。
[0005]为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种电子元件平整度测试治具，其包括支撑座、下滑本体、盖板，所述下滑本体中部设有下滑轨道，所述下滑轨道前端开口为喇叭形状，所述支撑座包括底板，所述底板两侧各安装有侧板，所述下滑本体固定安装于两侧板上，所述下滑本体的两侧都安装有盖板，所述盖板与下滑轨道底部形成间隙，所述下滑本体与底板形成夹角。
[0006]本实用新型的进一步改进为，所述夹角的角度为40度至50度。
[0007]本实用新型的进一步改进为，所述夹角的角度为45度。
[0008]本实用新型的进一步改进为，所述下滑本体由不锈钢材料制成，表面抛光处理。
[0009]本实用新型的进一步改进为，所述下滑轨道底部还设有DIP导向槽。
[0010]与现有技术相比，本实用新型采用在下滑本体中部设有下滑轨道，下滑本体与支撑座的底板成45度夹角，通过电子元件本身重力，电子元件沿下滑轨道自由滑动，由盖板与下滑轨道底部形成的间隙对电子元件的端子的平整度进行检测。本实用新型检测精度高，误判率低，劳动强度小。
【附图说明】
[0011]图1是本实用新型的电子元件平整度测试治具立体示意图；
[0012]图2是图1的立体展开示意图。
[0013]图中各部件名称如下:
[0014]I—支撑座；
[0015]11—底板；
[0016]12—侧板；
[0017]2—下滑本体；
[0018]21—下滑轨道；
[0019]22—DIP 导向槽；
[0020]3一盖板。
【具体实施方式】
[0021]下面结合【附图说明】及【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。
[0022]如图1、图2所示，一种电子元件平整度测试治具，其包括支撑座1、下滑本体2、盖板3，所述下滑本体2中部设有下滑轨道21，所述下滑轨道21前端开口为喇叭形状，便于放入和自由滑下；滑轨道21上要避开电子元件的相关位置，以免产生阻碍。所述支撑座I包括底板U，所述底板11两侧各安装有侧板12，所述下滑本体2固定安装于两侧板12上，所述下滑本体2的两侧都安装有盖板3，所述盖板3与下滑轨道21底部形成间隙，所述下滑本体2与底板11形成夹角。
[0023]具体地，如图1、图2所示，所述夹角的角度为40度至50度(依据电子元件的重力而定)，优选为45度。所述下滑本体2由不锈钢材料制成，表面抛光处理。所述下滑轨道21底部还设有DIP导向槽22。
[0024]本实用新型的工作原理:通过电子元件本身的重力，电子元件自由滑动，由盖板3与下滑轨道21底部形成的间隙对电子元件的端子的平整度进行检测。附加条件:斜度为45度，电子元件与下滑轨道21表面接触的粗糙度为0.8。方法:通过作业者进行手工放入和取出。判定:不能自由滑下的为NG，能够自由滑下的为0K。
[0025]本实用新型的优点在于，本实用新型采用在下滑本体中部设有下滑轨道，下滑本体与支撑座的底板成45度夹角，通过电子元件本身重力，电子元件沿下滑轨道自由滑动，由盖板与下滑轨道底部形成的间隙对电子元件的端子的平整度进行检测。本实用新型检测精度高，误判率低，劳动强度小。
[0026]以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种电子元件平整度测试治具，其特征在于:其包括支撑座(I)、下滑本体(2)、盖板(3)，所述下滑本体(2)中部设有下滑轨道(21)，所述下滑轨道(21)前端开口为喇叭形状，所述支撑座(I)包括底板(U)，所述底板(11)两侧各安装有侧板(12)，所述下滑本体(2)固定安装于两侧板(12)上，所述下滑本体(2)的两侧都安装有盖板(3)，所述盖板(3)与下滑轨道(21)底部形成间隙，所述下滑本体(2)与底板(11)形成夹角。2.根据权利要求1所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于:所述夹角的角度为40度至50度。3.根据权利要求2所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于:所述夹角的角度为45度。4.根据权利要求1至3任一项所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于:所述下滑本体(2)由不锈钢材料制成，表面抛光处理。5.根据权利要求1至3任一项所述的电子元件平整度测试治具，其特征在于:所述下滑轨道(21)底部还设有DIP导向槽(22)。
【专利摘要】本实用新型提供了一种电子元件平整度测试治具，其包括支撑座(1)、下滑本体(2)、盖板(3)，所述下滑本体(2)中部设有下滑轨道(21)，所述下滑轨道(21)前端开口为喇叭形状，所述支撑座(1)包括底板(11)，所述底板(11)两侧各安装有侧板(12)，所述下滑本体(2)固定安装于两侧板(12)上，所述下滑本体(2)的两侧都安装有盖板(3)，所述盖板(3)与下滑轨道(21)底部形成间隙，所述下滑本体(2)与底板(11)形成夹角。本实用新型检测精度高，误判率低，劳动强度小。
【IPC分类】G01B5/28
【公开号】CN205317144
【申请号】CN201520954518
【发明人】李冬根
【申请人】东莞荣光技研电子有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2015年11月26日