一种探头结构的利记博彩app
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及到缺陷检测设备，具体指一种用于带包覆层管道内壁缺陷检测的探头结构。
【背景技术】
[0002]带包覆管道在石油、化工和电力等行业广泛使用。大多数的管道在高温和高压条件下使用，且由保温层和外部的保护层包裹起来。在长期的服役期间，腐蚀可能出现在管道的外侧或管道内侧，尤其是输送腐蚀性流体的管道内部，冲刷腐蚀更严重，随之而来的管壁变薄可能酿成大事故。为此，定期对这些设备进行检测至关重要。
[0003]脉冲涡流检测是一种发展前景广阔的非接触式无损检测方法，脉冲涡流检测系统主要包括PC机、数据采集卡、探头、功率放大器和信号发生器。其中探头由激励线圈和检测线圈组成；激励线圈用来接收脉冲电压或脉冲电流，接收线圈用来接收脉冲电流的反馈信号。
[0004]现有的检测方法中，激励线圈和检测线圈放置的位置都是固定的，工作过程中，激励线圈和检测线圈自身会产生磁场，相互叠加，影响到检测线圈的检测，从而影响到检测灵敏度；同时，两个线圈固定放置，对不同保温层厚度下缺陷检测设备适配力弱。
【发明内容】
[0005]本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的现状提供一种检测灵敏度高且能适配于带不同保温层厚度管道的探头结构。
[0006]本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为:该探头结构，包括激励线圈和检测线圈，其特征在于所述激励线圈设置在第一壳体内，所述第一壳体上设有连接所述激励线圈和控制系统的第一接线柱；所述检测线圈设置在第二壳体内，所述第二壳体上设有连接所述检测线和控制系统的第二接线柱，所述第一壳体和所述第二壳体滑动设置在导轨上，所述导轨设置在支架上，所述支架能沿待检测设备滑动。
[0007]较好的，可以在所述导轨上设有刻度尺。
[0008]壳体和导轨的连接结构可以有多种，较好的，可以在所述导轨的上表面上设有第一卡槽，对应地，所述第一壳体上设有容置在所述第一卡槽内的第一滑块；所述导轨的下表面上设有第二卡槽，对应地，所述第二壳体上设有容置在所述第二卡槽内的第二滑块。
[0009]为了方便定位，所述第一滑块和所述第二滑块的横截面均呈“凸”字形，所述第一卡槽和所述第二卡槽的横截面为相适配的“凸”字形。
[0010]考虑到导轨行走的方便，所述支架可以有两个，分别支撑设置在所述导轨的两端，所述支架的下端设有滚轮。
[0011]与现有技术相比，本实用新型能够方便地调节激励线圈和检测线圈之间的相对位置，以适配不同保温层厚度管道的待测设备，保证检测的准确性；并且激励线圈和检测线圈不同轴设置，避免了激励磁场对涡流磁场的影响，检测灵敏度高。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型实施例使用状态装配结构立体示意图；
[0013]图2为本实用新型实施例中第一壳体和激励线圈装配结构的立体示意图；
[0014]图3为图2中的第一壳体去掉一侧面板后的立体不意图；
[0015]图4为本实用新型实施例中第二壳体和检测线圈装配结构的立体示意图；
[0016]图5为图4中的第二壳体去掉一侧面板后的立体示意图。
【具体实施方式】
[0017]以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。
[0018]如图1至图5所示，该探头结构包括:
[0019]激励线圈1，设置在第一壳体3内，第一壳体3上设有连接所述激励线圈和控制系统(图中未示出)的第一接线柱31 ;第一壳体的下表面上设有第一卡槽51内的第一滑块32，第一滑块32的横截面为“凸”字形结构。
[0020]检测线圈2，设置在第二壳体4内，第二壳体上还设有连述检测线圈和控制系统的第二接线柱41，第二壳体的上表面上设有第二滑块42，第二滑块42的横截面为“凸”字形结构。
[0021]导轨5，用于定位第一壳体和第二壳体；其上表面上设有用于容置第一滑块32的第一卡槽51，导轨的下表面上设有用于容置第二滑块42的第二卡槽(图中未示出)；第一卡槽51和第二卡槽的横截面为与第一滑块和第二滑块相适配的“凸”字形。导轨的侧面上设有刻度尺7。
[0022]支架6，有两个，分别连接在导轨5的两端；本实施例中的支架6为倒“Y”字形结构，包括连接杆62和连接在连接杆62上的两个支脚63，各支脚的下端均设有滚轮61。
[0023]第一壳体3和第二壳体4滑动设置在导轨5上，导轨5设置在支架6上，支架6能沿待检测设备滑动。
[0024]检测前，先根据待检测设备8的壁厚在同样厚度的试块上测试出激励线圈和检测线圈之间的最佳距离，从刻度尺上读出具体的数字；然后按此位置将该探头结构放置到待检测设备上，即可进行损伤探测了。该探头结构结构简单、操作灵活、检测灵敏度高，且可根据不同的保温层厚度方便地调节并固定激励线圈和检测线圈的位置，以保证检测准确度。
【主权项】
1.一种探头结构，包括激励线圈(I)和检测线圈(2)，其特征在于所述激励线圈(I)设置在第一壳体(3)内，所述第一壳体(3)上设有连接所述激励线圈和控制系统的第一接线柱(31);所述检测线圈(2)设置在第二壳体(4)内，所述第二壳体上设有连接所述检测线和控制系统的第二接线柱(41)，所述第一壳体(3)和所述第二壳体(4)滑动设置在导轨(5)上，所述导轨(5)设置在支架(6)上，所述支架(6)能沿待检测设备滑动。
2.根据权利要求1所述的探头结构，其特征在于所述导轨(5)上设有刻度尺(7)。
3.根据权利要求1或2所述的探头结构，其特征在于所述导轨的上表面上设有第一卡槽(51)，对应地，所述第一壳体上设有容置在所述第一卡槽(51)内的第一滑块(32);所述导轨的下表面上设有第二卡槽，对应地，所述第二壳体上设有容置在所述第二卡槽内的第二滑块(42)。
4.根据权利要求3所述的探头结构，其特征在于所述第一滑块(32)和所述第二滑块(42)的横截面均呈“凸”字形，所述第一卡槽(51)和所述第二卡槽的横截面为相适配的“凸”字形。
5.根据权利要求4所述的探头结构，其特征在于所述支架(6)有两个，分别支撑设置在所述导轨(5)的两端，所述支架的下端设有滚轮(61)。
【专利摘要】本实用新型涉及到一种探头结构，包括激励线圈和检测线圈，其特征在于所述激励线圈设置在第一壳体内，所述第一壳体上设有连接所述激励线圈和控制系统的第一接线柱；所述检测线圈设置在第二壳体内，所述第二壳体上设有连接所述检测线和控制系统的第二接线柱，所述第一壳体和所述第二壳体滑动设置在导轨上，所述导轨设置在支架上，所述支架能沿待检测设备滑动。本实用新型能够方便地调节激励线圈和检测线圈之间的相对位置，以适配带不同保温层管道的待测设备，保证检测的准确性；并且激励线圈和检测线圈不同轴设置，避免了自身磁场对对方的影响，检测灵敏度高。
【IPC分类】G01N27-82
【公开号】CN204514859
【申请号】CN201520052733
【发明人】陈定岳, 付跃文, 赖圣, 陈虎, 黄辉, 张海波, 王杜, 沈建民, 毛国均, 黄焕东
【申请人】宁波市特种设备检验研究院, 南昌航空大学
【公开日】2015年7月29日
【申请日】2015年1月26日