一种玻璃表面缺陷检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光电检测技术领域，更具体地说，是涉及一种玻璃表面缺陷检测
目.0
【背景技术】
[0002]盖玻片(Cover Glass)作为一种特殊的玻璃，广泛应用在日常生活中的手机、iPad、手提电脑等电子产品中。每年，在盖玻片生产、加工、组装的产线上，盖玻片数量大，工艺质量要求高。因而其缺陷检测和质量判定成了一个必不可少的环节。
[0003]盖玻片的缺陷种类繁多，不易检测，目前在产线上，盖玻片的检测由人工完成，很难发现细微的缺陷，并且检测精度低。
【实用新型内容】
[0004]为解决以上技术问题，本实用新型的技术方案为提供一种玻璃表面缺陷检测装置，该检测装置针对电子产品生产、加工、组装等过程中遇到的盖玻片质量问题进行检测，能够达到盖玻片在扫描时各种不同缺陷的高效检测，加强盖玻片的质量控制，提高产品总体质量。
[0005]本实用新型的技术方案是:
[0006]一种玻璃表面缺陷检测装置，包括上检测成像光路和下检测成像光路，所述上检测成像光路包括上亮场照明线光源、暗场照明线光源、上表面扫描成像物镜、及上线阵图像传感器，所述下检测成像光路包括下亮场照明线光源、背光照明线光源、反射镜、下表面扫描成像物镜、及下线阵图像传感器。
[0007]进一步地，所述上亮场照明线光源和上表面扫描成像物镜相对于被测玻璃的法线方向径向布置。
[0008]进一步地，所述上表面扫描成像物镜相对于被测玻璃法线方向的径向方向与所述法线方向之间的夹角小于20度。
[0009]进一步地，所述暗场照明线光源布置在与所述径向方向之间的夹角大于30度的方向。
[0010]进一步地，所述下亮场照明线光源相对于被测玻璃的法线方向径向布置。
[0011]进一步地，所述下亮场照明线光源相对于被测玻璃法线方向的径向方向与所述法线方向之间的夹角小于20度。
[0012]进一步地，所述下亮场照明线光源和所述下表面扫描成像物镜相对于被测玻璃成镜像布置。
[0013]本实用新型的有益效果:本实用新型提供的玻璃表面缺陷检测装置针对电子产品生产、加工、组装等过程中遇到的盖玻片质量问题进行检测，能够达到盖玻片在扫描时各种不同缺陷的高效检测，加强盖玻片的质量控制，提高产品总体质量。
【附图说明】
[0014]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0015]图1为本实施例的扫描示意图；
[0016]图2为本实施例的结构示意图；
[0017]图3为本实施例的检测示意图。
[0018]附图标记:1、运动台，2、被测玻璃，3、暗场照明线光源，4、上亮场照明线光源，5、上表面扫描成像物镜，6、上线阵图像传感器，7、下亮场照明线光源，8、反射镜，9、下表面扫描成像物镜，10、下线阵图像传感器，11、背光照明线光源。
【具体实施方式】
[0019]为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0020]结合图1、图2、图3所示的一种玻璃表面缺陷检测装置，包括上检测成像光路和下检测成像光路，所述上检测成像光路包括上亮场照明线光源4、暗场照明线光源3、上表面扫描成像物镜5、及上线阵图像传感器6，所述下检测成像光路包括下亮场照明线光源7、背光照明线光源11、反射镜8、下表面扫描成像物镜9、及下线阵图像传感器10。
[0021]本实施例中，所述上亮场照明线光源4和上表面扫描成像物镜5相对于被测玻璃2的法线方向径向布置。
[0022]本实施例中，所述上表面扫描成像物镜5相对于被测玻璃2法线方向的径向方向与所述法线方向之间的夹角小于20度。
[0023]本实施例中，所述暗场照明线光源3布置在与所述径向方向之间的夹角大于30度的方向。
[0024]本实施例中，所述下亮场照明线光源7相对于被测玻璃2的法线方向径向布置。
[0025]本实施例中，所述下亮场照明线光源7相对于被测玻璃2法线方向的径向方向与所述法线方向之间的夹角小于20度。
[0026]本实施例中，所述下亮场照明线光源7和所述下表面扫描成像物镜9相对于被测玻璃2成镜像布置。
[0027]本实施例中，两条成像光路，分别对被测对象的上下两个表面的缺陷进行检测，上检测成像光路包括上亮场照明线光源4、暗场照明线光源3、上表面扫描成像物镜5、及上线阵图像传感器6，线光源和上线阵传感器的线方向和扫描方向垂直布置，下检测成像光路包括下亮场照明线光源7、背光照明线光源11、反射镜8、下表面扫描成像物镜9、及下线阵图像传感器10，线光源和下线阵传感器的线方向和扫描方向垂直布置(扫描方向如图1所示)°
[0028]本实用新型通过线阵图像传感器扫描成像，分别采用正光源、背光源、亮场、暗场等多种角度和照明方式来获取盖玻片的外观图像，在满足检测精度的同时，针对盖玻片正面、背面同时进行准确检测，然后由智能系统统计分析其表面的缺陷信息，并汇总输出。
[0029]本实用新型用亮场照明可获得大尺寸缺陷的信息，用暗场照明可获得细小缺陷的信息，用背光照明可获得盖玻片的几何尺寸信息，在对各种照明的图像进行精准对位后，可以融合这些图像，取得特征向量，进行更准确的缺陷分类。
[0030]一般缺陷有很多，但基本都是由点缺陷和线缺陷组成，如凹凸点缺陷与划痕缺陷等，这些缺陷的大小由几微米到几百微米不等，而由于检测视场较大，通常所用镜头的分辨率为十几个微米以上，即在明场照明的情况下，检测缺陷大于镜头分辨率能呈现出来，形成明亮背景上的较暗的缺陷图像，但低于镜头分辨率(微米级)的缺陷就无法检测，但在暗场强光照明的情况下，入射光受到小颗粒的散射，散射角度较大，一部分散射光被镜头捕获形成图像，而没有缺陷的地方就没有图像，这样形成暗背景上较亮的缺陷图像，实现小缺陷的检测(如图3所示)。
[0031]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，包括上检测成像光路和下检测成像光路，所述上检测成像光路包括上亮场照明线光源、暗场照明线光源、上表面扫描成像物镜、及上线阵图像传感器，所述下检测成像光路包括下亮场照明线光源、背光照明线光源、反射镜、下表面扫描成像物镜、及下线阵图像传感器。
2.如权利要求1所述的玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，所述上亮场照明线光源和上表面扫描成像物镜相对于被测玻璃的法线方向径向布置。
3.如权利要求2所述的玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，所述上表面扫描成像物镜相对于被测玻璃法线方向的径向方向与所述法线方向之间的夹角小于20度。
4.如权利要求3所述的玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，所述暗场照明线光源布置在与所述径向方向之间的夹角大于30度的方向。
5.如权利要求1所述的玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，所述下亮场照明线光源相对于被测玻璃的法线方向径向布置。
6.如权利要求5所述的玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，所述下亮场照明线光源相对于被测玻璃法线方向的径向方向与所述法线方向之间的夹角小于20度。
7.如权利要求6所述的玻璃表面缺陷检测装置，其特征在于，所述下亮场照明线光源和所述下表面扫描成像物镜相对于被测玻璃成镜像布置。
【专利摘要】本实用新型公开了一种玻璃表面缺陷检测装置，包括上检测成像光路和下检测成像光路，所述上检测成像光路包括上亮场照明线光源、暗场照明线光源、上表面扫描成像物镜、及上线阵图像传感器，所述下检测成像光路包括下亮场照明线光源、背光照明线光源、反射镜、下表面扫描成像物镜、及下线阵图像传感器。本实用新型提供的玻璃表面缺陷检测装置针对电子产品生产、加工、组装等过程中遇到的盖玻片质量问题进行检测，能够达到盖玻片在扫描时各种不同缺陷的高效检测，加强盖玻片的质量控制，提高产品总体质量。
【IPC分类】G01N21-958
【公开号】CN204359710
【申请号】CN201420845881
【发明人】伍祥辰, 张国栋, 张冲, 谌家喜
【申请人】武汉中导光电设备有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2014年12月29日